專利名稱：顯示裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及顯示裝置領(lǐng)域，特別涉及一種具有檢查裝置的顯示裝置。
背景技術(shù)：
顯示裝置具備輕薄、節(jié)能、無輻射等諸多優(yōu)點，因此已經(jīng)逐漸取代傳統(tǒng)的陰極射線 管(CRT)顯示器。目前顯示裝置廣泛應(yīng)用于高清晰數(shù)字電視、臺式計算機、個人數(shù)字助理 (PDA)、筆記本電腦、移動電話、數(shù)碼相機等電子設(shè)備中。顯示裝置具有矩陣狀的顯示像素構(gòu)成的有效顯示部分。該有效顯示部分具有沿顯 示像素的行方向延伸的多條掃描線和沿顯示像素的列方向延伸的多條數(shù)據(jù)線。在掃描線和 數(shù)據(jù)線相交叉的地方設(shè)置開關(guān)元件，例如薄膜晶體管(TFT)，以及與開關(guān)元件連接的像素電 極等。各掃描線和數(shù)據(jù)線引出到有效顯示部分的外圍部分，例如將引出的掃描線和數(shù)據(jù)線 與驅(qū)動電路電連接。這些掃描線、數(shù)據(jù)線以及其它的電路連接線統(tǒng)稱為信號線。由于隨著顯示像素的增加，在有效顯示部分及其外圍部分的掃描線和數(shù)據(jù)線等各 種信號線的線寬越來越細，而且間隔越來越小，因此斷線、短路等各種布線不良的情況也越 來越多，因此為了及時發(fā)現(xiàn)布線不良的情況，防止大規(guī)模不良發(fā)生以及不良品流入下一工 序造成浪費，在布線之后需要對掃描線、數(shù)據(jù)線及其它的信號線進行檢查，從而判斷是否存 在布線不良的情況。如圖1所示的一種設(shè)置檢查裝置的顯示裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，有效顯示部分11通過 信號線1005與外圍驅(qū)動電路(圖未示)相連，所述信號線1005連接有檢查裝置20。所述檢 查裝置 20 由 4 根短路棒(shorting bar) 1001、1002、1003、1004 構(gòu)成，各短路棒 1001、1002、 1003、1004分別與信號線1005-1、1005-2、1005-3相連，所述信號線可以是掃描線、數(shù)據(jù)線 或者其它信號線。各短路棒1001、1002、1003、1004與信號線1005-1、1005-2、1005-3的連 接位置為過孔區(qū)。所述過孔區(qū)具有接觸孔1000和連接導(dǎo)電層1006，部分連接導(dǎo)電層1006 填充在接觸孔1000內(nèi)用于將短路棒和信號線相電連接，連接導(dǎo)電層1006 —般為氧化銦錫 (IT0)或者氧化銦鋅(IZ0)層。在短路棒的一端連接有測試襯墊(visual test pad) 1007, 通過給測試襯墊1007加上電壓信號，就能進行電性測試。圖2為圖1所示的顯示裝置的有 效顯示部分和檢查裝置連接位置的放大圖，其中虛線框10a所示的為短路棒與信號線的連 接位置的過孔區(qū)。由于在制造過程中，容易產(chǎn)生靜電，從而容易因為靜電引起過孔區(qū)的被燒毀。圖3 為圖2所示的顯示裝置中過孔區(qū)被燒毀部位的放大圖，其中虛線框10b所示為被燒毀部位。 尤其因為靜電電荷容易聚集在過孔區(qū)，因此在過孔區(qū)容易產(chǎn)生較大的靜電從而使接觸孔被 燒毀。通常，由于整個圖1的結(jié)構(gòu)表面被一層或者兩層透明的絕緣層覆蓋(圖中未標出)， 一般為氮化硅或氧化硅。如果在制造工藝過程中，例如制盒工序的取向膜涂布以及取向膜 摩擦工序，由于靜電過大，會將過孔區(qū)的連接導(dǎo)電層1006燒毀，導(dǎo)致接觸孔被燒毀，從而電 性測試不能進行，就會出現(xiàn)不良現(xiàn)象。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種顯示裝置，從而解決由于靜電引起的過孔區(qū)容易被燒毀 的問題。本發(fā)明提供的一種顯示裝置，包括由顯示像素構(gòu)成的有效顯示部分，與有效顯示 部分電連接的信號線以及檢查裝置，所述檢查裝置包括間隔排放的短路棒；所述各短路棒 分別通過過孔區(qū)與不同的信號線電連接，并且所述短路棒的一端具有測試襯墊，所述檢查 裝置還包括與短路棒電連接的尖峰凸起。優(yōu)選的，所述尖峰凸起位于所述短路棒的不具有測試襯墊的一端。優(yōu)選的，同一所述短路棒的不具有測試襯墊的一端具有一個所述尖峰凸起。優(yōu)選的，連接不同信號線的所述短路棒的不具有測試襯墊的一端的尖峰凸起的尖 端相對。優(yōu)選的，所述尖峰凸起位于所述短路棒的測試襯墊上。優(yōu)選的，連接不同信號線的所述短路棒的測試襯墊上的尖峰凸起的尖端相對。優(yōu)選的，在所述短路棒的測試襯墊上具有所述尖峰凸起。優(yōu)選的，連接不同信號線的所述短路棒的不具有測試襯墊的一端的尖峰凸起的尖 端相對。優(yōu)選的，連接不同信號線的所述短路棒的測試襯墊上的尖峰凸起的尖端相對。優(yōu)選的，連接不同信號線的所述短路棒的測試襯墊上的尖峰凸起的尖端相對。優(yōu)選的，所述尖峰凸起位于所述過孔區(qū)旁。優(yōu)選的，在所述短路棒靠近相鄰的兩側(cè)短路棒的側(cè)面上分別具有所述尖峰凸起， 并且相鄰的短路棒上的尖峰凸起的尖端相對。優(yōu)選的，所述尖峰凸起的尖部為角狀或錐狀。優(yōu)選的，所述短路棒與所述尖峰凸起位于同一層。優(yōu)選的，所述尖峰凸起的材料為鋁、鋁釹合金、鉬、鉬釹合金中的一種或者多種。優(yōu)選的，所述尖峰凸起的材料為氧化銦錫。優(yōu)選的，所述信號線靠近相鄰的兩側(cè)信號線的側(cè)面上均設(shè)置有所述尖峰凸起，且 相鄰的所述信號線上的所述尖峰凸起均相對設(shè)置。優(yōu)選的，所述尖峰凸起的相對側(cè)另外設(shè)置有一附屬尖端區(qū)，所述附屬尖端區(qū)位于 所述有效顯示部分外，且具有一個或者多個尖端與所述尖峰凸起相對應(yīng)。優(yōu)選的，所述附屬尖端區(qū)設(shè)置在公共電極上。優(yōu)選的，所述信號線與所述尖峰凸起位于同一層。優(yōu)選的，所述過孔區(qū)旁的尖峰凸起為與短路棒連接的信號線向該短路棒外側(cè)的延 伸部分。優(yōu)選的，在所述過孔區(qū)旁還具有與所述短路棒位于同一層的尖峰凸起，與信號線 位于同一層的尖峰凸起和與短路棒位于同一層的尖峰凸起的尖端相對。優(yōu)選的，所述尖峰凸起的尖部為角狀或錐狀。本發(fā)明的顯示裝置具有檢查裝置，所述檢查裝置包括間隔排放的短路棒；所述各 短路棒分別通過過孔區(qū)與不同的信號線電連接，并且所述短路棒的一端具有測試襯墊，所 述檢查裝置還包括與短路棒電連接的尖峰凸起。。在制造過程中，一旦靜電過大，過孔區(qū)積累的電荷就會立即往尖峰凸起移動，在尖峰凸起尖端形成尖端放電，大大降低了靜電對過 孔的損壞，使得電性測試正常進行，因此和現(xiàn)有技術(shù)相比本發(fā)明降低了由于靜電引起過孔 區(qū)容易被燒毀的可能性。


通過附圖中所示的本發(fā)明的優(yōu)選實施例的更具體說明，本發(fā)明的上述及其它目 的、特征和優(yōu)勢將更加清晰。在全部附圖中相同的附圖標記指示相同的部分。并未刻意按 實際尺寸等比例縮放繪制附圖，重點在于示出本發(fā)明的主旨。圖1為一種現(xiàn)有的設(shè)置檢查裝置的顯示裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖2為圖1所示的顯示裝置的有效顯示部分和檢查裝置連接位置的放大圖；圖3為圖2所示的顯示裝置中過孔區(qū)被燒毀部位的放大圖；圖4為本發(fā)明的顯示裝置實施例一的結(jié)構(gòu)示意圖；圖5為本發(fā)明的顯示裝置實施例二中檢測裝置及信號線的結(jié)構(gòu)示意圖；圖6為本發(fā)明的顯示裝置實施例三中檢測裝置及信號線的結(jié)構(gòu)示意圖；圖7為本發(fā)明的顯示裝置實施例四中檢測裝置及信號線的結(jié)構(gòu)示意圖；圖8為本發(fā)明的顯示裝置實施例五中檢測裝置及信號線的結(jié)構(gòu)示意圖；圖9為本發(fā)明的顯示裝置實施例六中檢測裝置及信號線的結(jié)構(gòu)示意圖；圖10為本發(fā)明的顯示裝置實施例七中檢測裝置及信號線的結(jié)構(gòu)示意圖；圖11為本發(fā)明的顯示裝置實施例八中檢測裝置及信號線的結(jié)構(gòu)示意圖；圖12為本發(fā)明的顯示裝置實施例九中檢測裝置及信號線的結(jié)構(gòu)示意圖；圖13為本發(fā)明的顯示裝置實施例十中檢測裝置及信號線的結(jié)構(gòu)示意圖；圖14為本發(fā)明的顯示裝置實施例十一中檢測裝置及信號線的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施例方式為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點能夠更加明顯易懂，下面結(jié)合附圖對本發(fā)明 的具體實施方式
做詳細的說明。在下面的描述中闡述了很多具體細節(jié)以便于充分理解本發(fā)明。但是本發(fā)明能夠以 很多不同于在此描述的其它方式來實施，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以在不違背本發(fā)明內(nèi)涵的情況 下做類似推廣，因此本發(fā)明不受下面公開的具體實施例的限制。其次，本發(fā)明利用示意圖進行詳細描述，在詳述本發(fā)明實施例時，為便于說明，表 示器件結(jié)構(gòu)的剖面圖會不依一般比例作局部放大，而且所述示意圖只是實例，其在此不應(yīng) 限制本發(fā)明保護的范圍。此外，在實際制作中應(yīng)包含長度、寬度及深度的三維空間尺寸。本發(fā)明提供的一種顯示裝置，包括由顯示像素構(gòu)成的有效顯示部分，與有效顯示 部分電連接的信號線以及檢查裝置，所述檢查裝置包括間隔排放的短路棒；所述各短路棒 分別通過過孔區(qū)與不同的信號線電連接，并且所述短路棒的一端具有測試襯墊，所述檢查 裝置還包括與短路棒電連接的尖峰凸起。優(yōu)選的，所述尖峰凸起位于所述短路棒的不具有測試襯墊的一端。優(yōu)選的，同一根所述短路棒的不具有測試襯墊的一端具有一個所述尖峰凸起。優(yōu)選的，連接不同信號線的所述短路棒的不具有測試襯墊的一端的尖峰凸起的尖端相對。優(yōu)選的，所述尖峰凸起位于所述短路棒的測試襯墊上。優(yōu)選的，連接不同信號線的所述短路棒的測試襯墊上的尖峰凸起的尖端相對。優(yōu)選的，在所述短路棒的測試襯墊上具有所述尖峰凸起。優(yōu)選的，連接不同信號線的所述短路棒的不具有測試襯墊的一端的尖峰凸起的尖端相對。優(yōu)選的，連接不同信號線的所述短路棒的測試襯墊上的尖峰凸起的尖端相對。優(yōu)選的，連接不同信號線的所述短路棒的測試襯墊上的尖峰凸起的尖端相對。優(yōu)選的，所述尖峰凸起位于所述過孔區(qū)旁。優(yōu)選的，在所述短路棒靠近相鄰的兩側(cè)短路棒的側(cè)面上分別具有所述尖峰凸起， 并且相鄰的短路棒上的尖峰凸起的尖端相對。優(yōu)選的，所述尖峰凸起的尖部為角狀或錐狀。優(yōu)選的，所述短路棒與所述尖峰凸起位于同一層。優(yōu)選的，所述尖峰凸起的材料為鋁、鋁釹合金、氧化銦錫、鉬、鉬釹合金中的一種或 者多種。優(yōu)選的，所述尖峰凸起的材料為氧化銦錫。優(yōu)選的，所述信號線靠近相鄰的兩側(cè)信號線的側(cè)面上均設(shè)置有所述尖峰凸起，且 相鄰的所述信號線上的所述尖峰凸起均相對設(shè)置。優(yōu)選的，所述尖峰凸起的相對側(cè)另外設(shè)置有一附屬尖端區(qū)，所述附屬尖端區(qū)位于 所述有效顯示部分外，且具有一個或者多個尖端與所述尖峰凸起相對應(yīng)。優(yōu)選的，所述附屬尖端區(qū)設(shè)置在公共電極上。優(yōu)選的，所述信號線與所述尖峰凸起位于同一層。優(yōu)選的，所述過孔區(qū)旁的尖峰凸起為與短路棒連接的信號線向該短路棒外側(cè)的延 伸部分。優(yōu)選的，在所述過孔區(qū)旁還具有與所述短路棒位于同一層的尖峰凸起，與信號線 位于同一層的尖峰凸起和與短路棒位于同一層的尖峰凸起的尖端相對。優(yōu)選的，所述尖峰凸起的尖部為角狀或錐狀。在制造過程中一旦靜電過大，在短路棒上以及短路棒與信號線的連接部位，例如 過孔區(qū)處積累的電荷就會立即往尖峰凸起移動，在尖峰凸起尖端形成尖端放電，大大降低 了靜電對過孔的損壞，使得電性測試正常進行，因此和現(xiàn)有技術(shù)相比本發(fā)明降低了由于靜 電引起的過孔區(qū)被燒毀的可能性。實施例一圖4為本發(fā)明的顯示裝置實施例一的結(jié)構(gòu)示意圖。下面結(jié)合圖4對本發(fā)明的顯示 裝置進行說明。本實施例中顯示裝置包括顯示像素構(gòu)成的有效顯示部分10 ；與有效顯示部分10 電連接的信號線1005和檢查裝置20，其中信號線1005可以為數(shù)據(jù)線、掃描線、柵極線等連 接線，具體地，在本實施例子中以數(shù)據(jù)線為例進行介紹。如圖4所示，所述檢查裝置20包括間隔排放的短路棒，例如圖4示出了 4根短路 棒分別為短路棒101-104，短路棒101-103分別與數(shù)據(jù)線1005-1、1005-2、1005-3通過過孔區(qū)電連接，短路棒104和柵極線或者掃描線(圖中未標出)通過過孔區(qū)電連接。其中，過孔 區(qū)具有接觸孔106和連接導(dǎo)電層107，部分連接導(dǎo)電層107填充在接觸孔106內(nèi)用于將短路 棒和信號線相電連接。在短路棒101-104的一端具有用于電性測試的測試襯墊109，在本 實施方式中，測試襯墊109可以為方塊形狀。其中所述測試襯墊109的寬度大于所述短路 棒104的寬度，以便于電性測試。當然，所述測試襯墊的形狀可以為圓形、梯形、五邊形、六 邊形等其他任意可等同的形狀。 在本發(fā)明的某些其他的具體實施方式
中，所述信號線上還可具有開關(guān)元件以便在 檢查裝置檢測完成后將信號線與短路棒斷開。但優(yōu)選地，本實施方式中信號線上不具有開 關(guān)元件。這主要是因為，如果在所述信號線上制造所述開關(guān)元件，則在制造工藝過程中，可 能會造成電荷在所述開關(guān)元件區(qū)或者所述過孔區(qū)的大量積聚，從而使得所述開關(guān)元件或者 所述過孔區(qū)燒毀，造成所述信號線與所述短路棒不能電連接，最終影響電性測試。所述檢查裝置20還包括與短路棒101-104電連接的尖峰凸起108。優(yōu)選的，尖峰凸起108位于短路棒101-104的不具有測試襯墊109的一端。優(yōu)選地，本發(fā)明的所述短路棒101-104可以位于同一層中，也可以位于不同層中。 具體地，當所述短路棒位于同一層時，所述短路棒可以與掃描線或者數(shù)據(jù)線一同制造，并與 所述掃描線或者數(shù)據(jù)線位于同一層；當所述短路棒位于不同層時，其中部分短路棒可以與 數(shù)據(jù)線一同制造，并與所述數(shù)據(jù)線位于同一層中，其余部分短路棒可以與掃描線一同制造， 并與掃描線位于同一層中。但是，當所述短路棒位于不同層時，在形成所述短路棒與所述信 號線的過孔區(qū)時工藝較復(fù)雜，因此最佳地，在本實施方式中所述短路棒在同一層中。優(yōu)選的，尖峰凸起108和短路棒101-104位于同一層。具體的，尖峰凸起108為短 路棒101-104的延伸部分，也就是將短路棒101-104的一端設(shè)計成角狀或錐狀的尖峰凸起 108。當然，在其他的實施例中，尖峰凸起108也可以和短路棒位于不同層。優(yōu)選地，所述每一短路棒101-104均僅有一個尖端為角狀或錐狀尖峰凸起。這是 因為，在每一短路棒101-104均僅有一個尖峰凸起相較于同一短路棒的尖端具有多個角狀 或錐狀的尖峰凸起可以降低制程精度；而且短路棒不需要做的太寬，特別適合于現(xiàn)在的面 板設(shè)計中的高密度排版；而且可以提高玻璃的利用率；同時這樣設(shè)置使得在制作過程中對 曝光掩模板的圖形精度要求不高。優(yōu)選的，尖峰凸起的尖端部位沒有絕緣層，也或是尖端部分的絕緣層在制造過程 中被刻蝕掉，這樣可進一步提高放電的效率，降低過孔區(qū)被燒毀的風(fēng)險。如圖4所示，尖峰凸起108直接暴露在空氣中，因此一旦制造過程中靜電過大，在 短路棒101-104上以及接觸孔106處積累的電荷就會立即往尖峰凸起108部位移動，在其 尖端直接對空氣放電，大大降低了靜電對過孔區(qū)，尤其是接觸孔106的損壞，使得電性測試 正常進行。此外，在本發(fā)明中，還可以在所述尖峰凸起108的相對側(cè)另外設(shè)置有一附屬尖端 區(qū)(圖未示)，所述附屬尖端區(qū)位于所述有效顯示部分外，且具有一個或者多個尖端與所述 尖峰凸起108相對應(yīng)，以利于尖端對尖端放電，增強放電效果。所述附屬尖端區(qū)不與短路棒 電連接，且優(yōu)選地，所述附屬尖端區(qū)可以設(shè)置在公共電極上(圖未示)。實施例二圖5為本發(fā)明的顯示裝置實施例二中檢測裝置及信號線的結(jié)構(gòu)示意圖。下面結(jié)合圖5所示的檢測裝置及信號線的結(jié)構(gòu)，對本發(fā)明的顯示裝置進行說明。第二實施例和第一實施例的相同部分不再贅述，在本實施方式中如圖5所示，在短路棒201-204不具有測試襯墊209的一端沒有尖峰凸起，而在測 試襯墊209上具有尖峰凸起100。優(yōu)選的，尖峰凸起100和測試襯墊209位于同一層。具體的，尖峰凸起100為測試 襯墊209的延伸部分，也就是將測試襯墊209的一端設(shè)計成角狀或錐狀的尖峰凸起100。當 然，在其他的實施例中，尖峰凸起100也可以和測試襯墊209位于不同層。實施例三圖6為本發(fā)明的顯示裝置實施例三中檢測裝置及信號線的結(jié)構(gòu)示意圖。下面結(jié)合 圖6所示的檢測裝置及信號線的結(jié)構(gòu)，對本發(fā)明的顯示裝置進行說明。
第三實施例和第一實施例的相同部分不再贅述，在本實施方式中如圖6所示，不僅在短路棒301-304不具有測試襯墊309的一端具有尖峰凸起，另 外在測試襯墊309上也具有尖峰凸起300。由于短路棒兩端均有尖峰凸起，靜電荷可以快速 向兩尖峰凸起端移動，大大降低了過孔區(qū)被燒毀的風(fēng)險。優(yōu)選的，同一根所述短路棒的不具有測試襯墊的一端具有一個所述尖峰凸起。優(yōu)選的，尖峰凸起300和測試襯墊309位于同一層，具體的，尖峰凸起300為測試 襯墊309的延伸部分，也就是將測試襯墊309的一端設(shè)計成尖部為角狀或錐狀的尖峰凸起 300。當然，在其他的實施例中，尖峰凸起300也可以和測試襯墊309位于不同層。實施例四圖7為本發(fā)明的顯示裝置實施例四中檢測裝置及信號線的結(jié)構(gòu)示意圖。下面結(jié)合 圖7所示的檢測裝置及信號線的結(jié)構(gòu)，對本發(fā)明的顯示裝置進行說明。第四實施例和第一實施例的相同部分不再贅述，在本實施方式中如圖7所示，短路棒401-404不具有測試襯墊409的一端具有尖峰凸起408。并 且，位于連接不同信號線的短路棒上的尖峰凸起408的尖端相對設(shè)置。其中，所述尖峰凸起 可以位于同一層中也可以位于不同層中。當所述尖峰凸起位于不同層時，所述尖峰凸起之 間除了相對設(shè)置外，還可允許有部分交疊。優(yōu)選的，同一根所述短路棒的不具有測試襯墊的一端具有一個所述尖峰凸起。當然，在其他的實施例中，也可以尖峰凸起408中的兩個或者三個形成尖端與尖 端相對的結(jié)構(gòu)，例如尖峰凸起408-1、408-3的尖端相對設(shè)置，尖峰凸起408-1、408-2、408-3 的尖端相對設(shè)置。具體的，在尖峰凸起408表面可以沒有絕緣層，從而提高了放電的效率，降低了靜 電對過孔區(qū)的損壞。如圖7所示，因為尖峰凸起408的尖端相對設(shè)置，因此制造過程中即使靜電過大， 在短路棒401-404上以及過孔區(qū)處積累的電荷都會立即往尖峰凸起408部位移動，因此使 得尖端對尖端放電，大大降低了靜電對過孔區(qū)的損壞，使得電性測試正常進行。實施例五圖8為本發(fā)明的顯示裝置實施例五中檢測裝置及信號線的結(jié)構(gòu)示意圖。下面結(jié)合 圖8所示的檢測裝置及信號線的結(jié)構(gòu)，對本發(fā)明的顯示裝置進行說明。第五實施例和第四實施例的相同部分不再贅述，在本實施方式中
在短路棒501-504的一端具有用來電性測試的測試襯墊509，并且測試襯墊509上 具有尖峰凸起500。
優(yōu)選的，同一根所述短路棒的不具有測試襯墊的一端具有一個所述尖峰凸起。由于在短路棒的不具有測試襯墊一端，以及測試襯墊上都設(shè)置尖峰凸起，因此靜 電荷可以快速向兩端尖峰凸起端移動，大大降低了過孔區(qū)被燒毀的風(fēng)險。實施例六圖9為本發(fā)明的顯示裝置實施例六中檢測裝置及信號線的結(jié)構(gòu)示意圖。下面結(jié)合 圖9所示的檢測裝置及信號線的結(jié)構(gòu)，對本發(fā)明的顯示裝置進行說明。第六實施例和第五實施例的相同部分不再贅述，在本實施方式中在短路棒601-604的一端具有用來電性測試的測試襯墊609，并且測試襯墊609 上具有尖峰凸起600，具體的將測試襯墊609的一端設(shè)計成尖部為角狀或錐狀的尖峰凸起 600。并且，連接不同信號線的短路棒上的所述各尖峰凸起600的尖端也相對設(shè)置，例如尖 峰凸起609-1，609-2，609-3，609-4相對設(shè)置，也可以其中的兩個或3個尖峰凸起相對設(shè)置。當然，在其他的實施例中，也可以僅將測試襯墊上的尖峰凸起尖端相對設(shè)置，而短 路棒的不具有測試襯墊409 —端不設(shè)置尖端相對的尖峰凸起，或者不設(shè)置尖峰凸起。由于在本實施例子中的短路棒兩端均有尖峰凸起，靜電荷可以快速向兩尖峰凸起 端移動，而且兩端的尖峰凸起都設(shè)置為尖端相對的結(jié)構(gòu)，從而通過尖端對尖端放電，加快了 靜電荷的釋放，因此大大降低了過孔區(qū)被燒毀的風(fēng)險。實施例七圖10為本發(fā)明的顯示裝置實施例七中檢測裝置及信號線的結(jié)構(gòu)示意圖。下面結(jié) 合圖10所示的檢測裝置及信號線的結(jié)構(gòu)，對本發(fā)明的顯示裝置進行說明。第七實施例和上述實施例的相同部分不再贅述，在本實施方式中如圖10所示，短路棒701-704靠近與信號線電連接的位置，例如短路棒701-704 與信號線通過過孔區(qū)電連接，在過孔區(qū)旁，也即在接觸孔106旁具有一個或者多個尖峰凸 起708，所述尖峰凸起708可以位于短路棒上，也可以位于信號線上。所述尖峰凸起708可以 如圖10所示的位于短路棒的同一側(cè)，也可以位于短路棒的不同側(cè)，或者在每一短路棒靠近 相鄰的兩側(cè)短路棒的側(cè)面上均設(shè)置有尖峰凸起，且各短路棒之間的尖峰凸起均相對設(shè)置。優(yōu)選的，尖峰凸起708和短路棒701-704位于同一層，具體的，尖峰凸起708的尖 部為角狀或錐狀。具體的，在短路棒701-704的測試襯墊709的部分，以及短路棒701-704的尖峰凸 起708的尖端部分的表面不具有絕緣層。當然，在其他實施例中，所述測試襯墊709上也可以具有上述實施例中的尖峰凸起。如圖10所示，因為尖峰凸起708設(shè)置在過孔區(qū)旁，并且尖峰凸起708直接暴露在 空氣中，因此一旦工藝過程中靜電過大，在過孔區(qū)處積累的電荷就會立即往尖峰凸起708 部位移動，在其尖端直接對空氣放電，大大降低了靜電對過孔區(qū)的損壞，使得電性測試正常 進行，因為過孔區(qū)容易因為靜電被損壞影響電性測試，因此優(yōu)選的將尖峰凸起708設(shè)置在 過孔區(qū)旁可以有效的防止靜電對過孔區(qū)造成的損壞。實施例八
圖11為本發(fā)明的顯示裝置實施例八中檢測裝置及信號線的結(jié)構(gòu)示意圖。下面結(jié) 合圖11所示的檢測裝置及信號線的結(jié)構(gòu)，對本發(fā)明的顯示裝置進行說明。第八實施例和第七實施例的相同部分不再贅述，在本實施方式中所述尖峰凸起808與信號線位于相同的層，例如與數(shù)據(jù)線位于相同的層，并且位 于數(shù)據(jù)線的頂端，為數(shù)據(jù)線向短路棒外側(cè)的延伸部分。本實施例中尖峰凸起808與信號線 位于相同的層，從而使得刻蝕形成尖峰凸起的工藝步驟更簡單。此外，在每一所述信號線靠 近相鄰的兩側(cè)信號線的側(cè)面上均設(shè)置有所述尖峰凸起，且相鄰的所述信號線的所述尖峰凸 起均相對設(shè)置。實施例九圖12為本發(fā)明的顯示裝置實施例九中檢測裝置及信號線的結(jié)構(gòu)示意圖。下面結(jié) 合圖12所示的檢測裝置及信號線的結(jié)構(gòu)，對本發(fā)明的顯示裝置進行說明。第九實施例和第八實施例的相同部分不再贅述，在本實施方式中 在短路棒上，除了位于信號線頂端的尖峰凸起808之外，在過孔區(qū)旁還具有另一 尖峰凸起711，尖峰凸起711和短路棒位于同一層，并且尖峰凸起711為角狀或錐狀。實施例十圖13為本發(fā)明的顯示裝置實施例十中檢測裝置及信號線的結(jié)構(gòu)示意圖。下面結(jié) 合圖13所示的檢測裝置及信號線的結(jié)構(gòu)，對本發(fā)明的顯示裝置進行說明。第十實施例和第九實施例的相同部分不再贅述，在本實施方式中同一短路棒上的尖峰凸起808和尖峰凸起711的尖端部分設(shè)計成尖端相對的結(jié) 構(gòu)。因為尖峰凸起808的尖端和尖峰凸起711的尖端相對設(shè)置，因此制造過程中靜電過大， 積累的電荷就會立即往尖峰凸起808和711上移動，從而尖端對尖端放電。實施例i^一圖14為本發(fā)明的顯示裝置實施例十一中檢測裝置及信號線的結(jié)構(gòu)示意圖。下面 結(jié)合圖14所示的檢測裝置及信號線的結(jié)構(gòu)，對本發(fā)明的顯示裝置進行說明。第十一實施例和上述實施例的相同部分不再贅述，在本實施方式中 如圖14所示，所述短路棒和信號線連接位置旁設(shè)置有尖峰凸起713和714，尖峰凸 起713和714分別位于短路棒靠近相鄰的兩側(cè)短路棒的兩側(cè)面上，并且短路棒的尖峰凸起 713和其相鄰的短路棒上的尖峰凸起714的尖端相對設(shè)置。另外在每個實施例中尖峰凸起的設(shè)置可以任意組合。在此不再一一列出。所以上 述實施例中，一旦制造過程中靜電過大，在短路棒上和接觸孔處積累的電荷就會立即往尖 端部位移動，在尖端形成尖端放電，大大降低了靜電對過孔區(qū)的損壞，使得電性測試正常進 行。本發(fā)明的圖10-14的尖峰凸起設(shè)計在過孔區(qū)旁邊，可以快速放電。本發(fā)明的尖端 上面沒有絕緣層，以及尖端與尖端之間沒有絕緣層，提高了放電的效率；靜電放電效果明 顯。此外，本發(fā)明的所述尖峰凸起的材料可以為鋁、鋁釹合金、氧化銦錫、鉬、鉬釹合金等中 的一種或者多種，優(yōu)先的，本發(fā)明中的所述尖峰凸起的材料為氧化銦錫，因其具有較強的抗 腐蝕性。以上所述，僅是本發(fā)明的較佳實施例而已，并非對本發(fā)明作任何形式上的限制。雖然本發(fā)明已以較佳實施例披露如上，然而并非用以限定本發(fā)明。任何熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明技術(shù)方案范圍情況下，都可利用上述揭示的方法和技術(shù)內(nèi) 容對本發(fā)明技術(shù)方案作出許多可能的變動和修飾，或修改為等同變化的等效實施例。因此，凡是未脫離本發(fā)明技術(shù)方案的內(nèi)容，依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實質(zhì)對以上實施例所做的任何簡單 修改、等同變化及修飾，均仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案保護的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
一種顯示裝置，包括由顯示像素構(gòu)成的有效顯示部分，與有效顯示部分電連接的信號線以及檢查裝置，所述檢查裝置包括間隔排放的短路棒；其特征在于，所述各短路棒分別通過過孔區(qū)與不同的信號線電連接，并且所述短路棒的一端具有測試襯墊，所述檢查裝置還包括與短路棒電連接的尖峰凸起。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示裝置，其特征在于，所述尖峰凸起位于所述短路棒的不 具有測試襯墊的一端。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的顯示裝置，其特征在于，同一所述短路棒的不具有測試襯墊 的一端具有一個所述尖峰凸起。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的顯示裝置，其特征在于，連接不同信號線的所述短路棒的不 具有測試襯墊的一端的尖峰凸起的尖端相對。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示裝置，其特征在于，所述尖峰凸起位于所述短路棒的測 試襯墊上。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的顯示裝置，其特征在于，連接不同信號線的所述短路棒的測 試襯墊上的尖峰凸起的尖端相對。
7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的顯示裝置，其特征在于，在所述短路棒的測試襯墊上具有所 述尖峰凸起。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的顯示裝置，其特征在于，連接不同信號線的所述短路棒的不 具有測試襯墊的一端的尖峰凸起的尖端相對。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的顯示裝置，其特征在于，連接不同信號線的所述短路棒的測 試襯墊上的尖峰凸起的尖端相對。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的顯示裝置，其特征在于，連接不同信號線的所述短路棒的測 試襯墊上的尖峰凸起的尖端相對。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示裝置，其特征在于，所述尖峰凸起位于所述過孔區(qū)旁。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的顯示裝置，其特征在于，在所述短路棒靠近相鄰的兩側(cè)短 路棒的側(cè)面上分別具有所述尖峰凸起，并且相鄰的所述短路棒上的所述尖峰凸起的尖端相 對。
13.根據(jù)權(quán)利要求1至12任意一項所述的顯示裝置，其特征在于，所述尖峰凸起的尖部 為角狀或錐狀。
14.根據(jù)權(quán)利要求1至12任意一項所述的顯示裝置，其特征在于，所述短路棒與所述尖 峰凸起位于同一層。
15.根據(jù)權(quán)利要求1至12任意一項所述的顯示裝置，其特征在于，所述尖峰凸起的材料 為鋁、鋁釹合金、鉬、鉬釹合金中的一種或者多種。
16.根據(jù)權(quán)利要求1至12任意一項所述的顯示裝置，其特征在于，所述尖峰凸起的材料 為氧化銦錫。
17.根據(jù)權(quán)利要求12所述的顯示裝置，其特征在于，所述信號線靠近相鄰的兩側(cè)信號 線的側(cè)面上均設(shè)置有所述尖峰凸起，且相鄰的所述信號線上的所述尖峰凸起均相對設(shè)置。
18.根據(jù)權(quán)利要求1或17所述的顯示裝置，其特征在于，所述尖峰凸起的相對側(cè)另外設(shè) 置有一附屬尖端區(qū)，所述附屬尖端區(qū)位于所述有效顯示部分外，且具有一個或者多個尖端 與所述尖峰凸起相對應(yīng)。
19.根據(jù)權(quán)利要求18所述的顯示裝置，其特征在于，所述附屬尖端區(qū)設(shè)置在公共電極上。
20.根據(jù)權(quán)利要求11所述的顯示裝置，其特征在于，所述信號線與所述尖峰凸起位于同一層。
21.根據(jù)權(quán)利要求20所述的顯示裝置，其特征在于，所述過孔區(qū)旁的尖峰凸起為與短 路棒連接的信號線向該短路棒外側(cè)的延伸部分。
22.根據(jù)權(quán)利要求21所述的顯示裝置，其特征在于，在所述過孔區(qū)旁還具有與所述短 路棒位于同一層的尖峰凸起，與信號線位于同一層的尖峰凸起和與短路棒位于同一層的尖 峰凸起的尖端相對。
23.根據(jù)權(quán)利要求20-22任意一項所述的顯示裝置，其特征在于，所述尖峰凸起的尖部 為角狀或錐狀。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種顯示裝置，包括由顯示像素構(gòu)成的有效顯示部分，與有效顯示部分電連接的信號線以及檢查裝置，所述檢查裝置包括間隔排放的短路棒，所述各短路棒分別與不同的信號線電連接，并且所述短路棒的一端具有測試襯墊，所述檢查裝置還包括分別與短路棒電連接的尖峰凸起，從而解決了由于靜電引起的短路棒與信號線的連接位置的過孔區(qū)容易被燒毀的問題。
文檔編號H01L23/52GK101847628SQ200910048490
公開日2010年9月29日 申請日期2009年3月27日 優(yōu)先權(quán)日2009年3月27日
發(fā)明者黃賢軍 申請人:上海天馬微電子有限公司