專利名稱:旋渦式非接觸硅片夾持裝置的制作方法
技術領域:
本發(fā)明涉及硅片夾持裝置,尤其涉及一種旋渦式非接觸硅片夾持裝置。
背景技術:
硅片的夾持與輸送是半導體生產工藝中的一個重要環(huán)節(jié),較大程度的影響 著硅片曝光前后的可靠性?,F有技術中,主要采用接觸式真空吸盤,通過真空 吸附將硅片下表面緊貼在傳送機械手上,確保了硅片傳送過程的穩(wěn)定性。然而, 與吸盤的直接接觸易導致硅片受力不均,從而造成硅片翹曲變形等缺陷。按照
美國半導體工業(yè)協(xié)會(SIA)的微電子技術發(fā)展構圖,2009年將開始使用直徑為 450mm的硅片,硅片尺寸的進一步增大,降低了硅片的剛度,由此導致硅片更 易彎曲,從而增加了采用接觸式夾持與輸送的難度。同時,采用接觸式夾持方 式,將不可避免的造成硅片下表面的表面污染與劃傷,對于硅片雙面刻蝕生產 要求而言,將嚴重的影響硅片表面質量,從而降低其生產效率及硅片利用率, 這對于具有納米級精度的芯片制造而言,將意味著廢品率的進一步增加。
目前非接觸夾持大多利用空氣動力學中的伯努利原理(例如美國專利 US5067762及US2006/0290151),等高流動時,流速大,壓力就小。但由于其用 氣量過大而導致管道內較大的功率損耗,且噪聲較大,而限制了其應用。為了 克服上述缺點,有人提出旋渦式非接觸夾持原理(例如美國專利US609卯56), 與伯努利原理裝置相比,采用該方案,在等流量氣體情況下可獲得更大的吸附 力,因而效率更高。然而,旋渦流的引入卻導致了硅片上表面剪切力的產生, 在該力的牽引下,被夾持硅片被迫發(fā)生旋轉運動,并由此導致硅片處于不穩(wěn)定 狀態(tài),甚至于在垂直方向發(fā)生振動,與其它設備發(fā)生沖擊,從而嚴重的影響了 該方案的有效實施。
發(fā)明內容
本發(fā)明的目的在于提供一種旋渦式非接觸硅片夾持裝置,利用空氣動力學 原理,在半封閉的流道中誘發(fā)旋渦流,借助于旋渦中心的負壓力、空氣溢出的 正壓力和工件自重三者之間的動態(tài)平衡,實現硅片的非接觸夾持與輸送,在獲 得有效吸附的同時,避免硅片的旋轉。
為了達到上述目的,本發(fā)明所采用的技術方案是
本發(fā)明包括吸盤主體和穩(wěn)流網;其中1) 吸盤主體上半部分吸盤壁外部為長方體,內部為圓柱腔體,圓柱腔體頂部 同一圓周上開有兩個均布的進氣口,進氣口與圓柱腔體相切;吸盤主體下半部 分為帽檐結構,帽檐結構孔內側開有一個對準槽及固定環(huán)道,固定環(huán)道同一圓 周上開有多個均布的分流孔;
2) 穩(wěn)流網為扁圓柱結構,底面開有網狀穩(wěn)流孔;周圍設有環(huán)形壁面,環(huán)形壁 面同一圓周上開有多個均布的分流孔及一個對準塊;
吸盤主體與穩(wěn)流網之間通過一個對準槽和一個對準塊配合對準,固定環(huán)道
與穩(wěn)流網的環(huán)形壁面之間為粘接固定,吸盤主體的帽檐結構的底面和穩(wěn)流網的
底面齊平。
本發(fā)明具有的有益的效果是
(1) 通過分流孔和穩(wěn)流網的綜合作用,在獲得旋渦流吸附力的同時,由于對 吸盤底部旋渦的破壞,抑制了剪切力的產生的,從而避免了硅片的旋轉運動, 為獲得穩(wěn)定可靠的非接觸夾持創(chuàng)造了條件。
(2) 通過優(yōu)化匹配形成吸附力的氣體注入量與形成剪切力的氣體釋放量,從 而在獲得較大的吸附力的同時,避免氣體的過量損耗,并由此抑制了噪聲污染。
(3) 本發(fā)明結構簡單、工藝性好。
圖1是本發(fā)明的工作原理示意圖。
圖2是本發(fā)明的立體結構及拆分裝配示意圖。
圖3是吸盤主體結構的橫截面圖。
圖4是圖3的A-A剖視圖。
圖5是圖4的B-B剖視圖。
圖6是本發(fā)明的一種穩(wěn)流網的俯視圖。
圖7是本發(fā)明的另一種穩(wěn)流網的俯視圖。
圖中1、吸盤主體,1A、吸盤壁,1B、進氣口, 1C、帽檐結構,1D、對 準槽,1E、分流孔,1F、固定環(huán)道,2.穩(wěn)流網,2A、環(huán)形壁面,2B、分流孔, 2C、對準塊,2D、穩(wěn)流孔,2D'、穩(wěn)流孔,3、硅片。
具體實施例方式
下面結合附圖和實施例對本發(fā)明作進一步說明。
如圖1 、圖2、圖3、圖4、圖5所示,本發(fā)明包括吸盤主體1和穩(wěn)流網2; 其中
1)吸盤主體1上半部分吸盤壁1A外部為長方體,內部為圓柱腔體,圓柱腔體頂部同一圓周上開有二個均布的進氣口 1B,進氣口 1B與圓柱腔體相切;吸
盤主體1下半部分為帽檐結構1C,帽檐結構1C孔內側開有一個對準槽1D及固 定環(huán)道1F,固定環(huán)道1F同一圓周上開有多個均布的分流孔1E;
2)穩(wěn)流網2為扁圓柱結構,底面開有網狀穩(wěn)流孔;周圍設有環(huán)形壁面2A, 環(huán)形壁面2A同一圓周上開有多個均布的分流孔2B及一個對準塊2C;
吸盤主體1與穩(wěn)流網2之間通過一個對準槽1D和一個對準塊2C配合對準, 固定環(huán)道1F與穩(wěn)流網2的環(huán)形壁面2A之間為粘接固定,吸盤主體1的帽檐結 構1C的底面和穩(wěn)流網2的底面齊平。
所述的固定環(huán)道1F上的分流孔1E和環(huán)形壁面2A上的分流孔2B孔徑和孔 數相等,孔數為2 6個。
如圖6所示,所述的網狀穩(wěn)流孔為圓形孔2D,直徑在0.5 2mm之間。如 圖7所示,所述的網狀穩(wěn)流孔為方形孔2D',長度在0.5 2mm之間。
如圖1所示為本發(fā)明的工作原理。在夾持過程中,壓縮氣體通過進氣口沿 切向方向進入圓柱腔體,在壁面的束縛下形成旋渦流,由于空氣動力學原理中 的離心力作用,旋渦流在向下運動過程中,在中心區(qū)域產生負壓區(qū),硅片3在 負壓產生的吸引力、排除氣體正壓產生的排斥力以及自身重力的作用下達到動 態(tài)平衡的吸附狀態(tài)。
如圖2所示為本發(fā)明的兩結構之間的上拆分裝配示意圖。吸盤主體1與穩(wěn) 流網2為同軸配合,其中穩(wěn)流網2的對準塊2C卡在吸盤主體1的對準槽1D內, 使得穩(wěn)流網2上的分流孔2B與吸盤主體1上的穩(wěn)流網1E可以精確對準,以便 一部分旋轉氣流可以通過分流孔順利排出;吸盤主體1與穩(wěn)流網2為粘接固定。
吸盤主體1包括吸盤壁1A、進氣口 1B、帽檐結構1C、 一個對準槽1D、分 流孔1E以及固定環(huán)道1F。其中吸盤壁1A的外部為長方體,易于加工和固定, 內部為圓柱腔體以便于形成旋渦流;進氣口 1B在圓柱腔體頂部均勻、切向布置, 使壓縮氣體更易形成旋渦流;帽檐結構1C為直徑較大的圓環(huán)體,氣體在排出過 程巾經過較長的底面距離可使得夾持過程更加穩(wěn)定;帽檐結構1C上開有一個對 準塊1D,是為了和穩(wěn)流網2精確配合;帽檐結構1C的同一在圓周上開有多個 分流孔1E,是為了減少從吸盤底部排出的氣體,以降低排除氣體對硅片3表面 產生的正壓力,從而實現相同耗氣量產生較大吸附力的效果;固定環(huán)道1F的孔 徑略大于吸盤主體1的圓柱腔體孔徑,目的是使得穩(wěn)流網2更加方便容易的與 吸盤主體1配合。
圖6、圖7所示為穩(wěn)流網2的俯視圖,它包括環(huán)形壁面2A、同一圓周上的均布的多個分流孔2B、 一個對準塊2C以及網狀穩(wěn)流孔。環(huán)形壁面2A與吸盤主 體1上的固定環(huán)道1F配合;分流孔2B與吸盤主體1上的分流孔1E直徑相等且 一一對應;對準塊2C卡在吸盤主體1的對準槽1D內;穩(wěn)流孔的主要作用就是 破壞排除氣體的旋轉運動,削弱引入旋渦流后對硅片3的剪切力,同時保留旋 渦流中心區(qū)域的負壓區(qū)對硅片3的吸附力作用,從而實現吸盤對硅片3的穩(wěn)定 夾持。穩(wěn)流孔的孔隙率大小對穩(wěn)流網2的性能影響較大,優(yōu)化空隙率在50% 90% 之間,否則將嚴重削弱負壓對硅片3的吸附力大小或是沒有穩(wěn)流作用;穩(wěn)流網2 的厚度在0.1 lmm,厚度太小,則旋渦的削弱作用不明顯,厚度太大,則會由 于氣阻的增加而導致硅片3受到排斥力大于吸附力,無法實現夾持過程。
權利要求
1. 一種旋渦式非接觸硅片夾持裝置,其特征在于包括吸盤主體(1)和穩(wěn)流網(2);其中1)吸盤主體(1)上半部分吸盤壁(1A)外部為長方體,內部為圓柱腔體,圓柱腔體頂部同一圓周上開有兩個均布的進氣口(1B),進氣口(1B)與圓柱腔體相切;吸盤主體(1)下半部分為帽檐結構(1C),帽檐結構(1C)孔內側開有一個對準槽(1D)及固定環(huán)道(1F),固定環(huán)道(1F)的同一圓周上開有多個均布的分流孔(1E);2)穩(wěn)流網(2)為扁圓柱結構,底面開有網狀穩(wěn)流孔;周圍設有環(huán)形壁面(2A),環(huán)形壁面(2A)同一圓周上開有多個均布的分流孔(2B)及一個對準塊(2C);吸盤主體(1)與穩(wěn)流網(2)之間通過一個對準槽(1D)和一個對準塊(2C)配合對準,固定環(huán)道(1F)與穩(wěn)流網(2)的環(huán)形壁面(2A)之間為粘接固定,吸盤主體(1)的帽檐結構(1C)的底面和穩(wěn)流網(2)的底面齊平。
2. 根據權利要求1所述的一種旋渦式非接觸硅片夾持裝置,其特征在于 所述的固定環(huán)道(1F)上的分流孔(1E)和環(huán)形壁面(2A)上的分流孔(2B)孔徑和孔數 相等,孔數為2 6個。
3. 根據權利要求1所述的一種旋渦式非接觸硅片夾持裝置,其特征在于 所述的網狀穩(wěn)流孔為圓形孔(2D),直徑在0.5 2mm之間。
4. 根據權利要求1所述的一種旋渦式非接觸硅片夾持裝置,其特征在于 所述的網狀穩(wěn)流孔為方形孔(2D'),長度在0.5 2mm之間。
5. 根據權利要求1所述的一種旋渦式非接觸硅片夾持裝置,其特征在于 所述的網狀穩(wěn)流孔的孔隙率為50% 90%,其厚度為0.1 lmm。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種旋渦式非接觸硅片夾持裝置。包括吸盤主體和穩(wěn)流網兩部分。吸盤主體頂部切向布置進氣口,底部有帽檐結構,其上開有分流孔及對準槽;穩(wěn)流網為扁圓柱結構,其上布有多個穩(wěn)流孔,周圍設有環(huán)形壁,壁上開有分流孔,與吸盤主體結構上的分流孔一一對應。壓縮氣體經過進氣口沿切向方向進入吸盤,在壁面束縛作用下形成旋渦流,旋渦流的中心區(qū)域由于離心力作用產生真空;同時,旋渦流向下運動,一部分在吸盤底部呈射線狀排出,另一部分通過分流孔排出。硅片在旋渦中心的負壓、空氣溢出的正壓和自身重力三者之間的動態(tài)平衡下實現非接觸夾持。本發(fā)明在較小耗氣量情況下,可以實現對硅片的穩(wěn)定夾持,結構簡單、工藝性好等優(yōu)點。
文檔編號H01L21/67GK101510521SQ20091009714
公開日2009年8月19日 申請日期2009年3月23日 優(yōu)先權日2009年3月23日
發(fā)明者新 傅, 俊 鄒, 郭麗媛, 阮曉東 申請人:浙江大學