專利名稱：主動組件數(shù)組基板的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
主動組件數(shù)組基板
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型是有關(guān)于一種主動組件數(shù)組基板，且特別是有關(guān)于一種檢測電路能力
良好的主動組件數(shù)組基板。背景技術(shù)：
在諸多的平面顯示器中，具有高畫質(zhì)、空間利用效率佳、低消耗功率、無輻射等優(yōu) 越特性的薄膜晶體管液晶顯示器(Thin FilmTransistor Liquid Crystal Display, TFT LCD)，已成為顯示器領(lǐng)域中的主流。薄膜晶體管液晶顯示器主要是由主動組件數(shù)組基板、彩 色濾光基板以及夾于此兩基板之間的液晶層所構(gòu)成。 在完成主動組件數(shù)組基板的制程后，通常會對主動組件數(shù)組基板上的畫素數(shù)組進 行電性檢測，或是在完成面板制程后，對面板進行簡易的點燈檢測，以判斷畫素數(shù)組或面板 可否正常運作。當畫素數(shù)組或面板無法正常運作時，便可對于不良的組件(如薄膜晶體管 或畫素電極等)或線路進行修補。然而，為了對于畫素數(shù)組或面板進行檢測，在主動組件數(shù) 組基板的周邊區(qū)上便需要制作出檢測電路(Examiningcircuit)。 檢測電路的設(shè)計主要是利用多個檢測開關(guān)分別連接主動組件數(shù)組基板上的多條 掃描線以及多條數(shù)據(jù)線。此外，檢測電路中設(shè)有多條短路條(shorting bar)以將連接于掃 描線的檢測開關(guān)串接在一起，或是將連接于數(shù)據(jù)線的檢測開關(guān)串接在一起。如此一來，由短 路條的端部輸入對應(yīng)的檢測訊號就可以進行檢測。 然而，每一條短路條連接至所有的掃描線或是所有的數(shù)據(jù)線將增加短路條上的檢 測開關(guān)的阻抗負荷。此外，掃描線之間的耦合效應(yīng)以及數(shù)據(jù)線之間的耦合效應(yīng)以及掃描線 與數(shù)據(jù)線之間的耦合效應(yīng)更會加重檢測開關(guān)的負擔。如此一來，檢測開關(guān)的充放電效能不 佳而使檢測主動組件數(shù)組基板時容易發(fā)生假線等誤檢測現(xiàn)象。特別是，隨顯示面板的分辨 率提升，檢測開關(guān)的負擔更是沉重而更容易發(fā)生檢測效能不佳的情形。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題，在于提供一種主動組件數(shù)組基板，其檢測電路的效能 良好，正確率高。 本實用新型提出一種主動組件數(shù)組基板，一種主動組件數(shù)組基板，包括一基板， 具有一顯示區(qū)以及該顯示區(qū)以外的一周邊區(qū)；多條訊號線，位于所述顯示區(qū)中，且各訊號線 彼此平行；多個畫素結(jié)構(gòu)，位于所述顯示區(qū)中，并電性連接所述訊號線；以及一檢測電路， 位于所述周邊區(qū)中，電性連接所述訊號線，該檢測電路包括一第一短路條、一第二短路條、 多個第一開關(guān)以及多個第二開關(guān)，所述各訊號線的延伸線最多通過該第一短路條與該第二 短路條其中之一者，且該些第一開關(guān)連接至該第一短路條而該些第二開關(guān)連接至該第二短 路條。 其中，所述第一開關(guān)以及第二開關(guān)分別為一薄膜晶體管。所述薄膜晶體管包括一 閘極、一源極以及一汲極，且該閘極位于該源極與該汲極之間。所述汲極連接于其中一所述訊號線。 所述第一短路條以及所述第二短路條分別為一第一檢測閘極線以及一第二檢測 閘極線，該第一檢測閘極線用以將一第一閘極訊號輸入至所述第一開關(guān)，而該第二檢測閘 極線用以將一第二閘極訊號輸入至所述第二開關(guān)。所述檢測電路還包括一檢測數(shù)據(jù)線，連 接至所述第一開關(guān)以及所述第二開關(guān)；或者是所述檢測電路還包括一第一檢測數(shù)據(jù)線以 及一第二檢測數(shù)據(jù)線，且該第一檢測數(shù)據(jù)線連接至所述第一開關(guān)，而該第二檢測數(shù)據(jù)線連 接至所述第二開關(guān)。 據(jù)線以及一第一藍色檢測數(shù)據(jù)線，且該第一紅色檢測數(shù)據(jù)線、第一綠色檢測數(shù)據(jù)
線以及第一藍色檢測數(shù)據(jù)線分別連接部分的第一開關(guān)，而所述第二檢測數(shù)據(jù)線包括一第二
紅色檢測數(shù)據(jù)線、一第二綠色檢測數(shù)據(jù)線以及一第二藍色檢測數(shù)據(jù)線，且該第二紅色檢測
數(shù)據(jù)線、第二綠色檢測數(shù)據(jù)線以及第二藍色檢測數(shù)據(jù)線分別連接部分的第二開關(guān)。 所述第一短路條以及該第二短路條分別為一第一檢測數(shù)據(jù)線以及一第二檢測數(shù)
據(jù)線，該第一檢測數(shù)據(jù)線用以將一第一數(shù)據(jù)訊號輸入至所述第一開關(guān)，而該第二檢測數(shù)據(jù)
線用以將一第二數(shù)據(jù)訊號輸入至所述第二開關(guān)。 所述第一檢測資料線包括一第一紅色檢測數(shù)據(jù)線、一第一綠色檢測數(shù)據(jù)線以及一 第一藍色檢測數(shù)據(jù)線，且該第一紅色檢測數(shù)據(jù)線、第一綠色檢測數(shù)據(jù)線以及第一藍色檢測 數(shù)據(jù)線分別連接部分的第一開關(guān)，而該第二檢測數(shù)據(jù)線包括一第二紅色檢測數(shù)據(jù)線、一第 二綠色檢測數(shù)據(jù)線以及一第二藍色檢測數(shù)據(jù)線，且該第二紅色檢測數(shù)據(jù)線、第二綠色檢測 數(shù)據(jù)線以及第二藍色檢測數(shù)據(jù)線分別連接部分的第二開關(guān)。 所述檢測電路還包括一檢測閘極線，連接至該些第一開關(guān)以及該些第二開關(guān)。 所述檢測電路還包括一第三短路條以及多個第三開關(guān)，該第三開關(guān)連接至該第三 短路條，且各所述訊號線的延伸線最多通過該第一短路條、該第二短路條以及該第三短路 條其中之一者。 所述訊號線為掃描線或數(shù)據(jù)線。 所述第一開關(guān)以及第二開關(guān)被同時開啟或分別開啟。 本發(fā)明的優(yōu)點在于本實用新型將同一側(cè)的檢測電路以兩條以上的短路條連接。 如此一來，每一條短路條僅連接部分的訊號線及部分的畫素，而不需承擔過大的負荷。在這 樣的設(shè)計之下，每一條短路條上的檢測開關(guān)可以更有效率的充放電而使檢測正確性提升。 換言之，本實用新型的主動組件數(shù)組基板不容易發(fā)生檢測誤差。


下面參照附圖結(jié)合實施例對本發(fā)明作進一步的說明。 圖1為本實用新型第一實施例的主動組件數(shù)組基板的上視示意圖。 圖2為本實用新型第二實施例的主動組件數(shù)組基板。 圖3為本實用新型第三實施例的主動組件數(shù)組基板示意圖。 圖4為本實用新型第四實施例的主動組件數(shù)組基板。 圖5為本實用新型第五實施例的主動組件數(shù)組基板。 圖6為本實用新型第六實施例的主動組件數(shù)組基板示意圖。主要組件符號說明[0026] 100、200、300、400、500、600 :主動組件數(shù)組基板 110 :基板 112:顯示區(qū) 114:周邊區(qū) 120 :訊號線 120R、120G、120B資料線 130 :畫素結(jié)構(gòu) 140、150、240、340、440、540、610、620 :檢測電路 142、242、342、144、244、344、546、548 :短路條 242R、242G、242B、244R、244G、244B、346 :檢測資料線 146:檢測閘極線 D :汲極 G:閘極 S :源極 Sl :第一開關(guān) S2:第二開關(guān) S3 :第三開關(guān) Vd、Vdl、Vd2、Vd3:數(shù)據(jù)訊號 Vg、 Vgl、 Vg2、 Vg3 :閘極訊號 I、 II、 III、 IV :檢測區(qū)
具體實施方式
圖1為本實用新型第一實施例的主動組件數(shù)組基板的上視示意圖。請參照圖l，主 動組件數(shù)組基板IOO包括一基板110、多條訊號線120、多個畫素結(jié)構(gòu)130以及一檢測電路 140?；?10具有一顯示區(qū)112以及顯示區(qū)112以外的一周邊區(qū)114。所有訊號線120均 位于顯示區(qū)112中，且各訊號線120彼此平行。所有畫素結(jié)構(gòu)130均位于顯示區(qū)112中，并 電性連接訊號線120。檢測電路140位于周邊區(qū)114中，并電性連接訊號線120。 主動組件數(shù)組基板100中，各畫素結(jié)構(gòu)130需要連接至一條掃描線(未標示)以 及一條數(shù)據(jù)線(未標示)，以由掃描線與資料線(未標示)傳送顯示畫面所需的訊號。掃描 線以及數(shù)據(jù)線的延伸方向不同。為了清楚且明確地描述本實施例的設(shè)計，本實施例以訊號 線120來表示掃描線以及數(shù)據(jù)線其中一以進行說明。換言之，以下說明的技術(shù)手段可以應(yīng) 用于所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識者所知悉的掃描線或是數(shù)據(jù)線，當然也可以同時應(yīng)用于 此兩者。 檢測電路140包括一第一短路條142、一第二短路條144、多個第一開關(guān)S1以及多 個第二開關(guān)S2。第一開關(guān)Sl連接至第一短路條142而第二開關(guān)S2連接至第二短路條144， 且各訊號線120的延伸線最多通過第一短路條142與第二短路條144其中一。也就是說， 第一短路條142與第二短路條144在各訊號線120的延伸軌跡上不重疊。 第一開關(guān)S1以及第二開關(guān)S2分別為一薄膜晶體管，其包括一閘極G、一源極S以 及一汲極D。閘極G位于源極S與汲極D之間，而汲極D例如連接于其中一條訊號線120。第一短路條142以及第二短路條144分別為一第一檢測數(shù)據(jù)線以及一第二檢測數(shù)據(jù)線，其 分別連接至第一開關(guān)S1的源極S以及第二開關(guān)S2的源極S。另外，檢測電路140更包括一 檢測閘極線146，其連接至第一開關(guān)S1的閘極G以及第二開關(guān)S2的閘極G。 由這樣的連接關(guān)系可知，第一短路條142僅連接于部分訊號線120以劃分出第一 檢測區(qū)I，而第二短路條144連接于另一部分訊號線120以劃分出第二檢測區(qū)II。在這樣 的設(shè)計之下，僅有第一檢測區(qū)I中的訊號線120彼此耦合的效應(yīng)會影響第一開關(guān)S1的充放 電效能。同樣地，僅有第二檢測區(qū)II中的訊號線120彼此耦合的效應(yīng)會影響第二開關(guān)S2 的充放電效能。所以，第一開關(guān)S1與第二開關(guān)S2都可以具有較佳的充放電效能。相較于 以往所有訊號線120皆影響檢測開關(guān)之效能的設(shè)計，本實施例可以大幅地降低第一開關(guān)S1 與第二開關(guān)S2的負擔。 另外，第一短路條142與第二短路條144在各訊號線120的延伸軌跡上不重疊。因 此，本實施例可以避免兩條短路條142與144之間的耦合效應(yīng)而更進一步地減輕第一開關(guān) Sl與第二開關(guān)S2的負荷。第一開關(guān)Sl與第二開關(guān)S2的充放電效能越好則越不容易產(chǎn)生 假線等誤檢測的情形。因此，檢測電路140能夠正確地檢測出主動組件數(shù)組基板100的缺 陷。 在本實施例中，檢測閘極線146可以傳輸一閘極訊號Vg以控制第一開關(guān)Sl以及 第二開關(guān)S2的開啟與關(guān)閉。第一短路條142用以將一第一數(shù)據(jù)訊號Vdl輸入至第一開關(guān) Sl，而第二短路條144則用以將一第二數(shù)據(jù)訊號Vd2輸入至第二開關(guān)S2。 具體而言，主動組件數(shù)組基板100可采用其中一種的檢測方法如下。首先，由檢測 閘極線146輸入閘極訊號Vg，并且由第一短路條142輸入第一數(shù)據(jù)訊號Vdl。此時，第一開 關(guān)Sl會將第一數(shù)據(jù)訊號Vdl輸入至位于第一檢測區(qū)I中的畫素結(jié)構(gòu)130。在這一檢測步驟 中，可以檢測第一檢測區(qū)I中的組件是否有缺陷產(chǎn)生。接著，由檢測閘極線146輸入閘極訊 號Vg，以及由第二短路條144輸入第二數(shù)據(jù)訊號Vd2，以檢測第二檢測區(qū)II中的畫素結(jié)構(gòu) 130。 另一種檢測方法例如是由檢測閘極線146輸入閘極訊號Vg，由第一短路條142輸 入第一數(shù)據(jù)訊號Vdl，并同時由第二短路條144輸入第二數(shù)據(jù)訊號Vd2。這樣的檢測方法可 以同時檢測顯示區(qū)112中所有的組件。亦即，本實施例可以將第一開關(guān)S1以及第二開關(guān)S2 同時開啟或分別開啟。此外，第一開關(guān)S1與第二開關(guān)S2所承擔的負荷較以往設(shè)計減輕許 多，所以同時檢測顯示區(qū)112中所有的組件時，第一開關(guān)Sl與第二開關(guān)S2仍可以很有效率 地充放電。也因此，主動組件數(shù)組基板100的缺陷可以更正確地被檢測出來。 值得一提的是，本實施例是以訊號線120來描述掃描線以及數(shù)據(jù)線其中一者的檢 測電路140設(shè)計，另一者的檢測電路150可以與檢測電路140相同或是相異。實際上，主動 組件數(shù)組基板100中只要有一側(cè)的檢測電路140設(shè)計有不重疊的兩條短路條(如142與 144)以劃分出多個檢測區(qū)就有助于降低檢測開關(guān)(如S1與S2)的負擔以及誤檢測的情形。 另外，圖2為本實用新型第二實施例的主動組件數(shù)組基板。請參照圖2，主動組件 數(shù)組基板200的設(shè)計是由主動組件數(shù)組基板100衍生而來。主動組件數(shù)組基板200的設(shè)計 是應(yīng)用于彩色平面顯示面板。因此，若訊號線120為數(shù)據(jù)線，則訊號線120包括有紅色數(shù)據(jù) 線120R、綠色數(shù)據(jù)線120G以及藍色數(shù)據(jù)線120B。 在這樣的組件設(shè)計下，若要依照不同顏色的畫素結(jié)構(gòu)130進行檢測，則檢測電路
7240中，第一檢測數(shù)據(jù)線242包括一第一紅色檢測數(shù)據(jù)線242R、 一第一綠色檢測數(shù)據(jù)線242G 以及一第一藍色檢測數(shù)據(jù)線242B，其分別連接部分的第一開關(guān)Sl，而第二檢測數(shù)據(jù)線244 包括一第二紅色檢測數(shù)據(jù)線244R、一第二綠色檢測數(shù)據(jù)線244G以及一第二藍色檢測數(shù)據(jù) 線244B，其分別連接部分的第二開關(guān)S2。這樣的設(shè)計非但更進一步減輕第一開關(guān)S1與第 二開關(guān)S2的負擔，還可以分別檢測不同顏色的畫素結(jié)構(gòu)130。 圖3本實用新型第三實施例的主動組件數(shù)組基板示意圖。請參照圖3，主動組件數(shù) 組基板300與主動組件數(shù)組基板100有大致相同的組件設(shè)計，其中同樣的組件符號將表示 為相同設(shè)計的組件。不過，主動組件數(shù)組基板300中檢測電路340的第一短路條342以及 第二短路條344分別地連接于第一開關(guān)S1的閘極G以及第二開關(guān)S2的閘極G。此外，第一 開關(guān)Sl與第二開關(guān)S2的源極S接連接至同一條檢測資料線346。 換言之，第一短路條342以及第二短路條344分別為一第一檢測閘極線以及一第 二檢測閘極線。第一短路條342用以將一第一閘極訊號Vgl輸入至第一開關(guān)Sl，而第二短 路條344用以將一第二閘極訊號Vg2輸入至第二開關(guān)S2。本實施例是利用不同的檢測閘極 線來劃分出第一檢測區(qū)I以及第二檢測區(qū)II。 具體來說，主動組件數(shù)組基板300的檢測方法可以是依序由第一短路條342與第 二短路條344將第一閘極訊號Vgl以及第二閘極訊號Vg2輸入畫素結(jié)構(gòu)130。同時，由檢測 數(shù)據(jù)線346將數(shù)據(jù)訊號Vd輸入至畫素結(jié)構(gòu)130。 另一種檢測方法也可以是同時由第一短路條342與第二短路條344將第一閘極訊 號Vgl以及第二閘極訊號Vg2輸入畫素130。并且，由檢測數(shù)據(jù)線346將數(shù)據(jù)訊號Vd輸入 至畫素130。 上述的檢測方法中，第一開關(guān)Sl與第二開關(guān)S2所承載的負荷較小，而具有良好的 充放電效能。因此，主動組件數(shù)組基板300可以有效率地被檢測，且不容易因為開關(guān)組件 (Sl與S2)的能力不足而有誤檢測的情形發(fā)生。 值得一提的是，本實施例不限定檢測數(shù)據(jù)線的設(shè)計為一條或是多條。訊號線120 若為數(shù)據(jù)線時，檢測數(shù)據(jù)線346的設(shè)計可以參考圖2的第一短路條242，而由紅色檢測資料 線(未繪示)、綠色檢測數(shù)據(jù)線(未繪示)以及藍色檢測數(shù)據(jù)線(未繪示)組成。 圖4為本實用新型第四實施例的主動組件數(shù)組基板。請參照圖4，主動組件數(shù)組基 板400結(jié)合了前述主動組件數(shù)組基板100與主動組件數(shù)組基板300的設(shè)計。檢測電路440 包括多個第一開關(guān)Sl、多個第二開關(guān)S2、第一短路條142、342及第二短路條144、344。 具體而言，第一短路條142為第一檢測資料線，第一短路條342為第一檢測閘極 線。并且，第二短路條144為第二檢測資料線，第二短路條344為第二檢測閘極線。即第一 開關(guān)S1與第二開關(guān)S2未由任何一條共同的線路連接。誠如前述，這樣的設(shè)計可以減輕第 一開關(guān)Sl與第二開關(guān)S2的負擔而有助于降低誤檢測的情形而提高檢測效能。 當訊號線120為數(shù)據(jù)線時，第一短路條342及第二短路條344的設(shè)計可以如圖2之 第一短路條242與第二短路條244的設(shè)計。也就是說，第一短路條342及第二短路條344可 以分別由三條檢測數(shù)據(jù)線所構(gòu)成以針對不同顏色的畫素結(jié)構(gòu)130分別地進行檢測。另外， 另一側(cè)的檢測電路150可以按照前述的檢測電路140、240或340的方式設(shè)計。 圖5為本實用新型第五實施例的主動組件數(shù)組基板。請參照圖5，主動組件數(shù)組基 板500是由主動組件數(shù)組基板400的設(shè)計基礎(chǔ)延伸而來的。主動組件數(shù)組基板500包括了主動組件數(shù)組基板400中所有的組件，且檢測電路540更包括多個第三開關(guān)S3以及連接于 第三開關(guān)S3的第三短路條546、548。各訊號線120的延伸線最多通過第一短路條142與 342、第二短路條144與344以及第三短路條546與548其中之一者。另外，第三短路條546 可以是第三檢測閘極線，而第三短路條548可以是第三檢測數(shù)據(jù)線。 本實施例可以依照不同的短路條將顯示區(qū)112劃分出三個檢測區(qū)I、II以及III。 各檢測區(qū)I、 II以及III中的畫素結(jié)構(gòu)130可以分別被點亮或同時被點亮以進行感測。此 外，第一開關(guān)Sl、第二開關(guān)S2與第三開關(guān)S3的負荷較小而具有較佳的充放電能力。所以， 主動組件數(shù)組基板500的檢測效能相當良好。 本實施例中，不同檢測區(qū)I、II以及III中的開關(guān)S1、S2以及S3都是連接獨立的 線路且以不同的訊號(Vgl、Vg2、Vg3以及Vdl、Vd3、Vd3)來控制。也就是說，第一開關(guān)S1由 第一短路條142與342連接，第二開關(guān)S2由第二短路條144與344連接，而第三開關(guān)S3由 第三短路條546與548連接。不過，本實施例中，也可以將第一短路條142、第二短路條144 與第三短路條546連接在一起?；蚴菍⒌谝欢搪窏l342、第二短路條344與第三短路條548 連接在一起。即所有開關(guān)Sl、 S2以及S3可以連接至同一條檢測閘極線或是同一條檢測數(shù) 據(jù)線。也就是說，本實施例的設(shè)計僅需兩條以上的短路條組成檢測閘極線或是檢測數(shù)據(jù)線 至少其中之一者就可以有效地降低檢測開關(guān)的負擔，而達到提高檢測效率的功效。 訊號線120可以是橫向的掃描線或是縱向的數(shù)據(jù)線，不過上述的實施例皆以其中 一個方向的訊號線120來進行說明。實際上，上述檢測電路140、240、340、440以及540也 可以應(yīng)用于另一側(cè)的檢測電路150。 圖6為本實用新型第六實施例的主動組件數(shù)組基板示意圖。請參照圖6，主動組件 數(shù)組基板600在橫向以及縱向分別設(shè)置有檢測電路610以及620。檢測電路610與檢測電 路620的設(shè)計分別為上述檢測電路140、240、340、440以及540其中之一者。此時，主動組 件數(shù)組基板600可劃分出多個檢測區(qū)I IV。各檢測區(qū)I、 II、 III以及IV可以分別進行 檢測或是同時進行檢測。由前述實施例的內(nèi)容可知，檢測電路610與檢測電路620中組件 的負荷較小。所以，主動組件數(shù)組基板600具有良好的檢測正確性及高檢測效率。 綜上所述，本實用新型利用多條短路條來連接同一側(cè)的檢測開關(guān)。因此，各檢測開 關(guān)的負擔大幅減少，而具有較佳的充放電效能。此外，不同組的短路條在訊號線的延伸軌跡 上不重疊而不易產(chǎn)生顯著的耦合效應(yīng)，而更進一步降低了檢測開關(guān)的負擔。如此一來，主動 組件數(shù)組基板的缺陷可以有效率且正確地被檢測出來，而不易有誤檢測，例如假線的情形 發(fā)生。
權(quán)利要求一種主動組件數(shù)組基板，其特征在于，包括一基板，具有一顯示區(qū)以及該顯示區(qū)以外的一周邊區(qū)；多條訊號線，位于所述顯示區(qū)中，且各訊號線彼此平行；多個畫素結(jié)構(gòu)，位于所述顯示區(qū)中，并電性連接所述訊號線；以及一檢測電路，位于所述周邊區(qū)中，電性連接所述訊號線，該檢測電路包括一第一短路條、一第二短路條、多個第一開關(guān)以及多個第二開關(guān)，所述各訊號線的延伸線最多通過該第一短路條與該第二短路條其中之一者，且該些第一開關(guān)連接至該第一短路條而該些第二開關(guān)連接至該第二短路條。
2. 如權(quán)利要求1所述的主動組件數(shù)組基板，其特征在于所述第一開關(guān)以及第二開關(guān) 分別為一薄膜晶體管。
3. 如權(quán)利要求2所述的主動組件數(shù)組基板，其特征在于所述薄膜晶體管包括一閘極、 一源極以及一汲極，且該閘極位于該源極與該汲極之間。
4. 如權(quán)利要求3所述的主動組件數(shù)組基板，其特征在于所述汲極連接于其中一所述 訊號線。
5. 如權(quán)利要求1所述的主動組件數(shù)組基板，其特征在于所述第一短路條以及所述第 二短路條分別為一第一檢測閘極線以及一第二檢測閘極線，該第一檢測閘極線用以將一第 一閘極訊號輸入至所述第一開關(guān)，而該第二檢測閘極線用以將一第二閘極訊號輸入至所述 第二開關(guān)。
6. 如權(quán)利要求5所述的主動組件數(shù)組基板，其特征在于所述檢測電路還包括一檢測 數(shù)據(jù)線，連接至所述第一開關(guān)以及所述第二開關(guān)。
7. 如權(quán)利要求5所述的主動組件數(shù)組基板，其特征在于所述檢測電路還包括一第一 檢測數(shù)據(jù)線以及一第二檢測數(shù)據(jù)線，且該第一檢測數(shù)據(jù)線連接至所述第一開關(guān)，而該第二 檢測數(shù)據(jù)線連接至所述第二開關(guān)。
8. 如權(quán)利要求7所述的主動組件數(shù)組基板，其特征在于所述第一檢測資料線包括一 第一紅色檢測數(shù)據(jù)線、一第一綠色檢測數(shù)據(jù)線以及一第一藍色檢測數(shù)據(jù)線，且該第一紅色 檢測數(shù)據(jù)線、第一綠色檢測數(shù)據(jù)線以及第一藍色檢測數(shù)據(jù)線分別連接部分的第一開關(guān)，而 所述第二檢測數(shù)據(jù)線包括一第二紅色檢測數(shù)據(jù)線、一第二綠色檢測數(shù)據(jù)線以及一第二藍色 檢測數(shù)據(jù)線，且該第二紅色檢測數(shù)據(jù)線、第二綠色檢測數(shù)據(jù)線以及第二藍色檢測數(shù)據(jù)線分 別連接部分的第二開關(guān)。
9. 如權(quán)利要求1所述的主動組件數(shù)組基板，其特征在于所述第一短路條以及該第二 短路條分別為一第一檢測數(shù)據(jù)線以及一第二檢測數(shù)據(jù)線，該第一檢測數(shù)據(jù)線用以將一第一 數(shù)據(jù)訊號輸入至所述第一開關(guān)，而該第二檢測數(shù)據(jù)線用以將一第二數(shù)據(jù)訊號輸入至所述第 二開關(guān)。
10. 如權(quán)利要求9所述的主動組件數(shù)組基板，其特征在于所述第一檢測資料線包括一 第一紅色檢測數(shù)據(jù)線、一第一綠色檢測數(shù)據(jù)線以及一第一藍色檢測數(shù)據(jù)線，且該第一紅色 檢測數(shù)據(jù)線、第一綠色檢測數(shù)據(jù)線以及第一藍色檢測數(shù)據(jù)線分別連接部分的第一開關(guān)，而 該第二檢測數(shù)據(jù)線包括一第二紅色檢測數(shù)據(jù)線、一第二綠色檢測數(shù)據(jù)線以及一第二藍色檢 測數(shù)據(jù)線，且該第二紅色檢測數(shù)據(jù)線、第二綠色檢測數(shù)據(jù)線以及第二藍色檢測數(shù)據(jù)線分別 連接部分的第二開關(guān)。
11. 如權(quán)利要求9所述的主動組件數(shù)組基板，其特征在于所述檢測電路還包括一檢測 閘極線，連接至該些第一開關(guān)以及該些第二開關(guān)。
12. 如權(quán)利要求1所述的主動組件數(shù)組基板，其特征在于所述檢測電路還包括一第三 短路條以及多個第三開關(guān)，該第三開關(guān)連接至該第三短路條，且各所述訊號線的延伸線最 多通過該第一短路條、該第二短路條以及該第三短路條其中之一者。
13. 如權(quán)利要求l所述的主動組件數(shù)組基板，其特征在于所述訊號線為掃描線或數(shù)據(jù)線。
14. 如權(quán)利要求l所述的主動組件數(shù)組基板，其特征在于所述第一開關(guān)以及第二開關(guān) 被同時開啟或分別開啟。
專利摘要本實用新型提供一種主動組件數(shù)組基板，包括一基板、多條訊號線、多個畫素結(jié)構(gòu)以及一檢測電路。基板具有一顯示區(qū)以及顯示區(qū)以外的一周邊區(qū)。訊號線位于顯示區(qū)中，且各訊號線彼此平行。畫素結(jié)構(gòu)位于顯示區(qū)中，并電性連接訊號線。檢測電路位于周邊區(qū)中，并電性連接訊號線。檢測電路包括一第一短路條、一第二短路條、多個第一開關(guān)以及多個第二開關(guān)。各訊號線的延伸線最多通過第一短路條與第二短路條其中一者，且第一開關(guān)連接至第一短路條而第二開關(guān)連接至第二短路條。本實用新型將每一條短路條僅連接部分的訊號線及部分的畫素，而不需承擔過大的負荷，使檢測正確性有效提升。
文檔編號H01L27/12GK201548772SQ200920181548
公開日2010年8月11日 申請日期2009年12月1日 優(yōu)先權(quán)日2009年12月1日
發(fā)明者張錫明 申請人:福建華映顯示科技有限公司;中華映管股份有限公司