專利名稱:一種金屬導(dǎo)線尺寸監(jiān)測(cè)方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及集成電路制造技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種金屬導(dǎo)線尺寸監(jiān)測(cè)方法。
背景技術(shù):
在集成電路制造工藝中,為滿足集成電路對(duì)金屬導(dǎo)線電阻大小的要求,在金屬層刻蝕之后通常還會(huì)包括金屬導(dǎo)線尺寸監(jiān)測(cè)步驟。在金屬導(dǎo)線尺寸監(jiān)測(cè)步驟中,獲取金屬導(dǎo)線的寬度和厚度,并計(jì)算出金屬導(dǎo)線的橫截面積。金屬導(dǎo)線的橫截面積直接的影響了其電阻大小,其橫截面積越大則電阻越小,橫截面積越小則電阻越大。因此,可以通過(guò)監(jiān)測(cè)并調(diào)整金屬導(dǎo)線的尺寸實(shí)現(xiàn)調(diào)整金屬導(dǎo)線的電阻大小。現(xiàn)有的一種金屬導(dǎo)線尺寸監(jiān)測(cè)方法為測(cè)量金屬導(dǎo)線頂部的寬度并測(cè)量金屬導(dǎo)線的厚度,以金屬導(dǎo)線頂部的寬度作為金屬導(dǎo)線的寬度,根據(jù)金屬導(dǎo)線的寬度和厚度來(lái)計(jì)算其橫截面積。后續(xù)步驟中可以根據(jù)金屬導(dǎo)線電阻橫截面積計(jì)算出其電阻值,若金屬導(dǎo)線電阻滿足集成電路中的要求,則保持現(xiàn)有金屬層刻蝕制程中的工藝參數(shù),使金屬導(dǎo)線尺寸保持不變,否則,根據(jù)集成電路中對(duì)金屬導(dǎo)線電阻的要求,調(diào)整金屬層刻蝕制程中的工藝參數(shù),以調(diào)整金屬導(dǎo)線的尺寸。但是,在實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景中,不同的刻蝕設(shè)備或同一刻蝕設(shè)備在不同的時(shí)期刻蝕形成的金屬導(dǎo)線的橫截面形狀不一致,如圖1所示的金屬導(dǎo)線的橫截面比較垂直,約為87°, 其頂部和底部的寬度差別較小,如圖2所示的金屬導(dǎo)線的橫截面比較傾斜,約為83°,其頂部和底部的寬度差別較大。圖1所示的金屬導(dǎo)線頂部寬度和圖2所示的金屬導(dǎo)線的頂部寬度相同,但底部寬度不同,所以其橫截面積不同,電阻也不同??芍绊懡饘賹?dǎo)線電阻的參數(shù)實(shí)際是其橫截面積,不是其橫截面的頂部寬度。因此,現(xiàn)有的金屬導(dǎo)線尺寸監(jiān)測(cè)方法存在以下缺陷其所監(jiān)測(cè)的金屬導(dǎo)線尺寸變化不能準(zhǔn)確的反映出金屬導(dǎo)線橫截面積變化,進(jìn)而金屬導(dǎo)線尺寸變化不能準(zhǔn)確的反映金屬導(dǎo)線電阻的變化,因此難以通過(guò)調(diào)整金屬導(dǎo)線尺寸實(shí)現(xiàn)對(duì)導(dǎo)線電阻的準(zhǔn)確調(diào)整。
發(fā)明內(nèi)容
為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明的目的在于提供一種金屬導(dǎo)線尺寸監(jiān)測(cè)方法,使監(jiān)測(cè)到金屬導(dǎo)線尺寸變化能準(zhǔn)確的反映其電阻的變化,進(jìn)而通過(guò)調(diào)整金屬導(dǎo)線的尺寸實(shí)現(xiàn)對(duì)導(dǎo)線電阻的準(zhǔn)確調(diào)整。為解決上述問(wèn)題,本發(fā)明實(shí)施例提供了如下技術(shù)方案—種金屬導(dǎo)線尺寸監(jiān)控方法,在預(yù)設(shè)了金屬導(dǎo)線電阻的區(qū)間后,包括根據(jù)金屬導(dǎo)線電阻的區(qū)間計(jì)算得到金屬導(dǎo)線橫截面積的區(qū)間;根據(jù)金屬導(dǎo)線橫截面積的區(qū)間和其厚度計(jì)算得到金屬導(dǎo)線的尺寸區(qū)間,即第一尺寸區(qū)間;根據(jù)所述第一尺寸區(qū)間監(jiān)控并調(diào)整金屬導(dǎo)線的尺寸,所述金屬導(dǎo)線的尺寸包括其橫截面的頂部寬度和底部寬度。
優(yōu)選的,所述第一尺寸區(qū)間為金屬導(dǎo)線橫截面的頂部寬度和底部寬度的平均值。優(yōu)選的,所述金屬導(dǎo)線尺寸監(jiān)控方法,還包括預(yù)先設(shè)定金屬導(dǎo)線頂部寬度的尺寸區(qū)間,即第二尺寸區(qū)間;當(dāng)所述頂部寬度不滿足第二尺寸區(qū)間時(shí),調(diào)整所述金屬導(dǎo)線的尺寸。優(yōu)選的,所述金屬導(dǎo)線尺寸監(jiān)控方法,還包括預(yù)先設(shè)定金屬導(dǎo)線底部寬度的尺寸區(qū)間,即第三尺寸區(qū)間;當(dāng)所述底部寬度不滿足第三尺寸區(qū)間時(shí),調(diào)整所述金屬導(dǎo)線的尺寸。優(yōu)選的,所述監(jiān)控并調(diào)整金屬導(dǎo)線的尺寸,包括分別測(cè)量獲取金屬導(dǎo)線橫截面的頂部寬度和底部寬度。優(yōu)選的,所述監(jiān)控并調(diào)整金屬導(dǎo)線的尺寸,包括通過(guò)調(diào)整金屬層刻蝕中的工藝參數(shù),調(diào)整金屬導(dǎo)線的尺寸。優(yōu)選的,所述金屬導(dǎo)線的橫截面為梯形,其頂部寬度小于其底部寬度。優(yōu)選的,所述金屬導(dǎo)線的橫截面積為其頂部寬度和底部寬度的平均值與其厚度的乘積,所述金屬導(dǎo)線的頂部寬度和底部寬度的平均值與其電阻成反比。與現(xiàn)有技術(shù)相比,上述技術(shù)方案具有以下優(yōu)點(diǎn)本發(fā)明實(shí)施例所提供的技術(shù)方案,通過(guò)同時(shí)監(jiān)測(cè)金屬導(dǎo)線橫截面的頂部寬度和底部寬度,能夠準(zhǔn)確的獲知具有一定傾斜角度的金屬導(dǎo)線的橫截面積,進(jìn)而使監(jiān)測(cè)的金屬導(dǎo)線尺寸變化能夠準(zhǔn)確的反映金屬導(dǎo)線電阻的變化,因此能夠通過(guò)調(diào)整金屬導(dǎo)線的尺寸實(shí)現(xiàn)對(duì)導(dǎo)線電阻的準(zhǔn)確調(diào)整。
為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹,顯而易見(jiàn)地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖1為背景技術(shù)部分提供的一種金屬導(dǎo)線的橫截面測(cè)量方式示意圖;圖2為背景技術(shù)部分提供的另一種金屬導(dǎo)線的橫截面測(cè)量方式示意圖;圖3為實(shí)施例一提供的金屬導(dǎo)線尺寸監(jiān)控方法流程示意圖;圖4為實(shí)施例一提供的金屬導(dǎo)線的橫截面測(cè)量方式示意圖;圖5為實(shí)施例二提供的金屬導(dǎo)線尺寸監(jiān)控方法流程示意圖;圖6為實(shí)施例三提供的金屬導(dǎo)線的橫截面測(cè)量方式示意圖。
具體實(shí)施例方式正如背景技術(shù)部分所述,不同的刻蝕設(shè)備或同一刻蝕設(shè)備在不同的時(shí)期刻蝕形成的金屬導(dǎo)線的橫截面的形狀不一致,具有不同傾角的金屬導(dǎo)線的頂部和底部的尺寸的差別不同,因此不同的金屬導(dǎo)線可能會(huì)存在橫截面頂部寬度相同,底部寬度不同,橫截面積不同,電阻也不同的情況。可知,影響金屬導(dǎo)線電阻的參數(shù)實(shí)際是其橫截面積,不是頂部的寬度。因此,現(xiàn)有的金屬導(dǎo)線尺寸監(jiān)測(cè)方法存在以下缺陷其所監(jiān)測(cè)的金屬導(dǎo)線尺寸變化不能準(zhǔn)確的反映出金屬導(dǎo)線橫截面積變化,進(jìn)而可知其所監(jiān)測(cè)的金屬導(dǎo)線尺寸變化不能準(zhǔn)確的反映金屬導(dǎo)線電阻的變化,因此調(diào)整金屬導(dǎo)線的尺寸不能實(shí)現(xiàn)對(duì)導(dǎo)線電阻的準(zhǔn)確調(diào)整?;谏鲜鲅芯康幕A(chǔ)上,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種金屬導(dǎo)線尺寸監(jiān)控方法,在預(yù)設(shè)了金屬導(dǎo)線電阻的區(qū)間后,該方法包括以下步驟根據(jù)金屬導(dǎo)線電阻的區(qū)間計(jì)算得到金屬導(dǎo)線橫截面積的區(qū)間;根據(jù)金屬導(dǎo)線橫截面積的區(qū)間和其厚度計(jì)算得到金屬導(dǎo)線的尺寸區(qū)間,即第一尺寸區(qū)間;根據(jù)所述第一尺寸區(qū)間監(jiān)控并調(diào)整金屬導(dǎo)線的尺寸,所述金屬導(dǎo)線的尺寸包括其橫截面的頂部寬度和底部寬度。本發(fā)明實(shí)施例所提供的技術(shù)方案,通過(guò)同時(shí)監(jiān)測(cè)金屬導(dǎo)線橫截面的頂部寬度和底部寬度,能夠準(zhǔn)確的獲知具有一定傾斜角度的金屬導(dǎo)線的橫截面積,進(jìn)而使監(jiān)測(cè)的金屬導(dǎo)線尺寸變化能夠準(zhǔn)確的反映金屬導(dǎo)線電阻的變化,因此能夠通過(guò)調(diào)整金屬導(dǎo)線的尺寸實(shí)現(xiàn)對(duì)導(dǎo)線電阻的準(zhǔn)確調(diào)整。以上是本申請(qǐng)的核心思想,下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖,對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例, 而不是全部的實(shí)施例?;诒景l(fā)明中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。在下面的描述中闡述了很多具體細(xì)節(jié)以便于充分理解本發(fā)明,但是本發(fā)明還可以采用其他不同于在此描述的其它方式來(lái)實(shí)施,本領(lǐng)域技術(shù)人員可以在不違背本發(fā)明內(nèi)涵的情況下做類似推廣,因此本發(fā)明不受下面公開(kāi)的具體實(shí)施例的限制。其次,本發(fā)明結(jié)合示意圖進(jìn)行詳細(xì)描述,在詳述本發(fā)明實(shí)施例時(shí),為便于說(shuō)明,表示器件結(jié)構(gòu)的剖面圖會(huì)不依一般比例作局部放大,而且所述示意圖只是示例,其在此不應(yīng)限制本發(fā)明保護(hù)的范圍。此外,在實(shí)際制作中應(yīng)包含長(zhǎng)度、寬度及深度的三維空間尺寸。實(shí)施例一本發(fā)明實(shí)施例提供了一種金屬導(dǎo)線尺寸監(jiān)控方法,如圖3所示,為該方法的一種流程示意圖,該方法具體包括以下步驟步驟S301 預(yù)先設(shè)定金屬導(dǎo)線電阻的區(qū)間。所述金屬導(dǎo)線電阻的區(qū)間可以根據(jù)對(duì)所要形成的半導(dǎo)體器件的電性要求設(shè)定,受現(xiàn)有工藝水平的限制。步驟S302 根據(jù)金屬導(dǎo)線電阻的區(qū)間計(jì)算得到金屬導(dǎo)線橫截面積的區(qū)間。通常,金屬導(dǎo)線的電阻值與其橫截面積成反比。步驟S303 根據(jù)金屬導(dǎo)線橫截面積的區(qū)間和其厚度計(jì)算得到金屬導(dǎo)線的尺寸區(qū)間,即第一尺寸區(qū)間;通常刻蝕后形成的金屬導(dǎo)線的兩側(cè)邊并不垂直于晶片,而是具有一定的傾斜角度,其橫截面為梯形結(jié)構(gòu),且頂部寬度小于其底部寬度。
由于用于刻蝕形成導(dǎo)線的金屬層厚度通常為設(shè)定的值,不用作調(diào)整,因此刻蝕后形成的金屬導(dǎo)線的厚度固定,所以金屬導(dǎo)線的寬度可以準(zhǔn)確的反映出其橫截面積的大小, 進(jìn)而金屬導(dǎo)線的寬度可以準(zhǔn)確的反映出其電阻的大小。因金屬導(dǎo)線的寬度與其橫截面積成正比,金屬導(dǎo)線的橫截面積與其電阻成反比,所以金屬導(dǎo)線的寬度與其電阻成反比。因此, 可以通過(guò)增加金屬導(dǎo)線的寬度實(shí)現(xiàn)減小其電阻值,通過(guò)減小金屬導(dǎo)線的寬度實(shí)現(xiàn)增加其電阻值。由于金屬導(dǎo)線橫截面為梯形結(jié)構(gòu),其頂部寬度和底部寬度不同,金屬導(dǎo)線的橫截面積為其頂部寬度和底部寬度的平均值與其厚度的乘積,金屬導(dǎo)線的頂部寬度和底部寬度的平均值與其電阻成反比。因此,如果僅監(jiān)測(cè)并調(diào)整其頂部寬度,則無(wú)法準(zhǔn)確的調(diào)整金屬導(dǎo)線的橫截面積,進(jìn)而無(wú)法使金屬導(dǎo)線的電阻滿足設(shè)定的區(qū)間。本實(shí)施例中所述第一尺寸區(qū)間為金屬導(dǎo)線橫截面的頂部寬度和底部寬度的平均值。步驟S304 根據(jù)所述第一尺寸區(qū)間監(jiān)控并調(diào)整金屬導(dǎo)線的尺寸,所述金屬導(dǎo)線的尺寸包括其橫截面的頂部寬度和底部寬度。相比于現(xiàn)有技術(shù)中僅監(jiān)測(cè)調(diào)整金屬導(dǎo)線頂部寬度的方案,本實(shí)施例中,可以在生產(chǎn)過(guò)程中分別測(cè)量獲取金屬導(dǎo)線橫截面的頂部寬度和底部寬度(如圖4提供的金屬導(dǎo)線測(cè)量示意圖所示),具體的可以通過(guò)調(diào)整金屬層刻蝕中的工藝參數(shù),調(diào)整金屬導(dǎo)線的尺寸,如可以通過(guò)調(diào)整刻蝕時(shí)掩模圖形的寬度或調(diào)整刻蝕用量來(lái)調(diào)整金屬導(dǎo)線的寬度。一般情況下,在增加金屬導(dǎo)線頂部寬度的同時(shí),其底部寬度也會(huì)相應(yīng)的增加,其橫截面積增加、電阻減小。本發(fā)明實(shí)施例所提供的技術(shù)方案,通過(guò)同時(shí)監(jiān)測(cè)金屬導(dǎo)線橫截面的頂部寬度和底部寬度,能夠準(zhǔn)確的獲知具有一定傾斜角度的金屬導(dǎo)線的橫截面積,進(jìn)而使監(jiān)測(cè)的金屬導(dǎo)線尺寸變化能夠準(zhǔn)確的反映金屬導(dǎo)線電阻的變化,因此能夠通過(guò)調(diào)整金屬導(dǎo)線的尺寸實(shí)現(xiàn)對(duì)導(dǎo)線電阻的準(zhǔn)確調(diào)整。實(shí)施例二為防止金屬導(dǎo)線在橫截面積一定的情況下,其局部寬度或形狀發(fā)生變形,本發(fā)明提供的技術(shù)方案還可以包括對(duì)金屬導(dǎo)線頂部寬度的監(jiān)測(cè)的限制。具體的可以預(yù)先設(shè)置限制金屬導(dǎo)線頂部寬度在第二尺寸區(qū)間內(nèi),當(dāng)監(jiān)測(cè)發(fā)現(xiàn)所述頂部寬度不滿足第二尺寸區(qū)間時(shí), 通過(guò)調(diào)整金屬層刻蝕中的工藝參數(shù),實(shí)現(xiàn)調(diào)整金屬導(dǎo)線的頂部寬度。因此本實(shí)施例提供的金屬導(dǎo)線尺寸監(jiān)控方法,如圖5提供的方法流程示意圖,還可以包括以下步驟步驟S501,預(yù)先設(shè)定金屬導(dǎo)線頂部寬度的尺寸區(qū)間,即第二尺寸區(qū)間;步驟S502,判斷所述頂部寬度是否滿足第二尺寸區(qū)間,如果否則執(zhí)行步驟S503 ;步驟S503,調(diào)整所述金屬導(dǎo)線的尺寸,使所述頂部寬度滿足第二尺寸區(qū)間。本實(shí)施例中,通過(guò)單獨(dú)監(jiān)測(cè)調(diào)整金屬導(dǎo)線頂部的寬度可以防止金屬導(dǎo)線在橫截面積一定的情況下,其局部寬度或形狀發(fā)生變形,因此能夠更加準(zhǔn)確的實(shí)現(xiàn)根據(jù)對(duì)電阻的需求調(diào)整金屬導(dǎo)線的尺寸。實(shí)施例三為防止金屬導(dǎo)線在橫截面積一定的情況下,其局部寬度或形狀發(fā)生變形,本發(fā)明提供的技術(shù)方案還可以包括對(duì)金屬導(dǎo)線底部寬度的監(jiān)測(cè)的限制。具體的可以預(yù)先設(shè)置限制金屬導(dǎo)線底部在第三尺寸區(qū)間內(nèi),當(dāng)監(jiān)測(cè)發(fā)現(xiàn)所述底部寬度不滿足第三尺寸區(qū)間時(shí),通過(guò)調(diào)整金屬層刻蝕中的工藝參數(shù),實(shí)現(xiàn)調(diào)整金屬導(dǎo)線的底部寬度。因此本實(shí)施例提供的金屬導(dǎo)線尺寸監(jiān)控方法,如圖6提供的方法流程示意圖,還可以包括以下步驟步驟S601,預(yù)先設(shè)定金屬導(dǎo)線底部寬度的尺寸區(qū)間,即第三尺寸區(qū)間;步驟S602,判斷所述底部寬度是否滿足第三尺寸區(qū)間,如果否則執(zhí)行步驟S603 ;步驟S603,調(diào)整所述金屬導(dǎo)線的尺寸,使所述底部寬度滿足第三尺寸區(qū)間。本實(shí)施例中,通過(guò)單獨(dú)監(jiān)測(cè)調(diào)整金屬導(dǎo)線頂部的寬度可以防止金屬導(dǎo)線在橫截面積一定的情況下,其局部寬度或形狀發(fā)生變形,因此能夠更加準(zhǔn)確的實(shí)現(xiàn)根據(jù)對(duì)電阻的需求調(diào)整金屬導(dǎo)線的尺寸。本發(fā)明實(shí)施例所提供的技術(shù)方案,通過(guò)同時(shí)監(jiān)測(cè)金屬導(dǎo)線橫截面的頂部寬度和底部寬度,能夠準(zhǔn)確的獲知具有一定傾斜角度的金屬導(dǎo)線的橫截面積,進(jìn)而使監(jiān)測(cè)的金屬導(dǎo)線尺寸變化能夠準(zhǔn)確的反映金屬導(dǎo)線電阻的變化,因此能夠通過(guò)調(diào)整金屬導(dǎo)線的尺寸實(shí)現(xiàn)對(duì)導(dǎo)線電阻的準(zhǔn)確調(diào)整。本說(shuō)明書(shū)中各個(gè)部分采用遞進(jìn)的方式描述,每個(gè)部分重點(diǎn)說(shuō)明的都是與其他部分的不同之處,各個(gè)部分之間相同相似部分互相參見(jiàn)即可。對(duì)所公開(kāi)的實(shí)施例的上述說(shuō)明,使本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)或使用本發(fā)明。對(duì)這些實(shí)施例的多種修改對(duì)本領(lǐng)域的專業(yè)技術(shù)人員來(lái)說(shuō)將是顯而易見(jiàn)的,本文中所定義的一般原理可以在不脫離本發(fā)明的精神或范圍的情況下,在其它實(shí)施例中實(shí)現(xiàn)。因此,本發(fā)明將不會(huì)被限制于本文所示的實(shí)施例,而是要符合與本文所公開(kāi)的原理和新穎特點(diǎn)相一致的最寬的范圍。
權(quán)利要求
1.一種金屬導(dǎo)線尺寸監(jiān)控方法,其特征在于,在預(yù)設(shè)了金屬導(dǎo)線電阻的區(qū)間后,包括 根據(jù)金屬導(dǎo)線電阻的區(qū)間計(jì)算得到金屬導(dǎo)線橫截面積的區(qū)間;根據(jù)金屬導(dǎo)線橫截面積的區(qū)間和其厚度計(jì)算得到金屬導(dǎo)線的尺寸區(qū)間,即第一尺寸區(qū)間;根據(jù)所述第一尺寸區(qū)間監(jiān)控并調(diào)整金屬導(dǎo)線的尺寸,所述金屬導(dǎo)線的尺寸包括其橫截面的頂部寬度和底部寬度。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,還包括所述第一尺寸區(qū)間為金屬導(dǎo)線橫截面的頂部寬度和底部寬度的平均值。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,還包括 預(yù)先設(shè)定金屬導(dǎo)線頂部寬度的尺寸區(qū)間,即第二尺寸區(qū)間; 當(dāng)所述頂部寬度不滿足第二尺寸區(qū)間時(shí),調(diào)整所述金屬導(dǎo)線的尺寸。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,還包括 預(yù)先設(shè)定金屬導(dǎo)線底部寬度的尺寸區(qū)間,即第三尺寸區(qū)間; 當(dāng)所述底部寬度不滿足第三尺寸區(qū)間時(shí),調(diào)整所述金屬導(dǎo)線的尺寸。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述監(jiān)控并調(diào)整金屬導(dǎo)線的尺寸,包括 分別測(cè)量獲取金屬導(dǎo)線橫截面的頂部寬度和底部寬度。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述監(jiān)控并調(diào)整金屬導(dǎo)線的尺寸,包括 通過(guò)調(diào)整金屬層刻蝕中的工藝參數(shù),調(diào)整金屬導(dǎo)線的尺寸。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于所述金屬導(dǎo)線的橫截面為梯形,其頂部寬度小于其底部寬度。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于所述金屬導(dǎo)線的橫截面積為其頂部寬度和底部寬度的平均值與其厚度的乘積,所述金屬導(dǎo)線的頂部寬度和底部寬度的平均值與其電阻成反比。
全文摘要
本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)了一種金屬導(dǎo)線尺寸監(jiān)控方法,該方法在預(yù)設(shè)了金屬導(dǎo)線電阻的區(qū)間后,包括根據(jù)金屬導(dǎo)線電阻的區(qū)間計(jì)算得到其橫截面積的區(qū)間;根據(jù)金屬導(dǎo)線橫截面積的區(qū)間和其厚度計(jì)算得到金屬導(dǎo)線的尺寸區(qū)間,即第一尺寸區(qū)間;根據(jù)所述第一尺寸區(qū)間監(jiān)控并調(diào)整金屬導(dǎo)線的尺寸,所述金屬導(dǎo)線的尺寸包括其橫截面的頂部寬度和底部寬度。本發(fā)明通過(guò)同時(shí)監(jiān)測(cè)金屬導(dǎo)線橫截面的頂部寬度和底部寬度,能夠準(zhǔn)確的獲知具有一定傾斜角度的金屬導(dǎo)線的橫截面積,進(jìn)而使監(jiān)測(cè)的金屬導(dǎo)線尺寸變化能夠準(zhǔn)確的反映金屬導(dǎo)線電阻的變化,因此能夠通過(guò)調(diào)整金屬導(dǎo)線的尺寸實(shí)現(xiàn)對(duì)導(dǎo)線電阻的準(zhǔn)確調(diào)整。
文檔編號(hào)H01L21/66GK102569114SQ20101059358
公開(kāi)日2012年7月11日 申請(qǐng)日期2010年12月17日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月17日
發(fā)明者李健, 胡駿 申請(qǐng)人:無(wú)錫華潤(rùn)上華半導(dǎo)體有限公司, 無(wú)錫華潤(rùn)上華科技有限公司