專利名稱：144線0.635節(jié)距陶瓷四邊引線扁平封裝器件老化測試插座的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種微電子元器件老化測試裝置，是能對144線，節(jié)距為0. 635mm 的陶瓷四邊引線扁平封裝元器件可靠性進行高溫老化篩選和性能測試的插座。屬電子信息 技術可靠性領域。
背景技術：
目前，在我國電子元器件可靠性技術領域，公知的國內(nèi)一般老化試驗插座的本 體材料大都采用的是非耐高溫普通塑料，在對被測器件進行測試時，老化工作溫度僅 為-25°C +85°C，工作時間短、引線根數(shù)少、接觸件節(jié)距寬、結構簡單，存在著與被測器件 之間接觸電阻大、老化溫度低、一致性差和使用壽命短的重大缺陷，不能滿足對器件的質(zhì)量 篩選和性能指標的測試要求，容易引發(fā)工程質(zhì)量事故。國內(nèi)在可靠性技術領域內(nèi)特別是對 配套于神舟飛船、大推力火箭、衛(wèi)星、核潛艇、洲際導彈及其它國防軍工、航天、航空、航海、 通信等重點國防尖端武器裝備等重大項目的多引線、細節(jié)距微電子元器件，尚無高低溫老 化可靠性試驗和測試的專用測試裝置，所使用的測試插座大量依賴國外進口，價格極為昂 貴，國家每年要花費大筆外匯進口產(chǎn)品，訂貨周期較長，特殊規(guī)格的產(chǎn)品無法訂貨，部分重 要產(chǎn)品還因禁運而影響我國軍用電子元器件研發(fā)生產(chǎn)進度。
發(fā)明內(nèi)容為克服現(xiàn)有老化試驗插座在接觸電阻、老化工作溫度和一致性以及引線根數(shù)、接 觸件節(jié)距和使用壽命方面的不足，本實用新型提供一種高溫老化測試試驗插座。該插座不 僅能將老化工作溫度范圍從_25°C +85°C擴展到-55°C +150°C，一次老化連續(xù)工作時間 長達1500h(150°C )以上，插拔壽命10000次以上，而且在對被測試器件進行高溫老化試驗 和性能測試過程中，具有接觸件節(jié)距細小、引線根數(shù)多、接觸電阻小、一致性好、可靠性高、 零插拔力、表面耐磨和使用方便的優(yōu)點，大大提高了插座的可靠性和使用壽命。本實用新型解決技術問題所采用的技術方案是按照144線陶瓷四邊引線扁平封 裝元器件的結構設計和尺寸要求，將插座設計成兩大組成部分，即插座體、接觸件。插座體 由座、蓋和鉤組成，選用耐高溫型工程塑料，經(jīng)高溫注塑成型工藝技術制造成插座本體，用 于接觸件固定和被試器件的定位安裝，同時插座體可起壓緊裝置作用，當鉤受力向下翻轉(zhuǎn) 與座嚙合時，使蓋產(chǎn)生位移，從而使被試器件壓緊接觸件；接觸件由軸向?qū)ΨQ、平均分布的 144線、0.635mm細節(jié)距的鍍金簧片縱向排列組成，分別安裝于座的4面凹槽中。該實用新 型在陶瓷四邊引線扁平封裝元器件系列插座中屬于接觸件數(shù)目多(144線)、接觸件節(jié)距 小(接觸件的節(jié)距僅為0. 635mm)，同時在接觸件排列上，采用每面三排的排列結構，并與被 試器件引出線相對應，安裝于插座體座中。通電后進行高溫老化試驗和性能測試。這種翻 蓋式機構把接觸件設計成零插拔力的結構，以避免接觸件插拔時磨損電鍍層，影響電接觸 性能，徹底解決了在高溫老化試驗和性能測試過程中的接觸電阻大、耐環(huán)境弱、一致性差和機械壽命不長的技術難點，且可以滿足被試器件不同引線(144線內(nèi))的要求。本實用新型的有益效果是該實用新型可以滿足軍民通用CQFP144線型和其它同 類陶瓷四邊引線扁平封裝元器件高溫老化試驗和性能測試，填補了國內(nèi)空白，替代進口，為 國家節(jié)約了外匯，為用戶節(jié)約了成本，可以獲得較大的經(jīng)濟效益和社會效益。
以下結合附圖和實施方式對本實用新型作進一步說明。
圖1是本實用新型的外形結構縱剖面構造圖。圖2是本實用新型外型結構俯視圖。圖1 :1前腳接觸件、2中腳接觸件、3后腳接觸件、4座、5軸、6扭簧、7蓋、8壓簧、9 鉤
具體實施方案在圖1中，先將接觸件即前腳接觸件(1)、中腳接觸件( 和后腳接觸件( 按與 被試器件引出線相對應結構插入座⑷中；再將軸(5)、鉤(9)和壓簧⑶裝入插座體的蓋 (7)之中；最后將裝好的蓋(7)、軸( 和扭簧(6) —起裝入插座體的座中。該方案中，插座體用于接觸件固定，插座座體斜面具有定位功能，方便被試器件的 定位安裝，同時插座體還起自動壓緊裝置的作用，當鉤受力向下翻轉(zhuǎn)與座嚙合時，蓋向下運 動，使被試器件自動壓緊接觸件；接觸件由鍍金簧片按與被試器件引出線相對應、自動壓緊 和零插拔力結構安裝于插座體的座中。
權利要求1.一種144線0. 635節(jié)距陶瓷四邊引線扁平封裝器件老化測試插座，其特征是它是 由插座體和接觸件兩個部分統(tǒng)一組成，插座體由座、蓋(7)和鉤(9)組成，用于被試器 件的自動壓緊，插座體選用耐高溫型工程塑料，經(jīng)高溫注塑成型工藝技術制造而成，接觸件 (1) > (2), (3)與被試器件引出線相對應并安裝于插座體的座中。
2.根據(jù)權利要求1所述的144線0.635節(jié)距陶瓷四邊引線扁平封裝器件老化測試插 座，其特征是插座體和接觸件是一個統(tǒng)一整體，接觸件(1)、(2), (3)由軸向?qū)ΨQ、平均分 布的144線、0.635mm細節(jié)距的鍍金簧片縱向排列組成，分別安裝于座(4)的4面凹槽中。
3.根據(jù)權利要求1所述的144線0.635節(jié)距陶瓷四邊引線扁平封裝器件老化測試插 座，其特征是插座由座體上的斜面進行定位。
專利摘要本實用新型涉及一種微電子元器件老化測試裝置，能對144線細節(jié)距陶瓷四邊引線扁平封裝器件可靠性進行高溫老化試驗和測試的插座。本實用新型按144線0.635節(jié)距封裝元器件的結構設計和尺寸要求，將插座設計成兩大組成部分，即插座體、接觸件。插座體由座、蓋和鉤組成，選用進口的耐高溫型特種工程塑料，經(jīng)高溫注塑成型。插座座體用于接觸件固定，座體上的斜面具有定位功能，方便被試器件定位安裝。插座體還起壓緊裝置作用，當鉤受力向下翻轉(zhuǎn)與座嚙合時，被試器件壓緊接觸件。接觸件以鈹青銅材料沖壓成型，采用與被試器件引出線相對應的方式，并由中心對稱、四面排列形式組成。通電后進行高溫老化試驗和性能測試，具有接觸電阻小、一致性好、可靠性高、零插拔力、表面耐磨和使用方便的優(yōu)點，大大提高了插座的可靠性和使用壽命。
文檔編號H01R13/42GK201910525SQ20102028193
公開日2011年7月27日 申請日期2010年8月2日 優(yōu)先權日2010年8月2日
發(fā)明者曹金學 申請人:曹金學