專利名稱：100線0.5節(jié)距陶瓷四邊引線扁平封裝器件老化測試插座的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種微電子元器件老化測試裝置，是能對引線根數(shù)100線、節(jié)距 僅為0. 5mm的陶瓷四邊引線扁平封裝元器件可靠性進行高溫老化篩選和性能測試的插座。 本實用新型屬電子信息技術(shù)可靠性領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
目前，在我國電子元器件可靠性技 術(shù)領(lǐng)域，公知的國內(nèi)一般老化試驗插座的本 體材料大都采用的是非耐高溫普通塑料，在對被測器件進行測試時，老化工作溫度僅 為-25°C +85°C，工作時間短、接觸件節(jié)距寬、引線根數(shù)少、結(jié)構(gòu)簡單，存在著與被測器件 之間接觸電阻大、老化溫度低、一致性差和使用壽命短的重大缺陷，不能滿足對器件的質(zhì)量 篩選和性能指標的測試要求，容易引發(fā)工程質(zhì)量事故。國內(nèi)在可靠性技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)特別是對 配套于神舟飛船、大推力火箭、衛(wèi)星、核潛艇、洲際導(dǎo)彈及其它國防軍工、航天、航空、航海、 通信等重點國防尖端武器裝備等重大項目的集成電路、微電子元器件，尚無高低溫老化、測 試、篩選及可靠性試驗的專用測試裝置，所使用的測試插座大量依賴國外進口，價格極為昂 貴，國家每年要花費大筆外匯進口產(chǎn)品，訂貨周期較長，特殊規(guī)格的產(chǎn)品無法訂貨，部分重 要產(chǎn)品還因禁運而影響我國軍用電子元器件研發(fā)生產(chǎn)進度。
發(fā)明內(nèi)容為克服現(xiàn)有老化試驗插座在接觸電阻、耐高溫和一致性以及使用壽命方面的不 足，本實用新型提供一種新型的專用于集成電路、微電子元器件在線通電狀態(tài)下進行高低 溫老化、測試、篩選及可靠性試驗的100線、節(jié)距僅為0. 5mm的陶瓷四邊引線扁平封裝元 器件老化測試插座。該插座不僅能將老化工作溫度范圍從_25°C +85°C擴展至-55°C +150°C，一次老化連續(xù)工作時間長達1500h(150°C )以上，插拔壽命8000次以上，而且在對 被測試器件進行高溫老化試驗和性能測試過程中，具有接觸件細節(jié)距、引線根數(shù)多、接觸電 阻小、一致性好、可靠性高、零插拔力、表面耐磨和使用方便的優(yōu)點，大大提高了插座的可靠 性和使用壽命。本實用新型解決技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是按照100線陶瓷四邊引線扁平封 裝體元器件的結(jié)構(gòu)設(shè)計和尺寸要求，將插座設(shè)計成三大組成部分，即由插座體、接觸件和定 位裝置三個部分統(tǒng)一組成。插座體由座、蓋和鉤組成，用于被試器件的自動壓緊。接觸件與 被試器件引出線相對應(yīng)，由對稱的100線、0. 5mm細節(jié)距的鍍金簧片縱向排列組成，采用與 被試器件引出線相對應(yīng)的方式，每面三排，采用中心對稱方式排列在插座座體四面凹槽中， 即安裝于插座體的座中。插座體和接觸件是一個統(tǒng)一整體。插座的定位裝置由座、壓塊和 定位板組成，與被試器件的引線與接觸件相對應(yīng)并安裝在定位板上。插座的鎖緊裝置由座、 蓋、鉤、壓塊和定位板組成，定位板下面安裝的壓簧有很好的彈性力，促使插座更好的達到 鎖緊的效果，保證被試器件受力均勻，這種翻蓋式結(jié)構(gòu)把接觸件設(shè)計成自動壓緊鎖、零插拔 力結(jié)構(gòu)。插座體選用耐高溫型工程塑料，經(jīng)高溫注塑成型工藝技術(shù)制造成插座本體。該實用新型還采用由座、定位板和壓塊組成定位裝置的新樣式，插座體的座、蓋、鉤、壓塊和定位板可起壓緊裝置作用，當鉤受力向下翻轉(zhuǎn)與座嚙合時，使蓋及安裝在蓋上的壓塊產(chǎn)生位移， 由于壓塊向下運動，被試器件壓緊接觸件，而定位板下面安裝的壓簧有很好的彈性，可以保 證被試器件受力均勻，促使插座達到更好的壓緊效果。接觸件采用彈性結(jié)構(gòu)曲梁式設(shè)計沖 壓成型，經(jīng)300°C高溫淬火處理及電鍍硬金層技術(shù)表面鍍金。該實用新型在同一系列中屬于 細小節(jié)距結(jié)構(gòu)，接觸件的節(jié)距僅為0. 5mm。這種翻蓋式結(jié)構(gòu)設(shè)計成零插拔力式的結(jié)構(gòu)，可避 免接觸件插拔時磨損電鍍層，影響電接觸性能，徹底解決了在高溫老化試驗和性能測試過 程中的接觸電阻大、耐環(huán)境弱、一致性差和機械壽命不長的技術(shù)難點，還可以滿足被試器件 不同引線(100線以內(nèi))的要求。本實用新型的有益效果是該實用新型可以滿足軍民通用的100線0. 5細節(jié)距和 其它同類陶瓷四邊引線扁平封裝元器件高溫老化試驗和性能測試，填補了國內(nèi)空白，替代 進口，為國家節(jié)約了外匯，為用戶節(jié)約了成本，可以獲得較大的經(jīng)濟效益和社會效益。
以下結(jié)合附圖和實施方式對本實用新型作進一步說明。

圖1是本實用新型的外形結(jié)構(gòu)縱剖面構(gòu)造圖。圖2是本實用新型外型結(jié)構(gòu)俯視圖。圖1 :1中腳接觸件、2座、3后腳接觸件、4、定位板、5壓簧、6前腳接觸件、7軸、8扭 簧、9蓋、10壓塊、11軸、12壓簧、13鉤
具體實施方案在在圖1中，第一步，將前腳接觸件(5)、中腳接觸件(1)和后腳接觸件(3)按與被 試器件引出線相對應(yīng)結(jié)構(gòu)插入座(2)中；第二步，將壓簧(5)和定位板(4)裝入座(2)中； 第三步，將壓塊(10)、軸(11)、鉤(13)、壓簧(12)和軸(7)裝入插座體的蓋(9)之中；第四 步，將裝好的蓋(9)、軸(7)和扭簧(8) —起裝入插座體的座(2)中。該方案中，插座體和定位板用于被試器件的定位安裝，同時插座體還起自動壓緊 裝置的作用，當鉤受力向下翻轉(zhuǎn)與座嚙合時，被試器件自動壓緊接觸件；活動的壓塊可以保 證被試器件受力均勻；接觸件由鍍金簧片按與被試器件引出線相對應(yīng)、自動壓緊和零插拔 力結(jié)構(gòu)安裝于插座體的座中。
權(quán)利要求1.一種100線0. 5節(jié)距陶瓷四邊引線扁平封裝器件老化測試插座，其特征是它是由 插座體、接觸件和定位裝置三個部分統(tǒng)一組成，插座體由座( 、蓋(9)和鉤(1 組成，用于 被試器件的自動壓緊，接觸件(1)、接觸件(3)、接觸件(6)與被試器件引出線相對應(yīng)并安裝 于插座體的座中。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的100線0.5節(jié)距陶瓷四邊引線扁平封裝器件老化測試插座， 其特征是插座體和接觸件是一個統(tǒng)一整體，接觸件(1)、接觸件(3)、接觸件(6)由對稱的 100線、0. 5mm細節(jié)距的鍍金簧片縱向排列組成，每面三排分別安裝于座⑵的4面凹槽中。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的100線0.5節(jié)距陶瓷四邊引線扁平封裝器件老化測試插座， 其特征是插座的鎖緊裝置由座O)、蓋(9)、鉤(13)、壓塊(10)和定位板(4)組成，定位板 (4)下面安裝有壓簧，這種翻蓋式結(jié)構(gòu)把接觸件設(shè)計成自動壓緊鎖、零插拔力結(jié)構(gòu)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的100線0.5節(jié)距陶瓷四邊引線扁平封裝器件老化測試插座， 其特征是插座的定位裝置由座O)、壓塊(10)和定位板(4)組成，被試器件的引線與接觸 件相對應(yīng)并安裝在定位板上。
專利摘要本實用新型涉及一種微電子元器件老化測試裝置，能對引線根數(shù)100線0.5節(jié)距陶瓷四邊引線扁平封裝器件可靠性進行高溫老化試驗和測試的插座。本實用新型按100線陶瓷四邊引線片式載體系列、0.5節(jié)距封裝元器件的結(jié)構(gòu)設(shè)計和尺寸要求，將插座設(shè)計成三大組成部分，即插座體、接觸件和定位裝置。插座體由座、蓋和鉤組成，插座體的座、蓋、鉤、壓塊和定位板可起壓緊裝置作用，當鉤受力向下翻轉(zhuǎn)與座嚙合時，使蓋及安裝在蓋上的壓塊產(chǎn)生位移，由于壓塊向下運動，被試器件壓緊接觸件，而定位板下面安裝的壓簧有很好的彈性，可以保證被試器件受力均勻，促使插座達到更好的壓緊效果。接觸件采用與被試器件引出線相對應(yīng)的方式，每面三排接觸件，采用中心對稱安裝在插座座體的四面凹槽內(nèi)。插座由座、定位板和壓塊組成定位裝置，被試器件的引線與接觸件相對應(yīng)并安裝在定位板上。
文檔編號H01R13/02GK201876477SQ201020281948
公開日2011年6月22日 申請日期2010年8月2日 優(yōu)先權(quán)日2010年8月2日
發(fā)明者曹金學(xué) 申請人:曹金學(xué)