專利名稱：可快速拆組電連接模塊的測試連接器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是關(guān)于一種測試電連接器，尤指一種具備快速更換電連接模塊功用的測試電連接器。
背景技術(shù)：
目前應用于手動式檢測裝置或自動化檢測設備中的檢測連接器用于提供待測集成電路元件置放定位的裝置，并利用該檢測裝置的電連接構(gòu)件(如導電膠片、探針等)作為待測集成電路元件與測試載板間電接觸的媒介，所述電連接構(gòu)件安裝于該測試座底部，并利用螺絲將該測試座鎖固于檢測設備的電路載板上，使電連接構(gòu)件的信號輸出入端子分別電性接觸電路載板表面相應的接觸墊。當待測集成電路元件置入該測試座的元件定位槽中，操作者手動或利用機器對待測集成電路元件施以一力量，使集成電路元件底面的每一輸出入端子(如接腳、引墊、球墊等)分別通過導電構(gòu)件中相應的信號輸出入端子連接電路 載板上相對應的接觸墊，進而由檢測裝置或檢測設備的檢測系統(tǒng)進行功能性檢測，以判斷待測集成電路元件的功能是否正確。前述測試連接器長時間被應用于集成電路元件的檢測作業(yè)時，因測試連接器中的電連接構(gòu)件遭受多次測試加壓而會失去其原來性質(zhì)(如伸縮彈性或電氣特性等)而損壞，或因多次測試加壓而臟污，故為確保測試的正確性，電連接構(gòu)件使用一段時間之后，即須加以更換或下生產(chǎn)線清潔維護。然而，因電連接構(gòu)件是通過鎖固于電路載板上的測試座加以固定，故每一次更換電連接構(gòu)件時，即需使檢測設備停機，再拆解測試座、更換電連接構(gòu)件以及重新對位鎖固測試座，一般而言，每更換電連接構(gòu)件一次，即須停機數(shù)十分鐘之久，對檢測作業(yè)效率影響甚大，因此，如何使電連接構(gòu)件的替換作業(yè)更為快速簡便，為測試連接器設計領(lǐng)域亟待改善的問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于提供一種可快速拆組電連接模塊的測試連接器，希由此設計改善現(xiàn)有測試連接器的電連接構(gòu)件更換費時費工，且會導致檢測設備停機時間過久，影響檢測作業(yè)效率等問題。為達成前揭目的，本發(fā)明所設計的可快速拆組電連接模塊的測試連接器包含一基座，所述基座中形成至少一個由上而下貫通的裝配孔；以及至少一電連接模塊，所述電連接模塊能整組拆換的安裝于基座的裝配孔，所述電連接模塊包含一元件導引框以及一電連接構(gòu)件，所述元件導引框中形成一由上而下貫通的元件置入孔，所述電連接構(gòu)件能拆組的裝設于元件導引框底部，并通過元件導引框能拆組的定位于基座的裝配孔中，所述電連接構(gòu)件位于基座的裝配孔底部。在優(yōu)選的實施方式中，所述電連接構(gòu)件與元件導引框底部之間形成相應的定位凹部與定位凸部配合的組合構(gòu)造。在優(yōu)選的實施方式中，所述電連接構(gòu)件與元件導引框底部之間通過卡接方式組人
口 O在優(yōu)選的實施方式中，所述電連接構(gòu)件與元件導引框底部之間通過螺絲鎖固。在優(yōu)選的實施方式中，所述元件導引框底部通過彈性體彈力抵止固定所述電連接構(gòu)件。在優(yōu)選的實施方式中，所述電連接構(gòu)件與元件導引框底部之間通過定位銷插設固定。在優(yōu)選的實施方式中，所述元件導引框與基座之間通過螺絲鎖固。
在優(yōu)選的實施方式中，所述元件導引框與基座之間通過卡接組合。在優(yōu)選的實施方式中，所述元件導引框與基座之間通過磁鐵磁吸固定。在優(yōu)選的實施方式中，所述元件導引框與基座之間通過定位銷與定位孔插接固定。本發(fā)明的可快速拆組電連接模塊的測試連接器的特點及優(yōu)點是由此可快速拆組電連接模塊的測試連接器設計，使其可安裝于手動或自動化測試設備中，以元件導引框提供待測電子元件置入其中，使電子元件通過電連接構(gòu)件電性連接測試設備進行功能性檢測，其中，于測試連接器的電連接構(gòu)件故障或臟污時，通過電連接模塊直接自基座中拆組的組合構(gòu)造設計，讓使用者能夠快速拆換電連接模塊或其電連接構(gòu)件，立即接續(xù)進行檢測作業(yè)，有效縮短停機時間，達到接近不停機的檢測作業(yè)狀態(tài)。


圖I是揭示本發(fā)明測試連接器的一較佳實施例的立體分解示意圖。圖2至圖5揭示本發(fā)明測試連接器使用不同的電連接構(gòu)件的其它較佳實施例的組合剖面示意圖。圖6是揭示本發(fā)明測試連接器的電連接模塊于元件導引框底面使用彈性體固定電連接構(gòu)件的另一較佳實施例的底視平面示意圖。圖7是圖I所示測試連接器較佳實施例結(jié)合測試載板與手動式測試蓋的立體示意圖。圖8是圖I所示測試連接器較佳實施例結(jié)合測試載板與自動檢測設備的定位板的立體示意圖。圖9是待測集成電路元件置入測試連接器的使用狀態(tài)參考圖。圖10是圖I所示測試連接器較佳實施例于更換電連接模塊的操作示意圖。元件符號說明I……測試連接器2……基座20......裝配孔201......孔壁21……定位穿孔22……定位凸柱23……定位銷3……電連接模塊30......元件導引框301......元件置入孔302......定位孔303......定位凹部304......定位凸部305......卡勾31……電連接構(gòu)件311……定位凸部
312......定位凹部32......彈性體34......磁鐵35......螺絲4......測試載板5......測試蓋6......定位板60......定位孔7……集成電路元件
具體實施例方式如圖I所示，是揭示本發(fā)明可快速拆組電連接模塊的測試連接器的一較佳實施例，所述測試連接器I的組成包含一基座2以及至少一電連接模塊3，其中·所述的基座2中形成至少一個由上而下貫通的裝配孔20，如圖I所示，該基座2于所述裝配孔20外圍可成形多個定位穿孔21，其中部分的定位穿孔21可供螺絲穿設其中，用以將基座2固定于電路載板上，另于基座2頂面也可設置定位凸柱22，作為基座2對位組裝的用途。所述電連接模塊3可整組直接拆換的安裝于基座2的裝配孔20中，所述電連接模塊3包含一元件導引框30以及一電連接構(gòu)件31，所述元件導引框30中形成一由上而下貫通的元件置入孔301，所述元件置入孔301是依待測集成電路元件的外形尺寸而設計，所述電連接構(gòu)件31可拆組的裝設于元件導引框30底部，并提供多個信號輸出入端子，并通過元件導引框30可拆組固定于基座2的裝配孔20中，電連接構(gòu)件31位于基座2的裝配孔20底部；所述電連接構(gòu)件31可為具有多數(shù)導線的導電膠片(如圖3所示)、或一承載板與多個導電膠條(或?qū)щ娔z塊)的組合(如圖I、圖2所示)、或是具有多個柱狀導電粒子的導電片(如圖4所示)、或是具有多個伸縮式探針的探針矩陣(如圖5所示)，或其它具有由上而下特定方向?qū)щ姽δ艿膶щ姌?gòu)件等，并以所述導線、導電粒子、導電塊、探針等作為信號輸出入端子。所述元件導引框30與基座2之間的組合構(gòu)造設計，可以是螺絲鎖固、卡接組合定位、磁鐵磁吸定位、彈性體以彈力抵止固定、定位銷與定位孔插接固定等組合構(gòu)造來達成。如圖I所示的較佳實施例，基座2的裝配孔20形成上段孔徑大于下段孔徑的階級孔，裝配孔20上段相應于元件導引框30外形，于基座2的裝配孔20上、下段銜接處周邊孔壁201處設置至少一定位銷23，于元件導引框30中設置相應于定位銷23的定位孔302，使元件導引框30置入基座2的裝配孔20上段中，電連接構(gòu)件31位于基座2裝配孔20下段中，定位銷23穿設于相應的定位孔302，使元件導引框30固定于基座2中，并可自基座2中直接拆組元件導引框30。如圖I所示的較佳實佳例中，定位銷23還可為鐵質(zhì)材質(zhì)所制成，另于元件導引框30的定位孔302上方設置一磁鐵34，使定位銷23可為磁鐵34予以磁吸固定。所述電連接構(gòu)件31可拆組的裝設于元件導引框30底部，電連接構(gòu)件31與元件導引框30底部之間可通過相應的定位凹部303、312與定位凸部311、304配合的組合構(gòu)造(如圖2、圖3所示)，或者，電連接構(gòu)件31與元件導引框30兩者之間也可利用卡接組合方式、螺絲鎖固方式、彈性體32以彈力抵止固定(如圖6所示)、定位銷與定位孔的插設固定等組合構(gòu)造來達成。所述電連接構(gòu)件31依所選用的導電膠片(如圖3所示的較佳實施例)、承載板與多個導電膠條(或?qū)щ娔z塊)的組合(如圖I、圖2所示的較佳實施例)、具有多個柱狀導電粒子的導電片(如圖4所示的較佳實施例)、或具有多個伸縮式探針的探針矩陣(如圖5所示的較佳實施例)，或者是其它具有由上而下特定方向?qū)щ姽δ艿膶щ姌?gòu)件等型式，而選擇合適的電連接構(gòu)件與元件導引框的組合方式。如圖I及圖5所示的較佳實施例，揭示電連接構(gòu)件31通過螺絲35 (或定位銷)固定于元件導引框30底部的組合構(gòu)造；如圖4所示的較佳實施例，揭示元件導引框30通過其底部卡勾305以卡接方式固定電連接構(gòu)件31 ;如圖5所示的較佳實施例，揭示電連接構(gòu)件31通過螺絲固定于元件導引框30底部的組合構(gòu)造；如圖6所示的較佳實施例，揭示電連接構(gòu)件31通過設置于元件導引框30底部的彈性體32以彈力予以抵止定位的組合構(gòu)造。本發(fā)明測試連接器應用于集成電路元件檢測作業(yè)時，如圖7所示，揭示該測試連接器應用于手動檢測裝置的實施例，其中該測試連接器I安裝于具有線路的測試載板4，使測試連接器I中的電連接構(gòu)件31的多個信號輸出入端子底端電性接觸測試載板4上相應的接觸墊，其次作業(yè)人員以手動方式將待測集成電路元件置放于元件導引框30的元件置入孔301中，再手持測試蓋5蓋合于測試連接器I上，并對待測集成電路元件施以一力量， 使待測集成電路元件底部的每一輸出入端子(如接腳、引墊、球墊等)分別電接觸電連接構(gòu)件31上的信號輸出入端子，再通過測試載板4電性連接測試系統(tǒng)進行功能性檢測。如圖8所示，揭示多個測試連接器I應用于自動化檢測設備的定位板中的實施例，其中，使該些測試連接器I分別固定于測試載板4上，使每一測試連接器I的電連接構(gòu)件31的信號輸出入端電接觸測試載板4上相應的接觸墊，再各組分別安裝于一定位板6底部，其中利用基座2與定位板6相結(jié)合，并使每一測試連接器I中可拆組的電連接模塊3對應于定位孔60中，并通過定位板6安裝于測試設備的機臺上，并使每一測試連接器I分別連通測試載板4電性連接測試系統(tǒng)。于測試時，如圖9所示，其是利用自動化檢測設備中的運動機構(gòu)吸取多個待測集成電路元件7移置定位板6中，使每一待測集成電路元件置入相應測試連接器I的元件導引框30的元件置入孔301中，使待測集成電路元件底部的每一輸出入端子(如接腳、引墊、球墊等)分別電接觸電連接構(gòu)件31上的信號輸出入端子，再通過測試載板4電性連接測試系統(tǒng)進行功能性檢測。本發(fā)明測試連接器應用于集成電路元件檢測作業(yè)后，其中電連接構(gòu)件31因長時間被施加力量而會損耗或臟污，故為確保檢測作業(yè)的正確須進行更換，于更換時，如圖10所示，其以手持工具將電連接模塊3直接自基座2中向上取出，將備用替換的電連接模塊3置入基座2中；或者，于電連接模塊3自基座2中取出后，將電連接模塊3中的電連接構(gòu)件31自元件導引框30底部取下，換上備用替換的電連接構(gòu)件31，再重新置入基座2的裝配孔20中，即能接續(xù)進行待測集成電路元件的檢測作業(yè)。由以上說明可知，本發(fā)明通過電連接模塊3可以直接自基座2中拆組的組合構(gòu)造設計，讓使用者能夠快速拆換電連接模塊3或其電連接構(gòu)件31，立即接續(xù)進行檢測作業(yè)，故能有效縮短停機時間，達到接近不停機的檢測作業(yè)狀態(tài)。以上所述，僅是揭示本發(fā)明的較佳實施例，并非對本發(fā)明作任何形式上的限制，任何所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識的技術(shù)人員在不脫離本發(fā)明所提出的技術(shù)特征的范圍內(nèi)，利用本發(fā)明所揭示技術(shù)內(nèi)容所作出局部更動或修飾的等效實施例，均仍屬于本發(fā)明技術(shù)特征的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種可快速拆組電連接模塊的測試連接器，其特征在于，包含 一基座，所述基座中形成至少一個由上而下貫通的裝配孔；以及 至少一電連接模塊，所述電連接模塊能整組拆換的安裝于基座的裝配孔，所述電連接模塊包含一元件導引框以及一電連接構(gòu)件，所述元件導引框中形成一由上而下貫通的元件置入孔，所述電連接構(gòu)件能拆組的裝設于元件導引框底部，并通過元件導引框能拆組的定位于基座的裝配孔中，所述電連接構(gòu)件位于基座的裝配孔底部。
2.如權(quán)利要求I所述的可快速拆組電連接模塊的測試連接器，其特征在于，所述電連接構(gòu)件與元件導引框底部之間形成相應的定位凹部與定位凸部配合的組合構(gòu)造。
3.如權(quán)利要求I所述的可快速拆組電連接模塊的測試連接器，其特征在于，所述電連接構(gòu)件與元件導引框底部之間通過卡接方式組合。
4.如權(quán)利要求I所述的可快速拆組電連接模塊的測試連接器，其特征在于，所述電連接構(gòu)件與元件導引框底部之間通過螺絲鎖固。
5.如權(quán)利要求I所述的可快速拆組電連接模塊的測試連接器，其特征在于，所述元件導引框底部通過彈性體彈力抵止固定所述電連接構(gòu)件。
6.如權(quán)利要求I所述的可快速拆組電連接模塊的測試連接器，其特征在于，所述電連接構(gòu)件與元件導引框底部之間通過定位銷插設固定。
7.如權(quán)利要求I至6任一項所述的可快速拆組電連接模塊的測試連接器，其特征在于，所述元件導引框與基座之間通過螺絲鎖固。
8.如權(quán)利要求I至6任一項所述的可快速拆組電連接模塊的測試連接器，其特征在于，所述元件導引框與基座之間通過卡接組合。
9.如權(quán)利要求I至6任一項所述的可快速拆組電連接模塊的測試連接器，其特征在于，所述元件導弓丨框與基座之間通過磁鐵磁吸固定。
10.如權(quán)利要求I至6任一項所述的可快速拆組電連接模塊的測試連接器，其特征在于，所述元件導引框與基座之間通過定位銷與定位孔插接固定。
全文摘要
本發(fā)明是一種可快速拆組電連接模塊的測試連接器，其主要于一基座的裝配孔中組裝一組可整組直接拆換的電連接模塊，所述電連接模塊包含一元件導引框以及一電連接構(gòu)件，所述電連接構(gòu)件可拆組的裝設于元件導引框底部，該測試連接器可安裝于手動或自動化測試設備中，以元件導引框提供待測電子元件置入其中，使電子元件通過電連接構(gòu)件電性連接測試設備進行功能性檢測，本發(fā)明于測試連接器的電連接構(gòu)件故障或需要清潔時，通過電連接模塊直接自基座中拆組的組合構(gòu)造設計，而能快速拆換電連接模塊或其電連接構(gòu)件，立即接續(xù)進行檢測作業(yè)，減少IC測試機臺因更換或清潔電連接構(gòu)件而停機或待機的時間，達到接近不停機的生產(chǎn)作業(yè)狀態(tài)。
文檔編號H01R13/514GK102842803SQ20111017394
公開日2012年12月26日 申請日期2011年6月24日 優(yōu)先權(quán)日2011年6月24日
發(fā)明者吳欣龍 申請人:泰可廣科技股份有限公司