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一種封裝引線框架結(jié)構(gòu)的制作方法

文檔序號(hào):6995953閱讀:165來源:國(guó)知局
專利名稱:一種封裝引線框架結(jié)構(gòu)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及半導(dǎo)體器件封裝的技術(shù)領(lǐng)域,具體為一種封裝引線框架結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)
現(xiàn)有的T0-3P封裝結(jié)構(gòu)是在T0-3P框架通過導(dǎo)電膠/或絕緣膠粘結(jié)芯片,芯片外再包封環(huán)氧樹脂,由于該工藝的所封裝的芯片尺寸較大,封裝后由于芯片與框架兩種材料之間熱膨脹系數(shù)差異較大,易造成后加熱包封及使用過程中由于溫度過高,使得芯片破裂, 使產(chǎn)品失效,且目前的加熱包封易導(dǎo)致芯片破裂,封裝結(jié)構(gòu)一次加工良率只有80%左右,力口工良率低。
發(fā)明內(nèi)容針對(duì)上述問題,本實(shí)用新型提供了一種封裝引線框架結(jié)構(gòu),其使得封裝的芯片不易與底部的框架因?yàn)椴牧系臒崤蛎浵禂?shù)差異而導(dǎo)致在高溫環(huán)境中破裂,確保產(chǎn)品有效,且提高了一次加工良率。一種封裝引線框架結(jié)構(gòu),其技術(shù)方案是這樣的其包括框架底板、基島、芯片、弓丨線、外引腳,所述框架底板上設(shè)置有基島,所述芯片位于所述基島的區(qū)域內(nèi),所述引線連接所述芯片、外引腳,其特征在于所述基島上涂布有導(dǎo)熱膠層,鉬片底部粘接所述導(dǎo)熱膠層, 所述鉬片的上表面涂布有導(dǎo)電膠層,所述芯片的底部粘接所述導(dǎo)電膠層,所述芯片的外邊緣均位于所述鉬片的外邊緣內(nèi)部。其進(jìn)一步特征在于所述導(dǎo)電膠層可替換成絕緣膠層;所述鉬片的厚度為2mm。采用本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)后,由于基島和芯片之間設(shè)置了鉬片,鉬片的熱膨脹系數(shù)介于基島材質(zhì)、芯片之間,在高溫環(huán)境中,熱膨脹得到了一定的中和,使得芯片的變形和鉬片大致相同,而鉬片和基島的變形大致相同,進(jìn)而芯片不會(huì)再高溫環(huán)境中破裂,確保產(chǎn)品有效,并提高依次加工良率至95%以上,加工良率高。

圖1為本實(shí)用新型的T0-3P封裝引線框架結(jié)構(gòu)示意圖;圖2為圖1的左視圖結(jié)構(gòu)示意圖(加入環(huán)氧樹脂層)。
具體實(shí)施方式
見圖1、圖2,其包括框架底板1、基島2、芯片3、引線4、外引腳5,框架底板1上設(shè)置有基島2,芯片3位于基島2的區(qū)域內(nèi)上,引線4連接芯片3、外引腳5,基島2上涂布有導(dǎo)熱膠層6,2mm厚的鉬片7的底部粘接導(dǎo)熱膠層6,鉬片7的上表面涂布有導(dǎo)電膠層8,芯片 3的底部粘接導(dǎo)電膠層8,芯片3的外邊緣均位于鉬片7的外邊緣內(nèi)部。其中導(dǎo)電膠層8可替換成絕緣膠層。圖中9為環(huán)氧樹脂層。
權(quán)利要求1.一種封裝引線框架結(jié)構(gòu),其包括框架底板、基島、芯片、引線、外引腳,所述框架底板上設(shè)置有基島,所述芯片位于所述基島的區(qū)域內(nèi),所述引線連接所述芯片、外引腳,其特征在于所述基島上涂布有導(dǎo)熱膠層,鉬片底部粘接所述導(dǎo)熱膠層,所述鉬片的上表面涂布有導(dǎo)電膠層,所述芯片的底部粘接所述導(dǎo)電膠層,所述芯片的外邊緣均位于所述鉬片的外邊緣內(nèi)部。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種封裝引線框架結(jié)構(gòu),其特征在于所述導(dǎo)電膠層可替換成絕緣膠層。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種封裝引線框架結(jié)構(gòu),其特征在于所述鉬片的厚度為 2mm。
專利摘要本實(shí)用新型提供了一種封裝引線框架結(jié)構(gòu),其使得封裝的芯片不易與底部的框架因?yàn)椴牧系臒崤蛎浵禂?shù)差異而導(dǎo)致在高溫環(huán)境中破裂,確保產(chǎn)品有效,且提高了一次加工良率。其包括框架底板、基島、芯片、引線、外引腳,所述框架底板上設(shè)置有基島,所述芯片位于所述基島的區(qū)域內(nèi),所述引線連接所述芯片、外引腳,其特征在于所述基島上涂布有導(dǎo)熱膠層,鉬片底部粘接所述導(dǎo)熱膠層,所述鉬片的上表面涂布有導(dǎo)電膠層,所述芯片的底部粘接所述導(dǎo)電膠層,所述芯片的外邊緣均位于所述鉬片的外邊緣內(nèi)部。
文檔編號(hào)H01L23/28GK202259273SQ201120417628
公開日2012年5月30日 申請(qǐng)日期2011年10月28日 優(yōu)先權(quán)日2011年10月28日
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