專利名稱：一種晶體硅組件半成品檢驗裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種檢驗裝置，特別涉及一種晶體硅組件半成品檢驗裝置。
背景技術(shù)：
晶體硅組件半成品檢驗是整個封裝工藝過程中很重要的一環(huán)，是疊層工序后層壓前由質(zhì)量人員檢驗半成品組件的一個過程?，F(xiàn)有的檢驗臺是一個架子，工作人員需要從下往上觀察組件是否存在問題，導(dǎo)致光線被組件擋住，不利于看到組件的一些隱裂、錫渣、衣服絲線等細微物，影響檢查結(jié)果。此外，因檢驗臺比較高，一方面增加了員工上下搬動的勞動強度，另一方面易撞到或者絆到檢驗臺支架導(dǎo)致組件碎裂。亟需對現(xiàn)有的檢驗臺進行改進。

實用新型內(nèi)容為了解決現(xiàn)有檢驗裝置存在遮擋光線以及檢驗臺太高的缺陷，本實用新型提供了一種新的檢驗裝置。本實用新型提供了一種晶體硅組件半成品檢驗裝置，它包括框架、光源和鏡子，框架頂部設(shè)置支梁，光源設(shè)置于框架內(nèi)部，鏡子設(shè)置于光源下方。其中，所述框架底部設(shè)置可調(diào)式地腳。其中，所述框架由不銹鋼型材制備而成。其中，所述光源為日光燈。其中，所述鏡子兩端設(shè)置轉(zhuǎn)軸。本實用新型解決了現(xiàn)有檢驗裝置的缺陷，使用方便，可減少質(zhì)量事故，降低勞動強度，提高生產(chǎn)效率，具有較高的經(jīng)濟價值。

圖1晶體硅組件半成品檢驗裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2圖1所示結(jié)構(gòu)示意圖的右視圖。其中，1是框架，2是光源，3是鏡子，4是支梁，5是可調(diào)式地腳，6是轉(zhuǎn)軸。
具體實施方式
如圖1-2所示，本實用新型提供了一種晶體硅組件半成品檢驗裝置，它包括框架 1、光源2和鏡子3，框架1頂部設(shè)置支梁4，光源2設(shè)置于框架1內(nèi)部，鏡子3設(shè)置于光源下方。檢驗時，將待檢組件放置在本實用新型提供的晶體硅組件半成品檢驗裝置上，鏡子3可將光源2的光線照射到組件底面即也可將組件底面反射到鏡面上，即可直接從鏡面中進行檢測，該裝置克服現(xiàn)有裝置遮擋光線和工作人員仰頭檢查的缺陷，方便工作人員檢查晶體硅組件半成品的質(zhì)量。[0016]其中，所述框架1底部設(shè)置可調(diào)式地腳5。工作人員可以根據(jù)不同高度需求適當(dāng)調(diào)整可調(diào)式地腳5，使用方便。其中，所述框架1由不銹鋼型材制備而成。其中，所述鏡子3兩端設(shè)置轉(zhuǎn)軸6。通過調(diào)節(jié)轉(zhuǎn)軸，轉(zhuǎn)動鏡面3，可從不同角度檢查組件，能使組件中有一些色差、錫渣、異物很明顯的體現(xiàn)出來。其中，所述光源2為日光燈。綜上，本實用新型提供的檢驗裝置可減少操作強度，提高了工作效率，降低了人工勞動強度，還可明顯提高組件層壓后的組件合格率，有效降低生產(chǎn)成本，有良好的工業(yè)應(yīng)用前景。
權(quán)利要求1.一種晶體硅組件半成品檢驗裝置，其特征在于它包括框架(1)、光源( 和鏡子 (3)，框架(1)頂部設(shè)置支梁，光源( 設(shè)置于框架(1)內(nèi)部，鏡子C3)設(shè)置于光源下方。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶體硅組件半成品檢驗裝置，其特征在于所述框架(1)底部設(shè)置可調(diào)式地腳(5)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶體硅組件半成品檢驗裝置，其特征在于所述框架(1)由不銹鋼型材制備而成。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶體硅組件半成品檢驗裝置，其特征在于所述光源(2)為日光燈。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶體硅組件半成品檢驗裝置，其特征在于所述鏡子(3)兩端設(shè)置轉(zhuǎn)軸(6)。
專利摘要本實用新型提供了一種晶體硅組件半成品檢驗裝置，它包括框架、光源和鏡子，框架頂部設(shè)置支梁，光源設(shè)置于框架內(nèi)部，鏡子設(shè)置于光源下方。本實用新型解決了現(xiàn)有檢驗裝置不方便的問題，且成本低，使用方便，安全性高，具有較強的實用價值。
文檔編號H01L21/66GK202332800SQ20112048965
公開日2012年7月11日 申請日期2011年11月30日 優(yōu)先權(quán)日2011年11月30日
發(fā)明者劉曉會, 孫明亮, 張鳳鳴, 盛雯婷, 陸智海 申請人:保定天威集團有限公司, 天威新能源控股有限公司