專利名稱：按鍵結構的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及儀器按鍵領域，尤其涉及一種具有較長使用壽命的按鍵結構。
背景技術：
電子設備是現(xiàn)代社會中不可或缺的裝置，電子設備已經(jīng)深入到我們的工作和生活當中，電子設備通常依靠按鍵來實現(xiàn)各種功能。比如手持設備上的鍵盤按鍵、數(shù)字按鍵，大型儀器操作面板上的按鍵等等。按鍵都有使用壽命的限制，通常的按鍵壽命在幾萬次到幾十萬次不等。對于大型昂貴的儀器設備來說，按鍵的使用壽命一定程度上決定了儀器的使用壽命。有時，儀器的主要部件性能還是完好的，但是按鍵損壞卻導致了儀器不能使用。就按鍵的結構來說，造成按鍵損壞的主要原因是長期使用后引起接觸導電性能的下降，是的按鍵不能準確反應操作信號。

實用新型內(nèi)容本使用新型旨在提出一種能夠延長使用壽命的按鍵結構。根據(jù)本實用新型的一實施例，提出一種按鍵結構包括鍵體、鍵帽和觸發(fā)桿。鍵體包括由彈性件連接的上支架和下支架，上支架和下支架中間具有對準的上通孔和下通孔，下支架架設于電路板上。鍵帽蓋于上支架上，鍵帽覆蓋于上通孔的位置。觸發(fā)桿的頂端連接到鍵帽，觸發(fā)桿貫穿上通孔和下通孔，觸發(fā)桿的底部貼有金屬箔。在一個實施例中，在彈性件的復位位置，觸發(fā)桿的底部與電路板具有一間隙。在彈性件的壓縮位置，觸發(fā)桿的底部與電路板接觸。在一個實施例中，金屬箔是錫箔或者鋁箔。本實用新型的按鍵結構在觸發(fā)桿的底部增加了金屬箔，能夠有效增強按鍵的導向性能，延長使用壽命。

圖I揭示了根據(jù)本實用新型的一實施例的按鍵結構的截面圖。
具體實施方式
參考圖I所示，本實用新型揭示了一種按鍵結構，該按鍵結構100包括鍵體102、鍵帽104和觸發(fā)桿106。鍵體102包括由彈性件110連接的上支架111和下支架112，上支架111和下支架112中間具有對準的上通孔113和下通孔114，下支架112架設于電路板200上。鍵帽104蓋于上支架111上，鍵帽104覆蓋于上通孔113的位置。觸發(fā)桿106的頂端連接到鍵帽104，觸發(fā)桿104貫穿上通孔113和下通孔114，觸發(fā)桿104的底部貼有金屬箔108。在一個實施例中，金屬箔108是錫箔或者鋁箔。該按鍵結構100具有兩個工作位置壓縮位置和復位位置。壓縮位置是指按鍵結構100被按下。按壓的部位是鍵帽104，鍵帽104將壓力傳遞給鍵體102和觸發(fā)桿106。上支架111和下支架112之間的彈性件110被壓縮處于壓縮位置。觸發(fā)桿106在上通孔113和下通孔114中向下延伸，觸發(fā)桿106的底部接觸到電路板200，更加具體地說，是觸發(fā)桿106底部的金屬箔108接觸到電路板200，接通電路板200上的相應電路，實現(xiàn)按鍵的功能。復位位置是指按鍵結構100被放開。此時對按鍵結構100不施加任何的壓力。彈性件110在彈性力的作用下復位，將上支架112向上頂起，帶動鍵帽104向上移動，同時觸發(fā)桿106也向上移動，使得觸發(fā)桿106的底部與電路板200之間具有一間隙，電路板200上 的電路不被接通。本實用新型的按鍵結構在觸發(fā)桿的底部增加了金屬箔，能夠有效增強按鍵的導向性能，延長使用壽命。
權利要求1.一種按鍵結構,其特征在于,包括 鍵體，鍵體包括由彈性件連接的上支架和下支架，上支架和下支架中間具有對準的上通孔和下通孔，下支架架設于電路板上； 鍵帽，鍵帽蓋于上支架上，鍵帽覆蓋于所述上通孔的位置； 觸發(fā)桿，觸發(fā)桿的頂端連接到鍵帽，觸發(fā)桿貫穿所述上通孔和下通孔，觸發(fā)桿的底部貼有金屬箔。
2.如權利要求I所述的按鍵結構，其特征在于，在彈性件的復位位置，觸發(fā)桿的底部與電路板具有一間隙。
3.如權利要求I所述的按鍵結構，其特征在于，在彈性件的壓縮位置，觸發(fā)桿的底部與電路板接觸。
4.如權利要求I所述的按鍵結構，其特征在于，所述金屬箔是錫箔或者鋁箔。
專利摘要本實用新型揭示了一種按鍵結構包括鍵體、鍵帽和觸發(fā)桿。鍵體包括由彈性件連接的上支架和下支架，上支架和下支架中間具有對準的上通孔和下通孔，下支架架設于電路板上。鍵帽蓋于上支架上，鍵帽覆蓋于上通孔的位置。觸發(fā)桿的頂端連接到鍵帽，觸發(fā)桿貫穿上通孔和下通孔，觸發(fā)桿的底部貼有金屬箔。在彈性件的復位位置，觸發(fā)桿的底部與電路板具有一間隙。在彈性件的壓縮位置，觸發(fā)桿的底部與電路板接觸。金屬箔是錫箔或者鋁箔。本實用新型的按鍵結構在觸發(fā)桿的底部增加了金屬箔，能夠有效增強按鍵的導向性能，延長使用壽命。
文檔編號H01H13/12GK202650911SQ20122026511
公開日2013年1月2日 申請日期2012年6月6日 優(yōu)先權日2012年6月6日
發(fā)明者唐寅 申請人:上海博曦計量測試技術有限公司