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抑制電極光吸收的發(fā)光二極管的制備方法

文檔序號:7047813閱讀:203來源:國知局
抑制電極光吸收的發(fā)光二極管的制備方法
【專利摘要】一種抑制電極光吸收的發(fā)光二極管的制備方法,包括:在一具有藍寶石襯底的氮化鎵LED外延片上表面的P型氮化鎵層上沉積SiO2層并制作圖形;在圖形上制作一單層微納米球,形成基片;將基片加熱,使得微納米球坍塌為半球型并固定在SiO2圖形的上表面上;去除圖形中的SiO2層的部分;在SiO2層的上表面蒸鍍反光金屬薄膜,并電鍍金屬銅;采用激光剝離技術(shù)去除外延片中的藍寶石襯底,露出P型氮化鎵層另一面的N型氮化鎵層的表面;在N型氮化鎵層的表面沉積金屬薄膜,作為N電極,位置剛好對應(yīng)于下方微納米半球形成的曲面,完成制備。本發(fā)明是在金屬電極正下方的特定區(qū)域制作反光曲面抑制電極對光的吸收,可以提高器件的出光效率。
【專利說明】抑制電極光吸收的發(fā)光二極管的制備方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于半導(dǎo)體【技術(shù)領(lǐng)域】,特別是抑制電極光吸收的發(fā)光二極管的制備方法?!颈尘凹夹g(shù)】
[0002]發(fā)光二級管中金屬電極對光的透過率低,而從量子阱發(fā)出的光主要集中在電極下方,因此,大量的光被電極吸收而不能夠被提取到芯片的外部。如何減少量子阱發(fā)出的光被電極吸收而造成光損失是目前研究的一個熱點,現(xiàn)有技術(shù)采用電流阻擋層技術(shù),將電流引離電極,減少量子阱發(fā)出的光被電極吸收或采用反射率較高的金屬材料作為電極,增加反射率,本發(fā)明在原有技術(shù)基礎(chǔ)上提出了一種新的方法進一步減少了電極對光的吸收,提高了器件的光提取效率。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的在于,提供一種抑制電極光吸收的發(fā)光二極管的制備方法,該方法是在金屬電極正下方的特定區(qū)域制作反光曲面抑制電極對光的吸收,可以提高器件的出光效率。
[0004]本發(fā)明提供一種抑制電極光吸收的發(fā)光二極管的制備方法,包括如下步驟:
[0005]步驟1:在一具有藍寶石襯底的氮化鎵LED外延片上表面的P型氮化鎵層上沉積SiO2層,在SiO2層上制作SiO2圖形;
[0006]步驟2:在圖形上制作一單層微納米球,形成基片;
[0007]步驟3:將基片加熱,使得微納米球坍塌為半球型并固定在SiO2圖形的上表面上;
[0008]步驟4:去除圖形中的SiO2層的部分;
[0009]步驟5:在去除了圖形中的SiO2層的上表面蒸鍍反光金屬薄膜,選用酸性硫酸銅電鍍液在導(dǎo)電薄膜的上表面電鍍金屬銅;
[0010]步驟6:采用激光剝離技術(shù)去除外延片中的藍寶石襯底,露出P型氮化鎵層另一面的N型氮化鎵層的表面;
[0011]步驟7:通過光刻技術(shù)、電子束蒸發(fā)技術(shù)和金屬剝離技術(shù)在N型氮化鎵層的表面沉積金屬薄膜,作為N電極,位置剛好對應(yīng)于下方微納米半球形成的曲面,完成制備。
[0012]本發(fā)明的有益效果是,其是在金屬電極正下方的特定區(qū)域制作反光曲面抑制電極對光的吸收,同時加強N電極周圍區(qū)域的電流注入,有利于電流擴展,增加發(fā)光強度,提高了器件的出光效率。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0013]為使審查員能進一步了解本發(fā)明的結(jié)構(gòu)、特征及其目的,以下結(jié)合附圖及較佳具體實施例的詳細說明如后,其中:
[0014]圖1是本發(fā)明的方法流程圖;
[0015]圖2是本發(fā)明在外延片上沉積SiO2層并光刻制作圖形后示意圖;。[0016]圖3是本發(fā)明制作單層微納球后示意圖;
[0017]圖4是本發(fā)明去除S i02層后不意圖;
[0018]圖5是本發(fā)明轉(zhuǎn)移襯底并激光剝離藍寶石襯底制作N電極后的示意圖;
[0019]圖6是應(yīng)用正裝結(jié)構(gòu)芯片示意圖;
[0020]圖7是在藍寶石面制作光刻圖形后示意圖;
[0021]圖8是制作單層微納球后示意圖;
[0022]圖9是去除SiO2層后不意圖。
【具體實施方式】
[0023]請參閱圖1,配合參閱圖2圖5所示,本發(fā)明提供一種抑制電極光吸收的發(fā)光二極管的制備方法,包括如下步驟:
[0024]步驟1:在一具有藍寶石襯底6的氮化鎵LED外延片上表面的P型氮化鎵層I上采用PECVD (等離子增強型化學(xué)氣相淀積法)沉積S i02層2,在Si02層2上涂敷光刻膠,光刻腐蝕Si02,制作Si02圖形;
[0025]步驟2:用PS(聚苯乙烯顆粒溶液)和乙醇以2: 3的比例混合,采用提拉機在SiO2圖形上制作一單層微納米球3,形成基片,其中微納米球3為透明結(jié)構(gòu),該微納米球3是PS球、CsCl球或NaCl晶體球,所述微納米球3的直徑為1_10微米;
[0026]步驟3:將基片加熱,使得微納米球3坍塌為半球型并固定在SiO2圖形的上表面上,其中加熱的溫度為90-120度,加熱的時間為I到5分鐘;
[0027]步驟4:采用氫氟酸和去離子水1: 6混合液,去除圖形中的S i02層2的部分;
[0028]步驟5:在去除了圖形中的3102層2的上表面蒸鍍反光金屬薄膜,選用酸性硫酸銅電鍍液在導(dǎo)電薄膜的上表面電鍍金屬銅4作為轉(zhuǎn)移襯底,其中反光金屬薄膜的材料是鎳、銀、鉬、鈀或金,或及其組合,轉(zhuǎn)移襯底為銅、銅-鎢合金、鎳或硅,轉(zhuǎn)移襯底的厚度在50 μ m至1000 μ m之間;
[0029]步驟6:采用激光剝離技術(shù)去除外延片中的藍寶石襯底6,露出P型氮化鎵層I另一面的N型氮化鎵層的表面7 ;
[0030]步驟7:通過光刻技術(shù)、電子束蒸發(fā)技術(shù)和金屬剝離技術(shù)在N型氮化鎵層的表面7沉積金屬薄膜,作為N電極8,位置剛好對應(yīng)于下方微納米半球形成的曲面,完成制備。此設(shè)計不僅增加了電極對光的反射,同時加強N電極周圍區(qū)域的電流注入,有利于電流擴展,增加發(fā)光強度,其中N電極8為金屬電極,其寬度為5 —10微米。
[0031 ] 以上所述方法是應(yīng)用于垂直結(jié)構(gòu)中。
[0032]上述方法應(yīng)用于正裝結(jié)構(gòu)中,請參閱圖6-圖9,取一制備好的具有P電極9、N電極10和藍寶石襯底11的正裝結(jié)構(gòu)芯片,將藍寶石層減薄,在藍寶石襯底上沉積SiO2,通過均膠、曝光、顯影、堅膜、腐蝕等光刻工藝在藍寶石襯底面對應(yīng)于P和N電極位置制作SiO2圖形層。用PS(聚苯乙烯顆粒溶液)和乙醇以2: 3的比例混合,采用提拉機在圖形層上表面制作微納米球13。加熱100度左右,I到5分鐘,使得微納米球坍塌為半球型并固定在圖形層上方,用氫氟酸去除SiO2,將其上方的微納米半球一并去掉,采用FB蒸鍍金屬反射鏡。完成芯片制作。
[0033]此外,上述方法不僅限于實施方式中提到的在垂直和正裝結(jié)構(gòu)發(fā)光二級管中的應(yīng)用,本發(fā)明的目的是減少電極光吸收對出光造成不利影響,凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi),所做的任何修改、等同替換、改進等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種抑制電極光吸收的發(fā)光二極管的制備方法,包括如下步驟: 步驟1:在一具有藍寶石襯底的氮化鎵LED外延片上表面的P型氮化鎵層上沉積SiO2層,在SiO2層上制作SiO2圖形; 步驟2:在圖形上制作一單層微納米球,形成基片; 步驟3:將基片加熱,使得微納米球坍塌為半球型并固定在SiO2圖形的上表面上; 步驟4:去除圖形中的SiO2層的部分; 步驟5:在去除了圖形中的SiO2層的上表面蒸鍍反光金屬薄膜,選用酸性硫酸銅電鍍液在導(dǎo)電薄膜的上表面電鍍金屬銅; 步驟6:采用激光剝離技術(shù)去除外延片中的藍寶石襯底,露出P型氮化鎵層另一面的N型氮化鎵層的表面; 步驟7:通過光刻技術(shù)、電子束蒸發(fā)技術(shù)和金屬剝離技術(shù)在N型氮化鎵層的表面沉積金屬薄膜,作為N電極,位置剛好對應(yīng)于下方微納米半球形成的曲面,完成制備。
2.如權(quán)利要求1所述的抑制電極光吸收的發(fā)光二極管的制備方法,其中微納米球為透明結(jié)構(gòu),該微納米球是PS球、CsCl球或NaCl晶體球。
3.如權(quán)利要求1所述的抑制電極光吸收的發(fā)光二極管的制備方法,其中加熱的溫度為90—120度,加熱的時間為I到5分鐘。
4.如權(quán)利要求1所述的抑制電極光吸收的發(fā)光二極管的制備方法,其中金屬電極的寬度為5-10微米。
5.如權(quán)利要求2所述的抑制電極光吸收的發(fā)光二極管的制備方法,其中所述微納米球的直徑為1-10微米。
6.如權(quán)利要求1所述的抑制電極光吸收的發(fā)光二極管的制備方法,其中反光金屬薄膜的材料是鎳、銀、鉬、鈕或金,或及其組合。
【文檔編號】H01L33/00GK103943738SQ201410184117
【公開日】2014年7月23日 申請日期:2014年5月4日 優(yōu)先權(quán)日:2014年5月4日
【發(fā)明者】劉娜, 孫雪嬌, 孔慶峰, 梁萌, 王莉, 魏同波, 劉志強, 伊?xí)匝? 王軍喜, 李晉閩 申請人:中國科學(xué)院半導(dǎo)體研究所
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