樣本分析儀及試劑信息獲取方法
樣本分析儀及試劑信息獲取方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種用試劑容器內(nèi)的試劑分析樣本的樣本分析儀，包括：第一試劑容器固定部件，用于固定第一試劑容器，所述第一試劑容器上有記錄著試劑的相關(guān)試劑信息的第一電子標(biāo)簽；第二試劑容器固定部件，用于固定第二試劑容器，所述第二試劑容器上有記錄著試劑的相關(guān)試劑信息的第二電子標(biāo)簽；天線部件，配置在所述第一試劑容器固定部件和所述第二試劑容器固定部件之間，分別從所述第一電子標(biāo)簽和所述第二電子標(biāo)簽接收電波；及試劑信息獲取部件，根據(jù)所述天線部件接收的電波，獲取記錄在所述第一電子標(biāo)簽的試劑信息和記錄在所述第二電子標(biāo)簽的試劑信息。本發(fā)明還提供一種獲取試劑容器內(nèi)試劑的相關(guān)試劑信息的試劑信息獲取方法。
【專利說明】樣本分析儀及試劑信息獲取方法
[0001]本申請是申請?zhí)枮?01110066002.7、申請日為2011年3月18日、名稱為“樣本分析儀及試劑信息獲取方法”的由同一 申請人:提交的中國發(fā)明專利申請的分案申請。
[0002]【技術(shù)領(lǐng)域】:
本發(fā)明涉及一種樣本分析儀，特別是涉及一種裝有帶電子標(biāo)簽的試劑容器的樣本分析儀，該電子標(biāo)簽上記錄有試劑信息。
[0003]【背景技術(shù)】:
人們已經(jīng)知道，歷來有一種樣本分析儀裝有帶有記錄著試劑信息的電子標(biāo)簽的試劑容器。
[0004]比如日本專利公報N0.2009/210444上公開了一種自動分析裝置，其包括:以內(nèi)圈列和外圈列兩列固定復(fù)數(shù)個試劑容器的圓環(huán)形試劑容器固定部件，所述試劑容器上帶有記錄著試劑信息的無線IC標(biāo)簽；向固定在內(nèi)圈列試劑容器固定部件的試劑容器的無線IC標(biāo)簽發(fā)射電波的內(nèi)圈天線；向固定在外圈列試劑容器固定部件的試劑容器的無線IC標(biāo)簽發(fā)射電波的外圈天線；從內(nèi)圈天線和外圈天線接收從無線IC標(biāo)簽返回的電波的信息讀取及存儲部件。在此自動分析裝置，內(nèi)圈天線配置于內(nèi)圈列試劑容器固定部件的內(nèi)側(cè)，外圈天線配置于外圈列試劑容器固定部件的外側(cè)。
[0005]然而，在上述日本專利公報N0.2009/210444上記述的自動分析裝置中，需要分別在內(nèi)圈列試劑容器固定部件的內(nèi)側(cè)和外圈列試劑容器固定部件的外側(cè)配置天線。因此，有零部件數(shù)量增加的問題。而且為了配置天線，必須確保內(nèi)圈列試劑容器固定部件的內(nèi)側(cè)區(qū)域和外圈列試劑容器固定部件的外側(cè)區(qū)域，因此有裝置主體過大的問題。
[0006]本發(fā)明正是為了解決上述課題，本發(fā)明目的之一是提供一種既可以控制零部件數(shù)量增加，又可以抑制裝置主體過大的樣本分析儀及試劑信息獲取方法。
[0007]
【發(fā)明內(nèi)容】
:
本發(fā)明的范圍只由后附權(quán)利要求書所規(guī)定，在任何程度上都不受這一節(jié)
【發(fā)明內(nèi)容】
的陳述所限。
[0008]gp，本發(fā)明提供:
(O一種用試劑容器內(nèi)的試劑分析樣本的樣本分析儀，包括:第一試劑容器固定部件，用于固定第一試劑容器，所述第一試劑容器上有記錄著試劑的相關(guān)試劑信息的第一電子標(biāo)簽；第二試劑容器固定部件，用于固定第二試劑容器，所述第二試劑容器上有記錄著試劑的相關(guān)試劑信息的第二電子標(biāo)簽；天線部件，配置在所述第一試劑容器固定部件和所述第二試劑容器固定部件之間，分別從所述第一電子標(biāo)簽和所述第二電子標(biāo)簽接收電波；及試劑信息獲取部件，根據(jù)所述天線部件接收的電波，獲取記錄在所述第一電子標(biāo)簽的試劑信息和記錄在所述第二電子標(biāo)簽的試劑信息。
[0009](2) (I)所述的樣本分析儀，其中，所述第一試劑容器的第一電子標(biāo)簽，配置在所述第一試劑容器與所述天線部件相對的側(cè)面；
所述第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽，配置在所述第二試劑容器與所述天線部件相對的側(cè)面。
[0010](3) (I)所述的樣本分析儀，還包括:判斷所述天線部件是否從所要讀取的目標(biāo)電子標(biāo)簽收到電波的控制部件。
[0011](4) (3)所述的樣本分析儀，其中，記錄在所述目標(biāo)電子標(biāo)簽的試劑信息包含識別試劑種類的種類識別信息；及所述控制部件根據(jù)所述試劑信息獲取部件獲取的試劑信息中所含所述種類識別信息，判斷所述天線部件是否從所述目標(biāo)電子標(biāo)簽收到電波。
[0012](5) (I)所述的樣本分析儀，其中，所述天線部件能夠分別向所述第一試劑容器的第一電子標(biāo)簽和所述第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽發(fā)送寫入用電波，以此將試劑信息寫入所述第一電子標(biāo)簽和所述第二電子標(biāo)簽；及所述樣本分析儀還有控制部件，在所述天線部件向待寫入試劑信息的電子標(biāo)簽發(fā)送寫入用電波前，判斷所述天線部件是否能與所述待寫入電子標(biāo)簽通信。
[0013](6)(1)所述的樣本分析儀，其中，所述天線部件包含平板狀天線基板，所述平板狀天線基板一側(cè)表面和另一側(cè)表面分別位于所述第一試劑容器一側(cè)和所述第二試劑容器一側(cè)；及所述樣本分析儀包含以下部件:移動所述第一試劑容器固定部件和所述第二試劑容器固定部件以及所述天線部件中的至少其中之一的驅(qū)動部件；及控制部件，當(dāng)讀取目標(biāo)是所述第一試劑容器的第一電子標(biāo)簽時，控制所述驅(qū)動部件，使所述讀取目標(biāo)的第一電子標(biāo)簽移動到正對所述天線基板一側(cè)表面的位置，而當(dāng)讀取目標(biāo)是所述第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽時，控制所述驅(qū)動部件，使所述讀取目標(biāo)的第二電子標(biāo)簽移動到正對所述天線基板另一側(cè)表面的位置。
[0014](7) (I)所述的樣本分析儀，其中，所述第一試劑容器固定部件固定復(fù)數(shù)個所述第一試劑容器，從平面看略呈圓環(huán)形；所述第二試劑容器固定部件固定復(fù)數(shù)各所述第二試劑容器，從平面看在所述第一試劑容器固定部件內(nèi)側(cè)呈圓環(huán)形；及讀取所述第二試劑容器固定部件的第二試劑容器上的第二電子標(biāo)簽時所述天線部件的可讀取范圍小于讀取所述第一試劑容器固定部件的第一試劑容器上的第一電子標(biāo)簽時所述天線部件的可讀取范圍。
[0015](8) (7)所述的樣本分析儀，還包括:讀取限制件，至少設(shè)置在所述第二試劑容器固定部件的第二試劑容器上的第二電子標(biāo)簽與所述天線部件之間，限制所述天線部件的可讀取范圍。
[0016](9) (8)所述的樣本分析儀，其中，在所述第一試劑容器固定部件的第一試劑容器上的第一電子標(biāo)簽和所述天線部件之間沒有設(shè)置限制所述天線部件可讀取范圍的所述讀取限制件。
[0017](10) (7)所述的樣本分析儀，其中，所述天線部件向所述第一試劑容器的第一電子標(biāo)簽和所述第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽分別發(fā)射電波，并分別接收所述第一和第二電子標(biāo)簽回應(yīng)所述電波所發(fā)射的電波；所述樣本分析儀還有一控制部件控制所述天線部件，當(dāng)從所述第一試劑容器固定部件的第一試劑容器上的第一電子標(biāo)簽讀取試劑信息時，向所述第一電子標(biāo)簽發(fā)射第一到達范圍的電波；當(dāng)從所述第二試劑容器固定部件的第二試劑容器上的第二電子標(biāo)簽讀取試劑信息時，向所述第二電子標(biāo)簽發(fā)射比所述第一到達范圍小的第二到達范圍的電波。
[0018](11) (7)至(10)其中任意一項所述的樣本分析儀，其中，所述第一試劑容器固定部件等間隔地固定一定數(shù)量的所述第一試劑容器；及所述第二試劑容器固定部件等間隔地固定所述一定數(shù)量的所述第二試劑容器。
[0019](12) (7)至(10)其中任意一項所述的樣本分析儀，其中，所述天線部件固定在所述第一試劑容器固定部件和所述第二試劑容器固定部件之間的一定位置；及所述樣本分析儀包括以下部件:向圓周方向旋轉(zhuǎn)驅(qū)動所述第一試劑容器固定部件和所述第二試劑容器固定部件的驅(qū)動部件；及控制部件，控制所述驅(qū)動部件，當(dāng)讀取目標(biāo)是所述第一試劑容器的第一電子標(biāo)簽時，使所述讀取目標(biāo)的第一電子標(biāo)簽移動到面對所述天線部件的位置，而當(dāng)讀取目標(biāo)是所述第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽時，使所述讀取目標(biāo)的第二電子標(biāo)簽移動到面對所述天線部件的位置。
[0020](13) 一種獲取試劑容器內(nèi)試劑的相關(guān)試劑信息的試劑信息獲取方法，包括:準(zhǔn)備包含以下部件的儀器:固定貼有記錄試劑信息的第一電子標(biāo)簽的第一試劑容器用的第一試劑容器固定部件、固定貼有記錄試劑信息的第二電子標(biāo)簽的第二試劑容器用的第二試劑容器固定部件、配置在所述第一試劑容器固定部件和所述第二試劑容器固定部件之間的天線；當(dāng)試劑信息讀取目標(biāo)是所述第一試劑容器上的第一電子標(biāo)簽時，移動所述第一試劑容器固定部件，使所述第一試劑容器上的第一電子標(biāo)簽面對所述天線；當(dāng)試劑信息讀取目標(biāo)是所述第二試劑容器上的第二電子標(biāo)簽時，移動所述第二試劑容器固定部件，使所述第二試劑容器上的第二電子標(biāo)簽面對所述天線；通過所述天線從讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽接收電波；及根據(jù)所述天線接收的電波，獲取所述讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽中記錄的試劑信息。
[0021](14) (13)所述的方法，還包括:判斷所述天線是否從所述讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽收到電波。
[0022](15) (14)所述的方法，其中，所述第一電子標(biāo)簽和所述第二電子標(biāo)簽分別記錄的試劑信息包含識別試劑種類的種類識別信息；及在判斷所述天線是否從所述讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽收到電波的步驟中，根據(jù)獲取的試劑信息中的種類識別信息，判斷所述天線是否從所述讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽收到電波。
[0023](16) (13)所述的方法，還包括:判斷待寫入試劑信息的電子標(biāo)簽與所述天線能否通信；及當(dāng)所述待寫入的電子標(biāo)簽?zāi)軌蚺c所述天線通信時，向所述待寫入電子標(biāo)簽發(fā)射寫入用電波，寫入試劑信息。
[0024](17) (13)至(16)其中任意一項所述的方法,其中,所述第一試劑容器固定部件固定復(fù)數(shù)個第一試劑容器，從平面看呈圓環(huán)形；所述第二試劑容器固定部件固定復(fù)數(shù)個第二試劑容器，從平面看在所述第一試劑容器固定部件內(nèi)側(cè)略呈圓環(huán)形。
[0025](18) (17)所述的方法，還包括:在所述第二試劑容器固定部件的第二試劑容器上的第二電子標(biāo)簽和所述天線之間設(shè)置讀取限制件，以此限制在讀取所述第二試劑容器固定部件的第二試劑容器上的第二電子標(biāo)簽時所述天線的可讀取范圍。
[0026](19) (17)所述的方法，還包括:當(dāng)所述讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽為所述第一試劑容器固定部件的第一試劑容器上的第一電子標(biāo)簽時，所述天線向所述第一電子標(biāo)簽發(fā)射第一到達范圍的電波；當(dāng)所述讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽為所述第二試劑容器固定部件的第二試劑容器上的第二電子標(biāo)簽時，所述天線向所述第二電子標(biāo)簽發(fā)射比所述第一到達范圍小的第二到達范圍的電波；及所述天線接收所述讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽為回應(yīng)所述第一到達范圍或所述第二到達范圍的電波而發(fā)射的電波。
[0027]根據(jù)上述(I)或(13)的結(jié)構(gòu)，無需在第一試劑容器固定部件和第二試劑容器固定部件分別設(shè)置天線部件，可以相應(yīng)控制零部件數(shù)量的增加。又由于將天線部件配置在第一試劑容器固定部件和第二試劑容器固定部件之間，只要確保第一試劑容器固定部件和第二試劑容器固定部件之間的區(qū)域用來配置天線部件即可，無需為配置天線部件而確保二個區(qū)域。如此，可以相應(yīng)地控制儀器主體的體積增大。另外，由于將天線部件配置在第一試劑容器固定部件和第二試劑容器固定部件之間，第二試劑容器不在第一試劑容器和天線部件之間，同時第一試劑容器也不在第二試劑容器和天線部件之間。這樣可以避免由于第二試劑容器位于第一試劑容器和天線部件之間或第一試劑容器位于第二試劑容器和天線部件之間，妨礙第一電子標(biāo)簽和第二電子標(biāo)簽的試劑信息讀取。
[0028]根據(jù)上述(2 )的結(jié)構(gòu)，天線部件可以很方便地讀取第一電子標(biāo)簽和第二電子標(biāo)簽。
[0029]根據(jù)上述(3 )或(14)的結(jié)構(gòu)，可以防止誤將非讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽發(fā)出的電波用作讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽發(fā)射的電波。
[0030]根據(jù)上述(4)或(15)的結(jié)構(gòu)，使用種類識別信息可以進一步防止誤將非讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽發(fā)出的電波當(dāng)作讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽發(fā)射的電波使用。
[0031]根據(jù)上述(5)或(16)的結(jié)構(gòu)，控制部件在向待寫入電子標(biāo)簽寫入試劑信息前可以預(yù)先判斷能否與待寫入電子標(biāo)簽通信。如此可以切實確保將試劑信息寫入待寫入的第一電子標(biāo)簽和第二電子標(biāo)簽。
[0032]根據(jù)上述(6)的結(jié)構(gòu)，可以通過天線部件輕易讀取讀取目標(biāo)的第一電子標(biāo)簽和第二電子標(biāo)簽。
[0033]根據(jù)上述(7)的結(jié)構(gòu)，在第一試劑容器固定部件內(nèi)圈略呈圓環(huán)狀的第二試劑容器固定部件的外圈周長小于略呈圓環(huán)狀的第一試劑容器固定部件的內(nèi)圈周長，因此，復(fù)數(shù)個第二試劑容器很可能會比復(fù)數(shù)個第一試劑容器之間更緊湊地配置。在此，將讀取第二電子標(biāo)簽時的可讀取范圍設(shè)置得比讀取第一電子標(biāo)簽時的可讀取范圍小，一方面可以防止從第一電子標(biāo)簽讀取試劑信息時失敗，另一方面可以防止誤從與讀取目標(biāo)第二電子標(biāo)簽不同的其他第二電子標(biāo)簽讀取試劑信息。
[0034]根據(jù)上述(8)的結(jié)構(gòu)，從相互臨近的第二試劑容器上的第二電子標(biāo)簽讀取試劑信息時，可以輕松地防止誤讀取與讀取目標(biāo)第二電子標(biāo)簽不同的其他第二電子標(biāo)簽的試劑信肩、O
[0035]根據(jù)上述(9)的結(jié)構(gòu)，可以輕松地將讀取第二電子標(biāo)簽時的可讀取范圍設(shè)置得比讀取第一電子標(biāo)簽時的可讀取范圍小。
[0036]根據(jù)上述(10)的結(jié)構(gòu)，控制部件可以輕松地將讀取第二電子標(biāo)簽時的可讀取范圍設(shè)置為小于讀取第一電子標(biāo)簽時的可讀取范圍。
[0037]根據(jù)上述(11)的結(jié)構(gòu)，在復(fù)數(shù)個第二試劑容器比復(fù)數(shù)個第一試劑容器之間相互緊湊地配置的狀態(tài)下，讀取第二電子標(biāo)簽時的可讀取范圍小于讀取第一電子標(biāo)簽時的可讀取范圍，以此可以防止從第一電子標(biāo)簽讀取試劑信息時失敗，同時可以防止誤從與讀取目標(biāo)第二電子標(biāo)簽不同的其他第二電子標(biāo)簽讀取試劑信息。
[0038]【專利附圖】
【附圖說明】:
圖1為本發(fā)明一實施方式涉及的免疫分析儀的整體結(jié)構(gòu)斜視圖；
圖2為圖1所示一實施方式涉及的免疫分析儀的整體結(jié)構(gòu)平面圖；
圖3為說明圖1所示一實施方式涉及的免疫分析儀結(jié)構(gòu)的框圖；
圖4為圖1所示一實施方式涉及的免疫分析儀的試劑放置部件內(nèi)部斜視圖； 圖5為圖1所示一實施方式涉及的免疫分析儀的試劑放置部件內(nèi)部平面圖；
圖6為圖1所示一實施方式涉及的、讀取試劑放置部件的試劑容器IC標(biāo)簽時的狀態(tài)放大平面圖；
圖7為圖1所示一實施方式涉及的試劑放置部件的天線部件斜視圖；
圖8為圖1所示一實施方式涉及的試劑放置部件的天線部件正面圖；
圖9為圖1所示一實施方式涉及的天線部件的天線基板的平面圖；
圖10為圖1所示一實施方式涉及的試劑放置部件的Rl試劑容器的側(cè)面圖；
圖11為圖1所示一實施方式涉及的試劑放置部件的R2試劑容器的側(cè)面圖；
圖12為圖1所示一實施方式涉及的IC標(biāo)簽上存儲的固有信息和試劑信息的概念圖； 圖13為圖1所示一實施方式涉及的免疫分析儀的測定運作的流程圖；
圖14為圖1所示一實施方式涉及的免疫分析儀讀取試劑信息處理的流程圖；
圖15為圖1所示第一實施方式涉及的免疫分析儀的吸移試劑和寫入試劑信息處理的流程圖。
[0039]【具體實施方式】:
下面根據(jù)【專利附圖】
【附圖說明】本發(fā)明的【具體實施方式】。
[0040]首先參照圖f圖12就本發(fā)明第一實施方式涉及的免疫分析儀I的結(jié)構(gòu)進行說明。
[0041]本發(fā)明一實施方式涉及的免疫分析儀I是一種用血液等樣本進行與傳染病(B型肝炎、C型肝炎等)相關(guān)的蛋白質(zhì)、腫瘤標(biāo)記及甲狀腺激素等各項檢查的儀器。
[0042]此免疫分析儀I是定量測定或定性測定待測血液等樣本(血樣)中所含抗原和抗體等的裝置。當(dāng)定量測定樣本中所含抗原時，此免疫分析儀I先讓磁性粒子(R2試劑)結(jié)合到與樣本所含抗原結(jié)合的捕捉抗體(Rl試劑)，然后用一次BF (結(jié)合分離，Bound Free)分離器11的磁鐵(無圖示)吸引結(jié)合后(Bound)的抗原、捕捉抗體和磁性粒子，以此除去含有未反應(yīng)(Free)的捕捉抗體的Rl試劑。然后，免疫分析儀I讓磁性粒子結(jié)合的抗原與標(biāo)記抗體(R3試劑)結(jié)合，用二次BF分離器12的磁鐵(無圖示)將結(jié)合后的(Bound)的磁性粒子、抗原和標(biāo)記抗體吸過來，以此除去含未反應(yīng)(Free)的標(biāo)記抗體的R3試劑。添加分散液(R4試劑)和在與標(biāo)記抗體反應(yīng)過程中發(fā)光的發(fā)光底物(R5試劑)后，測定標(biāo)記抗體與發(fā)光底物反應(yīng)產(chǎn)生的發(fā)光量。經(jīng)過這一過程，定量測定與標(biāo)記抗體結(jié)合的樣本中所含抗原。
[0043]免疫分析儀I如圖1和圖2所示，包括測定裝置2、與測定裝置2相鄰配置的運樣裝置(供樣器)3以及由與測定裝置2電路連接的PC (電腦)構(gòu)成的控制裝置4。
[0044]運樣裝置3可運送放置有盛放樣本的、無圖示的數(shù)個試管的樣架。運樣裝置3可以將裝有樣本的試管運送到樣本分裝臂5的吸樣位。
[0045]控制裝置4如圖3所示，包括CPU4a、顯示器4b、輸入設(shè)備4c和存儲部件4d。CPU4a可以根據(jù)用戶用輸入設(shè)備4c輸入的測定條件等，讓測定裝置2 (后述的CPU2a)進行測定，同時分析測定裝置2測得的測定結(jié)果，將該分析結(jié)果顯示到顯示器4b上。存儲部件4d由硬盤構(gòu)成，用于分別存儲后述Rl試劑容器21、R3試劑容器22和R2試劑容器23各自的試劑信息和位置信息。關(guān)于存儲部件4d待后詳述。
[0046]測定裝置2如圖2所示，由樣本分裝臂5、Rl試劑分裝臂6、R2試劑分裝臂7、R3試劑分裝臂8、反應(yīng)部件9、供杯部件10、一次BF分離器11、二次BF分離器12、吸頭供應(yīng)部件13、檢測部件14、R4/R5試劑供應(yīng)部件15、試劑放置部件16及RFID (射頻識別，Rad1Frequency Identificat1n)模塊 17 構(gòu)成。
[0047]如圖3所示，測定裝置2中各機械裝置(各種分裝臂和反應(yīng)部件9等)受設(shè)置在測定裝置2的CPU2a控制。運樣裝置3也受CPU2a控制。測定裝置2中還設(shè)有存儲部件2b，存儲部件2b中存有使CPU2a控制測定裝置2的各機械裝置運作的控制程序。
[0048]如圖2所示，供杯部件10可容納無圖示的多個反應(yīng)杯，能夠依次、逐個地向樣本分裝臂5的注樣位供應(yīng)反應(yīng)杯。
[0049]Rl試劑分裝臂6吸移放置在試劑放置部件16的Rl試劑，并將吸移的Rl試劑分裝(注入)到配置在注樣位的反應(yīng)杯中。Rl試劑分裝臂6還能用無圖示的抓鉗將配置在注樣位的反應(yīng)杯移送到反應(yīng)部件9。
[0050]吸頭供應(yīng)部件13的作用是將放入的數(shù)個吸頭(無圖示)逐一運到樣本分裝臂5的吸頭安裝位。吸頭在吸頭安裝位被安裝到樣本分裝臂5的吸移管前端。
[0051]樣本分裝臂5在吸頭安裝位裝上吸頭后，吸移由運樣裝置3運送到吸樣位的試管內(nèi)的樣本，將樣本分裝(注入)到已由Rl試劑分裝臂6裝入了 Rl試劑的、注樣位上的反應(yīng)杯中。
[0052]R2試劑分裝臂7具有吸移放置在試劑放置部件16的R2試劑的功能。R2試劑分裝臂7將吸移的R2試劑分裝(注入)到裝有Rl試劑和樣本的反應(yīng)杯中。
[0053]反應(yīng)部件9圍繞在平面看時基本呈圓形的試劑放置部件16的周圍，基本呈圓環(huán)形。反應(yīng)部件9可順時針方向旋轉(zhuǎn)，可以將放在反應(yīng)杯固定部件9a的反應(yīng)杯移到進行各種處理(分裝試劑等)的各個處理位上。
[0054]一次BF分離器11的作用是:在無圖示的抓鉗將裝有樣本、Rl試劑和R2試劑的反應(yīng)杯從反應(yīng)部件9運送到一次BF分離器11后，從反應(yīng)杯內(nèi)的試樣分離(B/F分離)未反應(yīng)的Rl試劑(不要成份)和磁性粒子。
[0055]R3試劑分裝臂8可吸移放置在試劑放置部件16的R3試劑。當(dāng)裝有一次BF分離器11進行了 B/F分離后的試樣的反應(yīng)杯從一次BF分離器11運到反應(yīng)部件9后，R3試劑分裝臂8將吸移的R3試劑分裝(注入)到該反應(yīng)杯中。
[0056]二次BF分離器12的作用是:在無圖示的抓鉗將裝有經(jīng)一次BF分離器11進行了B/F分離的試樣和R3試劑的反應(yīng)杯從反應(yīng)部件9運送到二次BF分離器12后，從反應(yīng)杯內(nèi)的試樣分離未反應(yīng)的R3試劑(不要成份)和磁性粒子。
[0057]R4/R5試劑供應(yīng)部件15通過無圖示的管，向裝有二次BF分離器12進行了 B/F分離后的試樣的反應(yīng)杯依次分裝R4試劑和R5試劑。
[0058]檢測部件14用于通過光電倍增管(Photo Multiplier Tube)獲取與經(jīng)一定處理的樣本的抗原結(jié)合的標(biāo)記抗體和發(fā)光底物在反應(yīng)過程中發(fā)出的光，以此測定該樣本內(nèi)所含抗原的量。
[0059]試劑放置部件16如圖2所示,包括基本呈圓筒形的機殼16a (參照圖4)、從上覆蓋機殼16a的蓋部16b、設(shè)置在蓋部16b上、供用戶更換后述Rl試劑容器21、R3試劑容器22和R2試劑容器23時開關(guān)用的開關(guān)部件16c。在蓋部16b上與Rl試劑、R2試劑和R3試劑的吸移位相對應(yīng)的位置的上面有可開關(guān)的窗口(無圖示)。通過此窗口可以由Rl試劑分裝臂6、R2試劑分裝臂7和R3試劑分裝臂8分別吸移Rl試劑、R2試劑和R3試劑。
[0060]在此，本實施方式如圖4和圖5所示，試劑放置部件16的機殼16a內(nèi)部設(shè)有R1/R3放置部件18、R2放置部件19、一個天線部件20。具體而言，如圖Γ圖6所示，R1/R3放置部件18及R2放置部件19從平面看基本呈圓環(huán)形，有著與機殼16a中心〇基本相同的圓心〇。R1/R3放置部件18設(shè)置在R2放置部件19的內(nèi)環(huán)一側(cè)(圖5的圓心〇一側(cè))，同時天線部件20設(shè)置在R1/R3放置部件18的外環(huán)一側(cè)(與圓心〇相反一側(cè))、R2放置部件19的內(nèi)環(huán)一側(cè)。即天線部件20從平面看時，被夾在R1/R3放置部件18和R2放置部件19之間。
[0061]天線部件20如圖7和圖8所示，包括天線基板20a、從外側(cè)(箭頭X2方向一側(cè)，參照圖6)固定天線基板20a的基板安裝件20b、配置于天線部件20內(nèi)側(cè)(箭頭Xl方向一側(cè)，參照圖6)、與基板安裝件20b —起夾住天線基板20a、安裝在基板安裝件20b的金屬板20c。如圖6所示，基板安裝件20b下部由鏍釘20d固定在機殼16a的底面。即天線部件20固定在機殼16a上。
[0062]天線基板20a如圖9所示，是在板狀基板的箭頭Xl方向一側(cè)表面120a(參照圖7)加上線圈形天線配線220a而構(gòu)成的。通過此線圈形天線配線220a可以收發(fā)電波。天線基板20a如圖6所示，配置在基板安裝件20b內(nèi)部，使天線基板20a的箭頭Xl方向一側(cè)表面120a與機殼16a的中心〇(參照圖5)相對。
[0063]在本實施方式中，天線基板20a可以從箭頭Xl方向一側(cè)表面120a向試劑放置部件16內(nèi)側(cè)(圖5的中心〇一側(cè)(箭頭Xl方向一側(cè)))發(fā)射讀取用電波和寫入用電波，同時還可以從箭頭X2方向一側(cè)表面320a向外側(cè)(R2放置部件19 一側(cè)(箭頭X2方向一側(cè)))發(fā)射讀取用電波和寫入用電波。天線基板20a還可以接收后述IC標(biāo)簽24和25回應(yīng)讀取用電波而發(fā)射的應(yīng)答電波。如此，天線部件20可以對配置在箭頭Xl方向一側(cè)的Rl試劑容器21的IC標(biāo)簽24進行讀取和寫入作業(yè)，同時也能對配置在箭頭X2方向一側(cè)的R2試劑容器23的IC標(biāo)簽25進行讀取和寫入作業(yè)。天線基板20a連接在RFID模塊17的后述讀寫型基板17a 上。
[0064]基板安裝件20b由電波可透過的樹脂構(gòu)成。這樣，從天線基板20a的箭頭X2方向一側(cè)表面320a向外側(cè)(箭頭X2方向一側(cè))發(fā)射的讀取用電波和寫入用電波就可以穿過基板安裝件20b，到達R2放置部件19，同時后述IC標(biāo)簽25發(fā)射的應(yīng)答電波也可以穿過基板安裝件20b到達天線基板20a。天線基板20a如圖7所示，用螺絲20e和螺母20f (參照圖6)固定在基板安裝件20b上。
[0065]金屬板20c由可吸收電波(讀取用電波、寫入用電波和應(yīng)答電波)的鋁板構(gòu)成。金屬板20c由螺絲20g和無圖示的螺母固定在基板安裝件20b上，與基板安裝件20b夾著天線基板20a，配置在天線部件20的箭頭Xl方向一側(cè)。
[0066]金屬板20c有略呈U字形的缺口 20h。通過此缺口 20h，天線基板20a向試劑放置部件16內(nèi)側(cè)(箭頭Xl方向一側(cè))發(fā)射電波,而未通過此缺口 20h的天線基板20a發(fā)射的電波被金屬板20c吸收。S卩，金屬板20c限制天線基板20a向箭頭Xl方向一側(cè)發(fā)射的讀取用電波和與入用電波的范圍(圖6所不范圍A (粗點劃線))和天線基板20a從箭頭Xl方向一側(cè)接收的應(yīng)答電波的范圍，以此來限制天線部件20 (天線基板20a)的箭頭Xl方向一側(cè)的讀取范圍和寫入范圍。
[0067]另一方面，天線部件20的箭頭X2方向一側(cè)沒有配置金屬板。這樣，從天線基板20a向箭頭X2方向一側(cè)發(fā)射的讀取用電波和寫入用電波的范圍(圖6所示范圍B(粗雙點劃線))和天線基板20a從箭頭X2方向一側(cè)接收的應(yīng)答電波的范圍不受限制。其結(jié)果，從天線基板20a向箭頭X2方向一側(cè)發(fā)射的讀取用電波和寫入用電波的范圍B (粗雙點劃線)比天線基板20a向箭頭Xl方向一側(cè)發(fā)射的讀取用電波和寫入用電波的范圍A (粗點劃線)大。
[0068]試劑放置部件16設(shè)有內(nèi)側(cè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部件16d (參照圖3)以及外側(cè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部件16e (參照圖3)，內(nèi)側(cè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部件16d讓R1/R3放置部件18以中心O為旋轉(zhuǎn)中心向箭頭Cl方向和箭頭C2方向旋轉(zhuǎn)；外側(cè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部件16e讓R2放置部件19以中心O為旋轉(zhuǎn)中心向箭頭Dl方向和箭頭D2方向旋轉(zhuǎn)。內(nèi)側(cè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部件16d和外側(cè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部件16e由CPU2a分別控制驅(qū)動。
[0069]R1/R3放置部件18上如圖5所示，以等角度(約14.4度)間隔配置了 25個由可透過電波的樹脂制成的R1/R3固定件18a。此R1/R3固定件18a上分別固定有Rl試劑容器21和R3試劑容器22，所述Rl試劑容器21盛放含捕捉抗體的Rl試劑；所述R3試劑容器22盛放含標(biāo)記抗體的R3試劑。R1/R3固定件18a在外側(cè)(R2放置部件19 一側(cè))固定Rl試劑容器21，內(nèi)側(cè)(中心O —側(cè))固定R3試劑容器22。
[0070]R2放置部件19上以等角度(約14.4度)間隔配置了 25個由可透過電波的樹脂制成的R2固定件19a。此R2固定件19a上分別固定有R2試劑容器23。所述R2試劑容器23盛放含磁性粒子的R2試劑。
[0071]在此，R1/R3放置部件18配置在R2放置部件19的內(nèi)圈一側(cè)，Rl試劑容器21和R2試劑容器23配置有同樣數(shù)目(25個)，Rl試劑容器21之間的間隔比R2試劑容器23之間的間隔小。即，Rl試劑容器21比R2試劑容器23相互靠得更近。Rl試劑容器21、R3試劑容器22和R2試劑容器23都可以由用戶放置和更換。
[0072]如圖10所示，Rl試劑容器21上有吸移Rl試劑時開關(guān)的蓋21a和盛放Rl試劑的試劑收納部件21b。另如圖11所示，R2試劑容器23上有吸移R2試劑時開關(guān)的蓋23a和盛放R2試劑的試劑收納部件23b。另外，如圖6所示，R3試劑容器22與Rl試劑容器21形狀基本相同，R3試劑容器22上有吸移R3試劑時開關(guān)的蓋22a和盛放R3試劑的無圖示的試劑收納部件。蓋21a和蓋22a隨著R1/R3放置部件18的轉(zhuǎn)動而開關(guān)，蓋23a則隨著R2放置部件19的轉(zhuǎn)動而開關(guān)。
[0073]在本實施方式，如圖10所示，Rl試劑容器21的試劑收納部件21b外側(cè)(圖6箭頭X2方向一側(cè))的側(cè)面有安裝IC標(biāo)簽24的IC標(biāo)簽安裝部件21c。即Rl試劑容器21的IC標(biāo)簽24如圖6所示，安裝在試劑收納部件21b的箭頭X2方向一側(cè)側(cè)面，當(dāng)配置在R1/R3放置部件18上時，朝向試劑放置部件16的外側(cè)(箭頭X2方向一側(cè))，同時面對(正對)天線基板20a的箭頭Xl方向一側(cè)的表面120a正面位置。
[0074]如圖11所示，R2試劑容器23的試劑收納部件23b內(nèi)側(cè)(圖6箭頭Xl方向一側(cè))的側(cè)面有安裝IC標(biāo)簽25的IC標(biāo)簽安裝部件23c。即R2試劑容器23的IC標(biāo)簽25如圖6所示，安裝在試劑收納部件23b的箭頭Xl方向一側(cè)側(cè)面，當(dāng)配置在R2放置部件19上時，朝向試劑放置部件16的內(nèi)側(cè)(箭頭Xl方向一側(cè))，同時面對(正對)天線基板20a的箭頭X2方向一側(cè)的表面320a正面位置。R3試劑容器22的側(cè)面與Rl試劑容器21不同，沒有貼IC標(biāo)簽。
[0075]IC標(biāo)簽24上記錄有Rl試劑容器21中的Rl試劑的試劑信息以及和Rl試劑容器21通用的R1/R3固定件18a上固定的R3試劑容器22中的R3試劑的試劑信息。IC標(biāo)簽25上記錄有R2試劑容器23中的R2試劑的試劑信息。
[0076]如圖12所示，IC標(biāo)簽24和25上可以存儲128字節(jié)信息。此存儲容量128字節(jié)中表示固有信息的唯一 ID區(qū)分配有16字節(jié)，表示試劑信息的用戶數(shù)據(jù)區(qū)分配有112字節(jié)。唯一 ID區(qū)為記錄有可分別識別IC標(biāo)簽24和25的唯一 ID的區(qū)域，為只讀區(qū)。而用戶數(shù)據(jù)區(qū)為用戶可自由寫入信息的區(qū)域。用戶數(shù)據(jù)區(qū)中設(shè)定有只能讀不能寫的區(qū)域(只讀區(qū))和讀寫均可的(可寫入?yún)^(qū))區(qū)域。
[0077]唯一 ID在CPU2a對試劑信息加密時使用。以此，由于唯一 ID不同，試劑信息的密碼無法解開，即使試劑信息被復(fù)制到其他IC標(biāo)簽，也可以避免試劑信息和試劑容器中的試劑對應(yīng)錯誤。
[0078]只讀區(qū)記錄著與帶IC標(biāo)簽(IC標(biāo)簽24或25)的試劑容器(Rl試劑容器21或R2試劑容器23)相關(guān)的測定項目、批號、序號、試劑種類(種類識別信息)、保存期限和填充量，可寫區(qū)可寫入余量和使用期限。IC標(biāo)簽24還一并記錄有R3試劑容器22的相關(guān)信息。初次放入R1/R3放置部件18的Rl試劑容器21上貼的IC標(biāo)簽24和初次放入R2放置部件19的R2試劑容器23上貼的IC標(biāo)簽25的可寫區(qū)未寫入信息。
[0079]測定項目指用貼有此IC標(biāo)簽的試劑容器所裝試劑進行的測定項目。試劑種類指貼有此IC標(biāo)簽的試劑容器是Rl試劑容器21還是R2試劑容器23。保存期限表示此試劑可保存的期限。填充量表示用此試劑可進行的測定次數(shù)。余量表示用此試劑還可進行幾次測定。使用期限表示此試劑可使用的期限。使用期限在此試劑開始使用時設(shè)定。
[0080]在本實施方式中，如圖6所示，IC標(biāo)簽24和25在天線部件20的正面位置(正對面位置)進行讀取和寫入。即，Rl試劑容器21的IC標(biāo)簽24配置在與天線部件20的箭頭Xl方向一側(cè)的表面120a正對的位置，R2試劑容器23的IC標(biāo)簽25配置在與天線部件20箭頭X2方向一側(cè)的表面320a正對的位置。
[0081]IC標(biāo)簽24和25根據(jù)天線部件20發(fā)射的讀取用電波，發(fā)射含IC標(biāo)簽24和25中所存試劑信息的應(yīng)答電波。IC標(biāo)簽24和25根據(jù)天線部件20發(fā)射的寫入用電波，將存儲在IC標(biāo)簽中的試劑信息改寫為寫入用電波中所含新的試劑信息。試劑信息以加密狀態(tài)存在IC標(biāo)簽24和25中。
[0082]IC標(biāo)簽24如圖6所示，通過天線部件20發(fā)射的范圍A (粗點劃線)的讀取用電波和寫入用電波進行讀寫。IC標(biāo)簽25通過天線部件20發(fā)射的范圍B (粗雙點劃線)的讀取用電波和寫入用電波進行讀寫。并且設(shè)定相鄰R1/R3固定件18a之間的間隔和范圍A，以便對一個IC標(biāo)簽24進行讀寫時，對其他IC標(biāo)簽24不進行讀寫。同時，設(shè)定相鄰R2固定件19a之間的間隔和范圍B，以便對一個IC標(biāo)簽25進行讀寫時，對其他IC標(biāo)簽25不進行讀與。
[0083]控制裝置4的存儲部件4d如圖3所示，與IC標(biāo)簽24和25區(qū)分開，單獨存儲25個Rl試劑容器21、25個R2試劑容器23和25個R3試劑容器22各自的試劑信息。存儲部件4d還存儲25個Rl試劑容器21、25個R3試劑容器22和25個R2試劑容器23各自的初始位置和從R1/R3放置部件18及R2放置部件19各初始位置的旋轉(zhuǎn)角度，將其作為位置信息。如此，存儲部件4d中相互對應(yīng)地存儲著25個Rl試劑容器21、25個R3試劑容器22和25個R2試劑容器23的位置信息和試劑信息?？刂蒲b置4的存儲部件4d在密碼被解讀的狀態(tài)下存儲試劑信息。
[0084]免疫分析儀I接通電源(無圖示)后，便讀取放置在試劑放置部件16的所有試劑容器的IC標(biāo)簽(IC標(biāo)簽24和25)，獲取各試劑容器的位置信息和試劑信息。當(dāng)存儲部件4d中存有試劑信息時，控制裝置4的CPU4a將存儲部件4d中存儲的試劑信息更新為接通電源時從IC標(biāo)簽獲取的試劑信息。這樣，即使在免疫分析儀I切斷電源期間，Rl試劑容器21、R3試劑容器22和R2試劑容器23分別被更換為新的Rl試劑容器21、R3試劑容器22和R2試劑容器23，也可以將控制裝置4的存儲部件4d中的試劑信息更新為現(xiàn)在放置在試劑放置部件16的試劑的信息。
[0085]RFID模塊17如圖2所示，設(shè)于試劑放置部件16外部，如圖3所示，包括讀寫型基板17a、連接讀寫型基板17a和CPU2a的接口基板17b。
[0086]讀寫型基板17a與天線部件20連接，根據(jù)CPU2a的指示讓天線部件20發(fā)射約13.56MHz頻帶的讀取用電波和寫入用電波。讀寫型基板17a還從IC標(biāo)簽24和25為回應(yīng)讀取用電波而發(fā)射的、被天線部件20接收的應(yīng)答電波中獲取試劑信息，同時將試劑信息輸出到 CPU2a。
[0087]下面參照圖3和圖13就本發(fā)明一實施方式涉及的免疫分析儀I (測定裝置2)的測定運作進行說明。
[0088]首先當(dāng)測定裝置2接通電源后，測定裝置2的CPU2a在步驟SI進行程序初始化、測定裝置2各部件運行檢查等初始化處理。
[0089]然后，在步驟S2進行試劑信息讀取處理。關(guān)于此試劑信息讀取處理待后詳述。
[0090]在步驟S3，由CPU2a判斷是否有用戶的測定指示。此用戶下達的測定指示通過控制裝置4 (參照圖3)傳達到CPU2a。當(dāng)判斷沒有用戶的測定指示時，進入步驟S6。
[0091]在步驟S3如果判斷有用戶的測定指示，則在步驟S4由CPU2a進行試劑吸移和試劑信息寫入處理。關(guān)于此試劑吸移和試劑信息寫入處理待后詳述。
[0092]在步驟S5進行樣本測定。在步驟S6，由CPU2a判斷用戶是否下達了關(guān)機指示。如果判斷沒有關(guān)機指示，則返回步驟S3。如果判斷有關(guān)機指示，則在步驟S7由CPU2a實施測定裝置2的關(guān)機處理。至此，測定裝置2的測定運作結(jié)束。
[0093]下面參照圖6和圖14就圖13的步驟S2所示本發(fā)明一實施方式涉及的免疫分析儀I的試劑信息讀取處理進行詳細說明。
[0094]在步驟S201，R1/R3放置部件18 (R2放置部件19)由CPU2a向箭頭Cl (Dl)方向或箭頭C2 (D2)方向(參照圖6)旋轉(zhuǎn)，使讀取目標(biāo)的IC標(biāo)簽24 (IC標(biāo)簽25)位于正對天線部件20的箭頭Xl方向一側(cè)表面120a (箭頭X2方向一側(cè)表面320a)的位置(正面位置)。在步驟S202，讀取用電波在CPU2a和讀寫型基板17a的控制下，從天線部件20發(fā)射到讀取目標(biāo)的IC標(biāo)簽24 (IC標(biāo)簽25)。此時，有時候非讀取目標(biāo)的IC標(biāo)簽25 (IC標(biāo)簽24)會接收天線部件20發(fā)射的讀取用電波，并發(fā)射應(yīng)答電波。
[0095]此后，在步驟S203，CPU2a判斷天線部件20是否在一定時間內(nèi)收到IC標(biāo)簽24(IC標(biāo)簽25)發(fā)射的應(yīng)答電波。即，CPU2a判斷RFID模塊17的讀寫型基板17a根據(jù)從天線部件20收到的應(yīng)答電波而獲取的試劑信息是否在一定時間內(nèi)輸出到CPU2a。當(dāng)判斷天線部件20未在一定時間內(nèi)收到應(yīng)答電波時，判斷為讀取失敗，CPU2a在步驟S204向控制裝置4發(fā)送讀取錯誤信息。在控制裝置4的顯示器4b上顯示位于一定位置的試劑容器的試劑信息(讀取目標(biāo)的試劑容器的試劑信息)讀取失敗。然后進入步驟S207。
[0096]在步驟S203，若判斷天線部件20在一定時間內(nèi)收到應(yīng)答電波，則在步驟S205，CPU2a判斷天線部件20收到的應(yīng)答電波中所含試劑信息是否為讀取目標(biāo)的試劑信息。此時，CPU2a根據(jù)從應(yīng)答電波獲得的試劑種類(種類識別信息)，判斷是否為讀取目標(biāo)的試劑信息。當(dāng)判斷應(yīng)答電波中所含試劑信息不是讀取目標(biāo)的試劑信息時，進入上述步驟S204。如此可以防止來自非讀取目標(biāo)IC標(biāo)簽25( IC標(biāo)簽24)的試劑信息誤用作讀取目標(biāo)試劑信息。
[0097]當(dāng)判斷應(yīng)答電波中所含試劑信息是讀取目標(biāo)的試劑信息時，在步驟S206，應(yīng)答電波中所含讀取目標(biāo)的試劑信息由CPU2a傳送至控制裝置4。當(dāng)天線部件20接收數(shù)個應(yīng)答電波，而且數(shù)個應(yīng)答電波中有讀取目標(biāo)的試劑信息時，只向控制裝置4傳送讀取目標(biāo)的試劑信息。在控制裝置4，根據(jù)從CPU2a收到的讀取目標(biāo)的試劑信息更新存儲部件4d的試劑信息。然后進入步驟S207。
[0098]最后，在步驟S207，CPU2a判斷25個IC標(biāo)簽24和25個IC標(biāo)簽25是否已全部讀完。當(dāng)判斷尚未讀完時，返回步驟S201，讀取新的IC標(biāo)簽。當(dāng)判斷全部讀完時，試劑信息讀取處理結(jié)束，進入圖13所示步驟S3。
[0099]下面參照圖6和圖15，就圖13步驟S4所示本發(fā)明一實施方式涉及的免疫分析儀I的試劑吸移和試劑信息寫入處理進行詳細說明。
[0100]首先，在步驟S401，R1/R3放置部件18 (R2放置部件19)由CPU2a向箭頭Cl (Dl)方向或箭頭C2 (D2)方向(參照圖6)旋轉(zhuǎn)，使待吸移的試劑容器位于試劑吸移位。此時，試劑容器的蓋隨著R1/R3放置部件18 (R2放置部件19)的轉(zhuǎn)動而打開。
[0101]在步驟S402，吸移試劑。此后，在步驟S403，CPU2a向箭頭Cl (Dl)方向或箭頭C2(D2)方向轉(zhuǎn)動R1/R3放置部件18 (R2放置部件19)，使待寫入的IC標(biāo)簽24 (IC標(biāo)簽25)處于正對天線部件20的箭頭Xl方向一側(cè)表面120a (箭頭X2方向一側(cè)表面320a)的位置。此時，試劑容器的蓋隨著R1/R3放置部件18 (R2放置部件19)的轉(zhuǎn)動而關(guān)閉。
[0102]在步驟S404，CPU2a從天線部件20向待寫入的IC標(biāo)簽24 (IC標(biāo)簽25)發(fā)射讀取用電波。然后，在步驟S405，CPU2a判斷天線部件20是否在一定時間內(nèi)收到應(yīng)答電波。當(dāng)判斷天線部件20沒有在一定時間內(nèi)收到應(yīng)答電波時，在步驟S406，CPU2a向控制裝置4發(fā)送讀取錯誤信息，在控制裝置4的顯示器4b上顯示試劑信息未能寫入待寫入IC標(biāo)簽的信息。然后結(jié)束試劑吸移和試劑信息寫入處理，進入圖13所示步驟S5。
[0103]在步驟S405，若判斷天線部件20在一定時間內(nèi)收到應(yīng)答電波時，在步驟S407，CPU2a判斷天線部件20收到的應(yīng)答電波中所含試劑信息是否為待寫入IC標(biāo)簽中所存的試劑信息。此時，CPU2a根據(jù)從應(yīng)答電波獲得的試劑種類(種類識別信息)判斷是否為待寫入IC標(biāo)簽中所存試劑信息。當(dāng)判斷應(yīng)答電波中所含試劑信息不是待寫入IC標(biāo)簽中所存儲的試劑信息時，進入上述步驟S406。
[0104]當(dāng)判斷應(yīng)答電波中所含試劑信息是待寫入IC標(biāo)簽中所存試劑信息時，在步驟S408，包含試劑余量信息等在內(nèi)的寫入用電波由天線部件20發(fā)射到待寫入IC標(biāo)簽24 (IC標(biāo)簽25)。在步驟S409，與寫入IC標(biāo)簽的試劑信息相同的信息傳送至控制裝置4后，試劑吸移和試劑信息寫入處理完成，進入圖13所示步驟S5。在控制裝置4，根據(jù)CPU2a傳送的試劑信息，更新存儲部件4d的試劑信息。
[0105]在本實施方式，如上所述，用一個天線部件20進行配置在R1/R3放置部件18上的Rl試劑容器21的IC標(biāo)簽24的讀寫作業(yè)，同時進行R2放置部件19的R2試劑容器23的IC標(biāo)簽25的讀寫作業(yè)。如此不必對R1/R3放置部件18和R2放置部件19分別設(shè)置天線部件20，可以相應(yīng)控制零部件個數(shù)的增加。而且，通過將天線部件20配置在R1/R3放置部件18和R2放置部件19之間，只要確保R1/R3放置部件18和R2放置部件19之間的區(qū)域用來配置天線部件20即可，不需要為配置天線部件20而確保二個區(qū)域。如此可以相應(yīng)抑制免疫分析儀I主體體積增大。
[0106]在本實施方式，如上所述，將天線部件20夾在從平面看基本呈圓環(huán)狀的R1/R3放置部件18和基本呈圓環(huán)狀的R2放置部件19之間配置。這樣，Rl試劑容器21和天線部件20之間沒有R2試劑容器23，R2試劑容器23和天線部件20之間沒有Rl試劑容器21。如此，可以防止因R2試劑容器23位于Rl試劑容器21和天線部件20之間或Rl試劑容器21位于R2試劑容器23和天線部件20之間，妨礙IC標(biāo)簽24及25的試劑信息讀取。
[0107]在本實施方式，如上所述，Rl試劑容器21的IC標(biāo)簽24安裝在Rl試劑容器21的試劑收納部件21b箭頭X2方向一側(cè)的側(cè)面，使IC標(biāo)簽24位于天線基板20a的箭頭Xl方向一側(cè)表面120a的正面位置并與之相對(正對)，同時R2試劑容器23的IC標(biāo)簽25安裝在R2試劑容器23的試劑收納部件23b箭頭Xl方向一側(cè)的側(cè)面，使IC標(biāo)簽25位于天線基板20a的箭頭X2方向一側(cè)表面320a的正面位置并與之相對(正對)。如此可以使Rl試劑容器21的IC標(biāo)簽24和R2試劑容器23的IC標(biāo)簽25都位于面對天線部件20的位置，天線部件20可以輕易地讀取IC標(biāo)簽24和25。
[0108]在本實施方式，如上所述，CPU2a根據(jù)應(yīng)答電波中所含試劑種類(種類識別信息)判斷天線部件20收到的應(yīng)答電波中所含試劑信息是否為讀取目標(biāo)的試劑信息。以此可以進一步防止非讀取目標(biāo)的IC標(biāo)簽24或IC標(biāo)簽25發(fā)射的應(yīng)答電波被誤用作讀取目標(biāo)應(yīng)答電波。
[0109]在本實施方式，如上所述，設(shè)有讀寫型基板17a用于從IC標(biāo)簽24和25為應(yīng)答讀取用電波和寫入用電波而發(fā)射的、被天線部件20接收的應(yīng)答電波中獲取試劑信息。以此可以根據(jù)讀寫型基板17a獲取的IC標(biāo)簽24和25的試劑信息，分別管理Rl試劑容器21的試齊U、R3試劑容器22的試劑和R2試劑容器23的試劑。
[0110]在本實施方式，如上所述，當(dāng)判斷應(yīng)答電波中所含試劑信息是讀取對象的試劑信息時，從天線部件20向待寫入的IC標(biāo)簽24 ( IC標(biāo)簽25)發(fā)射含有要更新的試劑信息的寫入用電波。以此，CPU2a在向待寫入的IC標(biāo)簽24 ( IC標(biāo)簽25)寫入試劑信息前，可預(yù)先判斷是否能與待寫入的IC標(biāo)簽24 ( IC標(biāo)簽25)進行通信。這樣可以更切實地確保將試劑信息寫入待寫入IC標(biāo)簽24 ( IC標(biāo)簽25)。
[0111]在本實施方式，如上所述，當(dāng)讀取Rl試劑容器21的IC標(biāo)簽24的試劑信息時，Rl/R3放置部件18由內(nèi)側(cè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部件16d向箭頭Cl方向或箭頭C2方向驅(qū)動，使讀取目標(biāo)的IC標(biāo)簽24位于與天線部件20的箭頭Xl方向一側(cè)的表面120a相對的正面位置(正對位置)，當(dāng)讀取R2試劑容器23的IC標(biāo)簽25的試劑信息時，R2放置部件19由外側(cè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部件16e向箭頭Dl方向或箭頭D2方向驅(qū)動，使讀取目標(biāo)的IC標(biāo)簽25位于與天線部件20的箭頭X2方向一側(cè)的表面320a正對的位置。以此可以使讀取目標(biāo)的IC標(biāo)簽24和25分別位于與天線基板20a的箭頭Xl方向一側(cè)表面120a相對的位置和與箭頭X2方向一側(cè)表面320a相對的位置，從而可以更方便地用天線部件20讀取讀取目標(biāo)的IC標(biāo)簽24和25。
[0112]在本實施方式，如上所述，基本呈圓環(huán)形的R1/R3放置部件18上等角度(約14.4度)間隔地配置有25支Rl試劑容器21，位于R1/R3放置部件18外側(cè)、基本呈圓環(huán)形的R2放置部件19上等角度(約14.4度)間隔地配置有25支R2試劑容器23。而且，僅在天線部件20的箭頭Xl方向一側(cè)配置了金屬板20c，天線部件20的箭頭X2方向一側(cè)沒有配置金屬板。如此，在R2放置部件19內(nèi)側(cè)的基本呈圓環(huán)形的R1/R3放置部件18的外環(huán)周長比R2放置部件19的內(nèi)環(huán)周長小，所以在復(fù)數(shù)個Rl試劑容器21比復(fù)數(shù)個R2試劑容器23配置更緊湊的狀態(tài)下，將金屬板20c配置于天線部件20的箭頭Xl方向一側(cè)，當(dāng)讀取緊湊配置的IC標(biāo)簽24時，可以將天線部件20的讀取范圍限制在只有讀取目標(biāo)IC標(biāo)簽24的范圍，從而可以方便地避免天線部件20誤讀取非讀取目標(biāo)IC標(biāo)簽24。另一方面，在相鄰R2試劑容器23之間的間隙比較寬的R2放置部件19中，沒有在天線部件20的箭頭X2方向一側(cè)配置金屬板，以此可以方便地擴大天線部件20的可讀取范圍，從而進一步防止從R2試劑容器23上的IC標(biāo)簽25讀取試劑信息失敗。
[0113]此次公開的實施方式應(yīng)該認為在所有方面均為例示，絕無限制性。本發(fā)明的范圍不受上述實施方式的說明所限，僅由權(quán)利要求書的范圍所示，而且包括與權(quán)利要求書同等范圍或意義內(nèi)的所有變形。
[0114]上述實施方式列舉了本發(fā)明的樣本分析儀應(yīng)用于免疫分析儀I的例子，但本發(fā)明不限于此。只要是具備用于讀取電子標(biāo)簽的試劑信息的天線部件的裝置，本發(fā)明均可適用，除免疫分析儀外，也可適用于凝血分析儀、尿樣測定儀和基因擴增檢測儀等。
[0115]在上述實施方式，R1/R3放置部件18和R2放置部件19基本呈圓環(huán)形，但本發(fā)明不限于此。也可以使R1/R3放置部件和R2放置部件并列設(shè)置，并向一定方向直線延伸。
[0116]在上述實施方式，由內(nèi)側(cè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部件16d和外側(cè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部件16e分別轉(zhuǎn)動Rl/R3放置部件18和R2放置部件19，但本發(fā)明不限于此。本發(fā)明也可以不讓R1/R3放置部件和R2放置部件轉(zhuǎn)動，而設(shè)置轉(zhuǎn)動天線部件的驅(qū)動部件來使天線部件轉(zhuǎn)動。
[0117]在上述實施方式，將天線基板20a設(shè)計為可以發(fā)射讀取用電波和寫入用電波，但本發(fā)明不限于此。本發(fā)明也可以設(shè)計成天線部件只能發(fā)射讀取用電波。
[0118]在上述實施方式，例示了金屬板20c配置在天線部件20的箭頭Xl方向一側(cè)，但本發(fā)明不限于此。本發(fā)明也可以將金屬板配置于天線部件的箭頭X2方向一側(cè)。也可以天線部件上不設(shè)置金屬板。
[0119]在上述實施方式，當(dāng)讀取目標(biāo)IC標(biāo)簽24 (IC標(biāo)簽25)位于正對天線部件20的箭頭Xl方向一側(cè)表面120a (箭頭X2方向一側(cè)表面320a)的位置時，對非讀取目標(biāo)IC標(biāo)簽25 (IC標(biāo)簽24)的位置沒有進行控制，但本發(fā)明不限于此。也可以當(dāng)讀取目標(biāo)Rl試劑容器(R2試劑容器)的IC標(biāo)簽位于正對天線部件正面的位置時，移動非讀取目標(biāo)R2試劑容器(Rl試劑容器)，將其移動到無法讀取非讀取目標(biāo)R2試劑容器(Rl試劑容器)的IC標(biāo)簽的位置。這樣，可以更加切實地確保只讀取讀取目標(biāo)IC標(biāo)簽。還可以在讀取目標(biāo)Rl試劑容器的IC標(biāo)簽和讀取目標(biāo)R2試劑容器的IC標(biāo)簽分別位于正對天線部件一側(cè)表面和另一側(cè)表面的位置的狀態(tài)下，同時讀取讀取目標(biāo)Rl試劑容器的IC標(biāo)簽和讀取目標(biāo)R2試劑容器的IC標(biāo)簽。如此可以在更短時間內(nèi)讀取數(shù)個IC標(biāo)簽。
[0120]在上述實施方式，將IC標(biāo)簽24安裝在Rl試劑容器21的試劑收納部件21b箭頭X2方向一側(cè)的側(cè)面，使其在天線基板20a的箭頭Xl方向一側(cè)表面120a的正面位置與天線部件相對。將IC標(biāo)簽25安裝在R2試劑容器23的試劑收納部件23b箭頭Xl方向一側(cè)的側(cè)面，使其在天線基板20a的箭頭X2方向一側(cè)表面320a的正面位置與天線部件相對。但本發(fā)明不限于此。在本發(fā)明中，只要天線部件可以讀取IC標(biāo)簽即可，也可以將IC標(biāo)簽安裝在不正對試劑收納部件的天線部件的側(cè)面。
[0121 ] 在上述實施方式，試劑吸移作業(yè)后，進行向IC標(biāo)簽24和25的寫入處理，但本發(fā)明不限于此。本發(fā)明也可以在試劑吸移作業(yè)前進行向IC標(biāo)簽的寫入處理。
[0122]在上述實施方式的例示中，設(shè)置了 25個Rl試劑容器21、25個R3試劑容器22和25個R2試劑容器23，但本發(fā)明不限于此。本發(fā)明也可以設(shè)置不同個數(shù)的Rl試劑容器、R3試劑容器和R2試劑容器。Rl試劑容器(R3試劑容器和R2試劑容器)的個數(shù)也可以是25個以外的其他個數(shù)。比如也可以Rl試劑容器、R3試劑容器和R2試劑容器僅各設(shè)置一個。
[0123]在上述實施方式，金屬板20c只配置在天線部件20的箭頭Xl方向一側(cè)，天線部件20的箭頭X2方向一側(cè)沒有配置金屬板，以此使從Rl試劑容器的IC標(biāo)簽讀取試劑信息時和從R2試劑容器的IC標(biāo)簽讀取試劑信息時天線部件的讀取范圍各不相同，但本發(fā)明不限于此。本發(fā)明也可以在天線部件的箭頭Xl方向一側(cè)和箭頭X2方向一側(cè)都配置金屬板，讓箭頭Xl方向一側(cè)的金屬板缺口寬度小于箭頭X2方向一側(cè)的金屬板缺口寬度，以此使天線部件讀取范圍不同。另外，也可以當(dāng)從R2試劑容器23的IC標(biāo)簽25讀取試劑信息時，CPU2a通過讀寫型基板17a控制天線基板20a，發(fā)射讀取范圍(到達范圍)較大的電波(第一到達范圍電波)，當(dāng)從Rl試劑容器21的IC標(biāo)簽24讀取試劑信息時，CPU2a通過讀寫型基板17a控制天線基板20a，發(fā)射讀取范圍(到達范圍)較小的電波(比第一到達范圍小的第二到達范圍電波)。采取這種結(jié)構(gòu)，可以通過CPU2a很容易地使讀取IC標(biāo)簽24時的可讀取范圍小于讀取IC標(biāo)簽25時的可讀取范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種用試劑容器內(nèi)的試劑分析樣本的樣本分析儀，包括: 第一試劑容器固定部件，用于固定第一試劑容器，所述第一試劑容器的側(cè)面有記錄著試劑的相關(guān)試劑信息的第一電子標(biāo)簽； 第二試劑容器固定部件，用于固定第二試劑容器，所述第二試劑容器的側(cè)面有記錄著試劑的相關(guān)試劑信息的第二電子標(biāo)簽； 天線部件，配置在所述第一試劑容器固定部件所固定的所述第一試劑容器的側(cè)面和所述第二試劑容器固定部件所固定的所述第二試劑容器的側(cè)面之間所對應(yīng)的區(qū)域，分別從所述第一電子標(biāo)簽和所述第二電子標(biāo)簽接收電波；及 試劑信息獲取部件，根據(jù)所述天線部件接收的電波，獲取記錄在所述第一電子標(biāo)簽的試劑信息和記錄在所述第二電子標(biāo)簽的試劑信息； 其中所述第一試劑容器固定部件固定數(shù)個所述第一試劑容器并沿一定方向呈直線狀延伸； 所述第二試劑容器固定部件固定數(shù)個所述第二試劑容器，與所述第一試劑容器固定部件并列排列并沿所述一定方向延伸； 所述天線部件配置在所述第一試劑容器固定部件和所述第二試劑容器固定部件之間。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的樣本分析儀，其特征在于: 所述第一試劑容器的第一電子標(biāo)簽，配置在所述第一試劑容器與所述天線部件相對的側(cè)面； 所述第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽，配置在所述第二試劑容器與所述天線部件相對的側(cè)面。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的樣本分析儀，還包括:判斷所述天線部件是否從所要讀取的目標(biāo)電子標(biāo)簽收到電波的控制部件。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的樣本分析儀，其特征在于: 記錄在所述目標(biāo)電子標(biāo)簽的試劑信息包含識別試劑種類的種類識別信息；及所述控制部件根據(jù)所述試劑信息獲取部件獲取的試劑信息中所含所述種類識別信息，判斷所述天線部件是否從所述目標(biāo)電子標(biāo)簽收到電波。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的樣本分析儀，其特征在于: 所述天線部件能夠分別向所述第一試劑容器的第一電子標(biāo)簽和所述第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽發(fā)送寫入用電波，以此將試劑信息寫入所述第一電子標(biāo)簽和所述第二電子標(biāo)簽；及 所述樣本分析儀還有控制部件，在所述天線部件向待寫入試劑信息的電子標(biāo)簽發(fā)送寫入用電波前，判斷所述天線部件是否能與所述待寫入電子標(biāo)簽通信。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的樣本分析儀，其特征在于: 所述天線部件包含平板狀天線基板，所述平板狀天線基板一側(cè)表面和另一側(cè)表面分別位于所述第一試劑容器一側(cè)和所述第二試劑容器一側(cè)；及所述樣本分析儀包含以下部件: 移動所述第一試劑容器固定部件和所述第二試劑容器固定部件以及所述天線部件中的至少其中之一的驅(qū)動部件；及 控制部件，當(dāng)讀取目標(biāo)是所述第一試劑容器的第一電子標(biāo)簽時，控制所述驅(qū)動部件，使所述讀取目標(biāo)的第一電子標(biāo)簽移動到正對所述天線基板一側(cè)表面的位置，而當(dāng)讀取目標(biāo)是所述第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽時，控制所述驅(qū)動部件，使所述讀取目標(biāo)的第二電子標(biāo)簽移動到正對所述天線基板另一側(cè)表面的位置。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的樣本分析儀，其特征在于: 讀取所述第二試劑容器固定部件的第二試劑容器上的第二電子標(biāo)簽時所述天線部件的可讀取范圍小于讀取所述第一試劑容器固定部件的第一試劑容器上的第一電子標(biāo)簽時所述天線部件的可讀取范圍。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的樣本分析儀，還包括: 讀取限制件，至少設(shè)置在所述第二試劑容器固定部件的第二試劑容器上的第二電子標(biāo)簽與所述天線部件之間，限制所述天線部件的可讀取范圍。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的樣本分析儀，其特征在于: 在所述第一試劑容器固定部件的第一試劑容器上的第一電子標(biāo)簽和所述天線部件之間沒有設(shè)置限制所述天線部件可讀取范圍的所述讀取限制件。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的樣本分析儀，其特征在于: 所述天線部件向所述第一試劑容器的第一電子標(biāo)簽和所述第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽分別發(fā)射電波，并分別接收所述第一和第二電子標(biāo)簽回應(yīng)所述電波所發(fā)射的電波； 所述樣本分析儀還有一控制部件控制所述天線部件，當(dāng)從所述第一試劑容器固定部件的第一試劑容器上的第一電子標(biāo)簽讀取試劑信息時，向所述第一電子標(biāo)簽發(fā)射第一到達范圍的電波；當(dāng)從所述第二試劑容器固定部件的第二試劑容器上的第二電子標(biāo)簽讀取試劑信息時，向所述第二電子標(biāo)簽發(fā)射比所述第一到達范圍小的第二到達范圍的電波。
11.根據(jù)權(quán)利要求7至10其中任意一項所述的樣本分析儀，其特征在于: 所述第一試劑容器固定部件等間隔地固定一定數(shù)量的所述第一試劑容器；及 所述第二試劑容器固定部件等間隔地固定所述一定數(shù)量的所述第二試劑容器。
12.根據(jù)權(quán)利要求7至10其中任意一項所述的樣本分析儀，其特征在于: 所述天線部件固定在所述第一試劑容器固定部件和所述第二試劑容器固定部件之間的一定位置 '及 所述樣本分析儀包括以下部件: 向圓周方向旋轉(zhuǎn)驅(qū)動所述第一試劑容器固定部件和所述第二試劑容器固定部件的驅(qū)動部件；及 控制部件，控制所述驅(qū)動部件，當(dāng)讀取目標(biāo)是所述第一試劑容器的第一電子標(biāo)簽時，使所述讀取目標(biāo)的第一電子標(biāo)簽移動到面對所述天線部件的位置，而當(dāng)讀取目標(biāo)是所述第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽時，使所述讀取目標(biāo)的第二電子標(biāo)簽移動到面對所述天線部件的位置。
13.—種獲取試劑容器內(nèi)試劑的相關(guān)試劑信息的試劑信息獲取方法,包括: 準(zhǔn)備包含以下部件的儀器:固定側(cè)面貼有記錄試劑信息的第一電子標(biāo)簽的第一試劑容器用的第一試劑容器固定部件、固定側(cè)面貼有記錄試劑信息的第二電子標(biāo)簽的第二試劑容器用的第二試劑容器固定部件、配置在所述第一試劑容器固定部件和所述第二試劑容器固定部件之間的天線；其中所述第一試劑容器固定部件固定數(shù)個第一試劑容器并沿一定方向呈直線狀延伸；所述第二試劑容器固定部件固定數(shù)個第二試劑容器，與所述第一試劑容器固定部件并列排列并沿所述一定方向延伸；所述天線部件配置在所述第一試劑容器固定部件和所述第二試劑容器固定部件之間； 當(dāng)試劑信息讀取目標(biāo)是所述第一試劑容器上的第一電子標(biāo)簽時，移動所述第一試劑容器固定部件，使所述第一試劑容器上的第一電子標(biāo)簽面對所述天線； 當(dāng)試劑信息讀取目標(biāo)是所述第二試劑容器上的第二電子標(biāo)簽時，移動所述第二試劑容器固定部件，使所述第二試劑容器上的第二電子標(biāo)簽面對所述天線； 通過所述天線從讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽接收電波；及 根據(jù)所述天線接收的電波，獲取所述讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽中記錄的試劑信息。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，還包括:判斷所述天線是否從所述讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽收到電波。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的方法，其特征在于: 所述第一電子標(biāo)簽和所述第二電子標(biāo)簽分別記錄的試劑信息包含識別試劑種類的種類識別信息 '及 在判斷所述天線是否從所述讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽收到電波的步驟中，根據(jù)獲取的試劑信息中的種類識別信息，判斷所述天線是否從所述讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽收到電波。
16.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，還包括: 判斷待寫入試劑信息的電子標(biāo)簽與所述天線能否通信；及 當(dāng)所述待寫入的電子標(biāo)簽?zāi)軌蚺c所述天線通信時，向所述待寫入電子標(biāo)簽發(fā)射寫入用電波，寫入試劑信息。
17.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，還包括: 在所述第二試劑容器固定部件的第二試劑容器上的第二電子標(biāo)簽和所述天線之間設(shè)置讀取限制件，以此限制在讀取所述第二試劑容器固定部件的第二試劑容器上的第二電子標(biāo)簽時所述天線的可讀取范圍。
18.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，還包括: 當(dāng)所述讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽為所述第一試劑容器固定部件的第一試劑容器上的第一電子標(biāo)簽時，所述天線向所述第一電子標(biāo)簽發(fā)射第一到達范圍的電波； 當(dāng)所述讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽為所述第二試劑容器固定部件的第二試劑容器上的第二電子標(biāo)簽時，所述天線向所述第二電子標(biāo)簽發(fā)射比所述第一到達范圍小的第二到達范圍的電波；及 所述天線接收所述讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽為回應(yīng)所述第一到達范圍或所述第二到達范圍的電波而發(fā)射的電波。
【文檔編號】H01Q1/22GK104198744SQ201410431722
【公開日】2014年12月10日 申請日期:2011年3月18日 優(yōu)先權(quán)日:2010年3月25日
【發(fā)明者】德永一敏 申請人:希森美康株式會社
【專利摘要】本發(fā)明提供一種用試劑容器內(nèi)的試劑分析樣本的樣本分析儀，包括：第一試劑容器固定部件，用于固定第一試劑容器，所述第一試劑容器上有記錄著試劑的相關(guān)試劑信息的第一電子標(biāo)簽；第二試劑容器固定部件，用于固定第二試劑容器，所述第二試劑容器上有記錄著試劑的相關(guān)試劑信息的第二電子標(biāo)簽；天線部件，配置在所述第一試劑容器固定部件和所述第二試劑容器固定部件之間，分別從所述第一電子標(biāo)簽和所述第二電子標(biāo)簽接收電波；及試劑信息獲取部件，根據(jù)所述天線部件接收的電波，獲取記錄在所述第一電子標(biāo)簽的試劑信息和記錄在所述第二電子標(biāo)簽的試劑信息。本發(fā)明還提供一種獲取試劑容器內(nèi)試劑的相關(guān)試劑信息的試劑信息獲取方法。
【專利說明】樣本分析儀及試劑信息獲取方法
[0001]本申請是申請?zhí)枮?01110066002.7、申請日為2011年3月18日、名稱為“樣本分析儀及試劑信息獲取方法”的由同一 申請人:提交的中國發(fā)明專利申請的分案申請。
[0002]【技術(shù)領(lǐng)域】:
本發(fā)明涉及一種樣本分析儀，特別是涉及一種裝有帶電子標(biāo)簽的試劑容器的樣本分析儀，該電子標(biāo)簽上記錄有試劑信息。
[0003]【背景技術(shù)】:
人們已經(jīng)知道，歷來有一種樣本分析儀裝有帶有記錄著試劑信息的電子標(biāo)簽的試劑容器。
[0004]比如日本專利公報N0.2009/210444上公開了一種自動分析裝置，其包括:以內(nèi)圈列和外圈列兩列固定復(fù)數(shù)個試劑容器的圓環(huán)形試劑容器固定部件，所述試劑容器上帶有記錄著試劑信息的無線IC標(biāo)簽；向固定在內(nèi)圈列試劑容器固定部件的試劑容器的無線IC標(biāo)簽發(fā)射電波的內(nèi)圈天線；向固定在外圈列試劑容器固定部件的試劑容器的無線IC標(biāo)簽發(fā)射電波的外圈天線；從內(nèi)圈天線和外圈天線接收從無線IC標(biāo)簽返回的電波的信息讀取及存儲部件。在此自動分析裝置，內(nèi)圈天線配置于內(nèi)圈列試劑容器固定部件的內(nèi)側(cè)，外圈天線配置于外圈列試劑容器固定部件的外側(cè)。
[0005]然而，在上述日本專利公報N0.2009/210444上記述的自動分析裝置中，需要分別在內(nèi)圈列試劑容器固定部件的內(nèi)側(cè)和外圈列試劑容器固定部件的外側(cè)配置天線。因此，有零部件數(shù)量增加的問題。而且為了配置天線，必須確保內(nèi)圈列試劑容器固定部件的內(nèi)側(cè)區(qū)域和外圈列試劑容器固定部件的外側(cè)區(qū)域，因此有裝置主體過大的問題。
[0006]本發(fā)明正是為了解決上述課題，本發(fā)明目的之一是提供一種既可以控制零部件數(shù)量增加，又可以抑制裝置主體過大的樣本分析儀及試劑信息獲取方法。
[0007]
【發(fā)明內(nèi)容】
:
本發(fā)明的范圍只由后附權(quán)利要求書所規(guī)定，在任何程度上都不受這一節(jié)
【發(fā)明內(nèi)容】
的陳述所限。
[0008]gp，本發(fā)明提供:
(O一種用試劑容器內(nèi)的試劑分析樣本的樣本分析儀，包括:第一試劑容器固定部件，用于固定第一試劑容器，所述第一試劑容器上有記錄著試劑的相關(guān)試劑信息的第一電子標(biāo)簽；第二試劑容器固定部件，用于固定第二試劑容器，所述第二試劑容器上有記錄著試劑的相關(guān)試劑信息的第二電子標(biāo)簽；天線部件，配置在所述第一試劑容器固定部件和所述第二試劑容器固定部件之間，分別從所述第一電子標(biāo)簽和所述第二電子標(biāo)簽接收電波；及試劑信息獲取部件，根據(jù)所述天線部件接收的電波，獲取記錄在所述第一電子標(biāo)簽的試劑信息和記錄在所述第二電子標(biāo)簽的試劑信息。
[0009](2) (I)所述的樣本分析儀，其中，所述第一試劑容器的第一電子標(biāo)簽，配置在所述第一試劑容器與所述天線部件相對的側(cè)面；
所述第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽，配置在所述第二試劑容器與所述天線部件相對的側(cè)面。
[0010](3) (I)所述的樣本分析儀，還包括:判斷所述天線部件是否從所要讀取的目標(biāo)電子標(biāo)簽收到電波的控制部件。
[0011](4) (3)所述的樣本分析儀，其中，記錄在所述目標(biāo)電子標(biāo)簽的試劑信息包含識別試劑種類的種類識別信息；及所述控制部件根據(jù)所述試劑信息獲取部件獲取的試劑信息中所含所述種類識別信息，判斷所述天線部件是否從所述目標(biāo)電子標(biāo)簽收到電波。
[0012](5) (I)所述的樣本分析儀，其中，所述天線部件能夠分別向所述第一試劑容器的第一電子標(biāo)簽和所述第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽發(fā)送寫入用電波，以此將試劑信息寫入所述第一電子標(biāo)簽和所述第二電子標(biāo)簽；及所述樣本分析儀還有控制部件，在所述天線部件向待寫入試劑信息的電子標(biāo)簽發(fā)送寫入用電波前，判斷所述天線部件是否能與所述待寫入電子標(biāo)簽通信。
[0013](6)(1)所述的樣本分析儀，其中，所述天線部件包含平板狀天線基板，所述平板狀天線基板一側(cè)表面和另一側(cè)表面分別位于所述第一試劑容器一側(cè)和所述第二試劑容器一側(cè)；及所述樣本分析儀包含以下部件:移動所述第一試劑容器固定部件和所述第二試劑容器固定部件以及所述天線部件中的至少其中之一的驅(qū)動部件；及控制部件，當(dāng)讀取目標(biāo)是所述第一試劑容器的第一電子標(biāo)簽時，控制所述驅(qū)動部件，使所述讀取目標(biāo)的第一電子標(biāo)簽移動到正對所述天線基板一側(cè)表面的位置，而當(dāng)讀取目標(biāo)是所述第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽時，控制所述驅(qū)動部件，使所述讀取目標(biāo)的第二電子標(biāo)簽移動到正對所述天線基板另一側(cè)表面的位置。
[0014](7) (I)所述的樣本分析儀，其中，所述第一試劑容器固定部件固定復(fù)數(shù)個所述第一試劑容器，從平面看略呈圓環(huán)形；所述第二試劑容器固定部件固定復(fù)數(shù)各所述第二試劑容器，從平面看在所述第一試劑容器固定部件內(nèi)側(cè)呈圓環(huán)形；及讀取所述第二試劑容器固定部件的第二試劑容器上的第二電子標(biāo)簽時所述天線部件的可讀取范圍小于讀取所述第一試劑容器固定部件的第一試劑容器上的第一電子標(biāo)簽時所述天線部件的可讀取范圍。
[0015](8) (7)所述的樣本分析儀，還包括:讀取限制件，至少設(shè)置在所述第二試劑容器固定部件的第二試劑容器上的第二電子標(biāo)簽與所述天線部件之間，限制所述天線部件的可讀取范圍。
[0016](9) (8)所述的樣本分析儀，其中，在所述第一試劑容器固定部件的第一試劑容器上的第一電子標(biāo)簽和所述天線部件之間沒有設(shè)置限制所述天線部件可讀取范圍的所述讀取限制件。
[0017](10) (7)所述的樣本分析儀，其中，所述天線部件向所述第一試劑容器的第一電子標(biāo)簽和所述第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽分別發(fā)射電波，并分別接收所述第一和第二電子標(biāo)簽回應(yīng)所述電波所發(fā)射的電波；所述樣本分析儀還有一控制部件控制所述天線部件，當(dāng)從所述第一試劑容器固定部件的第一試劑容器上的第一電子標(biāo)簽讀取試劑信息時，向所述第一電子標(biāo)簽發(fā)射第一到達范圍的電波；當(dāng)從所述第二試劑容器固定部件的第二試劑容器上的第二電子標(biāo)簽讀取試劑信息時，向所述第二電子標(biāo)簽發(fā)射比所述第一到達范圍小的第二到達范圍的電波。
[0018](11) (7)至(10)其中任意一項所述的樣本分析儀，其中，所述第一試劑容器固定部件等間隔地固定一定數(shù)量的所述第一試劑容器；及所述第二試劑容器固定部件等間隔地固定所述一定數(shù)量的所述第二試劑容器。
[0019](12) (7)至(10)其中任意一項所述的樣本分析儀，其中，所述天線部件固定在所述第一試劑容器固定部件和所述第二試劑容器固定部件之間的一定位置；及所述樣本分析儀包括以下部件:向圓周方向旋轉(zhuǎn)驅(qū)動所述第一試劑容器固定部件和所述第二試劑容器固定部件的驅(qū)動部件；及控制部件，控制所述驅(qū)動部件，當(dāng)讀取目標(biāo)是所述第一試劑容器的第一電子標(biāo)簽時，使所述讀取目標(biāo)的第一電子標(biāo)簽移動到面對所述天線部件的位置，而當(dāng)讀取目標(biāo)是所述第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽時，使所述讀取目標(biāo)的第二電子標(biāo)簽移動到面對所述天線部件的位置。
[0020](13) 一種獲取試劑容器內(nèi)試劑的相關(guān)試劑信息的試劑信息獲取方法，包括:準(zhǔn)備包含以下部件的儀器:固定貼有記錄試劑信息的第一電子標(biāo)簽的第一試劑容器用的第一試劑容器固定部件、固定貼有記錄試劑信息的第二電子標(biāo)簽的第二試劑容器用的第二試劑容器固定部件、配置在所述第一試劑容器固定部件和所述第二試劑容器固定部件之間的天線；當(dāng)試劑信息讀取目標(biāo)是所述第一試劑容器上的第一電子標(biāo)簽時，移動所述第一試劑容器固定部件，使所述第一試劑容器上的第一電子標(biāo)簽面對所述天線；當(dāng)試劑信息讀取目標(biāo)是所述第二試劑容器上的第二電子標(biāo)簽時，移動所述第二試劑容器固定部件，使所述第二試劑容器上的第二電子標(biāo)簽面對所述天線；通過所述天線從讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽接收電波；及根據(jù)所述天線接收的電波，獲取所述讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽中記錄的試劑信息。
[0021](14) (13)所述的方法，還包括:判斷所述天線是否從所述讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽收到電波。
[0022](15) (14)所述的方法，其中，所述第一電子標(biāo)簽和所述第二電子標(biāo)簽分別記錄的試劑信息包含識別試劑種類的種類識別信息；及在判斷所述天線是否從所述讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽收到電波的步驟中，根據(jù)獲取的試劑信息中的種類識別信息，判斷所述天線是否從所述讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽收到電波。
[0023](16) (13)所述的方法，還包括:判斷待寫入試劑信息的電子標(biāo)簽與所述天線能否通信；及當(dāng)所述待寫入的電子標(biāo)簽?zāi)軌蚺c所述天線通信時，向所述待寫入電子標(biāo)簽發(fā)射寫入用電波，寫入試劑信息。
[0024](17) (13)至(16)其中任意一項所述的方法,其中,所述第一試劑容器固定部件固定復(fù)數(shù)個第一試劑容器，從平面看呈圓環(huán)形；所述第二試劑容器固定部件固定復(fù)數(shù)個第二試劑容器，從平面看在所述第一試劑容器固定部件內(nèi)側(cè)略呈圓環(huán)形。
[0025](18) (17)所述的方法，還包括:在所述第二試劑容器固定部件的第二試劑容器上的第二電子標(biāo)簽和所述天線之間設(shè)置讀取限制件，以此限制在讀取所述第二試劑容器固定部件的第二試劑容器上的第二電子標(biāo)簽時所述天線的可讀取范圍。
[0026](19) (17)所述的方法，還包括:當(dāng)所述讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽為所述第一試劑容器固定部件的第一試劑容器上的第一電子標(biāo)簽時，所述天線向所述第一電子標(biāo)簽發(fā)射第一到達范圍的電波；當(dāng)所述讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽為所述第二試劑容器固定部件的第二試劑容器上的第二電子標(biāo)簽時，所述天線向所述第二電子標(biāo)簽發(fā)射比所述第一到達范圍小的第二到達范圍的電波；及所述天線接收所述讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽為回應(yīng)所述第一到達范圍或所述第二到達范圍的電波而發(fā)射的電波。
[0027]根據(jù)上述(I)或(13)的結(jié)構(gòu)，無需在第一試劑容器固定部件和第二試劑容器固定部件分別設(shè)置天線部件，可以相應(yīng)控制零部件數(shù)量的增加。又由于將天線部件配置在第一試劑容器固定部件和第二試劑容器固定部件之間，只要確保第一試劑容器固定部件和第二試劑容器固定部件之間的區(qū)域用來配置天線部件即可，無需為配置天線部件而確保二個區(qū)域。如此，可以相應(yīng)地控制儀器主體的體積增大。另外，由于將天線部件配置在第一試劑容器固定部件和第二試劑容器固定部件之間，第二試劑容器不在第一試劑容器和天線部件之間，同時第一試劑容器也不在第二試劑容器和天線部件之間。這樣可以避免由于第二試劑容器位于第一試劑容器和天線部件之間或第一試劑容器位于第二試劑容器和天線部件之間，妨礙第一電子標(biāo)簽和第二電子標(biāo)簽的試劑信息讀取。
[0028]根據(jù)上述(2 )的結(jié)構(gòu)，天線部件可以很方便地讀取第一電子標(biāo)簽和第二電子標(biāo)簽。
[0029]根據(jù)上述(3 )或(14)的結(jié)構(gòu)，可以防止誤將非讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽發(fā)出的電波用作讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽發(fā)射的電波。
[0030]根據(jù)上述(4)或(15)的結(jié)構(gòu)，使用種類識別信息可以進一步防止誤將非讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽發(fā)出的電波當(dāng)作讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽發(fā)射的電波使用。
[0031]根據(jù)上述(5)或(16)的結(jié)構(gòu)，控制部件在向待寫入電子標(biāo)簽寫入試劑信息前可以預(yù)先判斷能否與待寫入電子標(biāo)簽通信。如此可以切實確保將試劑信息寫入待寫入的第一電子標(biāo)簽和第二電子標(biāo)簽。
[0032]根據(jù)上述(6)的結(jié)構(gòu)，可以通過天線部件輕易讀取讀取目標(biāo)的第一電子標(biāo)簽和第二電子標(biāo)簽。
[0033]根據(jù)上述(7)的結(jié)構(gòu)，在第一試劑容器固定部件內(nèi)圈略呈圓環(huán)狀的第二試劑容器固定部件的外圈周長小于略呈圓環(huán)狀的第一試劑容器固定部件的內(nèi)圈周長，因此，復(fù)數(shù)個第二試劑容器很可能會比復(fù)數(shù)個第一試劑容器之間更緊湊地配置。在此，將讀取第二電子標(biāo)簽時的可讀取范圍設(shè)置得比讀取第一電子標(biāo)簽時的可讀取范圍小，一方面可以防止從第一電子標(biāo)簽讀取試劑信息時失敗，另一方面可以防止誤從與讀取目標(biāo)第二電子標(biāo)簽不同的其他第二電子標(biāo)簽讀取試劑信息。
[0034]根據(jù)上述(8)的結(jié)構(gòu)，從相互臨近的第二試劑容器上的第二電子標(biāo)簽讀取試劑信息時，可以輕松地防止誤讀取與讀取目標(biāo)第二電子標(biāo)簽不同的其他第二電子標(biāo)簽的試劑信肩、O
[0035]根據(jù)上述(9)的結(jié)構(gòu)，可以輕松地將讀取第二電子標(biāo)簽時的可讀取范圍設(shè)置得比讀取第一電子標(biāo)簽時的可讀取范圍小。
[0036]根據(jù)上述(10)的結(jié)構(gòu)，控制部件可以輕松地將讀取第二電子標(biāo)簽時的可讀取范圍設(shè)置為小于讀取第一電子標(biāo)簽時的可讀取范圍。
[0037]根據(jù)上述(11)的結(jié)構(gòu)，在復(fù)數(shù)個第二試劑容器比復(fù)數(shù)個第一試劑容器之間相互緊湊地配置的狀態(tài)下，讀取第二電子標(biāo)簽時的可讀取范圍小于讀取第一電子標(biāo)簽時的可讀取范圍，以此可以防止從第一電子標(biāo)簽讀取試劑信息時失敗，同時可以防止誤從與讀取目標(biāo)第二電子標(biāo)簽不同的其他第二電子標(biāo)簽讀取試劑信息。
[0038]【專利附圖】
【附圖說明】:
圖1為本發(fā)明一實施方式涉及的免疫分析儀的整體結(jié)構(gòu)斜視圖；
圖2為圖1所示一實施方式涉及的免疫分析儀的整體結(jié)構(gòu)平面圖；
圖3為說明圖1所示一實施方式涉及的免疫分析儀結(jié)構(gòu)的框圖；
圖4為圖1所示一實施方式涉及的免疫分析儀的試劑放置部件內(nèi)部斜視圖； 圖5為圖1所示一實施方式涉及的免疫分析儀的試劑放置部件內(nèi)部平面圖；
圖6為圖1所示一實施方式涉及的、讀取試劑放置部件的試劑容器IC標(biāo)簽時的狀態(tài)放大平面圖；
圖7為圖1所示一實施方式涉及的試劑放置部件的天線部件斜視圖；
圖8為圖1所示一實施方式涉及的試劑放置部件的天線部件正面圖；
圖9為圖1所示一實施方式涉及的天線部件的天線基板的平面圖；
圖10為圖1所示一實施方式涉及的試劑放置部件的Rl試劑容器的側(cè)面圖；
圖11為圖1所示一實施方式涉及的試劑放置部件的R2試劑容器的側(cè)面圖；
圖12為圖1所示一實施方式涉及的IC標(biāo)簽上存儲的固有信息和試劑信息的概念圖； 圖13為圖1所示一實施方式涉及的免疫分析儀的測定運作的流程圖；
圖14為圖1所示一實施方式涉及的免疫分析儀讀取試劑信息處理的流程圖；
圖15為圖1所示第一實施方式涉及的免疫分析儀的吸移試劑和寫入試劑信息處理的流程圖。
[0039]【具體實施方式】:
下面根據(jù)【專利附圖】
【附圖說明】本發(fā)明的【具體實施方式】。
[0040]首先參照圖f圖12就本發(fā)明第一實施方式涉及的免疫分析儀I的結(jié)構(gòu)進行說明。
[0041]本發(fā)明一實施方式涉及的免疫分析儀I是一種用血液等樣本進行與傳染病(B型肝炎、C型肝炎等)相關(guān)的蛋白質(zhì)、腫瘤標(biāo)記及甲狀腺激素等各項檢查的儀器。
[0042]此免疫分析儀I是定量測定或定性測定待測血液等樣本(血樣)中所含抗原和抗體等的裝置。當(dāng)定量測定樣本中所含抗原時，此免疫分析儀I先讓磁性粒子(R2試劑)結(jié)合到與樣本所含抗原結(jié)合的捕捉抗體(Rl試劑)，然后用一次BF (結(jié)合分離，Bound Free)分離器11的磁鐵(無圖示)吸引結(jié)合后(Bound)的抗原、捕捉抗體和磁性粒子，以此除去含有未反應(yīng)(Free)的捕捉抗體的Rl試劑。然后，免疫分析儀I讓磁性粒子結(jié)合的抗原與標(biāo)記抗體(R3試劑)結(jié)合，用二次BF分離器12的磁鐵(無圖示)將結(jié)合后的(Bound)的磁性粒子、抗原和標(biāo)記抗體吸過來，以此除去含未反應(yīng)(Free)的標(biāo)記抗體的R3試劑。添加分散液(R4試劑)和在與標(biāo)記抗體反應(yīng)過程中發(fā)光的發(fā)光底物(R5試劑)后，測定標(biāo)記抗體與發(fā)光底物反應(yīng)產(chǎn)生的發(fā)光量。經(jīng)過這一過程，定量測定與標(biāo)記抗體結(jié)合的樣本中所含抗原。
[0043]免疫分析儀I如圖1和圖2所示，包括測定裝置2、與測定裝置2相鄰配置的運樣裝置(供樣器)3以及由與測定裝置2電路連接的PC (電腦)構(gòu)成的控制裝置4。
[0044]運樣裝置3可運送放置有盛放樣本的、無圖示的數(shù)個試管的樣架。運樣裝置3可以將裝有樣本的試管運送到樣本分裝臂5的吸樣位。
[0045]控制裝置4如圖3所示，包括CPU4a、顯示器4b、輸入設(shè)備4c和存儲部件4d。CPU4a可以根據(jù)用戶用輸入設(shè)備4c輸入的測定條件等，讓測定裝置2 (后述的CPU2a)進行測定，同時分析測定裝置2測得的測定結(jié)果，將該分析結(jié)果顯示到顯示器4b上。存儲部件4d由硬盤構(gòu)成，用于分別存儲后述Rl試劑容器21、R3試劑容器22和R2試劑容器23各自的試劑信息和位置信息。關(guān)于存儲部件4d待后詳述。
[0046]測定裝置2如圖2所示，由樣本分裝臂5、Rl試劑分裝臂6、R2試劑分裝臂7、R3試劑分裝臂8、反應(yīng)部件9、供杯部件10、一次BF分離器11、二次BF分離器12、吸頭供應(yīng)部件13、檢測部件14、R4/R5試劑供應(yīng)部件15、試劑放置部件16及RFID (射頻識別，Rad1Frequency Identificat1n)模塊 17 構(gòu)成。
[0047]如圖3所示，測定裝置2中各機械裝置(各種分裝臂和反應(yīng)部件9等)受設(shè)置在測定裝置2的CPU2a控制。運樣裝置3也受CPU2a控制。測定裝置2中還設(shè)有存儲部件2b，存儲部件2b中存有使CPU2a控制測定裝置2的各機械裝置運作的控制程序。
[0048]如圖2所示，供杯部件10可容納無圖示的多個反應(yīng)杯，能夠依次、逐個地向樣本分裝臂5的注樣位供應(yīng)反應(yīng)杯。
[0049]Rl試劑分裝臂6吸移放置在試劑放置部件16的Rl試劑，并將吸移的Rl試劑分裝(注入)到配置在注樣位的反應(yīng)杯中。Rl試劑分裝臂6還能用無圖示的抓鉗將配置在注樣位的反應(yīng)杯移送到反應(yīng)部件9。
[0050]吸頭供應(yīng)部件13的作用是將放入的數(shù)個吸頭(無圖示)逐一運到樣本分裝臂5的吸頭安裝位。吸頭在吸頭安裝位被安裝到樣本分裝臂5的吸移管前端。
[0051]樣本分裝臂5在吸頭安裝位裝上吸頭后，吸移由運樣裝置3運送到吸樣位的試管內(nèi)的樣本，將樣本分裝(注入)到已由Rl試劑分裝臂6裝入了 Rl試劑的、注樣位上的反應(yīng)杯中。
[0052]R2試劑分裝臂7具有吸移放置在試劑放置部件16的R2試劑的功能。R2試劑分裝臂7將吸移的R2試劑分裝(注入)到裝有Rl試劑和樣本的反應(yīng)杯中。
[0053]反應(yīng)部件9圍繞在平面看時基本呈圓形的試劑放置部件16的周圍，基本呈圓環(huán)形。反應(yīng)部件9可順時針方向旋轉(zhuǎn)，可以將放在反應(yīng)杯固定部件9a的反應(yīng)杯移到進行各種處理(分裝試劑等)的各個處理位上。
[0054]一次BF分離器11的作用是:在無圖示的抓鉗將裝有樣本、Rl試劑和R2試劑的反應(yīng)杯從反應(yīng)部件9運送到一次BF分離器11后，從反應(yīng)杯內(nèi)的試樣分離(B/F分離)未反應(yīng)的Rl試劑(不要成份)和磁性粒子。
[0055]R3試劑分裝臂8可吸移放置在試劑放置部件16的R3試劑。當(dāng)裝有一次BF分離器11進行了 B/F分離后的試樣的反應(yīng)杯從一次BF分離器11運到反應(yīng)部件9后，R3試劑分裝臂8將吸移的R3試劑分裝(注入)到該反應(yīng)杯中。
[0056]二次BF分離器12的作用是:在無圖示的抓鉗將裝有經(jīng)一次BF分離器11進行了B/F分離的試樣和R3試劑的反應(yīng)杯從反應(yīng)部件9運送到二次BF分離器12后，從反應(yīng)杯內(nèi)的試樣分離未反應(yīng)的R3試劑(不要成份)和磁性粒子。
[0057]R4/R5試劑供應(yīng)部件15通過無圖示的管，向裝有二次BF分離器12進行了 B/F分離后的試樣的反應(yīng)杯依次分裝R4試劑和R5試劑。
[0058]檢測部件14用于通過光電倍增管(Photo Multiplier Tube)獲取與經(jīng)一定處理的樣本的抗原結(jié)合的標(biāo)記抗體和發(fā)光底物在反應(yīng)過程中發(fā)出的光，以此測定該樣本內(nèi)所含抗原的量。
[0059]試劑放置部件16如圖2所示,包括基本呈圓筒形的機殼16a (參照圖4)、從上覆蓋機殼16a的蓋部16b、設(shè)置在蓋部16b上、供用戶更換后述Rl試劑容器21、R3試劑容器22和R2試劑容器23時開關(guān)用的開關(guān)部件16c。在蓋部16b上與Rl試劑、R2試劑和R3試劑的吸移位相對應(yīng)的位置的上面有可開關(guān)的窗口(無圖示)。通過此窗口可以由Rl試劑分裝臂6、R2試劑分裝臂7和R3試劑分裝臂8分別吸移Rl試劑、R2試劑和R3試劑。
[0060]在此，本實施方式如圖4和圖5所示，試劑放置部件16的機殼16a內(nèi)部設(shè)有R1/R3放置部件18、R2放置部件19、一個天線部件20。具體而言，如圖Γ圖6所示，R1/R3放置部件18及R2放置部件19從平面看基本呈圓環(huán)形，有著與機殼16a中心〇基本相同的圓心〇。R1/R3放置部件18設(shè)置在R2放置部件19的內(nèi)環(huán)一側(cè)(圖5的圓心〇一側(cè))，同時天線部件20設(shè)置在R1/R3放置部件18的外環(huán)一側(cè)(與圓心〇相反一側(cè))、R2放置部件19的內(nèi)環(huán)一側(cè)。即天線部件20從平面看時，被夾在R1/R3放置部件18和R2放置部件19之間。
[0061]天線部件20如圖7和圖8所示，包括天線基板20a、從外側(cè)(箭頭X2方向一側(cè)，參照圖6)固定天線基板20a的基板安裝件20b、配置于天線部件20內(nèi)側(cè)(箭頭Xl方向一側(cè)，參照圖6)、與基板安裝件20b —起夾住天線基板20a、安裝在基板安裝件20b的金屬板20c。如圖6所示，基板安裝件20b下部由鏍釘20d固定在機殼16a的底面。即天線部件20固定在機殼16a上。
[0062]天線基板20a如圖9所示，是在板狀基板的箭頭Xl方向一側(cè)表面120a(參照圖7)加上線圈形天線配線220a而構(gòu)成的。通過此線圈形天線配線220a可以收發(fā)電波。天線基板20a如圖6所示，配置在基板安裝件20b內(nèi)部，使天線基板20a的箭頭Xl方向一側(cè)表面120a與機殼16a的中心〇(參照圖5)相對。
[0063]在本實施方式中，天線基板20a可以從箭頭Xl方向一側(cè)表面120a向試劑放置部件16內(nèi)側(cè)(圖5的中心〇一側(cè)(箭頭Xl方向一側(cè)))發(fā)射讀取用電波和寫入用電波，同時還可以從箭頭X2方向一側(cè)表面320a向外側(cè)(R2放置部件19 一側(cè)(箭頭X2方向一側(cè)))發(fā)射讀取用電波和寫入用電波。天線基板20a還可以接收后述IC標(biāo)簽24和25回應(yīng)讀取用電波而發(fā)射的應(yīng)答電波。如此，天線部件20可以對配置在箭頭Xl方向一側(cè)的Rl試劑容器21的IC標(biāo)簽24進行讀取和寫入作業(yè)，同時也能對配置在箭頭X2方向一側(cè)的R2試劑容器23的IC標(biāo)簽25進行讀取和寫入作業(yè)。天線基板20a連接在RFID模塊17的后述讀寫型基板17a 上。
[0064]基板安裝件20b由電波可透過的樹脂構(gòu)成。這樣，從天線基板20a的箭頭X2方向一側(cè)表面320a向外側(cè)(箭頭X2方向一側(cè))發(fā)射的讀取用電波和寫入用電波就可以穿過基板安裝件20b，到達R2放置部件19，同時后述IC標(biāo)簽25發(fā)射的應(yīng)答電波也可以穿過基板安裝件20b到達天線基板20a。天線基板20a如圖7所示，用螺絲20e和螺母20f (參照圖6)固定在基板安裝件20b上。
[0065]金屬板20c由可吸收電波(讀取用電波、寫入用電波和應(yīng)答電波)的鋁板構(gòu)成。金屬板20c由螺絲20g和無圖示的螺母固定在基板安裝件20b上，與基板安裝件20b夾著天線基板20a，配置在天線部件20的箭頭Xl方向一側(cè)。
[0066]金屬板20c有略呈U字形的缺口 20h。通過此缺口 20h，天線基板20a向試劑放置部件16內(nèi)側(cè)(箭頭Xl方向一側(cè))發(fā)射電波,而未通過此缺口 20h的天線基板20a發(fā)射的電波被金屬板20c吸收。S卩，金屬板20c限制天線基板20a向箭頭Xl方向一側(cè)發(fā)射的讀取用電波和與入用電波的范圍(圖6所不范圍A (粗點劃線))和天線基板20a從箭頭Xl方向一側(cè)接收的應(yīng)答電波的范圍，以此來限制天線部件20 (天線基板20a)的箭頭Xl方向一側(cè)的讀取范圍和寫入范圍。
[0067]另一方面，天線部件20的箭頭X2方向一側(cè)沒有配置金屬板。這樣，從天線基板20a向箭頭X2方向一側(cè)發(fā)射的讀取用電波和寫入用電波的范圍(圖6所示范圍B(粗雙點劃線))和天線基板20a從箭頭X2方向一側(cè)接收的應(yīng)答電波的范圍不受限制。其結(jié)果，從天線基板20a向箭頭X2方向一側(cè)發(fā)射的讀取用電波和寫入用電波的范圍B (粗雙點劃線)比天線基板20a向箭頭Xl方向一側(cè)發(fā)射的讀取用電波和寫入用電波的范圍A (粗點劃線)大。
[0068]試劑放置部件16設(shè)有內(nèi)側(cè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部件16d (參照圖3)以及外側(cè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部件16e (參照圖3)，內(nèi)側(cè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部件16d讓R1/R3放置部件18以中心O為旋轉(zhuǎn)中心向箭頭Cl方向和箭頭C2方向旋轉(zhuǎn)；外側(cè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部件16e讓R2放置部件19以中心O為旋轉(zhuǎn)中心向箭頭Dl方向和箭頭D2方向旋轉(zhuǎn)。內(nèi)側(cè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部件16d和外側(cè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部件16e由CPU2a分別控制驅(qū)動。
[0069]R1/R3放置部件18上如圖5所示，以等角度(約14.4度)間隔配置了 25個由可透過電波的樹脂制成的R1/R3固定件18a。此R1/R3固定件18a上分別固定有Rl試劑容器21和R3試劑容器22，所述Rl試劑容器21盛放含捕捉抗體的Rl試劑；所述R3試劑容器22盛放含標(biāo)記抗體的R3試劑。R1/R3固定件18a在外側(cè)(R2放置部件19 一側(cè))固定Rl試劑容器21，內(nèi)側(cè)(中心O —側(cè))固定R3試劑容器22。
[0070]R2放置部件19上以等角度(約14.4度)間隔配置了 25個由可透過電波的樹脂制成的R2固定件19a。此R2固定件19a上分別固定有R2試劑容器23。所述R2試劑容器23盛放含磁性粒子的R2試劑。
[0071]在此，R1/R3放置部件18配置在R2放置部件19的內(nèi)圈一側(cè)，Rl試劑容器21和R2試劑容器23配置有同樣數(shù)目(25個)，Rl試劑容器21之間的間隔比R2試劑容器23之間的間隔小。即，Rl試劑容器21比R2試劑容器23相互靠得更近。Rl試劑容器21、R3試劑容器22和R2試劑容器23都可以由用戶放置和更換。
[0072]如圖10所示，Rl試劑容器21上有吸移Rl試劑時開關(guān)的蓋21a和盛放Rl試劑的試劑收納部件21b。另如圖11所示，R2試劑容器23上有吸移R2試劑時開關(guān)的蓋23a和盛放R2試劑的試劑收納部件23b。另外，如圖6所示，R3試劑容器22與Rl試劑容器21形狀基本相同，R3試劑容器22上有吸移R3試劑時開關(guān)的蓋22a和盛放R3試劑的無圖示的試劑收納部件。蓋21a和蓋22a隨著R1/R3放置部件18的轉(zhuǎn)動而開關(guān)，蓋23a則隨著R2放置部件19的轉(zhuǎn)動而開關(guān)。
[0073]在本實施方式，如圖10所示，Rl試劑容器21的試劑收納部件21b外側(cè)(圖6箭頭X2方向一側(cè))的側(cè)面有安裝IC標(biāo)簽24的IC標(biāo)簽安裝部件21c。即Rl試劑容器21的IC標(biāo)簽24如圖6所示，安裝在試劑收納部件21b的箭頭X2方向一側(cè)側(cè)面，當(dāng)配置在R1/R3放置部件18上時，朝向試劑放置部件16的外側(cè)(箭頭X2方向一側(cè))，同時面對(正對)天線基板20a的箭頭Xl方向一側(cè)的表面120a正面位置。
[0074]如圖11所示，R2試劑容器23的試劑收納部件23b內(nèi)側(cè)(圖6箭頭Xl方向一側(cè))的側(cè)面有安裝IC標(biāo)簽25的IC標(biāo)簽安裝部件23c。即R2試劑容器23的IC標(biāo)簽25如圖6所示，安裝在試劑收納部件23b的箭頭Xl方向一側(cè)側(cè)面，當(dāng)配置在R2放置部件19上時，朝向試劑放置部件16的內(nèi)側(cè)(箭頭Xl方向一側(cè))，同時面對(正對)天線基板20a的箭頭X2方向一側(cè)的表面320a正面位置。R3試劑容器22的側(cè)面與Rl試劑容器21不同，沒有貼IC標(biāo)簽。
[0075]IC標(biāo)簽24上記錄有Rl試劑容器21中的Rl試劑的試劑信息以及和Rl試劑容器21通用的R1/R3固定件18a上固定的R3試劑容器22中的R3試劑的試劑信息。IC標(biāo)簽25上記錄有R2試劑容器23中的R2試劑的試劑信息。
[0076]如圖12所示，IC標(biāo)簽24和25上可以存儲128字節(jié)信息。此存儲容量128字節(jié)中表示固有信息的唯一 ID區(qū)分配有16字節(jié)，表示試劑信息的用戶數(shù)據(jù)區(qū)分配有112字節(jié)。唯一 ID區(qū)為記錄有可分別識別IC標(biāo)簽24和25的唯一 ID的區(qū)域，為只讀區(qū)。而用戶數(shù)據(jù)區(qū)為用戶可自由寫入信息的區(qū)域。用戶數(shù)據(jù)區(qū)中設(shè)定有只能讀不能寫的區(qū)域(只讀區(qū))和讀寫均可的(可寫入?yún)^(qū))區(qū)域。
[0077]唯一 ID在CPU2a對試劑信息加密時使用。以此，由于唯一 ID不同，試劑信息的密碼無法解開，即使試劑信息被復(fù)制到其他IC標(biāo)簽，也可以避免試劑信息和試劑容器中的試劑對應(yīng)錯誤。
[0078]只讀區(qū)記錄著與帶IC標(biāo)簽(IC標(biāo)簽24或25)的試劑容器(Rl試劑容器21或R2試劑容器23)相關(guān)的測定項目、批號、序號、試劑種類(種類識別信息)、保存期限和填充量，可寫區(qū)可寫入余量和使用期限。IC標(biāo)簽24還一并記錄有R3試劑容器22的相關(guān)信息。初次放入R1/R3放置部件18的Rl試劑容器21上貼的IC標(biāo)簽24和初次放入R2放置部件19的R2試劑容器23上貼的IC標(biāo)簽25的可寫區(qū)未寫入信息。
[0079]測定項目指用貼有此IC標(biāo)簽的試劑容器所裝試劑進行的測定項目。試劑種類指貼有此IC標(biāo)簽的試劑容器是Rl試劑容器21還是R2試劑容器23。保存期限表示此試劑可保存的期限。填充量表示用此試劑可進行的測定次數(shù)。余量表示用此試劑還可進行幾次測定。使用期限表示此試劑可使用的期限。使用期限在此試劑開始使用時設(shè)定。
[0080]在本實施方式中，如圖6所示，IC標(biāo)簽24和25在天線部件20的正面位置(正對面位置)進行讀取和寫入。即，Rl試劑容器21的IC標(biāo)簽24配置在與天線部件20的箭頭Xl方向一側(cè)的表面120a正對的位置，R2試劑容器23的IC標(biāo)簽25配置在與天線部件20箭頭X2方向一側(cè)的表面320a正對的位置。
[0081]IC標(biāo)簽24和25根據(jù)天線部件20發(fā)射的讀取用電波，發(fā)射含IC標(biāo)簽24和25中所存試劑信息的應(yīng)答電波。IC標(biāo)簽24和25根據(jù)天線部件20發(fā)射的寫入用電波，將存儲在IC標(biāo)簽中的試劑信息改寫為寫入用電波中所含新的試劑信息。試劑信息以加密狀態(tài)存在IC標(biāo)簽24和25中。
[0082]IC標(biāo)簽24如圖6所示，通過天線部件20發(fā)射的范圍A (粗點劃線)的讀取用電波和寫入用電波進行讀寫。IC標(biāo)簽25通過天線部件20發(fā)射的范圍B (粗雙點劃線)的讀取用電波和寫入用電波進行讀寫。并且設(shè)定相鄰R1/R3固定件18a之間的間隔和范圍A，以便對一個IC標(biāo)簽24進行讀寫時，對其他IC標(biāo)簽24不進行讀寫。同時，設(shè)定相鄰R2固定件19a之間的間隔和范圍B，以便對一個IC標(biāo)簽25進行讀寫時，對其他IC標(biāo)簽25不進行讀與。
[0083]控制裝置4的存儲部件4d如圖3所示，與IC標(biāo)簽24和25區(qū)分開，單獨存儲25個Rl試劑容器21、25個R2試劑容器23和25個R3試劑容器22各自的試劑信息。存儲部件4d還存儲25個Rl試劑容器21、25個R3試劑容器22和25個R2試劑容器23各自的初始位置和從R1/R3放置部件18及R2放置部件19各初始位置的旋轉(zhuǎn)角度，將其作為位置信息。如此，存儲部件4d中相互對應(yīng)地存儲著25個Rl試劑容器21、25個R3試劑容器22和25個R2試劑容器23的位置信息和試劑信息?？刂蒲b置4的存儲部件4d在密碼被解讀的狀態(tài)下存儲試劑信息。
[0084]免疫分析儀I接通電源(無圖示)后，便讀取放置在試劑放置部件16的所有試劑容器的IC標(biāo)簽(IC標(biāo)簽24和25)，獲取各試劑容器的位置信息和試劑信息。當(dāng)存儲部件4d中存有試劑信息時，控制裝置4的CPU4a將存儲部件4d中存儲的試劑信息更新為接通電源時從IC標(biāo)簽獲取的試劑信息。這樣，即使在免疫分析儀I切斷電源期間，Rl試劑容器21、R3試劑容器22和R2試劑容器23分別被更換為新的Rl試劑容器21、R3試劑容器22和R2試劑容器23，也可以將控制裝置4的存儲部件4d中的試劑信息更新為現(xiàn)在放置在試劑放置部件16的試劑的信息。
[0085]RFID模塊17如圖2所示，設(shè)于試劑放置部件16外部，如圖3所示，包括讀寫型基板17a、連接讀寫型基板17a和CPU2a的接口基板17b。
[0086]讀寫型基板17a與天線部件20連接，根據(jù)CPU2a的指示讓天線部件20發(fā)射約13.56MHz頻帶的讀取用電波和寫入用電波。讀寫型基板17a還從IC標(biāo)簽24和25為回應(yīng)讀取用電波而發(fā)射的、被天線部件20接收的應(yīng)答電波中獲取試劑信息，同時將試劑信息輸出到 CPU2a。
[0087]下面參照圖3和圖13就本發(fā)明一實施方式涉及的免疫分析儀I (測定裝置2)的測定運作進行說明。
[0088]首先當(dāng)測定裝置2接通電源后，測定裝置2的CPU2a在步驟SI進行程序初始化、測定裝置2各部件運行檢查等初始化處理。
[0089]然后，在步驟S2進行試劑信息讀取處理。關(guān)于此試劑信息讀取處理待后詳述。
[0090]在步驟S3，由CPU2a判斷是否有用戶的測定指示。此用戶下達的測定指示通過控制裝置4 (參照圖3)傳達到CPU2a。當(dāng)判斷沒有用戶的測定指示時，進入步驟S6。
[0091]在步驟S3如果判斷有用戶的測定指示，則在步驟S4由CPU2a進行試劑吸移和試劑信息寫入處理。關(guān)于此試劑吸移和試劑信息寫入處理待后詳述。
[0092]在步驟S5進行樣本測定。在步驟S6，由CPU2a判斷用戶是否下達了關(guān)機指示。如果判斷沒有關(guān)機指示，則返回步驟S3。如果判斷有關(guān)機指示，則在步驟S7由CPU2a實施測定裝置2的關(guān)機處理。至此，測定裝置2的測定運作結(jié)束。
[0093]下面參照圖6和圖14就圖13的步驟S2所示本發(fā)明一實施方式涉及的免疫分析儀I的試劑信息讀取處理進行詳細說明。
[0094]在步驟S201，R1/R3放置部件18 (R2放置部件19)由CPU2a向箭頭Cl (Dl)方向或箭頭C2 (D2)方向(參照圖6)旋轉(zhuǎn)，使讀取目標(biāo)的IC標(biāo)簽24 (IC標(biāo)簽25)位于正對天線部件20的箭頭Xl方向一側(cè)表面120a (箭頭X2方向一側(cè)表面320a)的位置(正面位置)。在步驟S202，讀取用電波在CPU2a和讀寫型基板17a的控制下，從天線部件20發(fā)射到讀取目標(biāo)的IC標(biāo)簽24 (IC標(biāo)簽25)。此時，有時候非讀取目標(biāo)的IC標(biāo)簽25 (IC標(biāo)簽24)會接收天線部件20發(fā)射的讀取用電波，并發(fā)射應(yīng)答電波。
[0095]此后，在步驟S203，CPU2a判斷天線部件20是否在一定時間內(nèi)收到IC標(biāo)簽24(IC標(biāo)簽25)發(fā)射的應(yīng)答電波。即，CPU2a判斷RFID模塊17的讀寫型基板17a根據(jù)從天線部件20收到的應(yīng)答電波而獲取的試劑信息是否在一定時間內(nèi)輸出到CPU2a。當(dāng)判斷天線部件20未在一定時間內(nèi)收到應(yīng)答電波時，判斷為讀取失敗，CPU2a在步驟S204向控制裝置4發(fā)送讀取錯誤信息。在控制裝置4的顯示器4b上顯示位于一定位置的試劑容器的試劑信息(讀取目標(biāo)的試劑容器的試劑信息)讀取失敗。然后進入步驟S207。
[0096]在步驟S203，若判斷天線部件20在一定時間內(nèi)收到應(yīng)答電波，則在步驟S205，CPU2a判斷天線部件20收到的應(yīng)答電波中所含試劑信息是否為讀取目標(biāo)的試劑信息。此時，CPU2a根據(jù)從應(yīng)答電波獲得的試劑種類(種類識別信息)，判斷是否為讀取目標(biāo)的試劑信息。當(dāng)判斷應(yīng)答電波中所含試劑信息不是讀取目標(biāo)的試劑信息時，進入上述步驟S204。如此可以防止來自非讀取目標(biāo)IC標(biāo)簽25( IC標(biāo)簽24)的試劑信息誤用作讀取目標(biāo)試劑信息。
[0097]當(dāng)判斷應(yīng)答電波中所含試劑信息是讀取目標(biāo)的試劑信息時，在步驟S206，應(yīng)答電波中所含讀取目標(biāo)的試劑信息由CPU2a傳送至控制裝置4。當(dāng)天線部件20接收數(shù)個應(yīng)答電波，而且數(shù)個應(yīng)答電波中有讀取目標(biāo)的試劑信息時，只向控制裝置4傳送讀取目標(biāo)的試劑信息。在控制裝置4，根據(jù)從CPU2a收到的讀取目標(biāo)的試劑信息更新存儲部件4d的試劑信息。然后進入步驟S207。
[0098]最后，在步驟S207，CPU2a判斷25個IC標(biāo)簽24和25個IC標(biāo)簽25是否已全部讀完。當(dāng)判斷尚未讀完時，返回步驟S201，讀取新的IC標(biāo)簽。當(dāng)判斷全部讀完時，試劑信息讀取處理結(jié)束，進入圖13所示步驟S3。
[0099]下面參照圖6和圖15，就圖13步驟S4所示本發(fā)明一實施方式涉及的免疫分析儀I的試劑吸移和試劑信息寫入處理進行詳細說明。
[0100]首先，在步驟S401，R1/R3放置部件18 (R2放置部件19)由CPU2a向箭頭Cl (Dl)方向或箭頭C2 (D2)方向(參照圖6)旋轉(zhuǎn)，使待吸移的試劑容器位于試劑吸移位。此時，試劑容器的蓋隨著R1/R3放置部件18 (R2放置部件19)的轉(zhuǎn)動而打開。
[0101]在步驟S402，吸移試劑。此后，在步驟S403，CPU2a向箭頭Cl (Dl)方向或箭頭C2(D2)方向轉(zhuǎn)動R1/R3放置部件18 (R2放置部件19)，使待寫入的IC標(biāo)簽24 (IC標(biāo)簽25)處于正對天線部件20的箭頭Xl方向一側(cè)表面120a (箭頭X2方向一側(cè)表面320a)的位置。此時，試劑容器的蓋隨著R1/R3放置部件18 (R2放置部件19)的轉(zhuǎn)動而關(guān)閉。
[0102]在步驟S404，CPU2a從天線部件20向待寫入的IC標(biāo)簽24 (IC標(biāo)簽25)發(fā)射讀取用電波。然后，在步驟S405，CPU2a判斷天線部件20是否在一定時間內(nèi)收到應(yīng)答電波。當(dāng)判斷天線部件20沒有在一定時間內(nèi)收到應(yīng)答電波時，在步驟S406，CPU2a向控制裝置4發(fā)送讀取錯誤信息，在控制裝置4的顯示器4b上顯示試劑信息未能寫入待寫入IC標(biāo)簽的信息。然后結(jié)束試劑吸移和試劑信息寫入處理，進入圖13所示步驟S5。
[0103]在步驟S405，若判斷天線部件20在一定時間內(nèi)收到應(yīng)答電波時，在步驟S407，CPU2a判斷天線部件20收到的應(yīng)答電波中所含試劑信息是否為待寫入IC標(biāo)簽中所存的試劑信息。此時，CPU2a根據(jù)從應(yīng)答電波獲得的試劑種類(種類識別信息)判斷是否為待寫入IC標(biāo)簽中所存試劑信息。當(dāng)判斷應(yīng)答電波中所含試劑信息不是待寫入IC標(biāo)簽中所存儲的試劑信息時，進入上述步驟S406。
[0104]當(dāng)判斷應(yīng)答電波中所含試劑信息是待寫入IC標(biāo)簽中所存試劑信息時，在步驟S408，包含試劑余量信息等在內(nèi)的寫入用電波由天線部件20發(fā)射到待寫入IC標(biāo)簽24 (IC標(biāo)簽25)。在步驟S409，與寫入IC標(biāo)簽的試劑信息相同的信息傳送至控制裝置4后，試劑吸移和試劑信息寫入處理完成，進入圖13所示步驟S5。在控制裝置4，根據(jù)CPU2a傳送的試劑信息，更新存儲部件4d的試劑信息。
[0105]在本實施方式，如上所述，用一個天線部件20進行配置在R1/R3放置部件18上的Rl試劑容器21的IC標(biāo)簽24的讀寫作業(yè)，同時進行R2放置部件19的R2試劑容器23的IC標(biāo)簽25的讀寫作業(yè)。如此不必對R1/R3放置部件18和R2放置部件19分別設(shè)置天線部件20，可以相應(yīng)控制零部件個數(shù)的增加。而且，通過將天線部件20配置在R1/R3放置部件18和R2放置部件19之間，只要確保R1/R3放置部件18和R2放置部件19之間的區(qū)域用來配置天線部件20即可，不需要為配置天線部件20而確保二個區(qū)域。如此可以相應(yīng)抑制免疫分析儀I主體體積增大。
[0106]在本實施方式，如上所述，將天線部件20夾在從平面看基本呈圓環(huán)狀的R1/R3放置部件18和基本呈圓環(huán)狀的R2放置部件19之間配置。這樣，Rl試劑容器21和天線部件20之間沒有R2試劑容器23，R2試劑容器23和天線部件20之間沒有Rl試劑容器21。如此，可以防止因R2試劑容器23位于Rl試劑容器21和天線部件20之間或Rl試劑容器21位于R2試劑容器23和天線部件20之間，妨礙IC標(biāo)簽24及25的試劑信息讀取。
[0107]在本實施方式，如上所述，Rl試劑容器21的IC標(biāo)簽24安裝在Rl試劑容器21的試劑收納部件21b箭頭X2方向一側(cè)的側(cè)面，使IC標(biāo)簽24位于天線基板20a的箭頭Xl方向一側(cè)表面120a的正面位置并與之相對(正對)，同時R2試劑容器23的IC標(biāo)簽25安裝在R2試劑容器23的試劑收納部件23b箭頭Xl方向一側(cè)的側(cè)面，使IC標(biāo)簽25位于天線基板20a的箭頭X2方向一側(cè)表面320a的正面位置并與之相對(正對)。如此可以使Rl試劑容器21的IC標(biāo)簽24和R2試劑容器23的IC標(biāo)簽25都位于面對天線部件20的位置，天線部件20可以輕易地讀取IC標(biāo)簽24和25。
[0108]在本實施方式，如上所述，CPU2a根據(jù)應(yīng)答電波中所含試劑種類(種類識別信息)判斷天線部件20收到的應(yīng)答電波中所含試劑信息是否為讀取目標(biāo)的試劑信息。以此可以進一步防止非讀取目標(biāo)的IC標(biāo)簽24或IC標(biāo)簽25發(fā)射的應(yīng)答電波被誤用作讀取目標(biāo)應(yīng)答電波。
[0109]在本實施方式，如上所述，設(shè)有讀寫型基板17a用于從IC標(biāo)簽24和25為應(yīng)答讀取用電波和寫入用電波而發(fā)射的、被天線部件20接收的應(yīng)答電波中獲取試劑信息。以此可以根據(jù)讀寫型基板17a獲取的IC標(biāo)簽24和25的試劑信息，分別管理Rl試劑容器21的試齊U、R3試劑容器22的試劑和R2試劑容器23的試劑。
[0110]在本實施方式，如上所述，當(dāng)判斷應(yīng)答電波中所含試劑信息是讀取對象的試劑信息時，從天線部件20向待寫入的IC標(biāo)簽24 ( IC標(biāo)簽25)發(fā)射含有要更新的試劑信息的寫入用電波。以此，CPU2a在向待寫入的IC標(biāo)簽24 ( IC標(biāo)簽25)寫入試劑信息前，可預(yù)先判斷是否能與待寫入的IC標(biāo)簽24 ( IC標(biāo)簽25)進行通信。這樣可以更切實地確保將試劑信息寫入待寫入IC標(biāo)簽24 ( IC標(biāo)簽25)。
[0111]在本實施方式，如上所述，當(dāng)讀取Rl試劑容器21的IC標(biāo)簽24的試劑信息時，Rl/R3放置部件18由內(nèi)側(cè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部件16d向箭頭Cl方向或箭頭C2方向驅(qū)動，使讀取目標(biāo)的IC標(biāo)簽24位于與天線部件20的箭頭Xl方向一側(cè)的表面120a相對的正面位置(正對位置)，當(dāng)讀取R2試劑容器23的IC標(biāo)簽25的試劑信息時，R2放置部件19由外側(cè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部件16e向箭頭Dl方向或箭頭D2方向驅(qū)動，使讀取目標(biāo)的IC標(biāo)簽25位于與天線部件20的箭頭X2方向一側(cè)的表面320a正對的位置。以此可以使讀取目標(biāo)的IC標(biāo)簽24和25分別位于與天線基板20a的箭頭Xl方向一側(cè)表面120a相對的位置和與箭頭X2方向一側(cè)表面320a相對的位置，從而可以更方便地用天線部件20讀取讀取目標(biāo)的IC標(biāo)簽24和25。
[0112]在本實施方式，如上所述，基本呈圓環(huán)形的R1/R3放置部件18上等角度(約14.4度)間隔地配置有25支Rl試劑容器21，位于R1/R3放置部件18外側(cè)、基本呈圓環(huán)形的R2放置部件19上等角度(約14.4度)間隔地配置有25支R2試劑容器23。而且，僅在天線部件20的箭頭Xl方向一側(cè)配置了金屬板20c，天線部件20的箭頭X2方向一側(cè)沒有配置金屬板。如此，在R2放置部件19內(nèi)側(cè)的基本呈圓環(huán)形的R1/R3放置部件18的外環(huán)周長比R2放置部件19的內(nèi)環(huán)周長小，所以在復(fù)數(shù)個Rl試劑容器21比復(fù)數(shù)個R2試劑容器23配置更緊湊的狀態(tài)下，將金屬板20c配置于天線部件20的箭頭Xl方向一側(cè)，當(dāng)讀取緊湊配置的IC標(biāo)簽24時，可以將天線部件20的讀取范圍限制在只有讀取目標(biāo)IC標(biāo)簽24的范圍，從而可以方便地避免天線部件20誤讀取非讀取目標(biāo)IC標(biāo)簽24。另一方面，在相鄰R2試劑容器23之間的間隙比較寬的R2放置部件19中，沒有在天線部件20的箭頭X2方向一側(cè)配置金屬板，以此可以方便地擴大天線部件20的可讀取范圍，從而進一步防止從R2試劑容器23上的IC標(biāo)簽25讀取試劑信息失敗。
[0113]此次公開的實施方式應(yīng)該認為在所有方面均為例示，絕無限制性。本發(fā)明的范圍不受上述實施方式的說明所限，僅由權(quán)利要求書的范圍所示，而且包括與權(quán)利要求書同等范圍或意義內(nèi)的所有變形。
[0114]上述實施方式列舉了本發(fā)明的樣本分析儀應(yīng)用于免疫分析儀I的例子，但本發(fā)明不限于此。只要是具備用于讀取電子標(biāo)簽的試劑信息的天線部件的裝置，本發(fā)明均可適用，除免疫分析儀外，也可適用于凝血分析儀、尿樣測定儀和基因擴增檢測儀等。
[0115]在上述實施方式，R1/R3放置部件18和R2放置部件19基本呈圓環(huán)形，但本發(fā)明不限于此。也可以使R1/R3放置部件和R2放置部件并列設(shè)置，并向一定方向直線延伸。
[0116]在上述實施方式，由內(nèi)側(cè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部件16d和外側(cè)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部件16e分別轉(zhuǎn)動Rl/R3放置部件18和R2放置部件19，但本發(fā)明不限于此。本發(fā)明也可以不讓R1/R3放置部件和R2放置部件轉(zhuǎn)動，而設(shè)置轉(zhuǎn)動天線部件的驅(qū)動部件來使天線部件轉(zhuǎn)動。
[0117]在上述實施方式，將天線基板20a設(shè)計為可以發(fā)射讀取用電波和寫入用電波，但本發(fā)明不限于此。本發(fā)明也可以設(shè)計成天線部件只能發(fā)射讀取用電波。
[0118]在上述實施方式，例示了金屬板20c配置在天線部件20的箭頭Xl方向一側(cè)，但本發(fā)明不限于此。本發(fā)明也可以將金屬板配置于天線部件的箭頭X2方向一側(cè)。也可以天線部件上不設(shè)置金屬板。
[0119]在上述實施方式，當(dāng)讀取目標(biāo)IC標(biāo)簽24 (IC標(biāo)簽25)位于正對天線部件20的箭頭Xl方向一側(cè)表面120a (箭頭X2方向一側(cè)表面320a)的位置時，對非讀取目標(biāo)IC標(biāo)簽25 (IC標(biāo)簽24)的位置沒有進行控制，但本發(fā)明不限于此。也可以當(dāng)讀取目標(biāo)Rl試劑容器(R2試劑容器)的IC標(biāo)簽位于正對天線部件正面的位置時，移動非讀取目標(biāo)R2試劑容器(Rl試劑容器)，將其移動到無法讀取非讀取目標(biāo)R2試劑容器(Rl試劑容器)的IC標(biāo)簽的位置。這樣，可以更加切實地確保只讀取讀取目標(biāo)IC標(biāo)簽。還可以在讀取目標(biāo)Rl試劑容器的IC標(biāo)簽和讀取目標(biāo)R2試劑容器的IC標(biāo)簽分別位于正對天線部件一側(cè)表面和另一側(cè)表面的位置的狀態(tài)下，同時讀取讀取目標(biāo)Rl試劑容器的IC標(biāo)簽和讀取目標(biāo)R2試劑容器的IC標(biāo)簽。如此可以在更短時間內(nèi)讀取數(shù)個IC標(biāo)簽。
[0120]在上述實施方式，將IC標(biāo)簽24安裝在Rl試劑容器21的試劑收納部件21b箭頭X2方向一側(cè)的側(cè)面，使其在天線基板20a的箭頭Xl方向一側(cè)表面120a的正面位置與天線部件相對。將IC標(biāo)簽25安裝在R2試劑容器23的試劑收納部件23b箭頭Xl方向一側(cè)的側(cè)面，使其在天線基板20a的箭頭X2方向一側(cè)表面320a的正面位置與天線部件相對。但本發(fā)明不限于此。在本發(fā)明中，只要天線部件可以讀取IC標(biāo)簽即可，也可以將IC標(biāo)簽安裝在不正對試劑收納部件的天線部件的側(cè)面。
[0121 ] 在上述實施方式，試劑吸移作業(yè)后，進行向IC標(biāo)簽24和25的寫入處理，但本發(fā)明不限于此。本發(fā)明也可以在試劑吸移作業(yè)前進行向IC標(biāo)簽的寫入處理。
[0122]在上述實施方式的例示中，設(shè)置了 25個Rl試劑容器21、25個R3試劑容器22和25個R2試劑容器23，但本發(fā)明不限于此。本發(fā)明也可以設(shè)置不同個數(shù)的Rl試劑容器、R3試劑容器和R2試劑容器。Rl試劑容器(R3試劑容器和R2試劑容器)的個數(shù)也可以是25個以外的其他個數(shù)。比如也可以Rl試劑容器、R3試劑容器和R2試劑容器僅各設(shè)置一個。
[0123]在上述實施方式，金屬板20c只配置在天線部件20的箭頭Xl方向一側(cè)，天線部件20的箭頭X2方向一側(cè)沒有配置金屬板，以此使從Rl試劑容器的IC標(biāo)簽讀取試劑信息時和從R2試劑容器的IC標(biāo)簽讀取試劑信息時天線部件的讀取范圍各不相同，但本發(fā)明不限于此。本發(fā)明也可以在天線部件的箭頭Xl方向一側(cè)和箭頭X2方向一側(cè)都配置金屬板，讓箭頭Xl方向一側(cè)的金屬板缺口寬度小于箭頭X2方向一側(cè)的金屬板缺口寬度，以此使天線部件讀取范圍不同。另外，也可以當(dāng)從R2試劑容器23的IC標(biāo)簽25讀取試劑信息時，CPU2a通過讀寫型基板17a控制天線基板20a，發(fā)射讀取范圍(到達范圍)較大的電波(第一到達范圍電波)，當(dāng)從Rl試劑容器21的IC標(biāo)簽24讀取試劑信息時，CPU2a通過讀寫型基板17a控制天線基板20a，發(fā)射讀取范圍(到達范圍)較小的電波(比第一到達范圍小的第二到達范圍電波)。采取這種結(jié)構(gòu)，可以通過CPU2a很容易地使讀取IC標(biāo)簽24時的可讀取范圍小于讀取IC標(biāo)簽25時的可讀取范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種用試劑容器內(nèi)的試劑分析樣本的樣本分析儀，包括: 第一試劑容器固定部件，用于固定第一試劑容器，所述第一試劑容器的側(cè)面有記錄著試劑的相關(guān)試劑信息的第一電子標(biāo)簽； 第二試劑容器固定部件，用于固定第二試劑容器，所述第二試劑容器的側(cè)面有記錄著試劑的相關(guān)試劑信息的第二電子標(biāo)簽； 天線部件，配置在所述第一試劑容器固定部件所固定的所述第一試劑容器的側(cè)面和所述第二試劑容器固定部件所固定的所述第二試劑容器的側(cè)面之間所對應(yīng)的區(qū)域，分別從所述第一電子標(biāo)簽和所述第二電子標(biāo)簽接收電波；及 試劑信息獲取部件，根據(jù)所述天線部件接收的電波，獲取記錄在所述第一電子標(biāo)簽的試劑信息和記錄在所述第二電子標(biāo)簽的試劑信息； 其中所述第一試劑容器固定部件固定數(shù)個所述第一試劑容器并沿一定方向呈直線狀延伸； 所述第二試劑容器固定部件固定數(shù)個所述第二試劑容器，與所述第一試劑容器固定部件并列排列并沿所述一定方向延伸； 所述天線部件配置在所述第一試劑容器固定部件和所述第二試劑容器固定部件之間。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的樣本分析儀，其特征在于: 所述第一試劑容器的第一電子標(biāo)簽，配置在所述第一試劑容器與所述天線部件相對的側(cè)面； 所述第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽，配置在所述第二試劑容器與所述天線部件相對的側(cè)面。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的樣本分析儀，還包括:判斷所述天線部件是否從所要讀取的目標(biāo)電子標(biāo)簽收到電波的控制部件。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的樣本分析儀，其特征在于: 記錄在所述目標(biāo)電子標(biāo)簽的試劑信息包含識別試劑種類的種類識別信息；及所述控制部件根據(jù)所述試劑信息獲取部件獲取的試劑信息中所含所述種類識別信息，判斷所述天線部件是否從所述目標(biāo)電子標(biāo)簽收到電波。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的樣本分析儀，其特征在于: 所述天線部件能夠分別向所述第一試劑容器的第一電子標(biāo)簽和所述第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽發(fā)送寫入用電波，以此將試劑信息寫入所述第一電子標(biāo)簽和所述第二電子標(biāo)簽；及 所述樣本分析儀還有控制部件，在所述天線部件向待寫入試劑信息的電子標(biāo)簽發(fā)送寫入用電波前，判斷所述天線部件是否能與所述待寫入電子標(biāo)簽通信。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的樣本分析儀，其特征在于: 所述天線部件包含平板狀天線基板，所述平板狀天線基板一側(cè)表面和另一側(cè)表面分別位于所述第一試劑容器一側(cè)和所述第二試劑容器一側(cè)；及所述樣本分析儀包含以下部件: 移動所述第一試劑容器固定部件和所述第二試劑容器固定部件以及所述天線部件中的至少其中之一的驅(qū)動部件；及 控制部件，當(dāng)讀取目標(biāo)是所述第一試劑容器的第一電子標(biāo)簽時，控制所述驅(qū)動部件，使所述讀取目標(biāo)的第一電子標(biāo)簽移動到正對所述天線基板一側(cè)表面的位置，而當(dāng)讀取目標(biāo)是所述第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽時，控制所述驅(qū)動部件，使所述讀取目標(biāo)的第二電子標(biāo)簽移動到正對所述天線基板另一側(cè)表面的位置。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的樣本分析儀，其特征在于: 讀取所述第二試劑容器固定部件的第二試劑容器上的第二電子標(biāo)簽時所述天線部件的可讀取范圍小于讀取所述第一試劑容器固定部件的第一試劑容器上的第一電子標(biāo)簽時所述天線部件的可讀取范圍。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的樣本分析儀，還包括: 讀取限制件，至少設(shè)置在所述第二試劑容器固定部件的第二試劑容器上的第二電子標(biāo)簽與所述天線部件之間，限制所述天線部件的可讀取范圍。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的樣本分析儀，其特征在于: 在所述第一試劑容器固定部件的第一試劑容器上的第一電子標(biāo)簽和所述天線部件之間沒有設(shè)置限制所述天線部件可讀取范圍的所述讀取限制件。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的樣本分析儀，其特征在于: 所述天線部件向所述第一試劑容器的第一電子標(biāo)簽和所述第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽分別發(fā)射電波，并分別接收所述第一和第二電子標(biāo)簽回應(yīng)所述電波所發(fā)射的電波； 所述樣本分析儀還有一控制部件控制所述天線部件，當(dāng)從所述第一試劑容器固定部件的第一試劑容器上的第一電子標(biāo)簽讀取試劑信息時，向所述第一電子標(biāo)簽發(fā)射第一到達范圍的電波；當(dāng)從所述第二試劑容器固定部件的第二試劑容器上的第二電子標(biāo)簽讀取試劑信息時，向所述第二電子標(biāo)簽發(fā)射比所述第一到達范圍小的第二到達范圍的電波。
11.根據(jù)權(quán)利要求7至10其中任意一項所述的樣本分析儀，其特征在于: 所述第一試劑容器固定部件等間隔地固定一定數(shù)量的所述第一試劑容器；及 所述第二試劑容器固定部件等間隔地固定所述一定數(shù)量的所述第二試劑容器。
12.根據(jù)權(quán)利要求7至10其中任意一項所述的樣本分析儀，其特征在于: 所述天線部件固定在所述第一試劑容器固定部件和所述第二試劑容器固定部件之間的一定位置 '及 所述樣本分析儀包括以下部件: 向圓周方向旋轉(zhuǎn)驅(qū)動所述第一試劑容器固定部件和所述第二試劑容器固定部件的驅(qū)動部件；及 控制部件，控制所述驅(qū)動部件，當(dāng)讀取目標(biāo)是所述第一試劑容器的第一電子標(biāo)簽時，使所述讀取目標(biāo)的第一電子標(biāo)簽移動到面對所述天線部件的位置，而當(dāng)讀取目標(biāo)是所述第二試劑容器的第二電子標(biāo)簽時，使所述讀取目標(biāo)的第二電子標(biāo)簽移動到面對所述天線部件的位置。
13.—種獲取試劑容器內(nèi)試劑的相關(guān)試劑信息的試劑信息獲取方法,包括: 準(zhǔn)備包含以下部件的儀器:固定側(cè)面貼有記錄試劑信息的第一電子標(biāo)簽的第一試劑容器用的第一試劑容器固定部件、固定側(cè)面貼有記錄試劑信息的第二電子標(biāo)簽的第二試劑容器用的第二試劑容器固定部件、配置在所述第一試劑容器固定部件和所述第二試劑容器固定部件之間的天線；其中所述第一試劑容器固定部件固定數(shù)個第一試劑容器并沿一定方向呈直線狀延伸；所述第二試劑容器固定部件固定數(shù)個第二試劑容器，與所述第一試劑容器固定部件并列排列并沿所述一定方向延伸；所述天線部件配置在所述第一試劑容器固定部件和所述第二試劑容器固定部件之間； 當(dāng)試劑信息讀取目標(biāo)是所述第一試劑容器上的第一電子標(biāo)簽時，移動所述第一試劑容器固定部件，使所述第一試劑容器上的第一電子標(biāo)簽面對所述天線； 當(dāng)試劑信息讀取目標(biāo)是所述第二試劑容器上的第二電子標(biāo)簽時，移動所述第二試劑容器固定部件，使所述第二試劑容器上的第二電子標(biāo)簽面對所述天線； 通過所述天線從讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽接收電波；及 根據(jù)所述天線接收的電波，獲取所述讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽中記錄的試劑信息。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，還包括:判斷所述天線是否從所述讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽收到電波。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的方法，其特征在于: 所述第一電子標(biāo)簽和所述第二電子標(biāo)簽分別記錄的試劑信息包含識別試劑種類的種類識別信息 '及 在判斷所述天線是否從所述讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽收到電波的步驟中，根據(jù)獲取的試劑信息中的種類識別信息，判斷所述天線是否從所述讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽收到電波。
16.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，還包括: 判斷待寫入試劑信息的電子標(biāo)簽與所述天線能否通信；及 當(dāng)所述待寫入的電子標(biāo)簽?zāi)軌蚺c所述天線通信時，向所述待寫入電子標(biāo)簽發(fā)射寫入用電波，寫入試劑信息。
17.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，還包括: 在所述第二試劑容器固定部件的第二試劑容器上的第二電子標(biāo)簽和所述天線之間設(shè)置讀取限制件，以此限制在讀取所述第二試劑容器固定部件的第二試劑容器上的第二電子標(biāo)簽時所述天線的可讀取范圍。
18.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，還包括: 當(dāng)所述讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽為所述第一試劑容器固定部件的第一試劑容器上的第一電子標(biāo)簽時，所述天線向所述第一電子標(biāo)簽發(fā)射第一到達范圍的電波； 當(dāng)所述讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽為所述第二試劑容器固定部件的第二試劑容器上的第二電子標(biāo)簽時，所述天線向所述第二電子標(biāo)簽發(fā)射比所述第一到達范圍小的第二到達范圍的電波；及 所述天線接收所述讀取目標(biāo)電子標(biāo)簽為回應(yīng)所述第一到達范圍或所述第二到達范圍的電波而發(fā)射的電波。
【文檔編號】H01Q1/22GK104198744SQ201410431722
【公開日】2014年12月10日 申請日期:2011年3月18日 優(yōu)先權(quán)日:2010年3月25日
【發(fā)明者】德永一敏 申請人:希森美康株式會社
相關(guān)技術(shù)
網(wǎng)友詢問留言
已有0條留言
- 還沒有人留言評論。精彩留言會獲得點贊！
1