1.一種包括至少一行光敏電阻器(45)的電磁輻射檢測裝置(30；47；70；80；90)，每個光敏電阻器包括包含了有機半導(dǎo)體材料的有源部分。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測裝置，包括以行和以列分布的光敏電阻器(45)的陣列。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的檢測裝置，其中，每個有源部分(45)被連接到第一導(dǎo)電電極(38)并且被連接到第二導(dǎo)電電極(42)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的檢測裝置，其中，所述第一導(dǎo)電電極(38)的功函數(shù)在5％的誤差內(nèi)等于所述第二導(dǎo)電電極(42)的功函數(shù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項所述的檢測裝置，包括單片層(40)，所述單片層(40)包含所述有源部分并在對應(yīng)于所述第一電極的第一導(dǎo)電軌道(38)和對應(yīng)于所述第二電極的第二導(dǎo)電軌道(42)之間延伸。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任一項所述的檢測裝置，還包括顯示像素(74)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任一項所述的檢測裝置，還包括所述電磁輻射的發(fā)射器(82；100)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的檢測裝置，還包括波導(dǎo)(92)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的檢測裝置，其中所述波導(dǎo)(92)包括旨在與至少一個物體接觸的至少一個表面(94)，所述光敏電阻器(45)被沿著所述表面的邊緣(98)分布。
10.一種檢測系統(tǒng)(50)，包括權(quán)利要求1至9中任一項所述的檢測裝置(30)、用于選擇所述光敏電阻器(45)之一的電路(56、62)以及用于測量流經(jīng)所選光敏電阻器的電流或表示跨所選光敏電阻器兩端的電壓的電壓的電路(64)。
11.一種控制權(quán)利要求1至9中任一項所述的電磁輻射檢測裝置(30；47；70；80；90)的方法，包括從所述至少一行中選擇光敏電阻器(45)，并確定表示所述光敏電阻器的電阻的信號。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的控制方法，其中所述檢測裝置包括以行和以列分布的光敏電阻器(45)的陣列、第一導(dǎo)電軌道(38)和第二導(dǎo)電軌道(42)，每個第一導(dǎo)電軌道被連接到同一行的光敏電阻器，并且每個第二導(dǎo)電軌道被連接到同一列的光敏電阻器，并且其中所述選擇步驟包括以下步驟：
將與要被選擇的光敏電阻器相連的第一導(dǎo)電軌道連接到第一電位(VDD)的源極；
將其他第一導(dǎo)電軌道連接到不同于所述第一電位的第二電位(GND)的源極；
將與要被選擇的光敏電阻器相連的第二導(dǎo)電軌道連接到所述第二電位的源極；并且
將其他第二導(dǎo)電軌道連接到所述第一電位的源極。