本發(fā)明涉及LED技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種紫外LED外延結(jié)構(gòu)及其制造方法。
背景技術(shù):
發(fā)光二極管(Light-Emitting Diode,LED)被廣泛的應(yīng)用于顯示器、電視機(jī)采光裝飾和照明。
隨著技術(shù)的發(fā)展,紫外發(fā)光二極管(UV LED)在生物醫(yī)療、防偽鑒定、凈化( 水、空氣等)領(lǐng)域、計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)存儲和軍事等方面有著廣闊的市場應(yīng)用前景。除此之外,紫外LED也越來越受到照明市場的關(guān)注。因?yàn)橥ㄟ^紫外LED激發(fā)三基色熒光粉,可獲得普通照明的白光。
然而,鋁氮化鎵(AlInGaN)基紫外LED外延生長于藍(lán)寶石襯底, 發(fā)光阱承受張應(yīng)力,導(dǎo)致輕孔穴帶能量較重孔穴帶高,使得輻射復(fù)合時光的極化呈現(xiàn)橫磁(TM)模態(tài),光的傳播傾向于平面?zhèn)鞑?,光在平面?nèi)經(jīng)多次反射后被吸收損耗,進(jìn)而影響光的輸出。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明的目的在于提供一種AlInGaN基紫外LED外延結(jié)構(gòu)及其制造方法,以解決紫外LED因光在平面?zhèn)鞑r被損耗而造成出光效率低的問題。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明實(shí)施例提供的技術(shù)方案如下:
一種AlInGaN基紫外LED外延結(jié)構(gòu),所述LED外延結(jié)構(gòu)依次包括:
襯底;
高溫u-AlGaN層;
位于所述高溫u-AlGaN層上的高溫n-AlGaN層;
位于所述高溫n-AlGaN層上的n-AlGaN粗化層;
位于所述n-AlGaN粗化層上的低溫AlInGaN/AlGaN超晶格層,所述低溫AlInGaN/AlGaN超晶格層包括層疊設(shè)置的低溫AlInGaN層和低溫AlGaN層;
位于所述低溫AlInGaN/AlGaN超晶格層上的高溫p-AlGaN電子阻擋層;
位于所述高溫p-AlGaN電子阻擋層上的高溫p-AlGaN披覆層;
位于所述高溫p-AlGaN披覆層上的高溫p-GaN接觸層;
其中,所述襯底與高溫u-AlGaN層之間設(shè)置SiO2圖形化掩模和緩沖層。
作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),所述SiO2圖形化掩模為正三角形陣列排布,相鄰所述正三角形之間設(shè)置間隔。
作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),所述正三角形邊長1~5μm。
作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),相鄰的所述正三角形之間間隔0.1~0.5μm。
作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),所述緩沖層位于所述相鄰正三角形之間的間隔處。
作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),所述SiO2圖形化掩模制備于所述緩沖層上。
作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),所述緩沖層為AlGaN或AlN緩沖層。
作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn),所述AlInGaN/AlGaN超晶格層包括3~15個周期層疊設(shè)置的低溫AlInGaN層和低溫AlGaN層。
相應(yīng)地,一種AlInGaN基紫外LED外延結(jié)構(gòu)的制造方法,所述方法包括以下步驟:
S1、將預(yù)作SiO2圖形的襯底放置在MOCVD反應(yīng)室中的載盤上,并在1080~1100℃下對襯底進(jìn)行高溫處理5~10分鐘;
S2、在500~550℃、200~500Torr條件下,外延生長10~30nm的緩沖層;
S3、在1080~1200℃、50~200Torr條件下,生長2~4μm的高溫u-AlGaN層;
S4、在1080~1150℃、100~200Torr條件下,生長1~2μm的高溫n-AlGaN層,摻雜濃度為5E18~1E19;
S5、在900~1050℃、300~600Torr條件下,生長0.5~1μm的n-AlGaN粗化層, 摻雜濃度為5E18~1E19;
S6、在950~1100℃、200~300Torr條件下,依次生長1~50nm的低溫AlInGaN層和AlGaN層,重復(fù)3~15個周期,形成低溫AlInGaN/AlGaN超晶格層;
S7、在950~1100℃、100~400Torr條件下,生長30~100nm的高溫p-AlGaN電子阻擋層;
S8、在950~1100℃、100~400Torr條件下,生長20~80nm的高溫p-AlGaN披覆層;
S9、在800~1000℃、100~400Torr條件下,生長5~20nm的高溫p-GaN接觸層。
相應(yīng)地,又一種AlInGaN基紫外LED外延結(jié)構(gòu)的制造方法,所述方法包括以下步驟:
S1’、于襯底上爐外制備緩沖層;
S2’、于緩沖層上鍍覆SiO2并制作圖形,以氫氟酸、BOE或等離子體將圖形間隔區(qū)域的SiO2刻蝕去除;
S3’、在1080~1200℃、50~200Torr條件下,生長2~4μm的高溫u-AlGaN層;
S4’、在1080~1150℃、100~200Torr條件下,生長1~2μm的高溫n-AlGaN層,摻雜濃度為5E18~1E19;
S5’、在900~1050℃、300~600Torr條件下,生長0.5~1μm的n-AlGaN粗化層, 摻雜濃度為5E18~1E19;
S6’、在950~1100℃、200~300Torr條件下,依次生長1~50nm的低溫AlInGaN層和AlGaN層,重復(fù)3~15個周期,形成低溫AlInGaN/AlGaN超晶格層;
S7’、在950~1100℃、100~400Torr條件下,生長30~100nm的高溫p-AlGaN電子阻擋層;
S8’、在950~1100℃、100~400Torr條件下,生長20~80nm的高溫p-AlGaN披覆層;
S9’、在800~1000℃、100~400Torr條件下,生長5~20nm的高溫p-GaN接觸層。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明采用n型AlGaN粗化層,后續(xù)外延層延續(xù)此粗化表面生長,從而打斷連續(xù)的二維平面生長,使發(fā)光區(qū)所產(chǎn)生的光得以從側(cè)面輸出,避免光于平面內(nèi)多次反射最終被吸收損耗。
附圖說明
為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明中記載的一些實(shí)施例,對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
圖1為本發(fā)明中AlInGaN基紫外LED外延結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2為本發(fā)明中襯底層的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3為圖2中SiO2圖形的局部放大示意圖。
具體實(shí)施方式
為了使本技術(shù)領(lǐng)域的人員更好地理解本發(fā)明中的技術(shù)方案,下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖,對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例?;诒景l(fā)明中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都應(yīng)當(dāng)屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
參圖1所示,本發(fā)明公開了一種AlInGaN基紫外LED外延結(jié)構(gòu),從下向上依次包括:襯底10、緩沖層20、高溫u-AlGaN層30、高溫n-AlGaN層40、n-AlGaN粗化層50、低溫AlInGaN/AlGaN超晶格層60、高溫p-AlGaN電子阻擋層70、高溫p-AlGaN披覆層80及高溫p-GaN層90。
本發(fā)明的外延結(jié)構(gòu)采用n-AlGaN粗化層50,后續(xù)外延層延續(xù)此粗化表面生長,最終表面呈現(xiàn)不平整的狀態(tài),形成粗化V型開口100,為低溫AlInGaN/AlGaN紫外發(fā)光層60限定一側(cè)面出光通道。如圖1箭頭所示,低溫AlInGaN/AlGaN超晶格層60產(chǎn)生的光線至少部分從粗化V型開口100輸出,提高了出光效率。
應(yīng)當(dāng)理解的是,本發(fā)明中各外延層所定義的“高溫”或“低溫”分別對應(yīng)不同外延層生長工藝中的不同溫度,不同外延層中的“高溫”或“低溫”對應(yīng)的范圍不同。
具體地,以下對LED外延結(jié)構(gòu)的各外延層進(jìn)行具體說明。
襯底10,優(yōu)選地,該襯底為圖形化藍(lán)寶石襯底,當(dāng)然,襯底也可以為平片藍(lán)寶石襯底、或其他材料的平片或圖形化襯底。襯底10可預(yù)作SiO2圖形,參考圖2及圖3,SiO2圖形包含密集排布的正三角形陣列,相鄰正三角形之間設(shè)置間隔。其中,正三角形邊長1~5μm,間隔0.1~0.5μm。SiO2圖形間隔處為襯底裸露區(qū)域,以SiO2為掩模,后續(xù)外延層于此襯底裸露區(qū)域外延生長。
緩沖層20,為低溫AlGaN層或AlN層等。進(jìn)一步地,緩沖層可以在MOCVD原位生長,也可以預(yù)先使用物理沉積方式如濺射進(jìn)行預(yù)生長。其中,若使用預(yù)生長AlN工藝,可先對襯底10進(jìn)行AlN生長以制備緩沖層20,再進(jìn)行SiO2 圖形制備,使AlN緩沖層20局部裸露。
高溫u-AlGaN層30(1080~1200℃、50~200Torr條件下生長),該層厚度為2~4μm。
高溫n-AlGaN層40(1080~1150℃、100~200Torr條件下生長),該層厚度為1~2μm,摻雜濃度為5E18~1E19。
n-AlGaN粗化層50(900~1050℃、300~600Torr條件下生長),該層厚度為0.5~1μm,摻雜濃度為5E18~1E19。
低溫AlInGaN/AlGaN超晶格層60(950~1100℃、200~300Torr條件下生長),低溫AlInGaN/AlGaN超晶格層包括層疊設(shè)置的1~50nm的低溫AlInGaN層和低溫AlGaN層,如此形成發(fā)光層。
高溫p-AlGaN電子阻擋層70(950~1100℃、100~400Torr條件下生長),該層厚度為30~100nm。
高溫p-AlGaN披覆層80(950~1100℃、100~400Torr條件下生長),該層厚度為20~80nm。
高溫p-GaN接觸層90(800~1000℃、100~400Torr條件下生長),該層厚度為5~20nm。
相應(yīng)地,一種AlInGaN基紫外LED外延結(jié)構(gòu)的制造方法,具體包括以下步驟:
S1、將預(yù)作SiO2圖形的襯底放置在MOCVD反應(yīng)室中的載盤上,并在1080~1100℃下對襯底進(jìn)行高溫處理5~10分鐘;
S2、在500~550℃、200~500Torr條件下,外延生長10~30nm的緩沖層;
S3、在1080~1200℃、50~200Torr條件下,生長2~4μm的高溫u-AlGaN層;
S4、在1080~1150℃、100~200Torr條件下,生長1~2μm的高溫n-AlGaN層,摻雜濃度為5E18~1E19;
S5、在900~1050℃、300~600Torr條件下,生長0.5~1μm的n-AlGaN粗化層, 摻雜濃度為5E18~1E19;
S6、在950~1100℃、200~300Torr條件下,依次生長1~50nm的低溫AlInGaN層和AlGaN層,重復(fù)3~15個周期,形成低溫AlInGaN/AlGaN量子阱超晶格層;
S7、在950~1100℃、100~400Torr條件下,生長30~100nm的高溫p-AlGaN電子阻擋層;
S8、在950~1100℃、100~400Torr條件下,生長20~80nm的高溫p-AlGaN披覆層;
S9、在800~1000℃、100~400Torr條件下,生長5~20nm的高溫p-GaN接觸層。
相應(yīng)地,又一種AlInGaN基紫外LED外延結(jié)構(gòu)的制造方法,具體包括以下步驟:
S1’、于襯底上爐外制備緩沖層;
S2’、于緩沖層上鍍覆SiO2并制作圖形,以氫氟酸、BOE或等離子體將圖形間隔區(qū)域的SiO2刻蝕去除;
其余步驟同前述S3~S9。
以下結(jié)合具體實(shí)施例對本發(fā)明作進(jìn)一步說明。
實(shí)施例一:
本實(shí)施例中的AlInGaN基紫外LED外延結(jié)構(gòu)從下向上依次包括:
襯底,該襯底為圖形化藍(lán)寶石襯底或平片藍(lán)寶石襯底。
SiO2掩模,呈正三角形陣列排布,邊長1~5μm,正三角形間間隔0.1~0.5μm。
緩沖層(540℃、300Torr條件下生長),緩沖層為低溫AlGaN層,該層厚度為30nm。
高溫u-AlGaN層(1120℃、50Torr條件下生長),該層厚度為3μm。
高溫n-AlGaN層(1100℃、50Torr條件下生長),該層厚度為1.5μm,摻雜濃度為8E18。
n-AlGaN粗化層(900℃、500Torr條件下生長),該層厚度為0.7μm。
低溫AlInGaN/AlGaN紫外發(fā)光層(980℃、100Torr條件下生長)。
高溫p-AlGaN電子阻擋層(950℃、100Torr條件下生長),該層厚度為30nm。
高溫p-AlGaN披覆層(980℃、100Torr條件下生長),該層厚度為40nm。
高溫p-GaN層(880℃、100Torr條件下生長),該層厚度為8nm。
相應(yīng)地,本實(shí)施例AlInGaN基紫外LED外延結(jié)構(gòu)的制造方法,具體包括以下步驟:
S1、將預(yù)作SiO2圖形的藍(lán)寶石襯底放置在MOCVD反應(yīng)室中的載盤上,并在1080~1100℃下對襯底進(jìn)行高溫處理5~10分鐘;
S2、在540℃、300Torr條件下,外延生長30nm的低溫AlGaN緩沖層;
S3、在1120℃、50Torr條件下,生長3μm的高溫u-AlGaN層;
S4、在1100℃、50Torr條件下,生長1.5μm的高溫n-AlGaN層,摻雜濃度為8E18;
S5、在900℃、500Torr條件下,生長0.7μm的n-AlGaN粗化層,摻雜濃度為8E18;
S6、在980℃、100Torr條件下,依次生長50nm的低溫AlInGaN層和AlGaN層,重復(fù)10個周期,形成低溫AlInGaN/AlGaN量子阱超晶格層;
S7、在950℃、100Torr條件下,生長30nm的高溫p-AlGaN電子阻擋層;
S8、在980℃、100Torr條件下,生長40nm的高溫p-AlGaN披覆層;
S9、在880℃、100Torr條件下,生長8nm的高溫p-GaN接觸層。
實(shí)施例二:
本實(shí)施例中的AlInGaN基紫外LED外延結(jié)構(gòu)從下向上依次包括:
襯底,該襯底為圖形化藍(lán)寶石襯底或平片藍(lán)寶石襯底。
緩沖層,使用濺射方法預(yù)生長于襯底層上,為AlN層,該層厚度為20nm。
SiO2掩模,呈正三角形陣列排布,邊長1~5μm,正三角形間間隔0.1~0.5μm。
高溫u-AlGaN層(1120℃、50Torr條件下生長),該層厚度為3μm。
高溫n-AlGaN層(1100℃、50Torr條件下生長),該層厚度為1.5μm,摻雜濃度為8E18。
n-AlGaN粗化層(900℃、500Torr條件下生長),該層厚度為0.7μm。
低溫AlInGaN/AlGaN紫外發(fā)光層(980℃、100Torr條件下生長)。
高溫p-AlGaN電子阻擋層(950℃、100Torr條件下生長),該層厚度為30nm。
高溫p-AlGaN披覆層(980℃、100Torr條件下生長),該層厚度為40nm。
高溫p-GaN層(880℃、100Torr條件下生長),該層厚度為8nm。
相應(yīng)地,本實(shí)施例AlInGaN基紫外LED外延結(jié)構(gòu)的制造方法,具體包括以下步驟:
S1’、于藍(lán)寶石襯底上使用濺射機(jī)臺制備20nm AlN緩沖層;
S2’、于AlN緩沖層上鍍覆SiO2,在SiO2上制作邊長為2μm的正三角形圖形,正三角形間距為0.5μm,并以氫氟酸、BOE或等離子體將該區(qū)域SiO2刻蝕去除,清理AlN緩沖層上的氧化物;
S3’、在1120℃、50Torr條件下,生長3μm的高溫u-AlGaN層;
S4’、在1100℃、50Torr條件下,生長1.5μm的高溫n-AlGaN層,摻雜濃度為8E18;
S5’、在900℃、500Torr條件下,生長0.7μm的n-AlGaN粗化層,摻雜濃度為8E18;
S6’、在980℃、100Torr條件下,依次生長50nm的低溫AlInGaN層和AlGaN層,重復(fù)10個周期,形成低溫AlInGaN/AlGaN量子阱超晶格層;
S7’、在950℃、100Torr條件下,生長30nm的高溫p-AlGaN電子阻擋層;
S8’、在980℃、100Torr條件下,生長40nm的高溫p-AlGaN披覆層;
S9’、在880℃、100Torr條件下,生長8nm的高溫p-GaN接觸層。
實(shí)施例一與實(shí)施例二相比,SiO2圖形與緩沖層的形成順序互換,相應(yīng)地,其制造方法不同,其余外延層的結(jié)構(gòu)和厚度等完全相同。
本發(fā)明在襯底設(shè)置SiO2圖形化掩模,并加入高溫n-AlGaN粗化層。為了加速粗化面的形成, 插入原位硅烷處理,外延層沿著AlGaN或AlN緩沖層(位錯密集處)形成坑洞,從而實(shí)現(xiàn)粗化外延生長。其中,高溫u-AlGaN層及高溫n-AlGaN層通過溫度及壓力的調(diào)節(jié)促進(jìn)橫向生長以覆蓋SiO2,n-AlGaN粗化層通過提高外延長晶壓力以及降低外延長晶溫度實(shí)現(xiàn),后續(xù)外延層延續(xù)此粗化表面生長,形成粗化V型開口。發(fā)光層的光線從該粗化V型開口輸出,提高了出光效率。
對于本領(lǐng)域技術(shù)人員而言,顯然本發(fā)明不限于上述示范性實(shí)施例的細(xì)節(jié),而且在不背離本發(fā)明的精神或基本特征的情況下,能夠以其他的具體形式實(shí)現(xiàn)本發(fā)明。因此,無論從哪一點(diǎn)來看,均應(yīng)將實(shí)施例看作是示范性的,而且是非限制性的,本發(fā)明的范圍由所附權(quán)利要求而不是上述說明限定,因此旨在將落在權(quán)利要求的等同要件的含義和范圍內(nèi)的所有變化囊括在本發(fā)明內(nèi)。不應(yīng)將權(quán)利要求中的任何附圖標(biāo)記視為限制所涉及的權(quán)利要求。
此外,應(yīng)當(dāng)理解,雖然本說明書按照實(shí)施方式加以描述,但并非每個實(shí)施方式僅包含一個獨(dú)立的技術(shù)方案,說明書的這種敘述方式僅僅是為清楚起見,本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)將說明書作為一個整體,各實(shí)施例中的技術(shù)方案也可以經(jīng)適當(dāng)組合,形成本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解的其他實(shí)施方式。