1.一種碳化硅功率晶體管,其特征在于,包括自下而上依次設(shè)置的第二P型歐姆接觸電極(9)、P型SiC襯底(1)、N型SiC緩沖層(2)、N型SiC漂移層(3)和N型SiC電流增強層(4),所述N型SiC電流增強層(4)上刻蝕形成有若干個臺階,相鄰臺階之間設(shè)有溝槽,所述臺階的頂端設(shè)置有N型SiC歐姆接觸層(5),N型SiC歐姆接觸層(5)的上部設(shè)置有N型歐姆接觸電極(7),所述溝槽內(nèi)設(shè)置有P型SiC歐姆接觸區(qū)(6),P型SiC歐姆接觸區(qū)(6)與所述臺階側(cè)面、溝槽的底部和N型SiC歐姆接觸層(5)均接觸,位于溝槽底部的P型SiC歐姆接觸區(qū)(6)的上部設(shè)置有第一P型歐姆接觸電極(8);
所述N型SiC緩沖層(2)的厚度為0.5~2.0μm,所述N型SiC漂移層(3)的厚度為材料中空穴擴散長度的0.4~0.9倍,所述N型SiC電流增強層(4)在溝槽底部的厚度為0.5~2μm,所述臺階高度為1.5~3.5μm,臺階寬度為的1.0~2.0倍,所述N型歐姆接觸層(5)的厚度為0.2~0.5μm,所述N型歐姆接觸電極(7)的形狀與N型SiC歐姆接觸層(5)相同,所述第二P型歐姆接觸電極(9)、N型歐姆接觸電極(7)和第一P型歐姆接觸電極(8)均包括依次沉積的Ni層和Pt層,所述第二P型歐姆接觸電極(9)的Ni層厚度為200nm~400nm,Pt層厚度為50nm~200nm;N型歐姆接觸電極(7)的Ni層厚度為200nm~400nm,Pt層厚度為50nm~200nm;第一P型歐姆接觸電極(8)的Ni層厚度為200nm~400nm,Pt層厚度為50nm~200nm。