本實(shí)用新型屬于一種測試裝置，具體涉及的是一種提高非晶測試效率的測試裝置。

背景技術(shù)：

非晶合金是一種新型合金材料，其采用先進(jìn)的超急冷快淬技術(shù)，將液態(tài)金屬以1×106℃/秒冷卻速度形成厚度為0.02-0.04mm的固體薄帶，得到原子排列組合上具有短程有序，長程無序特點(diǎn)的非晶組織特征，不具備傳統(tǒng)合金材料的晶體結(jié)構(gòu)。由于非晶合金具有高飽和磁感應(yīng)強(qiáng)度、低矯頑力、低損耗等性能，在無線充電領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。

目前的無線充電技術(shù)受限于線材問題導(dǎo)致充電效率較低，而非晶帶材的出現(xiàn)則可以大大提高無線充電的效率。但是傳統(tǒng)的單片非晶材料由于采用獨(dú)立包裝，小且輕薄，因此在進(jìn)行測試時(shí)需要采用圖1所述裝置，在測試治具20上的測試區(qū)域21放置單片非晶材料，然后通過該測試治具20中安裝的磁鐵吸附固定單片非晶材料，之后通過檢測芯片測試單片非晶材料的喚醒電壓，并對(duì)應(yīng)通過示波器10顯示，當(dāng)單片非晶材料測試完成后，需要人工取下單片非晶材料，進(jìn)行下一步組裝。這種測試方式不利于拿取及放置，存在測試效率低、成本高的問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

為此，本實(shí)用新型的目的在于提供一種測試效率高、測試成本低的非晶帶材效測試裝置。

本實(shí)用新型的目的是通過以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的。

一種提高非晶測試效率的測試裝置，包括示波器和與示波器聯(lián)接的測試治具，所述測試治具上設(shè)置有一用于固定待測單片非晶的測試區(qū)域，所述測試治具一側(cè)設(shè)置有一擋板；所述擋板上從左向右依次設(shè)置有與所述測試治具上表面平行的第一傳動(dòng)輥、第一導(dǎo)向柱、第二導(dǎo)向柱和第二傳動(dòng)輥，所述第二傳動(dòng)輥的下方設(shè)置有一導(dǎo)向輥；所述第一傳動(dòng)輥上固定有料帶卷，且從該料帶卷延伸出的料帶依次穿過第一導(dǎo)向柱下方、第二導(dǎo)向柱上方之后，穿過第二傳動(dòng)輥與導(dǎo)向輥之間。

優(yōu)選地，所述第二傳動(dòng)輥上設(shè)置有一手柄，轉(zhuǎn)動(dòng)手柄可帶動(dòng)第二傳動(dòng)輥相對(duì)導(dǎo)向輥轉(zhuǎn)動(dòng)，以帶動(dòng)料帶前進(jìn)。

優(yōu)選地，所述第一導(dǎo)向柱位于第一傳動(dòng)輥、第二導(dǎo)向柱的下方。

優(yōu)選地，所述測試區(qū)域位于第一導(dǎo)向柱和第二導(dǎo)向柱在測試治具上表面垂直投影之間。

優(yōu)選地，所述料帶上均勻間隔設(shè)置有若干待測單片非晶。

優(yōu)選地，所述待測單片非晶為鐵基非晶合金片材。

優(yōu)選地，所述測試區(qū)域中設(shè)置有一用于吸附待測單片非晶的磁鐵。

優(yōu)選地，所述擋板垂直設(shè)置于測試治具一側(cè)。

本實(shí)用新型提供的測試裝置，通過在原有測試治具上增加了一個(gè)擋板，利用設(shè)置在擋板上的若干傳動(dòng)輥和導(dǎo)向柱轉(zhuǎn)動(dòng)實(shí)現(xiàn)帶動(dòng)料帶前進(jìn)，并利用磁鐵在料帶運(yùn)行到測試治具的測試區(qū)域位置時(shí)，吸附固定待測單片非晶，從而完成對(duì)待測單片非晶的連續(xù)測試。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型增加了生產(chǎn)測試的連續(xù)性，提高了測試效率，減少作業(yè)動(dòng)作，提高組裝效率。

附圖說明

圖1為傳統(tǒng)單片非晶帶材的測試裝置示意圖；

圖2為本實(shí)用新型單片非晶帶材的測試裝置示意圖；

圖3為本實(shí)用新型測試裝置的俯視圖；

圖4為本實(shí)用新型測試裝置的立體示意圖一；

圖5為本實(shí)用新型測試裝置的立體示意圖二。

圖中標(biāo)識(shí)說明：示波器10、測試治具20、測試區(qū)域21、擋板30、第一傳動(dòng)輥31、第一導(dǎo)向柱32、第二導(dǎo)向柱33、手柄34、導(dǎo)向輥35、第二傳動(dòng)輥36、料帶40。

具體實(shí)施方式

為了使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本實(shí)用新型，并不用于限定本實(shí)用新型。

針對(duì)傳統(tǒng)技術(shù)中單片非晶材料測試主要通過人工取放，無法連續(xù)測試，存在測試效率低、成本高的問題。本實(shí)用新型提出了一種改進(jìn)方案，其利用傳動(dòng)輥和導(dǎo)向柱轉(zhuǎn)動(dòng)實(shí)現(xiàn)單片非晶材料的連續(xù)性測試，大大提高了測試效率，降低了測試成本。

請(qǐng)參閱圖2～圖5所示，本實(shí)用新型提供的測試裝置主要包括有示波器10和測試治具20，示波器10和測試治具20聯(lián)接。測試治具20的上表面中心位置設(shè)置有一個(gè)測試區(qū)域21，本實(shí)施例中測試區(qū)域21對(duì)應(yīng)為一個(gè)十字形位置，該位置中對(duì)應(yīng)安裝有磁鐵，通過磁鐵可以對(duì)應(yīng)吸附固定單片非晶材料。

在測試治具20中還對(duì)應(yīng)安裝有檢測芯片，當(dāng)單片非晶材料被吸附固定在測試區(qū)域21后，整個(gè)測試系統(tǒng)連通，通過檢測芯片可以測試單片非晶材料的喚醒電壓，并對(duì)應(yīng)通過示波器10顯示，以判斷該待測單片非晶是否合格。

為了實(shí)現(xiàn)對(duì)單片非晶材料的連續(xù)快速檢測，本實(shí)施例對(duì)應(yīng)在測試治具20的一側(cè)邊設(shè)置有一個(gè)擋板30，且擋板30對(duì)應(yīng)垂直設(shè)置于測試治具20的上表面?zhèn)冗叀?/p>

擋板30上從左向右依次設(shè)置有與所述測試治具20上表面平行的第一傳動(dòng)輥31、第一導(dǎo)向柱32、第二導(dǎo)向柱33和第二傳動(dòng)輥36，第一傳動(dòng)輥31上對(duì)應(yīng)固定有料帶卷，所述料帶卷由料帶40對(duì)應(yīng)卷成卷狀，其中料帶40的一側(cè)面(朝向測試治具20上表面的一面)每間隔一段距離就設(shè)置有一個(gè)待測單片非晶。

第一導(dǎo)向柱32位于第一傳動(dòng)輥31、第二導(dǎo)向柱33之間，且位于第一傳動(dòng)輥31、第二導(dǎo)向柱33之間連線的下方。

測試區(qū)域21位于第一導(dǎo)向柱32和第二導(dǎo)向柱33在測試治具20上表面垂直投影之間，且靠近第一導(dǎo)向柱32。

第二傳動(dòng)輥36的下方設(shè)置有一個(gè)導(dǎo)向輥35，料帶卷從第一傳動(dòng)輥31延伸出料帶40依次穿過第一導(dǎo)向柱32的下方、經(jīng)過測試區(qū)域21的上方，然后再由第二導(dǎo)向柱33上方經(jīng)過，并最終穿過第二傳動(dòng)輥36與導(dǎo)向輥35之間，其中單片非晶位于朝向測試區(qū)域21的料帶40一側(cè)。

其中料帶40與測試區(qū)域21之間的距離需要保證能夠確保安裝在測試區(qū)域21中的磁鐵能夠?qū)纹蔷?duì)應(yīng)吸附固定，且不會(huì)影響到其他單片非晶。

本實(shí)施例中的單片非晶優(yōu)選為鐵基非晶合金片材，以確保其能夠被磁鐵吸附固定，也可以選擇其他具有磁性吸附特性的非晶合金片材。

第二傳動(dòng)輥36上還設(shè)置有一個(gè)手柄34，轉(zhuǎn)動(dòng)手柄34可帶動(dòng)第二傳動(dòng)輥36相對(duì)導(dǎo)向輥35轉(zhuǎn)動(dòng)，以帶動(dòng)料帶40前進(jìn)。

本實(shí)用新型的工作原理為：將帶有非晶片的料帶卷成卷狀，對(duì)應(yīng)安裝在第一傳動(dòng)輥31上，料帶40的開頭經(jīng)過第一導(dǎo)向柱32、第二導(dǎo)向柱33后從導(dǎo)向輥35、第二傳動(dòng)輥36之間穿過。

轉(zhuǎn)動(dòng)手柄34，第二傳動(dòng)輥36轉(zhuǎn)動(dòng)，導(dǎo)向輥35不轉(zhuǎn)動(dòng)，第二傳動(dòng)輥36可以帶動(dòng)料帶40前進(jìn)，而料帶40上的非晶片遇到下方的測試治具上的磁鐵后會(huì)將吸附在測試區(qū)域21進(jìn)行測試。

此時(shí)示波器10會(huì)測試吸附在治具上的非晶的喚醒電壓，測試完成后，轉(zhuǎn)動(dòng)手柄34，取下測試完成的單片非晶，同時(shí)開始測試下一個(gè)單片非晶。

綜上所述，本實(shí)用新型通過手柄轉(zhuǎn)動(dòng)以帶動(dòng)料帶前進(jìn)，利用導(dǎo)向柱對(duì)料帶前進(jìn)所經(jīng)過的位置進(jìn)行設(shè)定，以使料帶上的待測單片非晶經(jīng)過測試區(qū)域，而同時(shí)利用測試區(qū)域中的磁鐵對(duì)應(yīng)將位于測試區(qū)域上方最近位置的待測單片非晶吸附在測試區(qū)域中，通過檢測芯片對(duì)應(yīng)測試單片非晶材料的喚醒電壓，并對(duì)應(yīng)通過示波器顯示，以判斷該待測單片非晶是否合格。本實(shí)用新型增加了生產(chǎn)測試的連續(xù)性，提高了測試效率，減少了作業(yè)動(dòng)作，提高了組裝效率。

以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本實(shí)用新型，凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。