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一種顯示面板的老化測試系統(tǒng)及方法與流程

文檔序號:11252829閱讀:1381來源:國知局
一種顯示面板的老化測試系統(tǒng)及方法與流程

本發(fā)明涉及顯示技術領域,尤其是涉及一種顯示面板的老化測試系統(tǒng)及方法。



背景技術:

有機電激發(fā)光二極管(oled)由于同時具備自發(fā)光,不需背光源、對比度高、厚度薄、視角廣、反應速度快、可用于撓曲性面板、使用溫度范圍廣、構造及制程較簡單等優(yōu)異之特性,被認為是下一代的平面顯示器新興應用技術。

oled器件結構是由陽極、陰極以及夾在陽極和陰極之間的有機功能層構成。其中的有機功能層包括hil(空穴注入層)、htl(空穴傳輸層)、eml(發(fā)光層)、etl(電子傳輸層)、eil(電子注入層)等層構成。

為了擴大有機發(fā)光器件的應用范圍并將有機發(fā)光器件商業(yè)化,已經發(fā)展增加該有機發(fā)光器件的效率和降低驅動電壓的技術。

oled已經在中小尺寸得到廣泛應用,大尺寸oled電視已經開始商品化。和中小尺寸oled相比,大尺寸oled電視由于面積大,良率更難提升,生產時容易出現暗點、亮點等缺陷,在低灰階下,暗點引起的mura(不均勻,有斑點)更明顯。為解決上述缺陷,需要在oled制程中加入在線老化工藝,通過在線老化來減少暗點等缺陷,提高大尺寸oled面板良率?,F有技術中,oled顯示面板通過在線老化腔體后,再傳入附近的ivl(電流-電壓-亮度)點燈腔體檢測老化效果并進行篩選后進入封裝工序。由此造成所需的檢測時長過長,并且需要分別設置老化腔體和點燈腔體兩個腔體,設備成本高。



技術實現要素:

本發(fā)明主要解決的技術問題是提供一種顯示面板的老化測試系統(tǒng)及方法,能夠節(jié)約檢測的時長,提高檢測效率,并且可以節(jié)省檢測設備,從而降低檢測成本。

為解決上述技術問題,本發(fā)明采用的一個技術方案是:提供一種顯示面板的老化測試系統(tǒng),老化測試系統(tǒng)包括真空腔體、點燈機構、至少一個光譜儀和至少一個相機,其中:

所述真空腔體設置有用于老化所述顯示面板的老化設備,并且所述真空腔體設置所述點燈機構、光譜儀和相機;

所述點燈機構與所述顯示面板電連接,用于點亮所述顯示面板;

所述至少一個光譜儀位于所述顯示面板發(fā)出的光的光路上,用于檢測所述顯示面板的色坐標和亮度;

所述至少一個相機位于所述顯示面板發(fā)出的光的光路上,用于檢測顯示面板的子像素的暗點缺陷。

為解決上述技術問題,本發(fā)明采用的另一個技術方案是:提供一種顯示面板的老化測試方法,所述老化測試方法包括:

點亮所述顯示面板;

對所述顯示面板的色坐標和亮度進行檢測,同時對顯示面板的子像素的暗點缺陷進行檢測。

本發(fā)明的有益效果是:區(qū)別于現有技術的情況,本發(fā)明提供了一種顯示面板的老化測試系統(tǒng)及方法。該老化測試系統(tǒng)包括真空腔體、點燈機構、至少一個光譜儀和至少一個相機,其中,真空腔體設置有用于老化顯示面板的老化設備,并且真空腔體設置點燈機構、光譜儀和相機,點燈機構與顯示面板電連接,用于點亮顯示面板,至少一個光譜儀位于顯示面板發(fā)出的光的光路上,用于檢測顯示面板的色坐標和亮度,至少一個相機位于顯示面板發(fā)出的光的光路上,用于檢測顯示面板的子像素的暗點缺陷。因此,本發(fā)明將點燈機構和光譜儀、相機都設置在真空腔體中,使得可直接在真空腔體中完成老化及檢測老化的效果的工作,由此能夠節(jié)約檢測的時長,提高檢測效率,并且簡化了顯示面板的量產線的設計,節(jié)省檢測設備,從而降低檢測成本。

附圖說明

圖1是本發(fā)明實施例提供的一種顯示面板的老化測試系統(tǒng)的結構示意圖;

圖2是本發(fā)明實施例提供的一種顯示面板的老化測試方法的流程示意圖。

具體實施方式

請參閱圖1,圖1是本發(fā)明實施例提供的一種顯示面板的老化測試系統(tǒng)的結構示意圖。如圖1所示,本發(fā)明的老化測試系統(tǒng)10包括真空腔體11、點燈機構12、至少一個光譜儀13和至少一個相機14。

其中,真空腔體11設置有用于老化顯示面板100的老化設備(圖未示),并且真空腔體11設置點燈機構12、光譜儀13和相機14。

具體而言,本發(fā)明為了加快老化,在真空腔體11的一側設置氣體管道16,用于通入至少氮氣和空氣的一種。為了加快氣體的輸入,可以設置兩個及以上的氣體管道16,如圖1所示,設置兩個氣體管道16。其中,空氣包括壓縮空氣和潔凈空氣的任一種。其中,壓縮空氣主要是水含量的較普通的空氣,潔凈空氣是無油無顆粒(particle)的空氣,其對水含量無要求。

老化測試系統(tǒng)10還包括支撐件17,用于支撐真空腔體11。

在其他實施例中,還可以預先將氣體加熱,然后再通入真空腔體11中,以進一步加快顯示面板100的老化。

點燈機構12與顯示面板100電連接,用于點亮顯示面板100。具體而言,點燈機構12包括連接桿121和引腳122,連接桿121的一端設置在真空腔體11的內壁上,連接桿121的另一端與引腳122連接。更具體的,點燈機構122還包括連接板123,引腳122設置在連接板123上,連接桿121的另一端通過連接板123與引腳122連接。引腳122用于與顯示面板100電連接。

本實施例中,引腳122為多個,并且平均分為預設組,設置在連接板123的預設位置,例如圖1中平均分為3組,每組包括3個。在進行點燈測試,引腳122通過設置在顯示面板100上的引腳連接墊與顯示面板100連接,點亮顯示面板100。其中,點亮顯示面板100的方式包括多種,例如可以將顯示面板100的像素分為多個區(qū)域,點燈機構12通過引腳122依次點亮該多個區(qū)域,也可以同時點亮該多個區(qū)域。

至少一個光譜儀13位于顯示面板100發(fā)出的光的光路上,用于檢測顯示面板100的色坐標和亮度。也就是說光譜儀13直接檢測顯示面板100的色坐標和亮度,通過三個顏色的色坐標和亮度來得到顯示面板100的色域,以作為檢測顯示面板100的老化效果的判斷標準。本實施例中,以ntsc色域標準來說,若通過色坐標和亮度獲得顯示面板100的色域小于72%,則可認定為顯示面板100不合格。

至少一個相機14位于顯示面板100發(fā)出的光的光路上,用于檢測顯示面板100的子像素的暗點缺陷。具體而言,在點燈機構12將顯示面板100點亮后,通過相機14對顯示面板100進行拍照取證,然后根據所拍攝的照片查看顯示面板100的子像素是否存在暗點的缺陷,并統(tǒng)計暗點缺陷的數量。通常是點亮單色畫面時統(tǒng)計暗點缺陷的數量,例如通過點亮rgb三個顏色或者rgbw四個顏色,分別統(tǒng)計暗點缺陷數量。其中,首先預設暗點閾值,若拍攝的照片中顯示的暗點數大于暗點閾值,則可認定為顯示面板100不合格。

本實施例中,光譜儀13和相機14均設置了兩個,其在顯示面板100發(fā)出的光的光路上間隔分布,例如可以為從左到右分別設置光譜儀13、相機14、光譜儀13以及相機14。

本實施例中,光譜儀13和相機14可隔分布在真空腔體11的外側。具體而言,真空腔體11收容顯示面板100、點燈機構12和支撐臺15,并在外側面上集成了光譜儀13和相機14。

本實施例中,老化測試系統(tǒng)10還包括支撐臺15,用于支撐顯示面板100。為了加強支持作用,支撐臺15的下方設置有三個支撐腳152。支撐臺15上進一步設置有對位系統(tǒng)151,對位系統(tǒng)151用于對顯示面板100的位置進行調整,使得顯示面板100與引腳122、光譜儀13以及相機14相對應,以方便引腳122與顯示面板100電連接以及光譜儀13和相機14對顯示面板100進行檢測。

承前所述,本發(fā)明通過在真空腔體11的外側集成光譜儀13和相機14,在真空腔體11的腔內設置老化設備和點燈機構12,由此使得可直接在真空腔體11中完成點燈測試,和顯示面板100的顏色的獲取以及子像素的暗點缺陷的獲取,即可以同時完成顯示面板100的老化及檢測老化的效果的工作,由此能夠節(jié)約檢測的時長,提高檢測效率,并且簡化了顯示面板的量產線的設計,節(jié)省檢測設備,從而降低檢測成本。其中,本發(fā)明的顯示面板100可以為oled顯示或者lcd顯示。

本發(fā)明實施例還提供了一種顯示面板的老化測試方法,該老化測試方法適用于前文所述的老化測試系統(tǒng)。具體請參閱圖2。

如圖2所示,本發(fā)明實施例的老化測試方法包括以下步驟:

步驟s1:點亮顯示面板。

步驟s2:對顯示面板的色坐標和亮度進行檢測,同時對顯示面板的子像素的暗點缺陷進行檢測。具體原理如前文所述,在此不再贅述。

本實施例中,以ntsc色域標準來說,若通過檢測到的色坐標和亮度獲得的色域小于72%,則可認定為顯示面板不合格。

并進一步預設暗點閾值,若檢測到子像素的暗點數大于暗點閾值,則可認定為顯示面板不合格。

其中,為了加快老化速度,本實施例還進一步提供至少氮氣和空氣的一種。空氣包括壓縮空氣和潔凈空氣的任一種,其中壓縮空氣和潔凈空氣如前文所述,在此不再贅述。

在其他實施例中,還可以預先將氣體加熱,然后利用該加熱的氣體對顯示面板進行老化作業(yè)。

綜上所述,本發(fā)明可以同時完成顯示面板的老化及檢測老化的效果的工作,由此能夠節(jié)約檢測的時長,提高檢測效率,并且簡化了顯示面板的量產線的設計,節(jié)省檢測設備,從而降低檢測成本。

以上所述僅為本發(fā)明的實施例,并非因此限制本發(fā)明的專利范圍,凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內容所作的等效結構或等效流程變換,或直接或間接運用在其他相關的技術領域,均同理包括在本發(fā)明的專利保護范圍內。

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