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一種減少晶圓壓傷劃傷的厚質(zhì)軟金屬剝離工藝的制作方法

文檔序號(hào):40553556發(fā)布日期:2025-01-03 11:13閱讀:11來源:國知局
一種減少晶圓壓傷劃傷的厚質(zhì)軟金屬剝離工藝的制作方法

本發(fā)明涉及l(fā)ed和光通訊,具體涉及一種減少晶圓壓傷劃傷的厚質(zhì)軟金屬剝離工藝。


背景技術(shù):

1、在led光電器件領(lǐng)域中,制備發(fā)光二極管的電極引出工藝為:先通過涂膠+顯影工藝,將晶圓的底層pn結(jié)露出,再通過蒸鍍工藝制作導(dǎo)電金屬層(al),蒸鍍工藝完成以后,某些特種工藝的蒸鍍金屬比光刻膠(pr)的厚度厚,導(dǎo)致了整張晶圓完全被金屬層覆蓋,需要將光刻膠及光刻膠以上蒸鍍的金屬剝離掉。傳統(tǒng)的剝離工藝為厚質(zhì)軟質(zhì)金屬電極剝離技術(shù),該技術(shù)是將藍(lán)膜膠帶粘附在晶圓正面,晶圓背面用真空吸盤吸牢固,通過藍(lán)膜膠帶的粘附力將部分pr和待剝離的金屬通過外力作用撕掉,如果撕掉的過程中有靜電擊穿,或者是重復(fù)性壓傷,均會(huì)影響最終產(chǎn)品的導(dǎo)電性能及良率。


技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、針對(duì)現(xiàn)有軟質(zhì)金屬剝離工藝中出現(xiàn)的單片機(jī)臺(tái)固有的剝離工藝會(huì)對(duì)產(chǎn)品的電極產(chǎn)生劃傷的問題,本發(fā)明的目的在于提供一種減少晶圓壓傷劃傷的厚質(zhì)軟金屬剝離工藝,該工藝可以在進(jìn)行電極引出的剝離中,最大限度的保證最小的金屬劃傷和壓傷,減少良率的損失,提高產(chǎn)品導(dǎo)電性能。

2、為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明所采用的技術(shù)方案如下:

3、一種減少晶圓壓傷劃傷的厚質(zhì)軟金屬剝離工藝,該工藝針對(duì)已涂覆光刻膠且經(jīng)曝光、顯影并制備有厚質(zhì)軟金屬膜層的晶圓進(jìn)行金屬剝離處理,所述金屬剝離處理是將晶圓先置于剝離單元進(jìn)行金屬剝離;該方法具體包括如下步驟:

4、(1)將晶圓置于剝離單元承片臺(tái)上,使用高壓去膠噴嘴向晶圓中心進(jìn)行高壓噴灑藥液,該藥液破壞厚質(zhì)軟金屬膜層,從而在晶圓中心打開一個(gè)小的窗口;

5、(2)采用剝離單元中的常壓去膠噴嘴,向步驟(1)撕裂的窗口內(nèi)噴入藥液,保持晶圓以較低的轉(zhuǎn)速旋轉(zhuǎn),使得晶圓的金屬膜層和光刻膠的夾層之間充入一定量的藥液;

6、(3)采用剝離單元中的高壓去膠噴嘴噴酒藥液進(jìn)行金屬膜層的剝離,其中:噴射壓力10-15mpa,晶圓轉(zhuǎn)動(dòng)速度為800-2000r/min,高壓去膠噴嘴從晶圓的中心向邊緣處作擺臂剝離動(dòng)作,實(shí)現(xiàn)金屬膜層的剝離與光刻膠去除;

7、進(jìn)一步地,本發(fā)明所述厚質(zhì)軟金屬膜層為鋁、金、鎳、銀和鉻中的一種或幾種,厚度為1-5μm。

8、所述剝離單元包括去膠腔體,去膠腔體內(nèi)設(shè)有可旋轉(zhuǎn)承片臺(tái)以及安裝在同一擺臂上的高壓去膠噴嘴和常壓去膠噴嘴;其中:所述常壓去膠噴嘴的噴射方向垂直于晶圓表面,所述高壓去膠噴嘴的噴射方向與晶圓垂直方向的夾角為10-30°。

9、所述高壓去膠噴嘴為針狀噴嘴,所述常壓去膠噴嘴為柱狀噴嘴。

10、上述步驟(1)采用高壓去膠噴嘴噴灑藥液過程中,高壓去膠噴嘴的射流對(duì)準(zhǔn)晶圓中心,晶圓保持靜止,藥液噴射時(shí)間0.1-3s,藥液的壓力3-15mpa。該過程在晶圓中心打開一個(gè)小的窗口,藥液的壓力與瞬時(shí)開窗噴射時(shí)間要根據(jù)實(shí)際應(yīng)用情況在調(diào)節(jié)區(qū)間內(nèi)尋找最優(yōu)的平衡參數(shù),已達(dá)到最優(yōu)的開窗效果。

11、上述步驟(2)采用常壓去膠噴嘴噴射藥液過程中,噴射時(shí)間5-30s,晶圓轉(zhuǎn)速50-500r/min。

12、上述步驟(3)采用高壓去膠噴嘴噴射藥液過程中,噴射時(shí)間10-100s。

13、進(jìn)一步地,步驟(3)進(jìn)行金屬膜層剝離后的晶圓可再置于清洗單元進(jìn)行晶圓清洗和晶圓甩干;所述晶圓清洗是將晶圓置于清洗單元承片臺(tái)上,使用噴嘴從晶圓一側(cè)邊緣向另一側(cè)邊緣擺動(dòng)并噴灑清洗液(去離子水或其他清洗液),以達(dá)到更充分的清洗效果;所述晶圓甩干是將晶圓置于清洗單元承片臺(tái)上,使用噴嘴從晶圓一側(cè)邊緣向另一側(cè)邊緣擺動(dòng)并噴灑氮?dú)?,采用高轉(zhuǎn)速長時(shí)間轉(zhuǎn)動(dòng)方式將晶圓甩干。

14、所述清洗單元包括清洗腔體,清洗腔體內(nèi)設(shè)有可旋轉(zhuǎn)承片臺(tái)以及分別安裝在兩個(gè)擺臂上的兩個(gè)柱狀噴嘴;其中:一個(gè)柱狀噴嘴用于噴灑清洗液,另一個(gè)柱狀噴嘴用于噴灑氮?dú)猓瑑蓚€(gè)柱狀噴嘴的噴射方向均垂直于晶圓表面。

15、優(yōu)選地,噴灑清洗液過程中,晶圓轉(zhuǎn)速300r/min-1000r/min,噴灑時(shí)間10-60s,清洗液流量500-1000ml/min。

16、優(yōu)選地,晶圓甩干過程中,向晶圓正面氮?dú)鈬姙?,晶圓轉(zhuǎn)動(dòng)速度為1000-2000r/min,正面噴灑氮?dú)饬髁?0-50l/min,時(shí)間20-60s。

17、本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)和有益效果如下:

18、1、本發(fā)明采用高壓去膠噴嘴噴射高壓藥液的方式,通過藥液的溶膠能力和高高壓作用力,最大程度的避免晶圓靜電擊穿效應(yīng),

19、2、本發(fā)明在剝離軟質(zhì)金屬電極時(shí),采用傾斜高壓去膠噴嘴+中心破窗+二次剝離的工藝,達(dá)到軟質(zhì)金屬(如鋁電極)的無劃傷無靜電擊穿的效果。



技術(shù)特征:

1.一種減少晶圓壓傷劃傷的厚質(zhì)軟金屬剝離工藝,其特征在于:該工藝針對(duì)已涂覆光刻膠且經(jīng)曝光、顯影并制備有厚質(zhì)軟金屬膜層的晶圓進(jìn)行金屬剝離處理,所述金屬剝離處理是將晶圓先置于剝離單元進(jìn)行金屬剝離;該方法具體包括如下步驟:

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的減少晶圓壓傷劃傷的厚質(zhì)軟金屬剝離工藝,其特征在于:所述厚質(zhì)軟金屬膜層為鋁、金、鎳、銀和鉻中的一種或幾種,厚度為1-5μm。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的減少晶圓壓傷劃傷的厚質(zhì)軟金屬剝離工藝,其特征在于:所述剝離單元包括去膠腔體,去膠腔體內(nèi)設(shè)有可旋轉(zhuǎn)承片臺(tái)以及安裝在同一擺臂上的高壓去膠噴嘴和常壓去膠噴嘴;其中:所述常壓去膠噴嘴的噴射方向垂直于晶圓表面,所述高壓去膠噴嘴的噴射方向與晶圓垂直方向的夾角為10-30°。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的減少晶圓壓傷劃傷的厚質(zhì)軟金屬剝離工藝,其特征在于:所述高壓去膠噴嘴為針狀噴嘴,所述常壓去膠噴嘴為柱狀噴嘴。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的減少晶圓壓傷劃傷的厚質(zhì)軟金屬剝離工藝,其特征在于:步驟(1)采用高壓去膠噴嘴噴灑藥液過程中,高壓去膠噴嘴的射流對(duì)準(zhǔn)晶圓中心,晶圓保持靜止,藥液噴射時(shí)間0.1-3s,藥液的壓力3-15mpa。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的減少晶圓壓傷劃傷的厚質(zhì)軟金屬剝離工藝,其特征在于:步驟(2)采用常壓去膠噴嘴噴射藥液過程中,噴射時(shí)間5-30s,晶圓轉(zhuǎn)速50-500r/min;步驟(3)采用高壓去膠噴嘴噴射藥液過程中,噴射時(shí)間10-100s。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的減少晶圓壓傷劃傷的厚質(zhì)軟金屬剝離工藝,其特征在于:步驟(3)進(jìn)行金屬膜層剝離后的晶圓再置于清洗單元進(jìn)行晶圓清洗和晶圓甩干;所述晶圓清洗是將晶圓置于清洗單元承片臺(tái)上,使用噴嘴從晶圓一側(cè)邊緣向另一側(cè)邊緣擺動(dòng)并噴灑清洗液,以達(dá)到更充分的清洗效果;所述晶圓甩干是將晶圓置于清洗單元承片臺(tái)上,使用噴嘴從晶圓一側(cè)邊緣向另一側(cè)邊緣擺動(dòng)并噴灑氮?dú)猓捎酶咿D(zhuǎn)速長時(shí)間轉(zhuǎn)動(dòng)方式將晶圓甩干。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的減少晶圓壓傷劃傷的厚質(zhì)軟金屬剝離工藝,其特征在于:所述清洗單元包括清洗腔體,清洗腔體內(nèi)設(shè)有可旋轉(zhuǎn)承片臺(tái)以及分別安裝在兩個(gè)擺臂上的兩個(gè)柱狀噴嘴;其中:一個(gè)柱狀噴嘴用于噴灑清洗液,另一個(gè)柱狀噴嘴用于噴灑氮?dú)?,兩個(gè)柱狀噴嘴的噴射方向均垂直于晶圓表面。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的減少晶圓壓傷劃傷的厚質(zhì)軟金屬剝離工藝,其特征在于:晶圓清洗進(jìn)行噴灑清洗液過程中,晶圓轉(zhuǎn)速300r/min-1000r/min,噴灑時(shí)間10-60s,清洗液流量500-1000ml/min。

10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的減少晶圓壓傷劃傷的厚質(zhì)軟金屬剝離工藝,其特征在于:晶圓甩干過程中,向晶圓正面氮?dú)鈬姙?,晶圓轉(zhuǎn)動(dòng)速度為1000-2000r/min,正面噴灑氮?dú)饬髁?0-50l/min,時(shí)間20-60s。


技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種減少晶圓壓傷劃傷的厚質(zhì)軟金屬剝離工藝,屬于LED和光通訊技術(shù)領(lǐng)域。該方法包括:(1)將晶圓置于剝離單元,使用高壓去膠噴嘴向晶圓中心進(jìn)行高壓噴灑藥液,在晶圓中心打開一個(gè)小的窗口;(2)采用常壓去膠噴嘴向撕裂的窗口內(nèi)噴入藥液,保持晶圓以較低的轉(zhuǎn)速旋轉(zhuǎn),使得晶圓的金屬膜層和光刻膠的夾層之間充入一定量的藥液;(3)采用高壓去膠噴嘴噴酒藥液進(jìn)行金屬膜層的剝離。該工藝可以在進(jìn)行電極引出的剝離中,最大限度的保證最小的金屬劃傷和壓傷,減少良率的損失,提高產(chǎn)品導(dǎo)電性能。

技術(shù)研發(fā)人員:李孝令,樸勇男,王冬
受保護(hù)的技術(shù)使用者:沈陽芯源微電子設(shè)備股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日:
技術(shù)公布日:2025/1/2
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