本發(fā)明涉及半導(dǎo)體裝置。
背景技術(shù):
1、以往,提出有將絕緣柵型雙極晶體管(igbt:insulated?gate?bipolartransistor)和回流用二極管形成于一個(gè)半導(dǎo)體襯底的半導(dǎo)體裝置即反向?qū)╥gbt(rc-igbt:reverse?conducting?igbt)。此外,還公開有在半導(dǎo)體裝置的外周區(qū)域設(shè)置被稱為表面降場(chǎng)(resurf)區(qū)域的用于改善耐壓的區(qū)域的例子。
2、專利文獻(xiàn)1:日本特開2022-56498號(hào)公報(bào)
3、專利文獻(xiàn)2:日本特開2018-46187號(hào)公報(bào)
4、專利文獻(xiàn)3:日本特開2004-349556號(hào)公報(bào)
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、實(shí)施方式要解決的課題在于,提供一種緩和igbt與二極管的邊界區(qū)域處的電場(chǎng)集中并減少了擊穿的半導(dǎo)體裝置。
2、實(shí)施方式的半導(dǎo)體裝置具備半導(dǎo)體襯底、配置于半導(dǎo)體襯底上的二極管部和在半導(dǎo)體襯底上配置于二極管部的周圍的igbt部。igbt部具備配置于半導(dǎo)體襯底上的第1導(dǎo)電型的第1半導(dǎo)體區(qū)域、設(shè)置于第1半導(dǎo)體區(qū)域上的第2導(dǎo)電型的第2半導(dǎo)體區(qū)域和以在深度方向上貫穿第2半導(dǎo)體區(qū)域的方式設(shè)置的第1溝槽。二極管部具備第1半導(dǎo)體區(qū)域、設(shè)置于第1半導(dǎo)體區(qū)域上的第2導(dǎo)電型的第3半導(dǎo)體區(qū)域和以在深度方向上貫穿第3半導(dǎo)體區(qū)域的方式設(shè)置的第2溝槽。在igbt部的第1溝槽延伸的第1方向的第1端與二極管部的第2溝槽的第1方向的第2端之間具備結(jié)深度比igbt部的第2半導(dǎo)體區(qū)域的結(jié)深度深的第2導(dǎo)電型的第4半導(dǎo)體區(qū)域。
3、根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式,能夠提供一種緩和igbt與二極管的邊界區(qū)域處的電場(chǎng)集中并減少了擊穿的半導(dǎo)體裝置。
1.一種半導(dǎo)體裝置,其中,該半導(dǎo)體裝置具有:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,其中,
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,其中,
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,其中,
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,其中,
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,其中,
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,其中,
8.根據(jù)權(quán)利要求1~7中的任意一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體裝置,其中,
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,其中,
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的半導(dǎo)體裝置,其中,
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的半導(dǎo)體裝置,其中,
12.根據(jù)權(quán)利要求9所述的半導(dǎo)體裝置,其中,
13.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,其中,
14.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,其中,