專利名稱：電容器高溫老化臺(tái)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種電容器高溫老化臺(tái)，用于鉭、云母、薄膜、低介、金屬化、鋁電解電容器進(jìn)行高溫負(fù)荷試驗(yàn)，供用戶對(duì)電容器進(jìn)行老化篩選和可靠性試驗(yàn)分析。
目前使用的電容器試驗(yàn)設(shè)備多采用被試驗(yàn)電容器(下稱試品)通過保險(xiǎn)絲或電阻連接老化電源，當(dāng)試品被擊穿，試驗(yàn)電流熔斷保險(xiǎn)絲，隨后需通過人工將電表逐個(gè)連入每個(gè)試品電流支路，當(dāng)測(cè)出電流為零時(shí)表明該試品為壞品。試驗(yàn)結(jié)束后需逐個(gè)將熔斷的保險(xiǎn)絲換下來。該設(shè)備有以下方面缺點(diǎn)一、自動(dòng)化程度低，勞動(dòng)生產(chǎn)率低、壞品位置需逐個(gè)人工識(shí)別，更換保險(xiǎn)絲更顯費(fèi)時(shí)費(fèi)力，每次老化的試品數(shù)量受到限制；二、保險(xiǎn)絲的熔斷電流誤差較大，嚴(yán)重影響試驗(yàn)精度；三、老化電流切入時(shí)所有試品支路一起切入，總體充電電流大，對(duì)老化電源的功率要求高，造成設(shè)備體積大、成本高；四、對(duì)一些充電電流大，而實(shí)際上無質(zhì)量問題的試品，保險(xiǎn)絲也會(huì)熔斷，造成誤判；五、測(cè)量靈敏度低，檢測(cè)數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確，對(duì)試品的漏電電流的測(cè)量缺乏精度。
本實(shí)用新型的目的在于提供一種自動(dòng)化程度高、能自動(dòng)顯示壞品位置、總體充電電流小、測(cè)量靈敏度好的電容器高溫老化臺(tái)。
本實(shí)用新型包括殼體，殼體內(nèi)裝有老化電源、高溫箱、老化板，其特征在于還包括由繼電器觸點(diǎn)構(gòu)成的控制板和帶有微處理器的控制儀，老化電源通過所述控制板連接老化板，控制儀連接控制板，控制電源連接控制儀和控制板；殼體表面裝有與控制儀連接的顯示裝置。
所述控制板包括老化、充電切換繼電器J1、每工位切入或脫離老化回路兼作檢測(cè)選通陣列繼電器J2、老化、測(cè)試?yán)^電器J3；控制儀包括采樣控制測(cè)試塊、采樣電阻R1、R2；老化電源的輸出端接繼電器J1與限流電阻R3，繼電器J1接老化板，繼電器選通陣列J2與試品匹配，繼電器選通陣列J2接繼電器J3，繼電器J3的觸點(diǎn)A接采樣電阻R1接地，觸點(diǎn)B接采樣電阻R2接地；采樣控制測(cè)試塊的輸入端接采樣電阻R1，輸入端接采樣電阻R2，輸出端1接老化、充電切換繼電器J1，輸出端2接每工位切入或脫離老化回路兼作檢測(cè)選通陣列繼電器J2，輸出端3接老化、測(cè)試?yán)^電器J3。
本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)是自動(dòng)化程度高，能自動(dòng)顯示壞品的位置，節(jié)省了人工，也無需更換保險(xiǎn)絲；在充電時(shí)各個(gè)試品支路逐個(gè)切入，總體老化電流小，對(duì)老化電源的功率要求小，可減小設(shè)備整體體積，降低成本；由于采用微控制器，對(duì)試品的漏電電流、充電電流測(cè)試精度高，可提高試驗(yàn)精度，防治誤判。
以下結(jié)合附圖進(jìn)一步說明本實(shí)用新型

圖1是本實(shí)用新型的電路圖圖2是本實(shí)用新型的線路連接圖參照附圖本實(shí)用新型包括殼體，殼體內(nèi)裝有老化電源1、高溫箱6、老化板2，還包括由繼電器觸點(diǎn)構(gòu)成的控制板3和帶有微處理器的控制儀4，老化電源1通過所述控制板3連接老化板2，控制儀4連接控制板3，控制電源5連接控制儀4和控制板3；殼體表面裝有與控制儀4連接的顯示裝置。
所述控制板3包括老化、充電切換繼電器J1、每工位切入或脫離老化回路兼作檢測(cè)選通陣列繼電器J2、老化、測(cè)試?yán)^電器J3；控制儀4包括采樣控制測(cè)試塊CI、采樣電阻R1、R2，采樣控制測(cè)試塊CI內(nèi)帶有微處理器，電阻R1小于R2；老化電源1的輸出端接繼電器J1與限流電阻R3，繼電器J1接老化板，繼電器選通陣列J2與試品匹配，繼電器選通陣列J2接繼電器J3，繼電器J3的觸點(diǎn)A接采樣電阻R1接地，觸點(diǎn)B接采樣電阻R2接地；采樣控制測(cè)試塊的輸入端 接采樣電阻R1，輸入端 接采樣電阻R2，輸出端1接老化、充電切換繼電器J1，輸出端2接每工位切入或脫離老化回路兼作檢測(cè)選通陣列繼電器J2，輸出端3老化、測(cè)試?yán)^電器J3。
本實(shí)用新型的工作過程如下一、開機(jī)待命狀態(tài)采樣控制測(cè)試塊CI控制的各繼電器處于初始狀態(tài)。此時(shí)J1斷開，回路中串入限流電阻，J2處于閉合狀態(tài)，各老化工位處于老化回路中，J3觸點(diǎn)在A位，接通老化回路。
二、老化狀態(tài)J1閉合。此時(shí)當(dāng)某一工位擊穿時(shí)，擊穿電流大于額定值，控制板3上的采用電阻R1輸出短路信號(hào)至采樣控制測(cè)試塊CI的第輸入端。對(duì)于瞬間擊穿，采樣控制測(cè)試塊CI不予處理。當(dāng)短路時(shí)間持續(xù)1秒鐘以上時(shí)，根據(jù)所得到的監(jiān)視信號(hào)查知故障所在的板號(hào)，并經(jīng)信號(hào)輸出端3輸出控制信號(hào)至該板的老化、測(cè)試?yán)^電器J3，使該板進(jìn)入短路查尋狀態(tài)，判別出短路電容。其后，采樣控制測(cè)試塊CI經(jīng)信號(hào)輸出端2輸出控制信號(hào)至該工位所串聯(lián)的繼電器J2，切斷該工位在老化系統(tǒng)中的回路。最后系統(tǒng)自動(dòng)回復(fù)到老化監(jiān)視狀態(tài)，下一個(gè)電容擊穿時(shí)重復(fù)以上過程。系統(tǒng)也能剔除未擊穿但漏電電流急劇增大的電容。被切斷的工位本次老化中將不再閉合，老化監(jiān)視的同時(shí)，可通過顯示屏觀察到每塊老化板上短路擊穿電容的分布情況。
三、漏電流測(cè)試狀態(tài)J3繼電器的觸點(diǎn)到B，即接通測(cè)試回路，可通過鍵盤設(shè)置所需檢測(cè)的通道、漏電流指標(biāo)的上限、檢測(cè)速度等項(xiàng)目，數(shù)據(jù)顯示屏所測(cè)電流值并存入打印緩沖區(qū)。在此種狀態(tài)下，J2繼電器陣列受控輪流導(dǎo)通，此時(shí)該板J1繼電器處于閉合狀態(tài)，測(cè)試處于低阻值回路。老化電流恒流點(diǎn)自動(dòng)轉(zhuǎn)到0.4A，以避免測(cè)試過程中器件短路造成測(cè)量回路過載。巡檢時(shí)，每8位先預(yù)穩(wěn)再測(cè)試，并顯示相應(yīng)工位。
用本實(shí)用新型試驗(yàn)裝置可對(duì)試品施加溫度應(yīng)力、電應(yīng)力、時(shí)間應(yīng)力，使試品迅速暴露潛在缺陷，提早進(jìn)入早期失效期，可廣泛應(yīng)用于電容器生產(chǎn)、使用廠家，和研究所。
權(quán)利要求1.一種電容器高溫老化臺(tái)，包括殼體，殼體內(nèi)裝有老化電源、高溫箱、老化板，其特征在于還包括由繼電器觸點(diǎn)構(gòu)成的控制板和帶有微處理器的控制儀，老化電源通過所述控制板連接老化板，控制儀連接控制板，控制電源連接控制儀和控制板。
2.如權(quán)利要求1所述的一種電容器高溫老化臺(tái)，其特征在于所述控制板包括老化、充電切換繼電器J1，每工位切入或脫離老化回路兼作檢測(cè)選通陣列繼電器J2、老化、測(cè)試?yán)^電器J3；控制儀包括采樣控制測(cè)試塊、采樣電阻R1、R2；老化電源的輸出端接繼電器J1與限流電阻R3，繼電器J1接老化板，繼電器選通陣列J2與試品匹配，繼電器選通陣列J2接繼電器J3，繼電器J3的觸點(diǎn)A接采樣電阻R1接地，觸點(diǎn)B接采樣電阻R2接地；采樣控制測(cè)試塊的輸入端接采樣電阻R1，輸入端接采樣電阻R2，輸出端1接老化、充電切換繼電器J1，輸出端2接每工位切入或脫離老化回路兼作檢測(cè)選通陣列繼電器J2，輸出端3老化、測(cè)試?yán)^電器J3。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種用于電容器老化試驗(yàn)的高溫老化臺(tái),包括殼體,殼體內(nèi)裝有老化電源、高溫箱、老化板,其特征在于還包括由繼電器觸點(diǎn)構(gòu)成的控制板和帶有微處理器的控制儀,老化電源通過所述控制板連接老化板,控制儀連接控制板,控制電源連接控制儀和控制板?？蓮V泛應(yīng)用于電容器生產(chǎn)、使用廠家和研究所。
文檔編號(hào)H01G13/00GK2370547SQ97246388
公開日2000年3月22日 申請(qǐng)日期1997年12月9日 優(yōu)先權(quán)日1997年12月9日
發(fā)明者曹驥 申請(qǐng)人:曹驥