專利名稱：試驗插座的柵格形設(shè)置的制作方法
背景技術(shù)：
本發(fā)明在總體上涉及電氣連接器，具體涉及適用于集成電路(″IC″)組件的老化試驗插座。
傳統(tǒng)的老化試驗插座典型地包括數(shù)個端子，該端子配入相應(yīng)的數(shù)個端子容納腔。端子通常包括接觸部，用以與IC組件的引角接觸；尾部，用以與另一電子元件電氣連接；彈性部，設(shè)置在接觸部和尾部之間，用以提供接觸壓力，以保證經(jīng)過端子的電路可靠。
最普通的端子容納腔為矩形，并單方向?qū)R。盡管有矩形腔傾斜對齊或任意設(shè)置而不對齊的例子，但典型的設(shè)置是一致對齊平行于或垂直于插座體側(cè)邊的方向。
然而，無論怎樣對齊，由于日益增長的電氣元件小型化需求，和日益增長的更高速和并行通道的需求，通常希望增加通過插座的端子密度。因此，本發(fā)明目的之一在于提供一種老化試驗插座，該插座允許增加插座體單位面積上端子的密度，而仍保持足夠的強度，以經(jīng)受在相繼測試IC組件而反復(fù)插入和拔出的循環(huán)應(yīng)力。
另一涉及用作集成電路組件老化試驗插座質(zhì)量的因素，在于可用其測試這些組件的效率。因此，重要的是保證插入老化試驗插座的集成電路組件，正確地對準插入老化試驗插座的插座組件以進行測試。特別是，未對準的組件可能提供錯誤的試驗讀數(shù)，這是由于集成電路組件的引角可能與電氣測試裝置例如老化板間沒有可靠的電路的緣故。傳統(tǒng)的老化試驗插座包括用以將集成電路組件下降并與其端子接觸的裝置，這種插座裝置通常沒有令人滿意的措施以確保組件的橫向位置，因此，可能導(dǎo)致不令人滿意的測試結(jié)果與測試效率。
因此，本發(fā)明的目的之一在于提供一種老化試驗插座，該插座能允許增加駐留在插座上的端子密度而不損害插座的實體強度和性能。本發(fā)明的另一目的在于保證每一端子與集成電路組件的相應(yīng)引角可靠接觸，以保證更有效地對集成電路組件進行老化試驗。
發(fā)明概述為實現(xiàn)上述目的，提供了一種用于對具有電氣引角的集成電路組件進行老化試驗的插座。在本發(fā)明的一實施例中，插座包括外插座體；內(nèi)插座體，可相對于外插座體在上極限位置與下極限位置間滑動，內(nèi)插座體用于支承集成電路組件，并具有端子容納腔。插座還包括數(shù)個端子，設(shè)置在內(nèi)插座體端子容納腔內(nèi)，用于與集成電路組件的引角接觸；凸輪裝置，用于使內(nèi)插座體相對于外插座體在上極限位置與下極限位置間升降；摯子裝置，用以相對于內(nèi)插座體夾持與釋放集成電路組件。
另一方面，本發(fā)明的插座包括開口，用于插入集成電路組件；外插座體；和內(nèi)插座體，可相對于外插座體，在上極限位置與下極限位置間滑動。內(nèi)插座體具有數(shù)個端子容納腔；數(shù)個端子，設(shè)置在內(nèi)插座體端子容納腔中；凸輪裝置，具有一致動器；和摯子裝置，具有與凸輪裝置相同的致動器。至少凸輪裝置和摯子裝置中之一具有一偏移復(fù)位裝置，摯子裝置包括摯子臂。
獨特的端子容納腔和端子的柵格式設(shè)置，有效地增加端子密度而沒有損害老化試驗插座的強度和物理特性。此外，凸輪裝置和摯子裝置，相對于集成電路組件插/卸時機的選擇的獨特的相互作用，以及在凸輪表面與從動件表面間相對平緩和相對陡峭的傾斜部的相互作用，提供了可靠的插座和方法，以進行集成電路老化試驗的，其中，集成電路組件脫落和錯放的風險最小。
對附圖的簡要說明

圖1為一根據(jù)本發(fā)明原理制造的老化試驗插座的平面視圖；圖2為圖1所示老化試驗插座從圖1中箭頭P所示方向觀察的側(cè)視圖；圖3為圖1所示老化試驗插座從圖1中箭頭Q所示方向觀察的側(cè)視圖4為圖1所示老化試驗插座沿圖1中4-4線剖切的截面圖，示出了當IC組件經(jīng)受老化試驗時，老化試驗插座元件的相對位置；圖5為類似于圖4的局部剖視圖，示出了集成電路組件就位時老化試驗插座其它元件；圖6為圖1所示老化試驗插座的局部剖視圖，沿圖1中6-6線剖切，也示出了當IC組件就位時老化試驗插座的其它元件；圖7為圖1所示老化試驗插座的局部剖視圖，沿圖1中4-4線剖切，示出了當IC組件完全插入前，處于中間狀態(tài)時老化試驗插座的元件；圖8為圖1所示老化試驗插座的局部剖視圖，沿圖1中6-6線剖切，示出了當老化試驗插座處在與圖7所示相同狀態(tài)下，老化試驗插座的元件是如何設(shè)置的；圖9為圖1所示老化試驗插座的局部剖視圖，沿圖1中4-4線剖切，示出了當IC組件老化試驗后已被釋放，或IC組件開始放入老化試驗插座時的特定元件；圖10為圖1所示老化試驗插座的局部剖視圖，沿圖1中6-6線剖切，示出了與圖9相同狀態(tài)下老化試驗插座的元件；圖11為平面示意圖，表示圖1所示老化試驗插座的端子容納腔柵格式平面設(shè)置；圖12為圖11中柵格部更詳細的放大視圖，該放大部為圖1中箭頭A所指處；圖13為根據(jù)本發(fā)明原理制造的端子的側(cè)視圖；圖14為圖13所示端子的端視圖；圖15為圖4沿箭頭B所指處的局部放大的詳圖，圖解說明被選端子的接觸部如何與IC組件的焊球(solder ball)接觸；圖16為圖1所示老化試驗插座所用繞樞軸轉(zhuǎn)動的摯子的平面視圖；圖17為圖16所示摯子的側(cè)視圖；圖18為圖1所示老化試驗插座所用頂蓋帶局部剖的側(cè)視圖19為頂蓋的另一局部剖的側(cè)視圖。
對推薦實施例的詳細說明參看圖1，可見，老化試驗插座1包括插座體2，該插座體包括外插座體3，其具有安裝銷3a，該安裝銷3a與外插座體的底部制成一體；和一內(nèi)插座體4，其安裝在外插座體3內(nèi)。特別是，內(nèi)插座體4在外插座體3內(nèi)的安裝是通過將內(nèi)插座體4的連接爪6與外插座體3上的對應(yīng)連接爪5嵌配，以防止內(nèi)插座體4從外插座體3分離，但允許內(nèi)插座體4下降進入外插座體3。
內(nèi)插座體4具有凹槽4b，其設(shè)置在頂部4a；和數(shù)個端子容納腔7，其從內(nèi)插座體4的頂部4c延伸至底部4d。
正如在圖11和12中清楚所見，端子容納腔7為矩形，并設(shè)置為組成一種柵格圖案，其中，每一容納腔7設(shè)置成使矩形腔相面對的長邊8垂直于面對兩相鄰矩形腔的短邊，并使相面對的兩短邊9垂直于面對兩相鄰矩形腔的長邊。這種設(shè)置，在矩形腔7的每一邊與環(huán)繞矩形腔所面對的邊之間，形成尺寸一致的預(yù)定間隔區(qū)域10。在所示實施例中，矩形腔7的每一長邊8大約兩倍于短邊9的長度。
這種在內(nèi)插座體4的凹槽4c內(nèi)的柵格形設(shè)置，允許端子容納腔7以更大的密度設(shè)置，而仍保證內(nèi)插座體4具有與均勻分布設(shè)置的插座體相同的實體強度。相反，更多按傳統(tǒng)方式使容納腔對齊的設(shè)置，有在平行于或垂直于對齊方向上降低實體強度的趨勢。因此，與傳統(tǒng)使容納腔對齊的設(shè)置相比，本發(fā)明可增加單位面積上矩形容納腔的數(shù)目而可以不降低強度。外插座體3具有相應(yīng)的數(shù)個端子爪容納腔11，該容納腔11與上述柵格狀設(shè)置的容納腔7沿垂直方向?qū)省?br> 參看圖13、14和15，可見每一端子12包括接觸部13、彈性部14和尾部15。這些部分均與設(shè)置在接觸部13和尾部15之間的彈性部14連成一體。接觸部13在一實施例中包括與接觸基片13a連成一體的一對接觸頭13b和13c。接觸頭13b和13c對稱地設(shè)置成V形接觸面，該接觸面由傾斜接觸表面16b、16c和窄凹底13d所限定。
每一端子12的彈性部14，在一實施例中，包括若干反向交替連接在一起的U形部14b，從接觸部13延伸至尾部15。如圖13所示，U形部可由直線部14a連接。此外，這些直線部14a可以取消而由U形部彼此直接連接。
尾部15，在一實施例中，包括基片15a和與基片15a連在一體的尾接觸部15b。尾接觸部15b用于與在老化試驗板(未示出)上的電子元件電氣連接。在一實施例中，基片15a具有在兩側(cè)制出的連接爪15c。
端子12，在從接觸部13至尾部15的彈性部14以圖示蛇形延伸的平面內(nèi)較寬，而在垂直于彈性部14蛇形延伸平面的平面內(nèi)較窄。端子12可以由金屬片沿垂直于較寬部17的方向直接壓制成。精確的蛇形部可由一薄金屬片壓制出。也可首先壓制出彈性部14，然后將其交替沿相反方向彎曲以形成若干U形部，如圖13所示。
為將端子12插入內(nèi)插座體4上所選的端子容納腔7和在外插座體3上相應(yīng)的尾部容納腔11，端子12與所選的端子容納腔7分別以寬邊與窄邊17和18平行于矩形腔7的相應(yīng)的長邊8和短邊9對準。然后，端子12的接觸部13從內(nèi)插座體4的底部插入矩形腔，直至接觸部13出現(xiàn)在凹槽4b處，從而允許接觸部13上接觸基片13a的兩肩19貼靠在所選端子容納腔7開口端制出的相面對的止擋凸起20。最后，內(nèi)插座體4的端子容納腔7被端子12充塞，內(nèi)插座體4是安裝在外插座體3上，因此，允許端子12尾部15的基片15a進入外插座體3的尾部容納腔11。每一端子12上基片15a的背對的連接爪15c與尾部容納腔11的壁接觸，這是通過拉出突出于插座體2底面的尾部15實現(xiàn)的。這樣，每一端子12能可靠地保持在插座體2內(nèi)。
當端子12安裝在內(nèi)插座體4和外插座體3中，每一端子被四個與之呈90°的相鄰端子所環(huán)繞(或處于此四個端子的中心處)。因此。接觸部13上基片17的寬邊和窄邊在內(nèi)插座體上交替以行或列出現(xiàn)(見圖11、12和15)。
最好蛇形彈性部14及其U形組成部分14b的尺寸相對于矩形容納腔7設(shè)計成這樣，使端子12可以壓入，而當端子12的接觸部13被置于與IC組件的焊球接觸時，U形部14b不與矩形腔四周的壁接觸。
老化試驗插座最好具有環(huán)形頂蓋21，頂蓋具有被正方形框22所環(huán)繞的開口23。因此，老化試驗插座頂上開口，允許自動裝取裝置將IC組件24本質(zhì)上裝在老化試驗插座的內(nèi)插座體4上，并在試驗結(jié)束后卸下IC組件。
頂蓋21可相對于外插座體和插座體2上下運動，插座體2還包括一凸輪裝置，最好具有一對凸輪27，該凸輪可繞固定在外插座體3上的樞軸轉(zhuǎn)動，凸輪復(fù)位彈簧26與凸輪27協(xié)調(diào)動作使凸輪偏轉(zhuǎn)至直立的位置，在頂蓋21下端面形成凸輪從動件表面33。借助于這種裝置，當去除外部施加的下推力而釋放頂蓋21時，頂蓋21和內(nèi)插座體4允許上升至上極限位置，如圖5所示。反之，當頂蓋21被外力下推時，頂蓋21和內(nèi)插座體4下降至下極限位置，如圖9所示。這些元件彼此間相對的中間位置，即過渡位置，如圖7所示。
每一凸輪復(fù)位彈簧26，在圖示實施例中，設(shè)置在外插座體3和對應(yīng)于凸輪27的彈簧座29之間，因此，當沒有外力反抗時，可迫使凸輪27繞其樞軸轉(zhuǎn)至直立位置。凸輪27具有在頂部形成的凸輪表面32，用以與環(huán)形頂蓋22的凸輪從動件表面33滑動接觸。在圖示實施例中，凸輪從動件表面33包括平緩傾斜部33a和陡峭傾斜部33b。在上極限位置，如圖5所示，每一凸輪27的凸輪表面32支承凸輪從動件表面33的平緩傾斜部33a。頂蓋21的下降(在向下外力作用下)使每一凸輪27的凸輪表面32在平緩傾斜部33a上運動，從而使凸輪27翹起，如圖7所示。蓋21進一步下降，將使凸輪表面32從平緩傾斜部33a運動至陡峭傾斜部33b，因此，凸輪27進一步向外翹起直至其下極限位置，如圖9所示。隨后，去除所施加下推頂蓋21的力，由于復(fù)位彈簧26的恢復(fù)作用，允許每一凸輪途經(jīng)圖7所示過渡位置返回其如圖5所示的上極限位置。
凸輪37的轉(zhuǎn)動，不僅對應(yīng)于頂蓋21的上下運動，也對應(yīng)于內(nèi)插座體4的上下運動。內(nèi)插座體4具有一對在相反兩側(cè)制成的橫向凸起30，此橫向凸起與相面對的凸輪27的橫向槽31松配合。當凸輪27在垂直位置(上極限位置--見圖5)，沒有任何向下的力施加其上時，橫向凸起30配合在所面對的凸輪27的橫向槽31中，內(nèi)插座體4的連接爪6被外插座體3的對應(yīng)連接爪5所卡住。這一位置被認為是“蓋返回，上極限位置”。在下一個老化試驗之前，頂蓋21被向下推，以迫使每一凸輪27向外傾斜，從而允許每一凸輪27的凸輪表面32從平緩傾斜部向陡峭傾斜部過渡，并允許內(nèi)插座體4的每一橫向凸起30開始離開凸輪27的橫向槽31。因此內(nèi)插座體4的橫向凸起30和必要的內(nèi)插座體4本身，下降至進入圖7所示過渡位置即中間位置。這一位置被認為是“蓋下降，中間位置”。
然后，隨著每一凸輪27的凸輪表面32沿陡峭傾斜部33b運動，直至凸輪27到達完全傾斜的位置，頂蓋21下降至下極限位置。因此，內(nèi)插座體4下降至最低位置(見圖9)。此位置是“蓋下降，下極限位置”。凸輪27、蓋21和內(nèi)插座體4的形狀尺寸設(shè)計成可實現(xiàn)上述協(xié)調(diào)動作。
在“蓋返回，上極限位置”(圖5和6)，IC組件24可經(jīng)受稱為(“老化試驗進行期”)的老化試驗。在“蓋下降，中間位置”(圖7和8)，老化試驗完成，IC組件24或者即將從插座移去，或者即將進行一次老化試驗(“過渡期”)。在“蓋下降，下極限位置”(圖9和10)，老化試驗完成，IC組件可從老化試驗插座1中經(jīng)過頂蓋21的中心開口23取出，或者將準備老化試驗的IC組件從頂蓋21的中心開口23放在內(nèi)插座體4上以進行老化試驗(“卸載或裝載期”)。
在“老化試驗進行期”(圖5和6)，IC組件24必須牢固夾持。為此目的，老化試驗插座具有一摯子裝置，設(shè)置在頂蓋21下面。在圖示實施例中，摯子裝置包括一對L形摯子臂34，其可繞固定在外插座體3上的樞軸轉(zhuǎn)動；摯子復(fù)位彈簧35，其與L形摯子臂34協(xié)調(diào)動作，使摯子臂34的角鐵34a偏向IC組件；和摯子致動器38，其與L形摯子臂34協(xié)調(diào)動作，以反抗摯子彈簧35使摯子臂34傾斜并趨向釋放位置。利用這種裝置，IC組件24可在“老化試驗進行期”夾持在內(nèi)插座體的頂部(參見圖6)，隨后并可在老化試驗結(jié)束后，按下面的詳細說明將其釋放。
每一L形摯子臂34(圖16和17)具有一傾斜部36，其可繞固定在外插座體3上的樞軸從每一凸輪27轉(zhuǎn)過90°。這就允許每一L形摯子臂34繞樞軸轉(zhuǎn)向所面對的摯子臂34以夾持IC組件24，或離開所面對的摯子臂34以釋放IC組件。正常情況下，面對的摯子臂34在復(fù)位彈簧35的作用下保持夾持位置。在“老化試驗進行中”(頂蓋21未推下)，面對的L形摯子臂34利用其摯子表面34a壓在IC組件24的頂面而夾持IC組件24(見圖5和6)。參看圖18和19，頂蓋21具有四個無摯子桿38在頂蓋的底部制出，以緊貼相面對的摯子傾斜部36，起摯子致動器的作用。頂蓋21具有連接桿22a，該連接桿22a在頂蓋的底部制出，以卡住插座體2。
在“過渡期”(頂蓋21處于下推的過程中)，無摯子桿38接近傾斜部36(見圖7和8)，而在“卸載或裝載中”，在此之前頂蓋21是處于最低位置(見圖9和10)，無摯子桿38迫使L形摯子臂34從IC組件的頂面向外傾斜，從而允許一自動快速裝卸機從老化試驗插座1將IC組件24卸去(或?qū)⒁籌C組件24放入老化試驗插座1)。
相面對的L形摯子臂34在“過渡期”直立(見圖7和8)，以相對于內(nèi)插座體4夾持IC組件24，避免IC組件24從內(nèi)插座體4脫落或在其上橫向位移。L形摯子臂34剛好在“卸載或裝載期”之前打開。為此目的，凸輪27的凸輪表面32設(shè)計成在凸輪從動件表面33的平緩傾斜部33a上運動，于是，頂蓋21和內(nèi)插座體4可相應(yīng)地允許從“老化試驗進行期”至“過渡期”的結(jié)束，緩慢下降，而從“過渡期”的結(jié)束至“裝載或卸載期”快速下降。
如果IC組件24在“過渡期”從內(nèi)插座體4脫落或在內(nèi)插座體上有某種位移(參見圖7和8)，老化試驗不能取得滿意的結(jié)果。為避免這一缺點，L形摯子臂34在“過渡期”是直立的，以夾持IC組件(見圖8)，并剛好在“卸載或裝載期”之前打開(見圖10)。為在夾持前阻止脫落或位移，頂蓋21和內(nèi)插座體4從“老化試驗進行期”至“過渡期”的結(jié)束緩慢下降，這是通過在此期間凸輪27的凸輪表面32沿凸輪從動件表面33的平緩傾斜部33a運動實現(xiàn)的。然后，在“過渡期”之后直至“卸載或裝載期”，頂蓋21和內(nèi)插座體4快速下降，這是由于凸輪表面32沿凸輪從動件表面33的陡峭傾斜部33b運動的結(jié)果。這樣，IC組件24剛好在“卸載或裝載期”之前借助于L形摯子臂34可靠地夾持在內(nèi)插座體4上，從而老化試驗可取得滿意的結(jié)果。用老化試驗插座1進行老化試驗的方式說明如下。
現(xiàn)在參看圖5和6，在老化試驗過程中，沒有向下的力作用在頂蓋21上，因此，允許凸輪27直立，凸輪表面32的起始位置設(shè)置在凸輪從動件表面33的平緩傾斜部33a。頂蓋21停留在其上極限位置，內(nèi)插座體4上相面對的凸起30與凸輪27的槽31為松配合。內(nèi)插座體4上的連接爪6被外插座體3的對應(yīng)連接爪5卡住。相面對的L形摯子臂34直立，通過將摯子表面34a放在IC組件24的頂面，以夾持IC組件24。這樣，IC組件24的焊球25放在與端子12的接觸部13接觸處，從而老化試驗可以進行。
現(xiàn)在參看圖15，內(nèi)插座體4停留在上極限位置，IC組件24由L形摯子臂34夾持在內(nèi)插座體4上。當IC組件24的焊球25與內(nèi)插座體4的端子12的接觸部13接觸時，端子12被壓縮，所儲存的壓縮力使U形部14b產(chǎn)生匯聚而使彼此間距減小。不過，以這種方式吸收壓縮力，橫向彎曲最小，因此，端子12的彈性蛇形部13不會被迫進入所處的端子容納腔7的壁。相反，每一端子的彈性部在其長度上均勻減小。這允許每一端子12產(chǎn)生一穩(wěn)定的彈性力，該彈性力作用在每次進行的老化試驗的相應(yīng)焊球上，無論端子的側(cè)邊是否因試圖增加端子密度而減小。于是端子12的彈性部13有利于在增加密度時小尺寸端子的設(shè)計與布置，而且保證與相應(yīng)焊球良好的實體和電氣接觸。
如上所述，每一端子12可產(chǎn)生穩(wěn)定的彈性力作用在被選定的焊球上。更具體地說，焊球25與一對接觸部13b和13c接觸，該接觸部是在端子12的彈性部14所儲存的彈性力的作用下推向焊球25的。相面對的一對接觸部13b和13c牢固地靠住焊球25，因此，在相面對的一對接觸部13b和13c與焊球25間的界面沒有誤差。誤差的消除避免了在界面上的較大電阻。即使被選焊球尺寸在預(yù)定允差范圍內(nèi)，V形接觸面限定的一對接觸部將保證良好的電氣接觸。
如前所述，端子容納腔7設(shè)置為組成一種獨特的柵格圖案，其中，各容納腔相對于各相鄰的容納腔呈一特定的角度。如圖1和11所示，每一容納腔7在總體上呈矩形，具有一對第一(較長的)相面對的邊8，該一對第一(較長的)相面對的邊8與一對第二(較短的)相面對的邊9相連。在該柵格圖案中，每一容納腔的至少一個相面對的長邊8與兩相鄰容納腔的短邊9的其中之一相對應(yīng)。類似地，每一容納腔的至少一個相面對的短邊9與相鄰容納腔(附圖中示出了兩個這樣的容納腔)的長邊8相對應(yīng)。通過這種設(shè)置，在一個被選容納腔的邊與在周圍相鄰的其它容納腔的相對應(yīng)的邊之間形成一間隔區(qū)域10。
每一端子容納腔7容納一端子12，該端子的寬邊17和窄邊18分別平行于端子容納腔7的長邊8和短邊9。IC組件24的焊球25設(shè)置成對應(yīng)于各端子，該端子安裝在以所述特定圖案設(shè)置的端子容納腔中。所述柵格圖案允許全部端子12設(shè)置在容納腔與容納腔間相等的區(qū)域10，這樣就允許端子12的密度增加。
從上述可知，此具有創(chuàng)造性的插座和方法，比傳統(tǒng)的老化試驗插座和方法，在集成電路的老化試驗方面提供了顯著的優(yōu)點。獨特的端子容納腔柵格設(shè)置及其中的端子，允許增加端子密度而不傷害試驗插座的物理性能特征。此外，凸輪裝置和摯子裝置相對于集成電路組件在插座的插/取時機選擇之間的相互協(xié)調(diào)動作，以及在凸輪表面和凸輪從動件表面間較平緩傾斜部和較陡峭傾斜部的相互協(xié)調(diào)動作，為集成電路老化試驗提供了一種可靠的插座和方法，使集成電路組件脫落和錯放的風險最小。
本發(fā)明并不局限于在此所述實施例或任何具體實施例。種種替換實施例均被認為是本發(fā)明領(lǐng)域，包括這樣的實施例不同于頂蓋的凸輪裝置和摯子裝置的普通執(zhí)行裝置；凸輪和摯子的偏轉(zhuǎn)復(fù)位力不是通過彈簧產(chǎn)生；在凸輪表面和凸輪從動件表面間，對于相互作用的不一致的傾斜度并不局限于在單一元件；以及端子容納腔的垂直邊的各部不像在此所述或所示。在本發(fā)明范圍內(nèi)還可對所述實施例進行其它的修改。本發(fā)明由下述權(quán)利要求所限定。
權(quán)利要求
1.一種插座，用于對集成電路(“IC”)組件進行老化試驗，該IC組件具有數(shù)個導(dǎo)電引角，所述插座具有一插座體，其在試驗過程中至少容納IC組件的至少一部分，該插座體包括一基體元件，該基體元件可與所述IC組件的引角相接觸，在該基體元件上設(shè)有端子腔的陣列；數(shù)個導(dǎo)電端子，每個端子容納在一個端子腔內(nèi)，當所述IC組件容納在所述插座內(nèi)時，各端子與所述IC組件的所述引角相接觸；每個所述端子腔具有至少四個邊，包括一對相面對的第一邊和一對相面對的第二邊，所述相面對的第一邊的長度大于所述相面對的第二邊的長度；所述端子腔在所述基體元件上以柵格方式進行設(shè)置，其中，每個端子腔的周圍至少有三個相鄰的端子腔，這樣，所述端子腔至少一個所述的第一邊與所述相鄰的端子腔的第二邊相對應(yīng)。
2.如權(quán)利要求1所述的插座，其中，所述IC組件的引角上包括焊球，每個端子的接觸部包括接觸部分，該接觸部分形成了V形接觸面，該V形接觸面至少具有兩個接觸表面，當所述IC組件置于所述插座上時，所述接觸表面與相應(yīng)的所述焊球相接觸。
3.如權(quán)利要求1所述的插座，其中，所述端子腔以所述柵格方式進行設(shè)置，分為離散的端子腔的列和行。
4.如權(quán)利要求1所述的插座，其中，所述端子腔在總體上呈矩形。
5.如權(quán)利要求1所述的插座，其中，所述端子腔以所述柵格方式進行設(shè)置，這樣，每個端子腔垂直于相鄰的端子腔延伸。
6.如權(quán)利要求1所述的插座，其中，每兩個相鄰的端子腔由尺寸統(tǒng)一的間隔區(qū)域相互間隔。
7.一種插座，用于對IC組件進行老化試驗，該IC組件具有導(dǎo)電引角，所述插座包括一插座體，其具有數(shù)個端子，這些端子分別置于數(shù)個端子容納腔內(nèi)，所述端子容納腔在總體上呈矩形，以柵格方式進行設(shè)置，其中，每個端子容納腔設(shè)有一對相面對的長邊和一對相面對的短邊，每一長邊與一相鄰的端子容納腔的短邊相對應(yīng)，每一短邊與一相鄰的端子容納腔的長邊相對應(yīng)。
8.如權(quán)利要求7所述的插座，其中，在總體上呈矩形的所述端子容納腔的一個邊與一相鄰的相對應(yīng)的一個邊之間，設(shè)有尺寸統(tǒng)一的間隔區(qū)域。
9.如權(quán)利要求7所述的插座，其中，所述IC組件的所述引角是在總體上呈球形的焊球，每個端子都包括接觸部，該接觸部包括一對接觸部分，該接觸部分對稱地形成了V形接觸面，該V形接觸面限定了傾斜的接觸表面，當所述集成電路組件進行老化試驗時，所述接觸表面與相應(yīng)的焊球相接觸。
全文摘要
一種插座,用于對具有引角的集成電路組件進行老化試驗。此插座具有插座體,該插座體具有在總體上呈矩形的端子容納腔的列和行的陣列,每個在總體上呈矩形的端子容納腔具有一縱向方向,該縱向方向?qū)?yīng)于較長的尺寸,數(shù)個端子容納在一個端子容納腔內(nèi),以與集成電路的引角相接觸。陣列中的列和行包括至少三個相鄰的端子腔,其中,除了第一個和最后一個端子腔,每個端子腔的縱向方向在本質(zhì)上垂直于在兩側(cè)相鄰的端子腔的縱向方向。
文檔編號H01R24/00GK1266492SQ99800672
公開日2000年9月13日 申請日期1999年3月31日 優(yōu)先權(quán)日1998年4月1日
發(fā)明者山本勇, 中野智宏, 金重祥 申請人:莫勒克斯有限公司