一種非線性預(yù)四極桿的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及質(zhì)譜檢測領(lǐng)域，尤其涉及一種質(zhì)譜儀中的預(yù)四極桿。
[0002]
【背景技術(shù)】
[0003]
目前四極質(zhì)量分析器采用的是傳統(tǒng)軸向設(shè)計，即四根直預(yù)四極桿與四根主四極桿采用的是同軸連接(圖1所示)，此種帶有直預(yù)四極桿的質(zhì)量分析器雖可一定程度上減少主四極桿的污染，但無法消除和減少從離子源出來的中性粒子通過分析四極桿，圖1所示中有大量中性粒子(玫紅色點表示)通過分析四極桿；因此在儀器使用過程中，如果想降低中性粒子產(chǎn)生的噪音，采取的方法就是降低離子源透鏡的電位，但這種方法也會造成離子強(qiáng)度下降，影響儀器靈敏度，因此需要尋找一種既不會降低離子源透鏡電位，又能夠降低中性粒子產(chǎn)生的噪音的方法。
[0004]
【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]
本發(fā)明的目的是為了解決上述技術(shù)問題而提供一種非線性預(yù)四極桿，可以根據(jù)電場對帶電粒子和中性粒子不同的影響，設(shè)置一種具有非線性結(jié)構(gòu)的器件，使得中性粒子可以以原有軌跡射出，由此可以在不降低離子源透鏡的電位的情況下，降低中性粒子產(chǎn)生的噪音，由此，本發(fā)明提供了一種非線性預(yù)四極桿，包括具有2η個金屬桿且兩兩相對導(dǎo)通的金屬桿組件、固定環(huán)，所述金屬桿組件固定安裝在所述固定環(huán)，所述金屬桿組件具有非線性結(jié)構(gòu)。
[0006]根據(jù)【背景技術(shù)】中對現(xiàn)有技術(shù)所述，目前四極質(zhì)量分析器采用的是傳統(tǒng)軸向設(shè)計，即四根直預(yù)四極桿與四根主四極桿采用的是同軸連接(圖1所示)，此種帶有直預(yù)四極桿的質(zhì)量分析器雖可一定程度上減少主四極桿的污染，但無法消除和減少從離子源出來的中性粒子通過分析四極桿;而本發(fā)明公開的非線性預(yù)四極桿，可以在不改變透鏡電位的情況下，使得沿原有軌跡運動的中性粒子無法進(jìn)行非線性運動，如此條件下無法形成彎曲運動軌跡，進(jìn)而無法到達(dá)檢測器，從而可以直接降低和消除中性粒子引起的噪音，同時又不影響離子強(qiáng)度，所以能形成好的檢測精度。
[0007]另外，根據(jù)本發(fā)明公開的測量儀還具有如下附加技術(shù)特征:
進(jìn)一步地，所述非線性結(jié)構(gòu)為彎曲結(jié)構(gòu)。
[0008]簡單的彎曲結(jié)構(gòu)在制作和使用上更加便捷，優(yōu)選地，具有弧度的彎曲結(jié)構(gòu)。
[0009]更進(jìn)一步地，所述彎曲結(jié)構(gòu)的彎曲角度為大于等于5度小于等于60度。
[0010]優(yōu)選地，所述彎曲結(jié)構(gòu)的彎曲角度為大于等于11.4度小于等于11.7度。
[0011]進(jìn)一步地，所述非線性預(yù)四極桿還包括導(dǎo)電插針，所述導(dǎo)電插針聯(lián)接在所述金屬桿外側(cè)，所述金屬桿安裝在所述固定環(huán)內(nèi)側(cè)并成均勻分布。
[0012]導(dǎo)電插針為導(dǎo)電性良好的圓柱形金屬桿，起連接外路電壓的作用，均勻分布的金屬桿所形成的電場也是均勻的，有利于帶電粒子的規(guī)則運動。
[0013]進(jìn)一步地，所述金屬桿組件中兩兩相對且平行的所述金屬桿相互導(dǎo)通。
[OOM]進(jìn)一步地，所述η為自然數(shù)。
[0015]更進(jìn)一步地，所述η為I或2或3或4或5或6。
[0016]優(yōu)選地，η為2或3或4。
[0017]進(jìn)一步地，所述非線性預(yù)四極桿還包括聯(lián)接部件，所述聯(lián)接部件聯(lián)接所述金屬桿組件中的所述金屬桿和所述固定環(huán)。
[0018]更進(jìn)一步地，所述聯(lián)接部件和所述固定環(huán)之間的聯(lián)接為激光焊接結(jié)構(gòu)。
[0019]更進(jìn)一步地，所述聯(lián)接部件和所述金屬桿之間的聯(lián)接為激光焊接結(jié)構(gòu)。
[0020]更進(jìn)一步地，所述固定環(huán)具有設(shè)置有2η等份且相互彼此絕緣的分離金屬層的上端面和設(shè)置有整體金屬層的下端面，所述固定環(huán)包括第一固定環(huán)和第二固定環(huán)，所述金屬桿組件包括多個兩兩相對的上金屬桿和下金屬桿，所述聯(lián)接部件通過和所述第一固定環(huán)上的所述分離金屬層聯(lián)接的所述上金屬桿和所述第二固定環(huán)的所述整體金屬層聯(lián)接，進(jìn)一步和與所述第二固定環(huán)上的所述整體金屬層聯(lián)接的所述下金屬桿聯(lián)接導(dǎo)通。
[0021 ]更進(jìn)一步地，所述分離金屬層或所述整體金屬層厚度大于等于0.3mm且小于等于
0.6mmο
[0022]進(jìn)一步地，所述固定環(huán)采用陶瓷材料。
[0023]優(yōu)選地，所述陶瓷材料環(huán)為氧化鋁陶瓷環(huán)。
[0024]進(jìn)一步地，所述非線性結(jié)構(gòu)設(shè)置在所述金屬桿組件的1/2處或1/3處或2/3處或1/4處或3/4處。
[0025]優(yōu)選地，所述非線性結(jié)構(gòu)設(shè)置在所述金屬桿組件的1/2處。
[0026]進(jìn)一步地，所述金屬桿組件為不銹鋼結(jié)構(gòu)。
[0027]本發(fā)明附加的方面和優(yōu)點將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過本發(fā)明的實踐了解到。
[0028]
【附圖說明】
[0029]附圖1為本發(fā)明的現(xiàn)有技術(shù)結(jié)構(gòu)示意圖；
附圖2為本發(fā)明現(xiàn)有技術(shù)中性粒子通過分析四極桿的入射圖；
附圖3為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖；
附圖4為固定環(huán)正面分離金屬層分布示意圖；
附圖5為固定環(huán)反面整體金屬層分布示意圖；
【具體實施方式】
[0030]
下面詳細(xì)描述本發(fā)明的實施例，所述實施例的示例在附圖中示出，其中自始至終相同或類似的標(biāo)號表示相同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。下面通過參考附圖描述的實施例是示例性的，僅用于解釋本發(fā)明，而不能解釋為對本發(fā)明的限制。
[0031]在本發(fā)明的描述中，需要理解的是，術(shù)語“上”、“下”、“底”、“頂”、“前”、“后”、“內(nèi)”、“外”、“橫”、“豎”等指示的方位或位置關(guān)系為基于附圖所示的方位或位置關(guān)系，僅是為了便于描述本發(fā)明和簡化描述，而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構(gòu)造和操作，因此不能理解為對本發(fā)明的限制。
[0032]在本發(fā)明的描述中，需要說明的是，除非另有明確的規(guī)定和限定，術(shù)語“聯(lián)接”、“連通”、“相連”、“連接”、“配合”應(yīng)做廣義理解，例如，可以是固定連接，一體地連接，也可以是可拆卸連接；可以是兩個元件內(nèi)部的連通；可以是直接相連，也可以通過中間媒介間接相連；“配合”可以是面與面的配合，也可以是點與面或線與面的配合，也包括孔軸的配合，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言，可以具體情況理解上述術(shù)語在本發(fā)明中的具體含義。
[0033]目前四極質(zhì)量分析器采用的是傳統(tǒng)軸向設(shè)計，即四根直預(yù)四極桿與四根主四極桿采用的是同軸連接(圖1所示)。此種帶有直預(yù)四極桿的質(zhì)量分析器雖可一定程度上減少主四極桿的污染，但無法消除和減少從離子源出來的中性粒子通過分析四極桿，圖1所示中有大量中性粒子(如圖2所示)通過分析四極桿。因此在儀器使用過程中，如果想降低中性粒子產(chǎn)生的噪音，采取的方法就是降低離子源透鏡的電位，但這種方法也會造成離子強(qiáng)度下降，影響儀器靈敏度。
[0034]下面將參照附圖來描述本發(fā)明的裝置，其中附圖3為本發(fā)明的一個實施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0035]如圖3所示，根據(jù)本發(fā)明的實施例的非線性預(yù)四級桿，包括:金屬桿組件I，上金屬桿101，下金屬桿102，固定環(huán)2，第一固定環(huán)201，第二固定環(huán)202，導(dǎo)電插針3和聯(lián)接部件4。
[0036]根據(jù)本發(fā)明的實施例，如圖3所示，包括具有2η個金屬桿且兩兩相對導(dǎo)通的金屬桿組件1、固定環(huán)2，所述金屬桿組件I固定安裝在所述固定環(huán)2，所述金屬桿組件I具有非線性結(jié)構(gòu)。