陣列基板及顯示面板的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種陣列基板及顯示面板。
【背景技術(shù)】
[0002]近年來，OLED(Organic Light-Emitting D1de，有機(jī)發(fā)光二極管)技術(shù)發(fā)展迅速，已經(jīng)成為最有可能替代LCD (Liquid Crystal Display，液晶顯示器)的前景技術(shù)。
[0003]在0LED基板制程中，基板上的走線及像素陣列制程結(jié)束后，需要通過檢測裝置對0LED基板的像素缺陷進(jìn)行檢測?，F(xiàn)有檢測方法分為接觸式檢測與非接觸式檢測，接觸式檢測往往以全接觸的方式來設(shè)計(jì)測試端子。在接觸式檢測的方式中，為了能讓所有線路都能檢測到，往往會布置過多的測試端子，并占用很多空間。對于小尺寸顯示面板，測試端子占用太多的空間，因而會導(dǎo)致其它線路無法擺放。
[0004]參照圖1，其示出了根據(jù)【背景技術(shù)】的、陣列基板的示意圖。陣列基板100具有顯示區(qū)域120和圍繞顯示區(qū)域120的外圍區(qū)域110。在外圍區(qū)域110設(shè)置多個測試端子130用以檢測所有柵極線和數(shù)據(jù)線。測試端子130的數(shù)量會非常多，有的達(dá)到上千個，此時測試端子130占用了外圍區(qū)域110—側(cè)的幾乎全部空間，在這樣的情況下，一些其他的走線或?qū)ξ粯?biāo)記等，無法在外圍區(qū)域110中設(shè)置。而為了空間上的節(jié)省，有些0LED基板制程中，通常不在0LED基板上設(shè)置測試端子。這樣做的話，會失去監(jiān)控小尺寸面板良率，并且使小尺寸面板在制程上無法做進(jìn)一步改善。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0005]本實(shí)用新型為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)存在的缺陷，提供一種陣列基板及顯示面板，其節(jié)省陣列基板上測試端子的使用空間。
[0006]本實(shí)用新型提供一種陣列基板，具有顯示區(qū)域和圍繞所述顯示區(qū)域的外圍區(qū)域，所述外圍區(qū)域僅同一側(cè)的一端或同一側(cè)的兩端設(shè)置有多個測試端子，所述測試端子連接所述陣列基板內(nèi)的走線及電極以對所述陣列基板的線路進(jìn)行測試。
[0007]優(yōu)選地，所述陣列基板包括:數(shù)據(jù)線；柵極線；公共功率線；以及由所述數(shù)據(jù)線、柵極線及公共功率線所圍成的區(qū)域限定的像素單元，所述像素電極包括柵極、源極及漏極，其中，所述測試端子至少連接至所述數(shù)據(jù)線及所述柵極線以對所述柵極線進(jìn)行測試。
[0008]優(yōu)選地，所述測試端子包括:連接至所述柵極線的測試驅(qū)動時鐘公共信號的測試端子；連接至所述柵極線的測試驅(qū)動電壓信號的測試端子；以及通過所述數(shù)據(jù)線連接到所述像素單元的源極的測試RGB數(shù)據(jù)信號的測試端子。
[0009]優(yōu)選地，所述測試端子僅設(shè)置在外圍區(qū)域同一側(cè)的一端時，所述測試端子的數(shù)量為6至100個。
[0010]優(yōu)選地，所述測試端子設(shè)置在外圍區(qū)域同一側(cè)的兩端時，所述測試端子的數(shù)量共為3至50個。
[0011]根據(jù)本實(shí)用新型的又一方面，還提供一種顯示面板，包括:陣列基板；以及與所述陣列基板相對的蓋板，其中，所述陣列基板具有顯示區(qū)域和圍繞所述顯示區(qū)域的外圍區(qū)域，所述外圍區(qū)域僅同一側(cè)的一端或同一側(cè)的兩端設(shè)置有多個測試端子，所述測試端子連接所述陣列基板內(nèi)的走線及電極以對所述陣列基板的柵極線進(jìn)行測試。
[0012]優(yōu)選地，所述顯示面板為圓形或多邊形。
[0013]優(yōu)選地，所述顯示面板為有機(jī)發(fā)光顯示面板。
[0014]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型可減少陣列基板上測試端子的數(shù)量，并通過測試端子與驅(qū)動電路跨陣列基板顯示區(qū)域的電連接，在保證能夠檢測陣列基板的柵極線缺陷的基礎(chǔ)上，節(jié)省測試端子的布置空間。
【附圖說明】
[0015]通過參照附圖詳細(xì)描述及其示例實(shí)施方式，本實(shí)用新型的上述和其它特征及優(yōu)點(diǎn)將變得更加明顯。
[0016]圖1示出了根據(jù)【背景技術(shù)】的、陣列基板的示意圖。
[0017]圖2示出了根據(jù)本實(shí)用新型第一實(shí)施例的、陣列基板的示意圖。
[0018]圖3示出了根據(jù)本實(shí)用新型第一實(shí)施例的、像素陣列的示意圖。
[0019]圖4示出了根據(jù)本實(shí)用新型第二實(shí)施例的、陣列基板的示意圖。
[0020]圖5示出了根據(jù)本實(shí)用新型第三實(shí)施例的、陣列基板的示意圖。
[0021]其中，附圖標(biāo)記說明如下:
[0022]100、200、300、400 陣列基板
[0023]110、210、310、410 外圍區(qū)域
[0024]120、220、320、420 顯示區(qū)域
[0025]130、230、330、431、432 測試端子
[0026]340、441、442 驅(qū)動線路
[0027]221像素單元
【具體實(shí)施方式】
[0028]現(xiàn)在將參考附圖更全面地描述示例實(shí)施方式。然而，示例實(shí)施方式能夠以多種形式實(shí)施，且不應(yīng)被理解為限于在此闡述的實(shí)施方式；相反，提供這些實(shí)施方式使得本實(shí)用新型將全面和完整，并將示例實(shí)施方式的構(gòu)思全面地傳達(dá)給本領(lǐng)域的技術(shù)人員。在圖中相同的附圖標(biāo)記表示相同或類似的結(jié)構(gòu)，因而將省略對它們的重復(fù)描述。
[0029]所描述的特征、結(jié)構(gòu)或特性可以以任何合適的方式結(jié)合在一個或更多實(shí)施方式中。在下面的描述中，提供許多具體細(xì)節(jié)從而給出對本實(shí)用新型的實(shí)施方式的充分理解。然而，本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)意識到，沒有特定細(xì)節(jié)中的一個或更多，或者采用其它的方法、組元、材料等，也可以實(shí)踐本實(shí)用新型的技術(shù)方案。在某些情況下，不詳細(xì)示出或描述公知結(jié)構(gòu)、材料或者操作以避免模糊本實(shí)用新型。
[0030]本實(shí)用新型的附圖僅用于示意相對位置關(guān)系，某些部位的尺寸采用了夸示的繪圖方式以便于理解，附圖中的尺寸并不代表實(shí)際尺寸的比例關(guān)系。
[0031]第一實(shí)施例
[0032]為了節(jié)省測試端子的占用空間，本實(shí)用新型提供一種陣列基板，如圖2所示。陣列基板200，具有顯示區(qū)域220和圍繞顯示區(qū)域220的外圍區(qū)域210。外圍區(qū)域210僅同一側(cè)的一端或同一側(cè)的兩端設(shè)置有多個測試端子230，也即不是整個側(cè)邊都設(shè)置測試端子。測試端子230連接陣列基板200內(nèi)的走線及電極以對陣列基板200的柵極線(圖中未示出)進(jìn)行測試。
[0033]在圖2所示的實(shí)施例中，測試端子230設(shè)置在外圍區(qū)域210的同一側(cè)的兩端。在一些變化例中，測試端子230可以僅設(shè)置在外圍區(qū)域210的同一側(cè)的一端。測試端子230的位置與驅(qū)動線路的位置相關(guān)，測試端子230的位置與驅(qū)動線路的位置關(guān)系將在下文結(jié)合圖4至圖5的實(shí)施例進(jìn)行描述。
[0034]具體而言，僅位于外圍區(qū)域210同一側(cè)的一端的測試端子230的數(shù)量為6至100個。在一些變化例中，位于外圍區(qū)域210同一側(cè)的兩端的測試端子230的數(shù)量共為6到100個，其平均分配在兩端。本實(shí)施例中測試端子230分配在陣列基板200下側(cè)的兩端，每一端的測試端子數(shù)為5個。
[0035]顯示區(qū)域220內(nèi)的像素陣列如圖3所示，像素陣列包括多根同方向延伸的柵極線G1至Gn、多根同方向延伸的數(shù)據(jù)線S1至Sm、多根同方向延伸的公共功率線D1至Dm以及多個像素單元221。在一實(shí)施例中，數(shù)據(jù)線的數(shù)量與公共功率線的數(shù)量相同。多根數(shù)據(jù)線S1至Sm與多根