專利名稱：電磁鐵故障監(jiān)測(cè)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種監(jiān)測(cè)裝置，尤其涉及一種電腦針織橫機(jī)電磁鐵故障監(jiān)測(cè)裝置。
背景技術(shù)：
電腦針織橫機(jī)是隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)、電子技術(shù)、機(jī)械加工技術(shù)的應(yīng)用發(fā)展而不斷發(fā) 展起來的光、機(jī)、電一體化設(shè)備，通過計(jì)算機(jī)的中央處理器(CentralProcessing Unit ；以下 簡(jiǎn)稱CPU)發(fā)出各種控制指令，將控制指令轉(zhuǎn)化成信號(hào)電流，以控制針織橫機(jī)中電磁鐵線 圈中電流的通斷來完成各種動(dòng)作，現(xiàn)有電磁鐵線圈中電流的通斷一般通過金屬氧化物半導(dǎo) 體場(chǎng)效應(yīng)管(MetalOxid Semiconductor ；以下簡(jiǎn)稱M0S)來控制。在實(shí)際應(yīng)用中，M0S管失 效后處于導(dǎo)通狀態(tài)，如果沒有及時(shí)發(fā)現(xiàn)M0S管失效，就會(huì)使被該M0S管控制的電磁鐵線圈長 時(shí)間通有電流，最后會(huì)導(dǎo)致電磁鐵發(fā)熱過度而燒毀電磁鐵；隨著使用時(shí)間的增長，電磁鐵線 圈的絕緣層會(huì)發(fā)生老化，當(dāng)電磁鐵線圈通有電流時(shí)，由于絕緣性能變差可能導(dǎo)致電流過大， 時(shí)間一長這種過大的電流就會(huì)影響控制該電磁鐵的M0S管，導(dǎo)致M0S管失效。不論上述哪一種情況發(fā)生，若不能及時(shí)發(fā)現(xiàn)和處理出現(xiàn)故障的M0S管或者電磁 鐵，M0S管和由M0S管控制的電磁鐵就會(huì)相互影響，導(dǎo)致故障進(jìn)一步嚴(yán)重化。而現(xiàn)有電腦針 織橫機(jī)的內(nèi)部裝配有較多的電磁鐵，例如，普通單機(jī)頭雙系統(tǒng)機(jī)型配有104個(gè)電磁鐵，當(dāng)部 分電磁鐵發(fā)生故障時(shí)，很難迅速找到發(fā)生故障的電磁鐵，造成較大的損失，并嚴(yán)重影響了工 作的效率。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是提供一種電磁鐵故障監(jiān)測(cè)裝置，以及時(shí)發(fā)現(xiàn)M0S管和電磁鐵 故障，并迅速找到故障的M0S管和電磁鐵。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供了一種電磁鐵故障監(jiān)測(cè)裝置，包括第一生成模塊，用于根據(jù)第一電流的采樣值生成第一電流，所述第一電流為所述 電磁鐵的實(shí)際供電電流；第二生成模塊，用于根據(jù)CPU指令所涉及的電磁鐵的電流參數(shù)生成第二電流，所 述第二電流為所述電磁鐵的理論供電電流；計(jì)算模塊，用于根據(jù)所述第一生成模塊輸出的所述第一電流的幅度值與所述第二 生成模塊輸出的所述第二電流的幅度值生成第一差值；判斷模塊，用于判斷所述計(jì)算模塊輸出的所述第一差值是否在預(yù)設(shè)中心值的波動(dòng) 范圍內(nèi)，以及當(dāng)所述第一差值超出所述預(yù)設(shè)中心值的波動(dòng)范圍時(shí)，用于確定所述CPU指令 所涉及的電磁鐵發(fā)生故障，并輸出一第一脈沖信號(hào)。由上述技術(shù)方案可知，本實(shí)用新型提供的電磁鐵故障監(jiān)測(cè)裝置通過對(duì)CPU指令所 涉及的電磁鐵的實(shí)際供電電流進(jìn)行預(yù)測(cè)，并與通過CPU指令中的電流參數(shù)預(yù)測(cè)出的理論供 電電流進(jìn)行比較，判斷比較結(jié)果是否在預(yù)設(shè)中心值波動(dòng)范圍內(nèi)，根據(jù)判斷結(jié)果確定是否發(fā)生故障以及發(fā)生故障的范圍，基于上述，本實(shí)用新型提供的電磁鐵故障監(jiān)測(cè)裝置能夠及時(shí) 發(fā)現(xiàn)并找到發(fā)生故障的M0S管和電磁鐵，提高了工作效率。

圖1為本實(shí)用新型電磁鐵故障監(jiān)測(cè)方法實(shí)施例一的流程圖；圖2為本實(shí)用新型電磁鐵故障監(jiān)測(cè)方法實(shí)施例二的流程圖；圖3為本實(shí)用新型電磁鐵故障監(jiān)測(cè)裝置實(shí)施例一的結(jié)構(gòu)示意圖；圖4為本實(shí)用新型電磁鐵故障監(jiān)測(cè)裝置實(shí)施例二的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
下面通過附圖和實(shí)施例，對(duì)本實(shí)用新型的技術(shù)方案做進(jìn)一步的詳細(xì)描述。圖1為本實(shí)用新型電磁鐵故障監(jiān)測(cè)方法實(shí)施例一的流程圖，如圖1所示，本實(shí)施例 提供的電磁鐵故障監(jiān)測(cè)方法，包括以下步驟步驟101，對(duì)第一電流的采樣值進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，生成第一電流值，其中第一電流為 電磁鐵的實(shí)際供電電流；在電腦針織橫機(jī)的控制系統(tǒng)中，CPU發(fā)出操作指令，所述操作指令通過具體電磁鐵 控制針織橫機(jī)的具體部件進(jìn)行動(dòng)作，完成CPU指示的任務(wù)，供電電源能夠根據(jù)CPU的指令產(chǎn) 生各種幅度值的電流并且可以同時(shí)產(chǎn)生多路，用于給CPU指令所涉及的電磁鐵線圈提供電 流，通過在供電電源端增加的采樣電路對(duì)供電電源端的電流進(jìn)行采樣，本實(shí)施例中以16US 的采樣間隔，連續(xù)對(duì)供電電源端的電流進(jìn)行采樣，并對(duì)采樣值進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，得到供電電流 的幅度值，本實(shí)施例在采樣供電電源端的供電電流時(shí)，并未考慮電磁鐵所在線路是否發(fā)生 故障，因此所得到的電流的幅度值能夠反映電磁鐵線圈中的實(shí)際供電電流，在本實(shí)施例以 及以下各實(shí)施例中將供電電源端的實(shí)際供電電流稱為第一電流，對(duì)應(yīng)于電磁鐵的實(shí)際供電 電流。步驟102，根據(jù)CPU指令所涉及的電磁鐵的電流參數(shù)生成第二電流，其中，第二電 流為電磁鐵的理論供電電流；上述CPU指令除了包含有用于指示針織橫機(jī)進(jìn)行具體操作的命令外，還包括有執(zhí) 行此命令所需要的各種參數(shù)，因此需要首先對(duì)CPU指令進(jìn)行分解并提取CPU指令中所包含 的各種參數(shù)，本實(shí)用新型實(shí)施例中CPU指令包含有每個(gè)操作命令所對(duì)應(yīng)的電磁鐵線圈所需 要的電流參數(shù)，每個(gè)操作具體執(zhí)行的時(shí)長參數(shù)，即電磁鐵線圈的導(dǎo)通時(shí)間等。根據(jù)CPU指令 所涉及的電磁鐵的電流參數(shù)，生成針織橫機(jī)執(zhí)行上述操作所需的電磁鐵線圈中電流的幅度 值，本實(shí)施例及以下各實(shí)施例中，根據(jù)CPU指令中包含的電磁鐵的電流參數(shù)，所生成的電流 為電磁鐵的理論供電電流，稱為第二電流。步驟103，根據(jù)第一電流的幅度值和第二電流的幅度值生成第一差值；電腦針織橫機(jī)中具有多個(gè)電磁鐵，所有電磁鐵所在線路之間是并聯(lián)關(guān)系，由同一 供電電源進(jìn)行供電。電腦針織橫機(jī)的電控系統(tǒng)通過M0S管對(duì)電磁鐵進(jìn)行控制，當(dāng)M0S管導(dǎo)通 時(shí)，供電電源給被控電磁鐵線圈提供供電電流，當(dāng)M0S管截止時(shí)，被控電磁鐵線圈中的電流 消失。當(dāng)CPU指令中只包含一個(gè)電磁鐵的電流參數(shù)時(shí)，意味著供電電源只為一個(gè)電磁鐵供 電，上述實(shí)際供電電流即為電磁鐵線圈中的電流值，相應(yīng)的步驟102中的第二電流為上述一個(gè)電磁鐵的理論供電電流；當(dāng)CPU指令中包含有多個(gè)電磁鐵的電流參數(shù)時(shí)，意味著供電 電源需要同時(shí)為多個(gè)電磁鐵供電，上述實(shí)際供電電流為多個(gè)電磁鐵線圈中的電流值的和， 這是并聯(lián)電路的特點(diǎn)，相應(yīng)的步驟102中的第二電流為多個(gè)電磁鐵的理論供電電流之和?；谏鲜?，本實(shí)施例中步驟102生成第二電流具體包括兩種情況當(dāng)CPU指令所涉及的電磁鐵為一個(gè)時(shí)，根據(jù)電磁鐵的電流參數(shù)生成電磁鐵的理論 供電電流，即為所述的第二電流；當(dāng)CPU指令所涉及的電磁鐵為多個(gè)時(shí)，根據(jù)電磁鐵的電流參數(shù)生成多個(gè)電磁鐵的 電流，并將多個(gè)電磁鐵的電流進(jìn)行加和，得到第二電流，即電磁鐵的理論供電電流；具體地，第二電流的計(jì)算需要根據(jù)CUP指令而定，在實(shí)際應(yīng)用中，多數(shù)情況是一個(gè) M0S管被導(dǎo)通，供電電源給被控電磁鐵線圈提供供電電流，多個(gè)M0S管被導(dǎo)通，使多個(gè)被控 電磁鐵線圈通有電流的CPU指令并不多，而使大量電磁鐵線圈同時(shí)通有電流的情況更少。步驟104，當(dāng)?shù)谝徊钪党鲱A(yù)設(shè)中心值的波動(dòng)范圍時(shí)，則確定CPU指令所涉及的電 磁鐵發(fā)生故障。將第一差值與預(yù)設(shè)中心值進(jìn)行比較，判斷第一差值是否在預(yù)設(shè)中心值的波動(dòng)范圍 內(nèi)，當(dāng)?shù)谝徊钪党鲱A(yù)設(shè)中心值的波動(dòng)范圍時(shí)，說明實(shí)際供電電流和理論供電電流的誤差 比較大，則可以確定CPU指令所涉及的電磁鐵發(fā)生故障，或者是電磁鐵被燒毀或者是M0S管 失效，從而將故障范圍鎖定在上述CPU指令所涉及的電磁鐵，將大大縮小故障范圍，并且當(dāng) CPU指令只涉及一個(gè)電磁鐵時(shí)，將可以準(zhǔn)確定位到故障點(diǎn)。本實(shí)用新型實(shí)施例提供的電磁鐵故障監(jiān)測(cè)方法通過對(duì)CPU指令所涉及的電磁鐵 的實(shí)際供電電流進(jìn)行預(yù)測(cè)，并與通過CPU指令中的電流參數(shù)預(yù)測(cè)出的理論供電電流值進(jìn)行 比較，判斷比較結(jié)果是否在預(yù)設(shè)中心值波動(dòng)范圍內(nèi)，根據(jù)判斷結(jié)果確定是否發(fā)生故障以及 發(fā)生故障的范圍，由于CPU指令同時(shí)涉及的電磁鐵的個(gè)數(shù)通常不會(huì)很多，因此可以大大縮 小故障范圍，甚至可以將故障范圍精確到點(diǎn)，因此，本實(shí)用新型提供的電磁鐵故障監(jiān)測(cè)方法 能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)故障，并找到發(fā)生故障的M0S管和電磁鐵，避免故障惡化，同時(shí)提高了工作效 率。圖2為本實(shí)用新型電磁鐵故障監(jiān)測(cè)方法實(shí)施例二的流程圖，如圖2所示，本實(shí)施例 提供的電磁鐵故障監(jiān)測(cè)方法在實(shí)施例一的基礎(chǔ)上增加了判定故障范圍后的故障排除過程， 為使本實(shí)施例更加接近工程實(shí)際，本實(shí)施例中用電源供電電流代替第一電流，理論導(dǎo)通電 流代替第二電流，具體包括以下步驟 步驟201，對(duì)電源供電電流進(jìn)行采樣，對(duì)采樣值進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，生成電源供電電 流；步驟202，接收、存儲(chǔ)并解析CPU指令，提取CPU指令中的參數(shù)，根據(jù)所提取的電磁 鐵的電流參數(shù)生成電磁鐵線圈所需的理論導(dǎo)通電流；步驟203，根據(jù)電源供電電流的大小和電磁鐵所需理論導(dǎo)通電流的大小生成第一
差值；步驟204，根據(jù)第一差值和預(yù)設(shè)中心值，判斷故障范圍；在本實(shí)施例中，一控制器控制采樣電路以16us的采樣周期對(duì)供電電源端的總電 流進(jìn)行持續(xù)采樣，無論供電電源是否提供供電電流；然后，對(duì)電源供電電流的采樣值進(jìn)行統(tǒng) 計(jì)分析，重新生成電源供電電流數(shù)據(jù)；同時(shí)，控制器接收、存儲(chǔ)并解析CPU指令，提取CPU指令中的參數(shù)，CPU指令通過此控制器控制M0S管導(dǎo)通，使供電電源給CPU指令所涉及的電磁 鐵通電，執(zhí)行CPU指令；該控制器根據(jù)提取的參數(shù)，估測(cè)出CPU指令所涉及的電磁鐵所需的 理論導(dǎo)通電流；當(dāng)CPU指令涉及一個(gè)電磁鐵時(shí)，該電磁鐵的電流即為理論導(dǎo)通電流，將電源 供電電流與該理論導(dǎo)通電流做差取絕對(duì)值，得出第一差值；若CPU指令涉及多個(gè)電磁鐵時(shí)， 需先將多個(gè)電磁鐵的電流進(jìn)行加和得出理論導(dǎo)通電流，而電源供電電流是CPU指令所涉及 的所有電磁鐵線路上的電流之和，將理論導(dǎo)通電流與電源供電電流做差取絕對(duì)值，得出第 一差值；然后，將第一差值與預(yù)設(shè)中心值進(jìn)行比較，判斷第一差值是否在預(yù)設(shè)中心值的波動(dòng) 范圍內(nèi)，如果第一差值在預(yù)設(shè)中心值的波動(dòng)范圍內(nèi)，說明電磁鐵未發(fā)生故障，系統(tǒng)可以安全 工作；如果第一差值超出預(yù)設(shè)中心值的波動(dòng)范圍，說明CPU指令所涉及的電磁鐵發(fā)生故障， 應(yīng)該及時(shí)處理以免故障擴(kuò)大化。本實(shí)施例中，預(yù)設(shè)中心值和電磁鐵的型號(hào)、品牌、電磁鐵的 體積以及CPU發(fā)出的具體指令有關(guān)，其中主要與CPU指令中的操作時(shí)長有關(guān)，此中心值是根 據(jù)上述因素預(yù)先設(shè)定好并存儲(chǔ)在控制器上的。在上述技術(shù)方案的基礎(chǔ)上，電磁鐵故障范圍已經(jīng)被鎖定在上一條CPU指令所涉及 到的電磁鐵范圍內(nèi)，由于本實(shí)施例中的采樣周期為16us，而電磁鐵是慢速執(zhí)行機(jī)構(gòu)，CPU不 需要很密集的發(fā)送指令，在本實(shí)施例中一條CPU指令的執(zhí)行時(shí)間為1ms，因此在CPU指令過 來之前有足夠的時(shí)間完成對(duì)上一條CPU指令所涉及的電磁鐵的監(jiān)測(cè)工作，可以大大縮小查 找故障的范圍，且當(dāng)CPU指令涉及一個(gè)電磁鐵時(shí)，甚至可以將故障精確到點(diǎn)，本實(shí)施例給出 的采樣周期和CPU指令的執(zhí)行時(shí)間是一種較佳實(shí)施例，并不限于此。在上述技術(shù)方案的基礎(chǔ)上，本實(shí)施例還包括步驟205，確定故障范圍后，向CPU發(fā)出告警信號(hào)，同時(shí)向控制供電電源的控制開 關(guān)發(fā)出關(guān)斷信號(hào)；步驟206，CPU根據(jù)告警信號(hào)，測(cè)試故障范圍內(nèi)的電磁鐵，進(jìn)行故障排除。在發(fā)出告警信號(hào)和關(guān)斷信號(hào)后，供電電源將被關(guān)斷，針織橫機(jī)將停止工作，此時(shí) CPU根據(jù)告警信號(hào)中的相關(guān)參數(shù)，提取上一條CPU指令，并解析該CPU指令，找到可能發(fā)生故 障的電磁鐵，即該CPU指令所涉及的電磁鐵，然后，由工作人員通過控制平臺(tái)向測(cè)試裝置發(fā) 出攜帶有測(cè)試參數(shù)的測(cè)試指令，由測(cè)試裝置向故障范圍內(nèi)的電磁鐵逐個(gè)發(fā)送測(cè)試信號(hào)，單 獨(dú)測(cè)試每個(gè)電磁鐵，快速找到故障電磁鐵，以便后續(xù)進(jìn)行更換。其中，單獨(dú)測(cè)試每個(gè)電磁鐵 的方法可以是，測(cè)試裝置控制供電電源給要測(cè)試的電磁鐵供電，根據(jù)電源供電電流和理論 導(dǎo)通電流進(jìn)行判斷。上述告警信號(hào)中的相關(guān)參數(shù)可以是表示CPU指令的任何標(biāo)識(shí)信號(hào)，本 實(shí)施例中并不對(duì)此進(jìn)行限制?，F(xiàn)有針織橫機(jī)內(nèi)部裝配有較多的電磁鐵，有的電磁鐵甚至有兩個(gè)線圈，而只要一 個(gè)線圈出現(xiàn)故障，整臺(tái)機(jī)器將不能正常工作，如果不能及時(shí)發(fā)現(xiàn)和排除故障，將會(huì)極大的影 響工作效率；同時(shí)，由于失效M0S管和故障電磁鐵之間會(huì)相互影響，如果不能及時(shí)排除故 障，會(huì)導(dǎo)致故障進(jìn)一步惡化，從而導(dǎo)致電磁鐵和驅(qū)動(dòng)板件都要更換，對(duì)于更換驅(qū)動(dòng)板件所需 的成本，所述領(lǐng)域的技術(shù)人員并不陌生，而當(dāng)更換大量故障電磁鐵時(shí)，其費(fèi)用也不低，并且 更換電磁鐵時(shí)操作不便；再者，故障惡化會(huì)導(dǎo)致更換驅(qū)動(dòng)板件，而更換驅(qū)動(dòng)板件后還需要花 費(fèi)大量的時(shí)間和精力重新調(diào)試機(jī)器參數(shù)，本實(shí)施例提供的方法，通過對(duì)電磁鐵的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè) 能夠在第一時(shí)間發(fā)現(xiàn)故障，切斷供電電源做到整體隔離，避免了故障惡化，及時(shí)查找故障電 磁鐵，并進(jìn)行更換，排除故障，在提高工作效率的同時(shí)降低了故障惡化導(dǎo)致的后期花費(fèi)和代價(jià)?；谏鲜?，本實(shí)用新型實(shí)施例提供的電磁鐵故障監(jiān)測(cè)方法，通過對(duì)CPU指令所涉 及的電磁鐵的實(shí)際供電電流進(jìn)行預(yù)測(cè)，并與通過CPU指令中的電流參數(shù)預(yù)測(cè)出的理論電流 值進(jìn)行比較，判斷比較結(jié)果是否在預(yù)設(shè)中心值波動(dòng)范圍內(nèi)，根據(jù)判斷結(jié)果確定是否發(fā)生故 障以及發(fā)生故障的范圍，通過測(cè)試指令可以盡快找到故障電磁鐵，進(jìn)行故障的排除，因此， 本實(shí)用新型提供的電磁鐵故障監(jiān)測(cè)方法能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)故障，通過切斷供電電源進(jìn)行整體隔 離，及時(shí)避免了故障惡化，并對(duì)故障電磁鐵進(jìn)行及時(shí)更換，排除發(fā)生故障的M0S管和電磁 鐵，提高了工作效率。圖3為本實(shí)用新型電磁鐵故障監(jiān)測(cè)裝置實(shí)施例一的結(jié)構(gòu)示意圖，如圖3所示，本實(shí) 施例提供的裝置包括第一生成模塊31、第二生成模塊32、計(jì)算模塊33和判斷模塊34。第一生成模塊31，用于根據(jù)第一電流的采樣值生成第一電流，其中，第一電流為電 磁鐵的實(shí)際供電電流，同上述實(shí)施例；第一生成模塊31接收位于供電電源端的一采樣模塊 所采樣到的電源供電電流采樣值，對(duì)該采樣值進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，生成第一電流，并得到第一電 流的幅度值。第二生成模塊32，用于根據(jù)CPU指令所涉及的電磁鐵的電流參數(shù)生成第二電流， 其中，第二電流為電磁鐵的理論供電電流，同上述實(shí)施例；第二生成模塊32接收CPU指令， 并存儲(chǔ)和解析CPU指令，提取CPU指令中包含的電磁鐵的電流參數(shù)，并據(jù)此生成第二電流， 得到第二電流的幅度值。計(jì)算模塊33，用于根據(jù)第一生成模塊31輸出的第一電流的幅度值與第二生成模 塊32輸出的第二電流的幅度值生成第一差值；判斷模塊34，用于判斷計(jì)算模塊33輸出的第一差值是否在預(yù)設(shè)中心值的波動(dòng)范 圍內(nèi)，以及當(dāng)?shù)谝徊钪党鲱A(yù)設(shè)中心值的波動(dòng)范圍時(shí)，用于確定CPU指令所涉及的電磁鐵 發(fā)生故障，并輸出一第一脈沖信號(hào)。根據(jù)CPU指令所涉及的電磁鐵的個(gè)數(shù)為一個(gè)還是多個(gè)，第二生成模塊32具體的包 括第一生成單元321，當(dāng)所述CPU指令所涉及的電磁鐵為一個(gè)時(shí)，用于根據(jù)電磁鐵的 電流參數(shù)生成電磁鐵的電流，即所述第二電流；第二生成單元322，當(dāng)所述CPU指令所涉及的電磁鐵為多個(gè)時(shí)，用于根據(jù)多個(gè)電磁 鐵的電流參數(shù)生成多個(gè)電磁鐵的電流，并將多個(gè)電流進(jìn)行加和，生成所述第二電流。隨著集成電路和可編程邏輯電路的發(fā)展，本實(shí)施例提供的各個(gè)模塊可以集成到 可編程邏輯電路上，例如現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(Field ProgrammableGate Array;以下簡(jiǎn)稱 FPGA)或者復(fù)雜可編程邏輯器件(ComplexProgrammable Logic Device ；以下簡(jiǎn)稱CPLD) 上，但并不限于此。需要指出的是，本實(shí)施例提供的電磁鐵故障監(jiān)測(cè)裝置是與上述方法相對(duì)應(yīng)的裝 置，其可以采用上述方法的具體實(shí)現(xiàn)過程來實(shí)現(xiàn)對(duì)應(yīng)的裝置的技術(shù)方案，因此，此處僅進(jìn)行 了簡(jiǎn)單描述，不再詳細(xì)論述。本實(shí)施例提供的電磁鐵故障監(jiān)測(cè)裝置，通過第一生成模塊生成電磁鐵的實(shí)際供電 電流，第二生成模塊預(yù)測(cè)理論電流值，以及通過判斷模塊對(duì)計(jì)算模塊輸出出的實(shí)際供電電 流與理論電流的差值與預(yù)設(shè)中心值進(jìn)行比較，根據(jù)判斷結(jié)果確定是否發(fā)生故障，以及發(fā)生
7故障的范圍，因此，本實(shí)施例提供的電磁鐵故障監(jiān)測(cè)裝置能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)故障，并找到發(fā)生故 障的M0S管和電磁鐵，避免故障惡化，同時(shí)提高了工作效率。在上述技術(shù)方案的基礎(chǔ)上，本實(shí)施例提供的電磁鐵故障監(jiān)測(cè)裝置，還可以包括發(fā) 現(xiàn)故障后用于進(jìn)行故障處理的模塊。圖4本實(shí)用新型電磁鐵故障監(jiān)測(cè)裝置實(shí)施例二的結(jié) 構(gòu)示意圖，如圖4所示，在上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上，本實(shí)施例提供的電磁鐵故障監(jiān)測(cè)裝置還包 括告警模塊41，用于根據(jù)判斷模塊34輸出的第一脈沖信號(hào)，向CPU發(fā)出告警信號(hào)，其 中，告警信號(hào)中攜帶有表示CPU指令的標(biāo)識(shí)信號(hào)；開關(guān)控制模塊42，用于根據(jù)判斷模塊34輸出的第一脈沖信號(hào)，向控制供電電源的 控制開關(guān)發(fā)出關(guān)斷信號(hào)，用于在發(fā)現(xiàn)故障時(shí)及時(shí)切斷電源防止故障進(jìn)一步擴(kuò)大化；以及測(cè)試模塊43，用于根據(jù)第二生成模塊32的接收單元接收到的收到告警信號(hào)后的 CPU發(fā)出的檢測(cè)指令，向CPU指令所涉及的電磁鐵發(fā)測(cè)試信號(hào)，對(duì)電磁鐵進(jìn)行單獨(dú)測(cè)試，以 排除故障。根據(jù)CPU指令所涉及的電磁鐵的個(gè)數(shù)，測(cè)試過程具體的為，當(dāng)CPU指令所涉及的 電磁鐵為一個(gè)時(shí)，CPU發(fā)一條測(cè)試指令，測(cè)試模塊43執(zhí)行一次測(cè)試操作即可；當(dāng)所述CPU指 令所涉及的電磁鐵為多個(gè)時(shí)，CPU發(fā)多條指令，且每次發(fā)完指令后測(cè)試模塊43執(zhí)行一次相 應(yīng)的測(cè)試操作，或者CPU —次發(fā)送所有的測(cè)試指令，測(cè)試模塊43存儲(chǔ)CPU所發(fā)的指令，逐條 執(zhí)行逐個(gè)測(cè)試電磁鐵。本實(shí)施例中，第二生成模塊32具體還包括接收單元、存儲(chǔ)單元以及分解單元。本實(shí)施例中的第一生成模塊31、第二生成模塊32、計(jì)算模塊33、判斷模塊34、告警 模塊41、開關(guān)控制模塊42以及測(cè)試模塊43可以集成在FPGA或者CPLD上，但并不限于此， 且此FPGA或者CPLD電路的供電電源以及CPU的供電電源與電磁鐵的供電電源不同，因此 在關(guān)斷電磁鐵的供電電源時(shí)，上述電路仍能對(duì)電路執(zhí)行測(cè)試工作。需要指出的是，本實(shí)施例提供的電磁鐵故障監(jiān)測(cè)裝置是與上述方法相對(duì)應(yīng)的裝 置，其可以采用上述方法的具體實(shí)現(xiàn)過程來實(shí)現(xiàn)對(duì)應(yīng)的裝置的技術(shù)方案，因此，此處僅進(jìn)行 了簡(jiǎn)單描述，不再詳細(xì)論述。本實(shí)施例提供的電磁鐵故障監(jiān)測(cè)裝置，通過第一生成模塊對(duì)CPU指令所涉及的電 磁鐵的實(shí)際供電電流進(jìn)行預(yù)測(cè)，并與第二生成模塊預(yù)測(cè)出的理論電流值進(jìn)行比較，通過判 斷模塊根據(jù)比較結(jié)果與預(yù)設(shè)中心值判斷是否發(fā)生故障以及發(fā)生故障的范圍，通過測(cè)試模塊 對(duì)故障范圍內(nèi)的電磁鐵進(jìn)行逐一的測(cè)試，可以盡快找到故障電磁鐵，進(jìn)行故障的排除，因 此，本實(shí)用新型提供的電磁鐵故障監(jiān)測(cè)裝置能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)故障，并通過開關(guān)控制模塊切斷 供電電源進(jìn)行整體隔離，避免故障惡化，同時(shí)對(duì)故障電磁鐵進(jìn)行及時(shí)更換，排除發(fā)生故障的 M0S管和電磁鐵，提高了工作效率。最后應(yīng)說明的是以上實(shí)施例僅用以說明本實(shí)用新型的技術(shù)方案而非對(duì)其進(jìn)行限 制，盡管參照較佳實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行了詳細(xì)的說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理 解其依然可以對(duì)本實(shí)用新型的技術(shù)方案進(jìn)行修改或者等同替換，而這些修改或者等同替 換亦不能使修改后的技術(shù)方案脫離本實(shí)用新型技術(shù)方案的精神和范圍。
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權(quán)利要求一種電磁鐵故障監(jiān)測(cè)裝置，其特征在于，包括第一生成模塊，用于根據(jù)第一電流的采樣值生成第一電流，所述第一電流為所述電磁鐵的實(shí)際供電電流；第二生成模塊，用于根據(jù)CPU指令所涉及的電磁鐵的電流參數(shù)生成第二電流，所述第二電流為所述電磁鐵的理論供電電流；計(jì)算模塊，用于根據(jù)所述第一生成模塊輸出的所述第一電流的幅度值與所述第二生成模塊輸出的所述第二電流的幅度值生成第一差值；判斷模塊，用于判斷所述計(jì)算模塊輸出的所述第一差值是否在預(yù)設(shè)中心值的波動(dòng)范圍內(nèi)，以及當(dāng)所述第一差值超出所述預(yù)設(shè)中心值的波動(dòng)范圍時(shí)，用于確定所述CPU指令所涉及的電磁鐵發(fā)生故障，并輸出一第一脈沖信號(hào)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁鐵故障監(jiān)測(cè)裝置，其特征在于，還包括告警模塊，用于根據(jù)所述判斷模塊輸出的所述第一脈沖信號(hào)，向所述CPU發(fā)出告警信號(hào)；開關(guān)控制模塊，用于根據(jù)所述判斷模塊輸出的所述第一脈沖信號(hào)，向控制供電電源的 一控制開關(guān)發(fā)出關(guān)斷信號(hào)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁鐵故障監(jiān)測(cè)裝置，其特征在于，所述第二生成模塊包括 第一生成單元，當(dāng)所述CPU指令所涉及的電磁鐵為一個(gè)時(shí)，用于根據(jù)所述電磁鐵的電流參數(shù)生成所述第二電流；第二生成單元，當(dāng)所述CPU指令所涉及的電磁鐵為多個(gè)時(shí)，用于根據(jù)多個(gè)所述電磁鐵 的電流參數(shù)生成多個(gè)所述電磁鐵的電流，并將多個(gè)所述電流進(jìn)行加和，生成所述第二電流。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁鐵故障監(jiān)測(cè)裝置，其特征在于，其中，所述第一生成模 塊、所述第二生成模塊、所述計(jì)算模塊、以及所述判斷模塊集成在可編程邏輯器件上。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電磁鐵故障監(jiān)測(cè)裝置，其特征在于，還包括一測(cè)試模塊，用于根據(jù)收到所述告警信號(hào)后的所述CPU發(fā)出的檢測(cè)指令，向所述CPU指 令所涉及的電磁鐵發(fā)測(cè)試信號(hào)，對(duì)所述電磁鐵進(jìn)行單獨(dú)測(cè)試，以排除故障。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電磁鐵故障監(jiān)測(cè)裝置，其特征在于，其中，所述第一生成模 塊、所述第二生成模塊、所述計(jì)算模塊、所述判斷模塊、所述告警模塊、所述開關(guān)控制模塊以 及所述測(cè)試模塊集成在可編程邏輯器件上。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種電磁鐵故障監(jiān)測(cè)裝置，該裝置包括第一生成模塊，用于根據(jù)第一電流的采樣值生成第一電流，所述第一電流為所述電磁鐵的實(shí)際供電電流；第二生成模塊，用于根據(jù)CPU指令所涉及的電磁鐵的電流參數(shù)生成第二電流，所述第二電流為所述電磁鐵的理論供電電流；計(jì)算模塊，用于根據(jù)所述第一生成模塊輸出的所述第一電流的幅度值與所述第二生成模塊輸出的所述第二電流的幅度值生成第一差值；判斷模塊，用于判斷所述第一差值是否在預(yù)設(shè)中心值的波動(dòng)范圍內(nèi)。本實(shí)用新型提供的電磁鐵故障監(jiān)測(cè)裝置能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)故障并迅速找到故障的MOS管和電磁鐵。
文檔編號(hào)H02H3/08GK201583585SQ200920246629
公開日2010年9月15日 申請(qǐng)日期2009年10月21日 優(yōu)先權(quán)日2009年10月21日
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