專利名稱：低壓電池測試設(shè)備充放電切換裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及低壓電池測試設(shè)備，具體來說是一種充放電切換裝置。
背景技術(shù)：
所謂電池測試主要是用于檢測電池的電流、電壓、容量、內(nèi)阻、溫度、電池循環(huán)壽命，并給出曲線圖。在電池測試設(shè)備中，涉及充放電切換裝置。目前，市場的雙極型電池測試設(shè)備充放電轉(zhuǎn)換全部采用繼電器或者是交流接觸器切換，此類機械式的接觸器件主要存在兩個問題點(I)響應(yīng)時問慢，動作時間需要十幾毫秒以上。(2)大功率交流接觸器吸合或者是斷開瞬間伴有抖動的現(xiàn)象。(3)此類器件存在切換次數(shù)的限制并且?guī)щ娗袚Q的效果不夠理想。(4)體積較大。

實用新型內(nèi)容本實用新型解決的技術(shù)問題是，提供一種開關(guān)板單元具有高速轉(zhuǎn)換能力的低壓電池測試設(shè)備充放電切換裝置。為了解決上述技術(shù)問題，本實用新型提供的技術(shù)方案是，一種低壓電池測試設(shè)備充放電切換裝置，包括MCU控制單元、光耦隔離單元和開關(guān)板單元，其中，MCU控制單元、光耦隔離單元和開關(guān)板單元均互相電信連接，所述開關(guān)板單元是由MOSFET或IGBT器件組成；優(yōu)選的，所述MOSFET器件為兩個串聯(lián)；優(yōu)選的，所述MOSFET器件具有低導(dǎo)通電阻；優(yōu)選的，所述電信連接是采用導(dǎo)線；優(yōu)選的，所述電信連接是采用印刷電路板。和現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型產(chǎn)生的有益效果是，(I)響應(yīng)時間快，一般都在幾十到幾百ns就可以響應(yīng)。(2)此器件為電子元器件，吸合比較可靠，在控制信號穩(wěn)定的情況下不會出現(xiàn)抖動現(xiàn)象。(3)使用壽命受切換次數(shù)的影響比較小，并且可以解決接觸器件的帶電切換問題，相比之下使用壽命要遠遠高于機械類的接觸式器件。(4)設(shè)計體積相對比繼電器和交流接觸器小。

圖1是本實用新型的連接示意圖。圖2是本實用新型的MCU控制單元的工作原理示意圖。圖3是MOSFET型開關(guān)板單元的工作原理示意圖。
具體實施方式
[0017]
以下結(jié)合附圖，對本實用新型做詳細說明。如圖1所示，本實用新型包括MCU控制單元、光耦隔離單元和開關(guān)板單元，其中，MCU控制單元、光耦隔離單元和開關(guān)板單元均互相電信連接，進行信息傳輸，MCU控制單元的主要功能如圖2所示，MCU控制單元主要是由主控芯片和電壓、電流、溫度保護模塊組成，當電壓、電流、溫度三方面任何一方面出現(xiàn)問題后，都可以對輸出信號進行鎖定，有效的切斷了電池與測試設(shè)備的通路，更好的保護了電池及測試設(shè)備；為了實現(xiàn)高速轉(zhuǎn)換充放電的目的，所述開關(guān)板單元優(yōu)選MOSFET器件組成的開關(guān)板單元，具體是，如圖3所示，選用兩個MOSFET器件組合，原因是MOSFET器件內(nèi)部帶有續(xù)流二極管，為了防止反向?qū)ǎ詈眠x用兩個MOSFET器件相對串聯(lián)作為一個開關(guān)使用，工作原理是，當驅(qū)動I和驅(qū)動4開關(guān)導(dǎo)通時，output+輸出為正電壓，output-輸出為負電壓,處于充電狀態(tài)；當驅(qū)動2和驅(qū)動3開關(guān)導(dǎo)通時,output+輸出負電壓,output-輸出為正電壓,處于放電狀態(tài)。因此在不考慮輸出電流速度的情況下，此開關(guān)速度越快，充放電轉(zhuǎn)換的時間就會越好。MOSFET的耐壓從幾十伏到2000V大小可以選擇，對于低壓的電池測試設(shè)備可以選用耐壓低、導(dǎo)通電阻小的MOSFET器件，我們選用的是仙童的FDMS7650和IR的FS3004-7P，器件導(dǎo)通電阻Rds(on) ^ lmQ，并且為貼片的MOSFET器件，設(shè)計僅通過印刷電路版的銅皮即可對其進行散熱，對于單模塊的通道可以使用2-4個并聯(lián)便可以對IOOA的電流進行切換，大大的減小了設(shè)計體積。
權(quán)利要求1.一種低壓電池測試設(shè)備充放電切換裝置，包括MCU控制單元、光耦隔離單元和開關(guān)板單元，其中，MCU控制單元、光耦隔離單元和開關(guān)板單元均互相電信連接，其特征在于所述開關(guān)板單元是由MOSFET或IGBT器件組成。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述低壓電池測試設(shè)備充放電切換裝置，其特征在于所述MOSFET器件為兩個串聯(lián)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述低壓電池測試設(shè)備充放電切換裝置，其特征在于所述MOSFET器件具有低導(dǎo)通電阻。
4.根據(jù)權(quán)利要求1、2或3所述低壓電池測試設(shè)備充放電切換裝置，其特征在于所述電信連接是采用導(dǎo)線。
5.根據(jù)權(quán)利要求1、2或3所述低壓電池測試設(shè)備充放電切換裝置，其特征在于所述電信連接是采用印刷電路板。
專利摘要本實用新型公開一種低壓電池測試設(shè)備充放電切換裝置，包括MCU控制單元、光耦隔離單元和開關(guān)板單元，其中，MCU控制單元、光耦隔離單元和開關(guān)板單元均互相電信連接，所述開關(guān)板單元是由MOSFET或IGBT器件組成，該方案響應(yīng)時間快，一般都在幾十到幾百ns就可以響應(yīng)，此器件為電子元器件，吸合比較可靠，在控制信號穩(wěn)定的情況下不會出現(xiàn)抖動現(xiàn)象，使用壽命受切換次數(shù)的影響比較小，并且可以解決接觸器件的帶電切換問題，相比之下使用壽命要遠遠高于機械類的接觸式器件，設(shè)計體積相對比繼電器和交流接觸器小。
文檔編號H02J7/00GK202872397SQ201220455379
公開日2013年4月10日 申請日期2012年9月3日 優(yōu)先權(quán)日2012年9月3日
發(fā)明者張建國, 杜學(xué)平 申請人:青島美凱麟科技有限公司