專利名稱:應(yīng)用于輸出電源的自動校正裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明是一種自動校正裝置,尤指一種應(yīng)用于校正輸出電源的自動校正裝置。
背景技術(shù):
電源供應(yīng)器是用來提供電子裝置運作所需的電源,依其電路結(jié)構(gòu),通常可分為線性電源供應(yīng)器(Linear Power Supply)及切換式電源供應(yīng)器(Switching Power Supply)等兩種。電源供應(yīng)器廣泛地運用至各領(lǐng)域,例如行動通訊裝置、個人數(shù)字助理、計算機與接口設(shè)備、服務(wù)器以及網(wǎng)絡(luò)設(shè)備等電子裝置中,所以電源供應(yīng)器對電子裝置而言,其是一個重要的裝置。為求電源供應(yīng)器正常穩(wěn)定的運作,且避免受到損壞,電源供應(yīng)器的控制電路中的保護機制是非常重要的功能,例如過電壓、過電流、過功率與低電壓等保護功能。一旦,遇有過載、短路或過低電壓的情況發(fā)生時,備有周全保護機制的電源供應(yīng)器會停止供應(yīng)輸出電源,以避免內(nèi)部組件或相關(guān)設(shè)備遭受損害,換言的,保護機制即用于限定電源供應(yīng)器的輸出電源。一般而言,電源供應(yīng)器內(nèi)部會具有保護準位,當電壓或電流超過此保護準位時,即認定有過電壓、過電流或過功率情形發(fā)生,此時即會關(guān)閉電源供應(yīng)器,以保護電源供應(yīng)器及其它相關(guān)設(shè)備。然而,電源供應(yīng)器的輸出電源常因電路組件的生產(chǎn)誤差值的累加,例如電阻、電感或電容的生產(chǎn)誤差值的累加,而導致每批成品電源供應(yīng)器的保護準位有所差異,如此即會導致每批電源供應(yīng)器的輸出電源會有所差異。因此,一般電源供應(yīng)器另外設(shè)置一可變電阻,并透過人工方式調(diào)整可變電阻的阻值,以調(diào)整保護準位。如此,即會增加人工成本,且長期使用下,可變電阻會龜裂或者脫落而造成保護準位變動,進而導致輸出電源的限制準位不準確,甚至導致電源供應(yīng)器損壞。請參閱圖1,其為習知電源供應(yīng)器的生產(chǎn)流程圖。由于習知電源供應(yīng)器需要可變電阻,以調(diào)整保護準位,所以在生產(chǎn)流程中,需要先進行步驟SI,進行人工插件以設(shè)置可變電阻于電路中;之后,進行步驟S2,電源供應(yīng)器的電路過錫爐,以將可變電阻焊于電路中;然后,進行步驟S3,初始化電源供應(yīng)器,其包括有電源供應(yīng)器的穩(wěn)定度的測試與調(diào)整,以及過電壓與過電流的調(diào)整,上述的調(diào)整為利用人工方式調(diào)整可變電阻的電阻值,以調(diào)整電源供應(yīng)器的特性。接著,執(zhí)行步驟S4,進行燒機(Burn-1n);然后,進行步驟S5,進行高電壓測試(H1-pot test);之后,進行步驟S6,進行保護測試;接續(xù),進行步驟S7,進行功能測試;最后,進行步驟S8,進行電源測試。由上述可知,由于習知電源供應(yīng)器必須具有可變電阻,而藉由人工方式調(diào)整可變電阻的電阻值,以調(diào)整保護準位,進而調(diào)整電源供應(yīng)器的輸出電源,如此極為耗費人力、工時以及成本等等,且可變電阻設(shè)置于電路中容易受到損害或受到外在因素(例如濕度、溫度等等)的變化而產(chǎn)生變質(zhì),導致電阻值改變,而改變保護準位,以致與初始設(shè)定的保護準位產(chǎn)生誤差,即影響電源供應(yīng)器的輸出電源。因此,本發(fā)明針對上述的問題提供了一種自動校正裝置,其可自動校正保護準位,以固定輸出電源的準位到所預(yù)期的限定值,且不需設(shè)置可變電阻與利用人工調(diào)整保護準位,如此即可解決上述習用技術(shù)的缺點。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的,是提供一種應(yīng)用于輸出電源的自動校正裝置,其具有一程序化訊號產(chǎn)生單元,而用于產(chǎn)生保護準位,并依據(jù)一限定準位與保護準位的差異,而調(diào)整保護準位,以自動校正輸出電源,因此不需要耗費人力,而減少成本與提高校正精確度。本發(fā)明揭示一種應(yīng)用于輸出電源的自動校正裝置,其用于校正一電源供應(yīng)器的一輸出電源,其包含一自動校正電路,該自動校正電路包含一比較單元,其比較一限定準位與一保護準位,而產(chǎn)生一比較訊號,該保護準位限定該電源供應(yīng)器所提供的該輸出電源;一程序化訊號產(chǎn)生單元,其產(chǎn)生該保護準位,并依據(jù)該比較訊號調(diào)整該保護準位,以校正該輸出電源。實施本發(fā)明產(chǎn)生的有益效果是:本發(fā)明的應(yīng)用于輸出電源的自動校正裝置,其用于校正電源供應(yīng)器的輸出電源,其利用程序化訊號產(chǎn)生單元調(diào)整保護準位,藉此校正輸出電源。如此,即可自動校正電源供應(yīng)器的輸出電源,而不需要另外設(shè)置可變電阻,因而不需要藉由人工調(diào)整可變電阻的電阻值而調(diào)整輸出電源,所以可解決耗費人力的問題。此外,程序化訊號產(chǎn)生單元可設(shè)置于保護芯片中,因此可避免程序化訊號產(chǎn)生單元發(fā)生損壞的問題。如此,本發(fā)明可提高校正輸出電源的精確度。
圖1:其為習知電源供應(yīng)器的生產(chǎn)流程圖;圖2:其為本發(fā)明的電源供應(yīng)器的一實施例的電路圖;圖3:其為本發(fā)明的保護芯片的一實施例的電路
圖4:其為本發(fā)明的電源供應(yīng)器正常運作的波形圖;圖5:其為本發(fā)明的保護芯片執(zhí)行過電壓保護的波形圖;圖6:其為本發(fā)明的保護芯片執(zhí)行過電流保護的波形圖;圖7:其為本發(fā)明的程序化訊號產(chǎn)生單元的電路圖;圖8A:其為本發(fā)明的電源供應(yīng)器、測試模塊與控制模塊的一實施例的連接示意圖;圖SB:其為本發(fā)明的電源供應(yīng)器、測試模塊與控制模塊的一實施例的方塊圖;以及圖9:其為本發(fā)明的自動校正裝置的波形圖。圖號對照說明10 電源供應(yīng)器 101 橋式整流器102 電容器103 變壓器104 功率晶體管 105 電阻器106 控制器107 二極管108 二極管109 電感器110 電容器111 光I禹合器
21連接器23 連接器30測試模塊 301測試負載41連接器 43連接器50控制模塊 70自動校正電路701保護芯片 7011調(diào)整單元7012程序化訊號產(chǎn)生單元7014電流源單元7015開關(guān)單元 7016比較單元7017比較單元 7018比較單元7019比較單元 7020正反器7021晶體管 7022晶體管AC輸入電源 ADStl調(diào)整訊號ADS1調(diào)整訊號ADS2調(diào)整訊號ADSn調(diào)整訊號AND與門Cs電容器DBl彈跳消除電路DB2彈跳 消除電路 DLl延遲電路DL2延遲電路 DL3延遲電路DL4延遲電路 FPOB保護訊號1ut輸出電流I。電流源I1電流源 I2電流源In電流源 IS保護準位J輸入端 K輸入端N0一次側(cè)繞組Ns二次側(cè)繞組NOR或非門 ORl或門0R2或門 0R3或門PSONB啟動訊號 PGI電源正常輸入訊號PGO電源正常輸出訊號 PWM切換訊號Q輸出端 R重置端R1電阻器R2電阻器Ris阻抗組件Rsense偵測組件Sff0開關(guān)SW1開關(guān)Sff2開關(guān)SWn開關(guān)TTL測試訊號Vcc供應(yīng)電壓Vcs電流偵測訊號Vdet 偵測電壓Vin直流輸入電壓Vqut輸出電壓Vrefl參考準位Vref2參考準位Vref3參考準位VS偵測訊號VCC輸入電源Vsb供應(yīng)電源
具體實施方式
為了使本發(fā)明的結(jié)構(gòu)特征及所達成的功效有更進一步的了解與認識,特用較佳的實施例及配合詳細的說明,說明如下:請參閱圖2,其是本發(fā)明的電源供應(yīng)器的一實施例的電路圖。如圖所示,本發(fā)明的電源供應(yīng)器10包含有一橋式整流器101、復數(shù)電容器102、110、一電感器109、一功率晶體管104、一電阻器105、復數(shù)二極管107、108、一控制器106以及具有——次側(cè)與一二次側(cè)的一變壓器103。一次側(cè)包括——次側(cè)繞組NP,二次側(cè)包括一二次側(cè)繞組Ns。電容器102的一端耦接橋式整流器101的一輸出端及一次側(cè)繞組Np的一端,電容器102的另一端耦接一接地端。橋式整流器101整流一輸入電源AC為一直流電壓,電容器102濾波直流電壓而產(chǎn)生一直流輸入電壓VIN,且供應(yīng)直流輸入電壓Vin至一次側(cè)繞組NP。功率晶體管104用于切換變壓器103,以控制能量從變壓器103的一次側(cè)繞組Np轉(zhuǎn)換至二次側(cè)繞組Ns。功率晶體管104的一漏極端串接一次側(cè)繞組Np的另一端??刂破?06耦接功率晶體管104的一柵極端??刂破?06產(chǎn)生一切換訊號PWM并將切換訊號PWM輸出至功率晶體管104,以控制功率晶體管104而切換變壓器103。電阻器105耦接于功率晶體管104的一源極端與接地端之間。變壓器103的一切換電流Ip流經(jīng)電阻器105,而于電阻器105產(chǎn)生一電流偵測訊號Vcs。電流偵測訊號Vcs傳輸至控制器106??刂破?06依據(jù)電流偵測訊號Vcs與一回授訊號(圖未示)產(chǎn)生切換訊號PWM?;厥谟嵦栂嚓P(guān)聯(lián)于電源供應(yīng)器的負載狀態(tài)。回授訊號產(chǎn)生方式為一般常用技術(shù),所以于此不再詳述。二極管107與108的陽極分別耦接變壓器103的二次側(cè)繞組Ns的兩端。電感器109的一端耦接二極管107與108的陰極。電感器109的另一端耦接電源供應(yīng)器10的輸出端。電容器110耦接電源供應(yīng)器10的輸出端與接地端之間而產(chǎn)生輸出電源,輸出電源是表示輸出電壓Vtot或輸出電流Iqot。復參閱圖2,本發(fā)明的自動校正裝置,其用于校正電源供應(yīng)器10的輸出電源,例如校正輸出電壓Vtot或輸出電流Itot的一最大準位。其包含一自動校正電路70以及一測試負載301。自動校正電路70包含一偵測組件Rsense、一阻抗組件Ris以及一保護芯片701。偵測組件Rsense耦接輸出端與測試負載301之間。測試負載301經(jīng)過偵測組件Rsense耦接電源供應(yīng)器10的輸出端,并取樣輸出電源,測試負載301是用于調(diào)校階段,以校正電源供應(yīng)器10的輸出電源。電源供應(yīng)器10正常運作下則無耦接測試負載301,而是耦接輸出負載。偵測組件Rsense依據(jù)提供至測試負載301的輸出電源而產(chǎn)生一偵測訊號VS,其相關(guān)于電源供應(yīng)器10的輸出電源的狀態(tài)。于此實施例中,偵測訊號VS系決定于偵測組件Rsense的阻抗值與輸出電流1tt的振幅。于本發(fā)明中,當自動校正裝置校正電源供應(yīng)器10的輸出電源時,偵測訊號VS用于作為一限定準位。阻抗組件Ris耦接于電源供應(yīng)器10的輸出端與保護芯片701之間,并用于產(chǎn)生一保護準位IS,且提供至保護芯片701,保護準位IS限定電源供應(yīng)器10所提供的輸出電源。保護芯片701耦接阻抗組件Ris與偵測組件Rsense。當自動校正裝置校正電源供應(yīng)器10的輸出電源時,保護芯片701比較偵測訊號VS與保護準位IS,而依據(jù)比較結(jié)果以校正輸出電源。校正輸出電源的詳細內(nèi)容將描述于后。此外,阻抗組件Ris與偵測組件Rsense之間耦接一電容器Cs,以抑制噪聲。保護芯片701耦接于電源供應(yīng)器10的輸出端。電源供應(yīng)器10正常使用時,保護芯片701依據(jù)偵測訊號VS與保護準位IS判斷是否發(fā)生過電壓、低電壓或者過電流情形。當電源供應(yīng)器10發(fā)生過電壓、低電壓或者過電流情形時,保護芯片701產(chǎn)生一保護訊號FPOB,并傳輸至控制器106,以驅(qū)使控制器106禁能電源供應(yīng)器10。于一實施例中,一光耦合器111耦接于保護芯片107與控制器106之間,保護訊號FPOB經(jīng)由光耦合器111傳輸至控制器106。此外,一電阻器R1稱接于光稱合器111與一供應(yīng)電壓Vrc之間。保護芯片701接收一啟動訊號PS0NB,且依據(jù)啟動訊號PSONB禁能保護訊號FP0B,以啟動電源供應(yīng)器10。此外,保護芯片701更耦接電源供應(yīng)器10的二極管107與108的連接點,以接收一偵測電壓Vdet而作為一電源正常輸入訊號(power good input signal)PGI,以偵測電源供應(yīng)器10的輸出電源的狀態(tài)。保護芯片701依據(jù)電源正常輸入訊號PGI而產(chǎn)生一電源正常輸出訊號(power good output signal)PG0,其用來表示電源供應(yīng)器10的輸出電源是否正常,所以電源正常輸出訊號PGO相當于一確認訊號。一電阻器R21禹接于供應(yīng)電壓Vcc與保護芯片701之間,以產(chǎn)生電源正常輸出訊號PG0。當電源供應(yīng)器10的輸出電源的狀態(tài)為正常時,保護芯片701依據(jù)電源正常輸入訊號PGI而致能電源正常輸出訊號PG0。當自動校正裝置校正電源供應(yīng)器10的輸出電源時,保護芯片701會依據(jù)啟動訊號PSONB與電源正常輸出訊號PGO自動校正輸出電源。此時,保護芯片701將電源正常輸出訊PGO傳送至測試負載301,測試負載301接收到電源正常輸出訊號PGO后,即會開始取樣輸出電源,以進行輸出電源的自動校正。請一并參閱圖3,其為本發(fā)明的保護芯片的電路圖,如圖所示。保護芯片701包含復數(shù)比較單元7016、7017、7018、7019、一正反器7020、一調(diào)整單元7011、一程序化訊號產(chǎn)生單元7012、復數(shù)彈跳消除電路DB1、DB2、復數(shù)延遲電路DL1、DL2、DL3、DL4、復數(shù)或門0R1、0R2、0R3、一或非門N0R、一與門AND、復數(shù)晶體管7021與7022。彈跳消除電路DB2接收啟動訊號PS0NB。當啟動訊號PSONB的準位由高準位變?yōu)榈蜏饰磺业蜏饰痪S持一時間T4時,彈跳消除電路DB2則輸出低準位的輸出訊號,以啟動電源供應(yīng)器10。換言的,當啟動訊號PSONB的準位持續(xù)為低準位時,彈跳消除電路DB2延遲時間T4后,才輸出啟動訊號PS0NB。彈跳消除電路DB2是用于消除彈跳現(xiàn)象。如此,可避免啟動訊號PSONB的準位受噪聲或外在因素影響而短暫為低準位,而誤啟動電源供應(yīng)器10?;蚍情TNOR的一輸入端耦接彈跳消除電路DB2的一輸出端,以接收彈跳消除電路DB2的輸出訊號。或非門NOR的一輸出端耦接晶體管7021的一柵極端,以控制晶體管7021。晶體管7021的一源極端耦接于接地端。晶體管7021的一漏極端耦接于光耦合器111 (如圖2所示),以產(chǎn)生保護訊號FP0B。當彈跳消除電路DB2的輸出訊號的準位為低準位時,或非門NOR的輸出訊號的準位為高準位,而導通晶體管7021,如此保護訊號FPOB的準位為低準位,其表示電源供應(yīng)器10正常,控制器106(如圖2所示)則啟動電源供應(yīng)器10。此外,彈跳消除電路DB2的輸出端更耦接正反器7020的一重置端R與或門0R3的一非反相輸入端。或非門NOR的輸出端更耦接或門0R3的一反相輸入端。比較單元7019的一正輸入端接收電源正常輸入訊號PGI,而一負輸入端接收一參考準位Vref 1,并比較電源正常輸入訊號PGI與參考準位VrefI而輸出一比較訊號。延遲電路DL4耦接比較單元7019的一輸出端與或門0R3的一反相輸入端之間,并接收比較單元7019的比較訊號。當電源正常輸入訊號PGI的準位高于參考準位Vrefl時,比較單元7019的比較訊號的準位由低準位變換為高準位。比較單元7019的比較訊號的準位為高準位且持續(xù)一時間T8時,延遲電路DL4則輸出高準位的輸出訊號。換言的,當比較單元7019的比較訊號的準位持續(xù)為高準位時,延遲電路DL4延遲T8時間后,才輸出比較單元7019的比較訊號,其表不電源供應(yīng)器10的輸出電源為正常狀態(tài)。延遲電路DL4是用于確認電源正常輸入訊號PGI的狀態(tài)。如此,可避免電源正常輸入訊號PGI的準位受噪聲或外在因素影響而短暫變化,而誤判斷電源供應(yīng)器10的輸出電源的狀態(tài)。或門0R3的一輸出端耦接晶體管7022的一柵極端。晶體管7022的一源極端耦接于接地端。晶體管7022的一漏極端耦接于電阻器R2 (如圖2所示),以產(chǎn)生電源正常輸出訊號PG0。當延遲電路DL4的輸出訊號的準位為高準位時,或門0R3輸出的輸出訊號的準位為低準位,而截止晶體管7022,如此電源正常輸出訊號PGO的準位被供應(yīng)電壓V。。(如圖2所示)拉高為高準位,而表示電源供應(yīng)器10的輸出電源為正常狀態(tài)。此外,當電源正常輸入訊號PGI的準位低于參考準位Vrefl時,比較單元7019的比較訊號的準位由高準位變換為低準位。比較單元7019的比較訊號的準位為低準位且持續(xù)一時間T6時,延遲電路DL4則輸出低準位的輸出訊號。換言的,當比較單元7019的比較訊號的準位持續(xù)為低準位時,延遲電路DL4延遲時間T6后,才輸出比較單元7019的比較訊號,其表示電源供應(yīng)器10的輸出電源為不正常狀態(tài)。當延遲電路DL4的輸出訊號為低準位時,或門0R3輸出的輸出訊號的準位為高準位,而導通晶體管7022,如此電源正常輸出訊號PGO的準位為低準位,而表示電源供應(yīng)器10的輸出電源為不正常狀態(tài)。此外,比較單元7019的輸出端更耦接至延遲電路DL3的一輸入端,延遲電路DL3的一輸出端耦接至與門AND的一輸入端。比較單元7019的比較訊號的準位持續(xù)一時間T5不變后,延遲電路DL3則輸出比較單元7019的比較訊號至與門AND。請一并參閱圖4,其為本發(fā)明的電源供應(yīng)器正常運作的波形圖。如圖所示,當啟動訊號PSONB的準位為低準位時,其表示啟動電源供應(yīng)器10。啟動訊號PSONB經(jīng)彈跳消除電路DB2延遲T4時間后,低準位的啟動訊號PSONB會傳送至或非門N0R,而導通晶體管7021,如此即禁能保護訊號FP0B,以啟動電源供應(yīng)器10。電源供應(yīng)器10啟動后即會產(chǎn)生輸出電源,如此電源供應(yīng)器10的輸出端的偵測電壓Vdet(如圖2所示)即會增加。換言的,電源正常輸入訊號PGI的準位也會增加,而大于參考準位Vrefl,如此比較單元7019的比較訊號的準位為高準位,且經(jīng)延遲電路DL4延遲時間T8后,而輸出至或門0R3的反相輸入端?;蜷T0R3的輸出訊號的準位即為低準位,而截止晶體管7022,如此電源正常輸入訊號PGO的準位即為高準位,其表示電源供應(yīng)器10的輸出電源為正常狀態(tài)。若電源供應(yīng)器10發(fā)生問題,電源供應(yīng)器10的輸出端的偵測電壓Vdet即會降低。換言的,電源正常輸入訊號PGI的準位也會降低,而小于參考準位Vrefl,比較單元7019的比較訊號的準位為低準位,且經(jīng)延遲電路DL4延遲時間T6后,而輸出至或門0R3?;蜷T0R3的輸出訊號的準位即為高準位,而導通晶體管7022,如此電源正常輸入訊號PGO的準位即為低準位,其表示電源供應(yīng)器10的輸出電源為不正常狀態(tài)。復參閱圖3,當電源供應(yīng)器10運作時,保護芯片701接收偵測訊號VS與保護準位IS,以偵測電源供應(yīng)器10的輸出電源的狀態(tài),而判斷是否發(fā)生過電壓、低電壓或者過電流情形。比較單元7016的一正輸入端接收偵測訊號VS,而一負輸入端接收一參考準位Vref2,并比較偵測訊號VS與參考準位Vref2。彈跳消除電路DBl耦接于比較單元7016的一輸出端與或門0R2的一輸入端之間。或門0R2的輸入端接收彈跳消除電路DBl的輸出訊號?;蜷T0R2的一輸出端耦接正反器7020的一輸入端J,正反器7020的一輸出端Q耦接或非門NOR的另一輸入端。正反器7020依據(jù)或門0R2的輸出訊號而輸出訊號至或非門NOR。正反器7020的一輸入端K耦接于接地端。當偵測訊號VS高于參考準位Vref2時,比較單元7016輸出的比較訊號的準位為高準位。比較單元7016的比較訊號的準位為高準位且持續(xù)一時間T2時,彈跳消除電路DBl則輸出高準位的輸出訊號,其表示過電壓情形發(fā)生。當彈跳消除電路DBl的輸出訊號的準位為高準位時,或門0R2輸出的輸出訊號的準位為高準位,而正反器7020所輸出的輸出訊號的準位亦為高準位,如此或非門NOR會截止晶體管7021,如此保護訊號FPOB的準位為高準位,其表示電源供應(yīng)器10不正常。保護訊號FPOB傳輸至控制器106 (如圖2所示),控制器106依據(jù)保護訊號FPOB禁能切換訊號PWM,以禁能電源供應(yīng)器10。請參閱圖5,其為本發(fā)明的的保護芯片執(zhí)行過電壓保護的波形圖。如圖所示,當電源正常輸入訊號PGI的準位增加,而大于參考準位Vrefl后,經(jīng)延遲電路DL4延遲時間T8后,電源正常輸出訊號PGO的準位即為高準位。當偵測訊號VS的準位高于參考準位Vref2時,比較單元7016的比較訊號的準位為高準位,比較訊號經(jīng)彈跳消除電路DBl延遲T2時間后,比較單元7016的具高準位的比較訊號會傳送至或門0R2,或門0R2會輸出具高準位的輸出訊號至正反器7020。如此,正反器7020會驅(qū)使或非門NOR輸出具低準位的輸出訊號,而截止晶體管7021,如此即致能保護訊號FP0B,以關(guān)閉電源供應(yīng)器10。此時,偵測訊號VS與電源正常輸入訊號PGI則因電源供應(yīng)器10關(guān)閉而為低準位。復參閱圖3,比較單元7017的一負輸入端接收偵測訊號VS,而一正輸入端接收一參考準位Vref3,并比較偵測訊號VS與參考準位Vref3,而輸出一比較訊號。延遲電路DLl的一輸入端耦接比較單元7017的一輸出端,并接收比較單元7017的比較訊號。延遲電路DLl的一輸出端耦接或門ORl的一輸入端,或門ORl的一輸出端耦接與門AND的另一輸入端。與門AND的一輸出端耦接或門0R2的另一輸入端。當偵測訊號VS低于參考準位Vref3時,比較單元7017的比較訊號的準位為高準位。當比較單元7017的比較訊號的準位為高準位且持續(xù)一時間Tl時,延遲電路DLl則輸出高準位的輸出訊號,其表示低電壓情形發(fā)生。當延遲電路DLl的輸出訊號的準位為高準位時,或門ORl的輸出訊號的準位為高準位,且輸出至與門AND。當延遲電路DLl與延遲電路DL3的輸出訊號的準位皆為高準位時,與門AND的輸出訊號的準位亦為高準位,并傳送至或門0R2。此時,或門0R2的輸出訊號的準位為高準位,而正反器7020所輸出的輸出訊號的準位亦為高準位,如此或非門NOR會截止晶體管7021,如此保護訊號FPOB的準位為高準位,其表示電源供應(yīng)器10不正常??刂破?06 (如圖2所示)會依據(jù)保護訊號FPOB禁能切換訊號PWM,以禁能電源供應(yīng)器10。程序化訊號產(chǎn)生單元7012耦接阻抗組件Ris (如圖2所示)與比較單元7018的一正輸入端。程序化訊號產(chǎn)生單元7012用于產(chǎn)生保護準位IS。于本發(fā)明的一實施例中,程序化訊號產(chǎn)生單元7012為一程序化電流源,其提供一程序化電流,以產(chǎn)生保護準位IS。程序化電流的振幅與阻抗組件Ris的阻抗決定保護準位IS的振幅。比較單元7018的一負輸入端接收偵測訊號VS,而正輸入端接收保護準位IS,并比較偵測訊號VS與保護準位IS,而輸出一比較訊號。延遲電路DL2的一輸入端耦接比較單元7018的一輸出端。延遲電路DL2的一輸出端耦接或門ORl的另一輸入端。當偵測訊號VS低于保護準位IS時,比較單元7018的比較訊號的準位為高準位。當比較單元7018的比較訊號的準位為高準位且持續(xù)一時間T3時,延遲電路DL2則輸出高準位的輸出訊號,其表示輸出電流1tt(如圖2所示)過大,而發(fā)生過電流情形。當延遲電路DL2的輸出訊號的準位為高準位時,或門ORl的輸出訊號的準位亦為高準位,且輸出至與門AND。當延遲電路DL2與延遲電路DL3的輸出訊號的準位皆為高準位時,與門AND的輸出訊號的準位亦為高準位。此時,或門0R2的輸出訊號的準位為高準位,因此正反器7020的輸出訊號的準位亦為高準位,如此或非門NOR會截止晶體管7021,而致能保護訊號FP0B,以禁能電源供應(yīng)器10。請參閱圖6,其為本發(fā)明的保護芯片執(zhí)行過電流保護的波形圖。如圖所示,當電源供應(yīng)器10正常運作時,偵測訊號VS高于保護準位IS。當過電流情形發(fā)生時,偵測訊號VS會低于保護準位IS,比較單元7018會輸出具有高準位的比較訊號,此比較訊號經(jīng)延遲電路DL2延遲時間T3后傳送至或門0R1,以致或門ORl輸出具有高準位的輸出訊號至與門AND,而與門AND亦輸出具有高準位的輸出訊號至或門0R2,或門0R2的輸出訊號的準位即為高準位,而經(jīng)正反器7020后傳送至或非門N0R,或非門NOR的輸出訊號的準位即為低準位,而截止晶體管7021以致能保護訊號FP0B,進而關(guān)閉電源供應(yīng)器10。復參閱圖3,調(diào)整單元7011耦接比較單元7018的輸出端與程序化訊號產(chǎn)生單元7012。當自動校正裝置校正電源供應(yīng)器10的輸出電源時,調(diào)整單元7011會依據(jù)比較單元7018的比較訊號而產(chǎn)生一調(diào)整訊號ADSchii,以調(diào)整程序化訊號產(chǎn)生單元7012的程序化電流的準位,用以調(diào)整保護準位IS,如此即可以調(diào)整輸出電源的最大準位。于此實施例中,調(diào)整保護準位IS即可調(diào)整輸出電流Itot的最大準位。由上述可知,程序化訊號產(chǎn)生單元7012會依據(jù)比較單元7018的比較訊號調(diào)整保護準位IS,以校正輸出電源。此外,調(diào)整單元7011更接收啟動訊號PSONB與電源正常輸出訊號PG0,而受控于啟動訊號PSONB與電源正常輸出訊號PG0。當啟動訊號PSONB的波形為一特定波形且電源正常輸出訊號PGO的準位為高準位時,調(diào)整單元7011會依據(jù)比較單元7018的比較訊號產(chǎn)生調(diào)整訊號ADSchii,而控制程序化訊號產(chǎn)生單元7012調(diào)整保護準位IS,如此即可以調(diào)整輸出電源的最大準位。上述的特定波形如圖9所示,啟動訊號PSONB具有三個脈波,且第一個脈波的脈波寬度大于第二個脈波與第三個脈波的脈波寬度。由此可知,此特定波形不同于圖4的啟動訊號PSONB的波形。當調(diào)整單元7011接收到具有特定波形的啟動訊號PSONB與具有高準位的電源正常輸出訊號PGO時,調(diào)整單元7011即會依據(jù)比較單元7018的比較訊號產(chǎn)生調(diào)整訊號ADSh。換言的,當電源供應(yīng)器10正常使用而啟動訊號PSONB不具有特定波形時,調(diào)整單元7011并不會調(diào)整保護準位IS。上述的特定波形僅為本發(fā)明的一實施例,并不局限本發(fā)明的特定波形僅為此實施例。本發(fā)明的電源正常輸出訊號PGO是用于作為確認訊號,以確認電源供應(yīng)器10為正常狀態(tài),本發(fā)明亦可運用其它訊號作為確認訊號。所以,調(diào)整單元7011亦可依據(jù)其它訊號與具有特定波形的啟動訊號PSONB而調(diào)整保護準位IS。請參閱圖7,其為本發(fā)明的程序化訊號產(chǎn)生單元的電路圖。如圖所示,程序化訊號產(chǎn)生單元7012包含一電流源單元7014、一開關(guān)單元7015。開關(guān)單元7015包含復數(shù)開關(guān)Sff0-Sffn,該些開關(guān)SWtl-SWn分別依據(jù)調(diào)整訊號ADStl-ADSn而導通或截止。電流源單元7014包含復數(shù)電流源Itl-1n,以提供復數(shù)電流,以產(chǎn)生程序化電流。電流源IcrIn分別耦接開關(guān)單元7015的該些開關(guān)SWtl-SWnt5調(diào)整訊號ADStl-ADSn用于導通或截止該些開關(guān)SWtl-SWn,以控制該些電流源Itl-1n的電流。該些開關(guān)SWtl-SWn導通時,該些電流源Itl-1n的電流則流至接地端。因此,程序化訊號產(chǎn)生單元7012依據(jù)調(diào)整訊號ADSchii而切換該些開關(guān)SWtl-SWn,即可調(diào)整程序化電流的準位,以調(diào)整保護準位IS。復參閱圖2,當自動校正裝置校正電源供應(yīng)器10的輸出電源時,測試負載301會耦接電源供應(yīng)器10的輸出端,以取樣輸出電源。電源供應(yīng)器10開啟且正常提供輸出電源時,電源正常輸出訊號PGO的準位為高準位,且輸出至測試負載301。此時,測試負載301會依據(jù)一設(shè)定值取樣輸出電源,譬如取樣20安培的輸出電流IQUT。所以,提供至測試負載301的輸出電源即會相對應(yīng)于設(shè)定值。此設(shè)定值即為欲設(shè)定電源供應(yīng)器10的輸出電源的最大值。此時,相關(guān)于輸出電源的偵測訊號VS系作為限定準位,而作為校正保護準位IS的參考準位,以校正輸出電源。請參閱圖3,當自動校正裝置校正電源供應(yīng)器10的輸出電源時,調(diào)整單元7011會控制程序化訊號產(chǎn)生單元7012,以調(diào)整程序化訊號產(chǎn)生單元7012的程序化電流的振幅而調(diào)整保護準位IS,而讓保護準位IS等于偵測訊號VS,如此即可校正輸出電源的最大準位。此外,本發(fā)明的調(diào)整單元7011與程序化訊號產(chǎn)生單元7012亦可運用于比較單元7016與7017,而產(chǎn)生用于作為保護準位的參考準位Vref2與Vref3,如此亦可校正輸出電壓的最大值與最小值。請一并參閱圖8A、圖SB與圖9,其為本發(fā)明的電源供應(yīng)器、測試模塊與控制模塊的一實施例的連接示意圖、方塊圖與波形圖。本發(fā)明的自動測試裝置可直接應(yīng)用于自動化測試設(shè)備(Automatic Test Equipment, ATE)。本發(fā)明的自動校正裝置更包含一測試模塊30以及一控制模塊50。測試模塊30設(shè)于自動化測試設(shè)備,其用于產(chǎn)生一測試訊號TTL,并提供輸入電源AC至電源供應(yīng)器10。電源供應(yīng)器10依據(jù)輸入電源AC而提供一供應(yīng)電源Vsb至控制模塊50,而作為控制模塊50的輸入電源VCC,以提供控制模塊50所需的電源??刂颇K50依據(jù)測試訊號TTL而輸出具有特定波形的啟動訊號PSONB至電源供應(yīng)器10。電源供應(yīng)器10的保護芯片701 (如圖2所示)接收啟動訊號PSONB后,經(jīng)時間T4后驅(qū)使保護訊號FPOB禁能,即啟動電源供應(yīng)器10而建立輸出電源。建立輸出電源且經(jīng)時間T8后,保護芯片701致能電源正常輸出訊號PG0。測試模塊30接收具高準位的電源正常輸出訊號PGO后,測試模塊30內(nèi)的測試負載301 (如圖2所示)開始依據(jù)設(shè)定值而取樣輸出電源,以產(chǎn)生偵測訊號VS,以產(chǎn)生限定準位。當電源正常輸出訊號PGO建立,則保護芯片701依據(jù)啟動訊號PSONB與電源正常輸出訊號PGO進行自動校正。此外,如圖8A所示,控制模塊50具有一連接器41,而測試模塊30具有一連接器43,控制模塊50透過連接器41與連接器43將啟動訊號PSONB輸出至測試模塊30,而連接器43與一連接器21電性連接,因此連接器43將啟動訊號PSONB傳送至連接器21,接著再透過連接器21將啟動訊號PSONB傳送至電源供應(yīng)器10的一連接器23,藉此控制電源供應(yīng)器10進行自動校正。綜上所述,本發(fā)明的一種應(yīng)用于輸出電源的自動校正裝置,其用于校正電源供應(yīng)器的輸出電源,其利用程序化訊號產(chǎn)生單元調(diào)整保護準位,藉此校正輸出電源。如此,即可自動校正電源供應(yīng)器的輸出電源,而不需要另外設(shè)置可變電阻,因而不需要藉由人工調(diào)整可變電阻的電阻值而調(diào)整輸出電源,所以可解決耗費人力的問題。此外,程序化訊號產(chǎn)生單元可設(shè)置于保護芯片中,因此可避免程序化訊號產(chǎn)生單元發(fā)生損壞的問題。如此,本發(fā)明可提高校正輸出電源的精確度。上文僅為本發(fā)明的較佳實施例而已,并非用來限定本發(fā)明實施的范圍,凡依本發(fā)明權(quán)利要求范圍所述的形狀、構(gòu)造、特征及精神所為的均等變化與修飾,均應(yīng)包括于本發(fā)明的權(quán)利要求范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種應(yīng)用于輸出電源的自動校正裝置,其特征在于,其用于校正一電源供應(yīng)器的一輸出電源,其包含一自動校正電路,該自動校正電路包含: 一比較單元,比較一限定準位與一保護準位,而產(chǎn)生一比較訊號,該保護準位限定該電源供應(yīng)器所提供的該輸出電源;以及 一程序化訊號產(chǎn)生單元,產(chǎn)生該保護準位,并依據(jù)該比較訊號調(diào)整該保護準位,以校正該輸出電源。
2.如權(quán)利要求1所述的自動校正裝置,其特征在于,更包含: 一測試負載,耦接該電源供應(yīng)器,并依據(jù)一設(shè)定值取樣該輸出電源,以產(chǎn)生該限定準位,該電源供應(yīng)器提供至該測試負載的該輸出電源的準位對應(yīng)于該設(shè)定值。
3.如權(quán)利要求2所述的自動校正裝置,其特征在于,其中該自動校正電路更包含: 一偵測組件,耦接該電源供應(yīng)器的一輸出端與該比較單元,并依據(jù)該電源供應(yīng)器提供至該測試負載的該輸出電源的準位而產(chǎn)生該限定準位。
4.如權(quán)利要求1所述的自動校正裝置,其特征在于,其中該自動校正電路包含: 一調(diào)整單元,依據(jù)該比較訊號產(chǎn)生一調(diào)整訊號,而控制該程序化訊號產(chǎn)生單元調(diào)整該保護準位。
5.如權(quán)利要求1所述的自動校正裝置,其特征在于,其中該程序化訊號產(chǎn)生單元為一程序化電流源,該自動校正電路更包含: 一阻抗組件,I禹接該電源 供應(yīng)器的一輸出端與該輸出電源; 其中,該程序化電流源耦接該阻抗組件與該比較單元,并提供一程序化電流,而產(chǎn)生該保護準位,該保護準位決定于該程序化電流的準位與該阻抗組件的阻抗,該比較訊號調(diào)整該程序化電流的準位,而調(diào)整該保護準位。
6.如權(quán)利要求1所述的自動校正裝置,其特征在于,其中該該比較單元與該程序化訊號產(chǎn)生單元整合于該電源供應(yīng)器的一保護芯片。
7.如權(quán)利要求1所述的自動校正裝置,其特征在于,其中該限定準位對應(yīng)于一設(shè)定值,該程序化訊號產(chǎn)生單元依據(jù)該比較訊號調(diào)整該保護準位。
8.如權(quán)利要求1所述的自動校正裝置,其特征在于,其中該保護準位限定該電源供應(yīng)器所提供的該輸出電源的一最大準位,該程序化訊號產(chǎn)生單元依據(jù)該比較訊號調(diào)整該保護準位,以校正該輸出電源的該最大準位。
9.如權(quán)利要求1所述的自動校正裝置,其特征在于,更包含: 一測試模塊,產(chǎn)生一測試訊號并提供一輸入電源至該電源供應(yīng)器;以及 一控制模塊,依據(jù)該測試訊號產(chǎn)生一啟動訊號; 其中,該電源供應(yīng)器接收該輸入電源并依據(jù)該啟動訊號提供該輸出電源,該電源供應(yīng)器提供該輸出電源后產(chǎn)生一確認訊號,該測試模塊依據(jù)該確認訊號與一設(shè)定值取樣該輸出電源,以產(chǎn)生該限定準位,該電源供應(yīng)器提供至該測試模塊的該輸出電源的準位對應(yīng)于該設(shè)定值。
10.如權(quán)利要求9所述的自動校正裝置,其特征在于,其中該電源供應(yīng)器依據(jù)該輸入電源提供一供應(yīng)電源至該控制模塊,以提供該控制模塊所需的電源而產(chǎn)生該啟動訊號。
11.如權(quán)利要求9所述的自動校正裝置,其特征在于,其中該自動校正電路包含: 一調(diào)整單元,受控于該啟動訊號與該確認訊號,而依據(jù)該比較訊號產(chǎn)生一調(diào)整訊號,而控制該程序化訊號產(chǎn)生 單元調(diào)整該保護準位。
全文摘要
本發(fā)明提出一種應(yīng)用于輸出電源的自動校正裝置,其用于校正一電源供應(yīng)器的一輸出電源,其包含一自動校正電路,自動校正電路包含一比較單元與一程序化訊號產(chǎn)生單元。比較單元比較一限定準位與一保護準位,而產(chǎn)生一比較訊號,保護準位限定電源供應(yīng)器所提供的輸出電源。程序化訊號產(chǎn)生單元產(chǎn)生保護準位,并依據(jù)比較訊號調(diào)整保護準位,以校正輸出電源。本發(fā)明的程序化訊號產(chǎn)生單元會依據(jù)限定準位而調(diào)整保護準位,如此即自動校正輸出電源,而不需以人工方式調(diào)整,所以可減少成本并提高校正精確度。
文檔編號H02M3/335GK103219888SQ201310087398
公開日2013年7月24日 申請日期2013年3月8日 優(yōu)先權(quán)日2012年5月2日
發(fā)明者潘瑞祥, 曾明志 申請人:極創(chuàng)電子股份有限公司