本發(fā)明屬于車輛后視鏡，具體地說，涉及一種具備重試功能的后視鏡芯片邏輯運(yùn)行方法、系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

1、隨著汽車行業(yè)發(fā)展，大部分汽車都支持后視鏡折疊功能。并且在車輛使用當(dāng)中，后視鏡折疊使用頻率高，因此后視鏡折疊技術(shù)的穩(wěn)定性需求增大。后視鏡折疊大多是通過直流電機(jī)來驅(qū)動(dòng)的，當(dāng)前的后視鏡折疊電機(jī)驅(qū)動(dòng)模組采用的是分立元件的解決方案，或者是采用普通直流電機(jī)驅(qū)動(dòng)芯片來驅(qū)動(dòng)。分立元件解決方案雖然可以提供良好的性能，并且也存在量產(chǎn)的經(jīng)驗(yàn)，但是其缺點(diǎn)是較大的pcb面積以及較為昂貴的bom元件費(fèi)用，而且它的精確度不高，不支持車載芯片所要求的各種保護(hù)功能。普通直流電機(jī)驅(qū)動(dòng)芯片來驅(qū)動(dòng)后視鏡的缺點(diǎn)是無法根據(jù)后視鏡的使用背景來定制一些特定的功能。

2、基于此情況，現(xiàn)有技術(shù)中設(shè)計(jì)了一種專門針對后視鏡折疊驅(qū)動(dòng)電機(jī)的方案。它的特點(diǎn)是實(shí)現(xiàn)了功能模組的ic化，大大節(jié)約了空間和成本，并且芯片內(nèi)部實(shí)時(shí)監(jiān)測電流，來判斷后視鏡是否折疊到位，一旦后視鏡折疊到位，電機(jī)停止轉(zhuǎn)動(dòng)到達(dá)堵轉(zhuǎn)（stall）的狀態(tài)時(shí)，電機(jī)電流會(huì)大幅度增加。這個(gè)增加的電流會(huì)被芯片檢測，檢測后芯片自動(dòng)關(guān)斷，將電機(jī)的電流減到零，一方面是減少無謂的電量消耗，另一方面則是減少電機(jī)發(fā)熱，杜絕發(fā)熱引起的安全隱患。

3、但是遇到一個(gè)新問題，即車載芯片需要滿足機(jī)動(dòng)車在各種惡劣環(huán)境下的工作需求。后視鏡在冬天天氣寒冷的情況下，因?yàn)槔鋬龅脑?，?huì)導(dǎo)致難以打開或折疊的尷尬情況。另外，在沙漠或者沙塵嚴(yán)重的地區(qū)，后視鏡模組常常會(huì)有異物擠入。這個(gè)時(shí)候也會(huì)導(dǎo)致后視鏡在折疊或開啟時(shí)出現(xiàn)卡死。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、針對現(xiàn)有技術(shù)存在的上述問題，本發(fā)明的目的在于提供一種具備重試功能的后視鏡芯片邏輯運(yùn)行方法、系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了后視鏡折疊驅(qū)動(dòng)芯片的特殊定制，讓后視鏡驅(qū)動(dòng)電機(jī)在處于卡死的狀態(tài)下嘗試進(jìn)行恢復(fù)，從而便于折疊工作的正常運(yùn)行。

2、為了解決上述問題，本發(fā)明所采用的技術(shù)方案如下：

3、所述的一種具備重試功能的后視鏡芯片邏輯運(yùn)行方法，包括以下步驟：

4、s1：啟動(dòng)驅(qū)動(dòng)后視鏡轉(zhuǎn)動(dòng)的電機(jī)產(chǎn)生方向信號，芯片識別到驅(qū)動(dòng)開始的信息；

5、s2：在所述電機(jī)的電流結(jié)束起始忽略時(shí)間之后，對所述電流進(jìn)行取樣檢測；

6、s3：根據(jù)步驟s2中進(jìn)行取樣檢測的電流，采用外部的設(shè)定電阻來決定偵測堵轉(zhuǎn)電流的閾值，如果該進(jìn)行取樣檢測的電流超過該閾值，即stall高電平發(fā)生，則芯片識別為電機(jī)處于堵轉(zhuǎn)狀態(tài)，否則識別為電機(jī)不處于堵轉(zhuǎn)狀態(tài)；

7、s4：當(dāng)識別為電機(jī)處于堵轉(zhuǎn)狀態(tài)時(shí)，芯片將關(guān)斷并重新啟動(dòng)若干次；

8、在步驟s4芯片不斷重新啟動(dòng)的若干次過程中，若在其中的一次所述進(jìn)行取樣檢測的電流沒有超過該閾值，即stall高電平?jīng)]有發(fā)生，芯片識別為電機(jī)不處于堵轉(zhuǎn)狀態(tài)，則進(jìn)入正常的驅(qū)動(dòng)流程；若最后一次的重新啟動(dòng)過程中，芯片仍舊識別為電機(jī)處于堵轉(zhuǎn)狀態(tài)，則芯片直接關(guān)斷不再繼續(xù)重試。

9、進(jìn)一步地，在步驟s2中，對所述電流進(jìn)行取樣檢測的電路包括呈h橋結(jié)構(gòu)的m1低邊功率晶體管和m2高邊功率晶體管，該電路的工作邏輯為，分別由映射晶體管m1a和映射晶體管m2a對m1低邊功率晶體管和m2低邊功率晶體管進(jìn)行取樣，再分別經(jīng)過電阻r_sense1和電阻r_sens2將取樣得到的電流轉(zhuǎn)換得到低邊的感應(yīng)電壓ls_sense和高邊的感應(yīng)電壓hs_sense，由高邊的感應(yīng)電壓hs_sense進(jìn)行內(nèi)部電路的過流保護(hù)，由低邊的感應(yīng)電壓ls_sense進(jìn)行堵轉(zhuǎn)狀態(tài)的檢測。

10、進(jìn)一步地，在步驟s3中，決定偵測堵轉(zhuǎn)電流的閾值電路包括電阻r1、電阻r2、運(yùn)算放大器以及電源vp，該電路的工作邏輯為，所述電源vp的電壓經(jīng)過電阻r1和電阻r2的分配使運(yùn)算放大器輸入端的電壓為1/8的電源vp電壓，所述運(yùn)算放大器的輸出端連接有rset，rset的值決定了支路電流的值，所述支路電流通過電流鏡的拷貝得到只隨電源vp的增加而增加的i_st電流，即堵轉(zhuǎn)電流的閾值；

11、在步驟s2中得到的低邊的感應(yīng)電壓ls_sense通過電壓-電流轉(zhuǎn)換器形成i_sense電流，所述i_sense電流和所述i_st電流通過電流比較器進(jìn)行比較產(chǎn)生邏輯結(jié)果，當(dāng)所述邏輯結(jié)果為高電平時(shí)，代表stall高電平發(fā)生，堵轉(zhuǎn)狀態(tài)成立。

12、進(jìn)一步地，該方法中包括控制所述電機(jī)進(jìn)行軟啟關(guān)的軟啟關(guān)電路；

13、對所述電流進(jìn)行取樣檢測的電路包括呈h橋結(jié)構(gòu)的m1低邊功率晶體管和m2高邊功率晶體管，所述軟啟關(guān)電路包括與所述m1低邊功率晶體管的柵極連接的8bit的dac電路，所述dac電路控制所述m1低邊功率晶體管的vgs值。

14、所述的一種具備重試功能的后視鏡芯片邏輯運(yùn)行系統(tǒng)，包括電流檢測模塊、閾值偵測模塊以及電流比較模塊；

15、所述電流檢測模塊用于對電流進(jìn)行取樣檢測，所述電流為，在啟動(dòng)驅(qū)動(dòng)后視鏡轉(zhuǎn)動(dòng)的電機(jī)產(chǎn)生方向信號、所述電機(jī)產(chǎn)生的電流結(jié)束起始忽略時(shí)間之后的電流；

16、所述閾值偵測模塊采用外部的設(shè)定電阻來決定偵測堵轉(zhuǎn)電流的閾值；

17、所述電流比較模塊根據(jù)所述電流檢測模塊取樣檢測得到的電流值與所述閾值偵測模塊決定的閾值進(jìn)行比較，若所述取樣檢測的電流超過所述閾值，即stall高電平發(fā)生，則芯片識別電機(jī)處于堵轉(zhuǎn)狀態(tài)，否則識別為電機(jī)不處于堵轉(zhuǎn)狀態(tài)；

18、當(dāng)所述芯片識別電機(jī)處于堵轉(zhuǎn)狀態(tài)時(shí)，所述系統(tǒng)控制驅(qū)動(dòng)后視鏡轉(zhuǎn)動(dòng)的電機(jī)重新啟動(dòng)若干次，并在不斷重新啟動(dòng)的若干次過程中，若在其中的一次進(jìn)行所述取樣檢測的電流沒有超過所述閾值，即stall高電平?jīng)]有發(fā)生，芯片識別為電機(jī)不處于堵轉(zhuǎn)狀態(tài)，則不再進(jìn)行重啟直接進(jìn)入正常的驅(qū)動(dòng)流程；若最后一次重新啟動(dòng)后，芯片仍舊識別所述電機(jī)處于堵轉(zhuǎn)狀態(tài)，則芯片直接關(guān)斷不再繼續(xù)重試。

19、進(jìn)一步地，所述電流檢測模塊包括取樣檢測電路，所述取樣檢測電路包括呈h橋結(jié)構(gòu)的m1低邊功率晶體管和m2高邊功率晶體管，所述映射晶體管m1a和映射晶體管m2a對m1低邊功率晶體管和m2低邊功率晶體管分別進(jìn)行取樣，再分別經(jīng)過電阻r_sense1和電阻r_sens2將取樣得到的電流轉(zhuǎn)換得到低邊的感應(yīng)電壓ls_sense和高邊的感應(yīng)電壓hs_sense，由高邊的感應(yīng)電壓hs_sense進(jìn)行內(nèi)部電路的過流保護(hù)，由低邊的感應(yīng)電壓ls_sense進(jìn)行堵轉(zhuǎn)狀態(tài)的檢測。

20、進(jìn)一步地，所述閾值偵測模塊包括閾值偵測電路，所述閾值偵測電路包括電阻r1、電阻r2、運(yùn)算放大器以及電源vp，所述電源vp的電壓經(jīng)過電阻r1和電阻r2的分配使運(yùn)算放大器輸入端的電壓為1/8的電源vp電壓，所述運(yùn)算放大器的輸出端連接有rset，所述rset的值決定了支路電流的值，所述支路電流通過電流鏡的拷貝得到只隨所述電源vp的增加而增加的i_st電流，即堵轉(zhuǎn)電流的閾值。

21、進(jìn)一步地，所述電流比較模塊包括電流比較電路，所述電流比較電路通過電壓-電流轉(zhuǎn)換器將所述取樣檢測電路得到的低邊的感應(yīng)電壓ls_sense轉(zhuǎn)換成i_sense電流，所述電流比較電路通過電流比較器來比較所述ls_sense電流和i_sense電流，當(dāng)所述邏輯結(jié)果為高電平時(shí)，代表stall高電平發(fā)生，堵轉(zhuǎn)狀態(tài)成立。

22、進(jìn)一步地，該系統(tǒng)中還包括控制所述電機(jī)進(jìn)行軟啟關(guān)的軟啟關(guān)電路；

23、對所述電流進(jìn)行取樣檢測的電路包括呈h橋結(jié)構(gòu)的m1低邊功率晶體管和m2高邊功率晶體管，所述軟啟關(guān)電路包括與所述m1低邊功率晶體管的柵極連接的8bit的dac電路，所述dac電路控制所述m1低邊功率晶體管的vgs值。

24、相比于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明的有益效果為：

25、（1）本發(fā)明提供了一種具備重試功能的后視鏡芯片邏輯運(yùn)行方法、系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了后視鏡折疊驅(qū)動(dòng)芯片的特殊定制，讓后視鏡驅(qū)動(dòng)電機(jī)在處于卡死的狀態(tài)下嘗試進(jìn)行恢復(fù)，從而便于折疊工作的正常運(yùn)行；

26、（2）本發(fā)明設(shè)計(jì)了一種基于上述芯片邏輯運(yùn)行方法、系統(tǒng)運(yùn)行的軟啟關(guān)電路結(jié)構(gòu)，可以減少啟動(dòng)時(shí)的電流沖擊、降低啟動(dòng)時(shí)的機(jī)械應(yīng)力，防止系統(tǒng)不穩(wěn)定，同時(shí)減少在電機(jī)關(guān)斷時(shí)電壓尖峰和電流突變情況，保護(hù)了電機(jī)和驅(qū)動(dòng)電路，提高了系統(tǒng)的可靠性和使用壽命，減少了噪音和振動(dòng)情況，防止電機(jī)在關(guān)斷過程中發(fā)生反向電流的情況。