1.一種用于直流配電系統(tǒng)隨機(jī)電磁暫態(tài)并行優(yōu)化的方法，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，s1，包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，s2，包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，s3，包括：確定節(jié)點(diǎn)的局部收縮范圍，之后在經(jīng)過排序的節(jié)點(diǎn)中剔除對(duì)電壓校正影響程度小的節(jié)點(diǎn)，其中，通過標(biāo)準(zhǔn)化靈敏度量化節(jié)點(diǎn)對(duì)電壓校正的影響程度。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或4所述的方法，其特征在于，所述標(biāo)準(zhǔn)化靈敏度包括：，其中，sak是對(duì)應(yīng)于第k個(gè)工作狀態(tài)的靈敏度矩陣，靈敏度矩陣表示為sa，sa中的每個(gè)元素sa(i,?j)表示當(dāng)?shù)趈個(gè)關(guān)聯(lián)支路的電壓偏差對(duì)第i個(gè)節(jié)點(diǎn)電壓校正的影響大小，j表示關(guān)聯(lián)支路的序號(hào)，i表示節(jié)點(diǎn)的序號(hào)，jl為接入子系統(tǒng)的關(guān)聯(lián)支路的總數(shù)，ks為可能的工作狀態(tài)數(shù)；所述剔除對(duì)電壓校正影響程度小的節(jié)點(diǎn)，包括：根據(jù)si的值，將具有低標(biāo)準(zhǔn)化靈敏度的節(jié)點(diǎn)從sa中移除。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，s4包括：
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述通過線性靜態(tài)迭代的方式對(duì)所述節(jié)點(diǎn)電壓模型進(jìn)行處理直至收斂，包括：根據(jù)所述節(jié)點(diǎn)電壓模型建立節(jié)點(diǎn)導(dǎo)納矩陣：，其中，mn、vn、nn、in分別表示子系統(tǒng)a和子系統(tǒng)b的伴隨電路進(jìn)行重構(gòu)后對(duì)應(yīng)的節(jié)點(diǎn)導(dǎo)納矩陣構(gòu)成的分塊對(duì)角矩陣、子系統(tǒng)a和子系統(tǒng)b的節(jié)點(diǎn)電壓構(gòu)成的節(jié)點(diǎn)電壓向量、子系統(tǒng)a和b間關(guān)聯(lián)支路對(duì)應(yīng)的節(jié)點(diǎn)導(dǎo)納子矩陣構(gòu)成的零補(bǔ)矩陣、子系統(tǒng)a和子系統(tǒng)b的注入電流構(gòu)成的注入電流向量；
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在s5中，所述校正條件包括：條件1和條件2，所述條件1用于檢測(cè)是否在當(dāng)前時(shí)間時(shí)刻tn執(zhí)行校正，所述條件2用于檢測(cè)是否在下一時(shí)刻tn+1啟用校正步驟；
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，在s6中，包括：
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于，所述更新當(dāng)前時(shí)刻子系統(tǒng)的電流注入向量，包括：，glink,n-1為上一時(shí)刻所有關(guān)聯(lián)支路的節(jié)點(diǎn)導(dǎo)納子矩陣，vo,n-2為剩余子系統(tǒng)在前兩個(gè)時(shí)刻得到的邊界節(jié)點(diǎn)的電壓結(jié)果，為上一時(shí)刻對(duì)當(dāng)前子系統(tǒng)對(duì)應(yīng)的節(jié)點(diǎn)導(dǎo)納矩陣的逆矩陣，ia,n-1為上一時(shí)刻當(dāng)前子系統(tǒng)中伴隨電路注入電流向量；