一種太陽(yáng)能晶硅電池漏電檢測(cè)分析儀的制作方法
【專利說(shuō)明】—種太陽(yáng)能晶硅電池漏電檢測(cè)分析儀
[0001]
技術(shù)領(lǐng)域
[0002]本發(fā)明涉及一種太陽(yáng)電池檢測(cè)分析設(shè)備，具體地說(shuō)是一種太陽(yáng)能晶硅電池漏電檢測(cè)分析儀。
【背景技術(shù)】
[0003]太陽(yáng)能晶硅電池的核心結(jié)構(gòu)是PN結(jié)，在給PN結(jié)施加不超過(guò)極限反向電壓的情況下PN結(jié)不會(huì)導(dǎo)電，此時(shí)測(cè)量的電阻稱為太陽(yáng)能晶硅電池的并聯(lián)電阻。因此并聯(lián)電阻是反映太陽(yáng)能晶硅電池電性能的一個(gè)重要參數(shù)。目前，太陽(yáng)能晶硅電池的并聯(lián)電阻是通過(guò)光照或黑暗條件下的IV曲線測(cè)試再計(jì)算得到的，無(wú)法具體判斷過(guò)小的并聯(lián)電阻在太陽(yáng)能晶硅電池的具體部位和形狀，導(dǎo)致無(wú)法進(jìn)行更為詳細(xì)的分析。
[0004]過(guò)小的并聯(lián)電阻在外加較小的反偏電壓時(shí)會(huì)有漏電流通過(guò)，在PN結(jié)上有其它可導(dǎo)電的雜質(zhì)或者缺陷會(huì)導(dǎo)致該處的并聯(lián)電阻減小，根據(jù)導(dǎo)體發(fā)熱公式Q=Wt=UIt,其中I=U/R，在電壓恒定的情況下導(dǎo)體電阻越小，通過(guò)的電流越大，則在導(dǎo)體上的發(fā)熱量越大，根據(jù)這種現(xiàn)象可以對(duì)太陽(yáng)能晶硅電池給予一定的外加偏壓，并聯(lián)電阻過(guò)小的區(qū)域在有外加偏壓的條件下會(huì)形成較大漏電流，而這些局部漏電區(qū)會(huì)以局部高溫的形式表現(xiàn)出來(lái)，通過(guò)紅外探測(cè)手段，那么就可以判斷出并聯(lián)電阻過(guò)小的局部部位和形狀。
[0005]現(xiàn)有技術(shù)中公開(kāi)的漏電檢測(cè)設(shè)備雖然能夠直觀地檢測(cè)出太陽(yáng)能晶硅電池的漏電區(qū)，但其結(jié)構(gòu)設(shè)置的局限性，一方面，容易受到環(huán)境干擾，使結(jié)果不準(zhǔn)確，另外一方面，使用探針固定電池和施加反向電流，容易對(duì)電池造成損傷；再一方面，難以對(duì)太陽(yáng)能晶硅電池并聯(lián)電阻進(jìn)行分析，不能為制程提供有效幫助。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種不但檢測(cè)結(jié)果準(zhǔn)確，還能確定過(guò)小的并聯(lián)電阻在太陽(yáng)能晶硅電池的具體位置和形狀，得出具體的制程分析結(jié)果的太陽(yáng)能晶硅電池漏電檢測(cè)分析儀。
[0007]為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明的太陽(yáng)能晶硅電池漏電檢測(cè)分析儀，包括暗箱，暗箱內(nèi)設(shè)置有金屬底座，金屬底座上設(shè)置有用于夾持電池片的金屬夾針，金屬底座和金屬夾針連接位于暗箱外的電源，金屬底座的上方設(shè)置紅外熱像儀，紅外熱像儀下方設(shè)置有濾光片，紅外熱像儀形成的熱像圖能夠直觀地檢測(cè)出太陽(yáng)能晶硅電池的漏電區(qū)，紅外熱像儀連接位于暗箱外的計(jì)算機(jī)，計(jì)算機(jī)內(nèi)具有存儲(chǔ)有太陽(yáng)能晶硅電池正面柵線外觀圖案的數(shù)據(jù)庫(kù)；所檢測(cè)出的太陽(yáng)能晶硅電池漏電區(qū)能夠與繪制好的電池圖紙進(jìn)行對(duì)比找到太陽(yáng)能晶硅電池漏電的位置和形狀，再與數(shù)據(jù)庫(kù)中漏電位置和形狀進(jìn)行對(duì)比。
[0008]所述電源為穩(wěn)壓直流電源。
[0009]所述銅質(zhì)底座上還具有固定設(shè)置在銅質(zhì)底座上的定位卡塊。
[0010]所述金屬底座為銅質(zhì)底座，所述金屬夾針為銅質(zhì)夾針。
[0011]本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于:
由于設(shè)置的位于暗箱內(nèi)的紅外熱像儀以及與紅外熱像儀連接的計(jì)算機(jī)，通過(guò)紅外熱成像相機(jī)可形成熱像圖，能顯示物體的表面溫度分布，利用紅外熱像儀形成的熱像圖可直觀地檢測(cè)出太陽(yáng)能晶硅電池的漏電區(qū)，由此便可直接通過(guò)用紅外熱像儀對(duì)太陽(yáng)能晶硅電池進(jìn)行檢測(cè)，通過(guò)與預(yù)設(shè)的電池圖紙進(jìn)行對(duì)比確定過(guò)小的并聯(lián)電阻在太陽(yáng)能晶硅電池的具體位置和形狀，再與數(shù)據(jù)庫(kù)中漏電位置和形狀進(jìn)行對(duì)比，得出具體的制程分析結(jié)果；同時(shí)采用銅質(zhì)夾針與銅質(zhì)底座可有效增加導(dǎo)電面積，提高檢測(cè)靈敏度，且對(duì)電池表面不會(huì)造成損傷。
【附圖說(shuō)明】
[0012]圖1為本發(fā)明太陽(yáng)能晶硅電池漏電檢測(cè)分析儀的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖2為本發(fā)明中制絨或者刻蝕段Roller對(duì)太陽(yáng)能晶硅電池造成的漏電狀態(tài)示意圖； 圖3為本發(fā)明絲網(wǎng)印刷烘干段夾爪對(duì)太陽(yáng)能晶硅電池造成的漏電狀態(tài)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0013]下面結(jié)合附圖和【具體實(shí)施方式】，對(duì)本發(fā)明的太陽(yáng)能晶硅電池漏電檢測(cè)分析儀作進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。
[0014]如圖所示，本發(fā)明的太陽(yáng)能晶硅電池漏電檢測(cè)分析儀，包括暗箱1，暗箱I內(nèi)設(shè)置有金屬底座2，金屬底座2上設(shè)置有用于夾持電池片4的銅質(zhì)夾針3，金屬底座2優(yōu)選為銅質(zhì)底座，金屬夾針3優(yōu)選為銅質(zhì)夾針，使用銅質(zhì)底座和銅質(zhì)夾針可提高檢測(cè)靈敏度，可根據(jù)電池主柵線的數(shù)量進(jìn)行靈活更改，且不會(huì)像現(xiàn)有的探針對(duì)電池表面造成損傷；金屬底座2和金屬夾針3連接位于暗箱外的電源7，金屬底座2的上方設(shè)置紅外熱像儀5，紅外熱像儀5下方設(shè)置有700_的濾光片6,通過(guò)紅外熱像儀(紅外熱成像相機(jī))對(duì)加載反偏壓的太陽(yáng)能晶硅電池進(jìn)行漏電檢測(cè)，并使用暗箱與700nm濾光片濾去環(huán)境干擾；紅外熱像儀5形成的熱像圖能夠直觀地檢測(cè)出太陽(yáng)能晶硅電池的漏電區(qū)，紅外熱像儀5連接位于暗箱外的計(jì)算機(jī)8，計(jì)算機(jī)8內(nèi)具有存儲(chǔ)有太陽(yáng)能晶硅電池正面柵線外觀圖案的數(shù)據(jù)庫(kù)；所檢測(cè)出的太陽(yáng)能晶硅電池漏電區(qū)能夠與繪制好的CAD電池圖紙進(jìn)行對(duì)比找到太陽(yáng)能晶硅電池漏電的位置和形狀，通過(guò)電池外觀CAD圖與熱成像圖疊加取得漏電具體位置和形狀，再與數(shù)據(jù)庫(kù)中漏電位置和形狀進(jìn)行對(duì)比。
[0015]本發(fā)明中所說(shuō)的電源7為穩(wěn)壓直流電源，銅質(zhì)底座2上還具有固定設(shè)置在銅質(zhì)底座2上的定位卡塊，將太陽(yáng)能晶硅電池放置于銅質(zhì)底座上，由定位卡塊固定位置，銅質(zhì)夾針壓在太陽(yáng)能晶硅電池正面主柵線上，銅質(zhì)底座與銅質(zhì)夾針連接穩(wěn)壓直流電源，由穩(wěn)壓直流電源提供穩(wěn)定外加偏壓。
[0016]使用時(shí)，漏電異常太陽(yáng)能晶硅電池4放入本發(fā)明的太陽(yáng)能晶硅電池漏電分析儀，掃描圖案為與主柵線垂直的兩條并排直線，與計(jì)算機(jī)中儲(chǔ)存的接觸位置對(duì)比結(jié)果為制絨或者刻蝕段Roller對(duì)太陽(yáng)能晶硅電池4造成的異常導(dǎo)致漏電(見(jiàn)圖2)。
[0017]電異常太陽(yáng)能晶硅電池4放入本發(fā)明的太陽(yáng)能晶硅電池漏電分析儀，掃描圖案為電池兩端對(duì)應(yīng)的點(diǎn)狀圖案，位置對(duì)比結(jié)果為絲網(wǎng)印刷烘干段夾爪對(duì)太陽(yáng)能晶硅電池成的異常導(dǎo)致漏電(見(jiàn)圖3)。
[0018]從上述實(shí)施例可以看出，計(jì)算機(jī)內(nèi)存儲(chǔ)有太陽(yáng)能晶硅電池正面柵線外觀圖案，與接受到的紅外圖形進(jìn)行重合，確定漏電處在太陽(yáng)能晶硅電池上的具體位置，使用與電池接觸位CAD圖像對(duì)漏電位置進(jìn)行對(duì)比，判斷出現(xiàn)異常的制程因素；由此使其根據(jù)測(cè)得太陽(yáng)能晶硅電池表面熱量的差別，再與制程過(guò)程中與太陽(yáng)能晶硅電池接觸位置的比對(duì)可以找到相應(yīng)的制程問(wèn)題，同時(shí)用紅外熱像儀對(duì)太陽(yáng)能晶硅電池檢測(cè)為無(wú)損檢測(cè)方式，通過(guò)這種方式就可以對(duì)每一塊電池片進(jìn)行檢測(cè)，保證了產(chǎn)品的質(zhì)量，同時(shí)對(duì)產(chǎn)品本身也沒(méi)有損傷。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種太陽(yáng)能晶硅電池漏電檢測(cè)分析儀，其特征在于:包括暗箱(1)，暗箱(I)內(nèi)設(shè)置有金屬底座(2 )，金屬底座(2 )上設(shè)置有用于夾持電池片(4)的銅質(zhì)夾針(3 )，所述金屬底座(2)和金屬夾針(3)連接位于暗箱外的電源(7)，所述金屬底座(2)的上方設(shè)置紅外熱像儀(5),紅外熱像儀(5)下方設(shè)置有濾光片(6)，所述紅外熱像儀(5)形成的熱像圖能夠直觀地檢測(cè)出太陽(yáng)能晶硅電池的漏電區(qū)，所述紅外熱像儀(5)連接位于暗箱外的計(jì)算機(jī)(8)，所述計(jì)算機(jī)(8)內(nèi)具有存儲(chǔ)有太陽(yáng)能晶硅電池正面柵線外觀圖案的數(shù)據(jù)庫(kù)；所檢測(cè)出的太陽(yáng)能晶硅電池漏電區(qū)能夠與繪制好的電池圖紙進(jìn)行對(duì)比找到太陽(yáng)能晶硅電池漏電的位置和形狀，再與數(shù)據(jù)庫(kù)中漏電位置和形狀進(jìn)行對(duì)比。
2.按照權(quán)利要求1所述的太陽(yáng)能晶硅電池漏電檢測(cè)分析儀，其特征在于:所述電源(7)為穩(wěn)壓直流電源。
3.按照權(quán)利要求1所述的太陽(yáng)能晶硅電池漏電檢測(cè)分析儀，其特征在于:所述銅質(zhì)底座(2)上還具有固定設(shè)置在銅質(zhì)底座(2)上的定位卡塊。
4.按照權(quán)利要求1所述的太陽(yáng)能晶硅電池漏電檢測(cè)分析儀，其特征在于:所述金屬底座(2)為銅質(zhì)底座，所述金屬夾針(3)為銅質(zhì)夾針。
【專利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種太陽(yáng)能晶硅電池漏電檢測(cè)分析儀。它包括暗箱，暗箱內(nèi)設(shè)置有金屬底座，金屬底座上設(shè)置有金屬夾針，金屬底座和金屬夾針連接電源，金屬底座的上方設(shè)置紅外熱像儀，紅外熱像儀下方設(shè)置有濾光片，紅外熱像儀形成的熱像圖能夠直觀地檢測(cè)出太陽(yáng)能晶硅電池的漏電區(qū)，紅外熱像儀連接位于暗箱外的計(jì)算機(jī)，計(jì)算機(jī)內(nèi)具有數(shù)據(jù)庫(kù)；所檢測(cè)出的漏電區(qū)能夠與圖紙對(duì)比找到電池漏電的位置和形狀，再與數(shù)據(jù)庫(kù)中漏電位置和形狀進(jìn)行對(duì)比。其優(yōu)點(diǎn)在于：可直接通過(guò)用紅外熱像儀對(duì)電池進(jìn)行檢測(cè)，通過(guò)與預(yù)設(shè)的電池圖紙進(jìn)行對(duì)比確定過(guò)小的并聯(lián)電阻在太陽(yáng)能晶硅電池的具體位置和形狀，再與數(shù)據(jù)庫(kù)中漏電位置和形狀進(jìn)行對(duì)比，得出具體的制程分析結(jié)果。
【IPC分類】H02S50-10
【公開(kāi)號(hào)】CN104682868
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510059452
【發(fā)明人】韓健鵬
【申請(qǐng)人】晉能清潔能源科技有限公司
【公開(kāi)日】2015年6月3日
【申請(qǐng)日】2015年2月4日