一種ic驗證工具的電源的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及IC驗證技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種IC驗證工具的電源。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，隨著半導(dǎo)體行業(yè)的快速發(fā)展，IC驗證技術(shù)也在跟隨其不斷發(fā)展。對于每顆IC的驗證都需要供給其電源電壓，此外，在驗證過程中還需要是可程控的電源電壓，并可程控通斷，同時還需要測量待測IC的正常功耗和休眠功耗等。但是，現(xiàn)有的電源電壓會隨著IC的不同或者IC的工作狀態(tài)的不同，以造成電源輸出電壓有明顯的改變，因此也造成供電電壓不準(zhǔn)確，測量的待測IC功耗也不準(zhǔn)確。例如，在沒有連接待測IC時電源電壓是一個值，連接待測IC后，其電源電壓會有一個明顯的改變(電源的輸出阻抗和測量功耗的采樣電阻造成的)，造成供電電壓的不準(zhǔn)確，影響IC驗證的驗證結(jié)果。
[0003]因此，如何克服電源在IC驗證過程中供電電壓不準(zhǔn)確的問題是本領(lǐng)域技術(shù)人員亟待解決的問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的是提供一種IC驗證工具的電源，用于克服電源在IC驗證過程中供電電壓不準(zhǔn)確的問題。
[0005]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供一種IC驗證工具的電源，包括:
[0006]微處理器；
[0007]與所述微處理器連接的數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器；
[0008]與所述數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器連接的，用于將所述數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器輸出的電壓進行電壓調(diào)整的電壓調(diào)整電路；
[0009]與所述電壓調(diào)整電路和所述微處理器連接的，用于采集所述電壓調(diào)整電路輸出的電信號并將所述電信號反饋至所述微處理器的電信號反饋電路；
[0010]與所述電壓調(diào)整電路的輸出端和待測IC連接的微型繼電器；
[0011]與所述微處理器和所述微型繼電器連接的，用于根據(jù)所述微處理器的開關(guān)指令控制所述微型繼電器接通所述待測IC的電源或斷開所述待測IC的電源的微型繼電器驅(qū)動。
[0012]優(yōu)選地，所述電壓調(diào)整電路包括:
[0013]用于為所述待測IC提供正常功耗所需電壓的正常功耗調(diào)整子電路；
[0014]用于為所述待測IC提供休眠功耗所需電壓的休眠功耗調(diào)整子電路；
[0015]所述正常功耗調(diào)整子電路包括:
[0016]依次連接的第一運算放大器、第一肖特基二極管、第一自恢復(fù)保險絲、第一 LC濾波電路、第一采樣電阻、第二采樣電阻；
[0017]所述休眠功耗調(diào)整子電路包括:
[0018]依次連接的第二運算放大器、第二肖特基二極管、第二自恢復(fù)保險絲、第二 LC濾波電路、第三采樣電阻、第四采樣電阻；
[0019]所述第一采樣電阻的阻值小于所述第三采樣電阻的阻值；
[0020]所述第二采樣電阻的阻值小于所述第四采樣電阻的阻值；
[0021]其中，所述電信號反饋電路包括用于采集所述第一采樣電阻的電信號的待測IC正常工作時的電信號反饋電路和用于采集所述第三采樣電阻的電信號的待測IC休眠時的電信號反饋電路。
[0022]優(yōu)選地，還包括:
[0023]用于采集所述第二采樣電阻的差模電壓的正常功耗采樣電路。
[0024]優(yōu)選地，所述正常功耗采樣電路包括:
[0025]用于采集所述第二采樣電阻的差模電壓的第一儀表放大器；
[0026]與所述第一儀表放大器連接的第一 RC低通濾波器；
[0027]與所述第一 RC低通濾波器和所述微處理器連接的第一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器。
[0028]優(yōu)選地，所述待測IC正常工作時的電信號反饋電路包括:
[0029]用于測量所述第一采樣電阻的共模電壓的第一電壓測量裝置；
[0030]用于根據(jù)所述第一采樣電阻的電信號報警的待測IC正常工作保護電路；
[0031]其中，所述待測IC正常工作保護電路包括:
[0032]當(dāng)所述第一采樣電阻的共模電壓值超出第一預(yù)設(shè)電壓范圍時報警的第一電壓保護電路；
[0033]用于當(dāng)所述第一采樣電阻的電流值超出第一預(yù)設(shè)電流范圍時報警的第一電流保護電路。
[0034]優(yōu)選地，還包括:
[0035]用于采集所述第四采樣電阻的差模電壓的休眠功耗采樣電路。
[0036]優(yōu)選地，所述休眠功耗采樣電路包括:
[0037]用于采集所述第四采樣電阻的差模電壓的第二儀表放大器；
[0038]與所述第二儀表放大器連接的第二 RC低通濾波器；
[0039]與所述第二 RC低通濾波器和所述微處理器連接的第二模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器。
[0040]優(yōu)選地，所述待測IC休眠時的電信號反饋電路包括:
[0041]用于測量所述第三采樣電阻的共模電壓的第二電壓測量裝置；
[0042]用于根據(jù)所述第三采樣電阻的電信號報警的待測IC休眠工作保護電路；
[0043]其中，所述待測IC休眠工作保護電路包括:
[0044]當(dāng)所述第三采樣電阻的共模電壓值超出第二預(yù)設(shè)電壓范圍時報警的第二電壓保護電路；
[0045]用于當(dāng)所述第三采樣電阻的電流值超出第二預(yù)設(shè)電流范圍時報警的第二電流保護電路。
[0046]優(yōu)選地，所述數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器和所述微控制器采用串行外設(shè)接口 SPI連接。
[0047]優(yōu)選地，所述電信號反饋電路和所述微控制器采用I2C總線連接。
[0048]本發(fā)明所提供的IC驗證工具的電源，微處理器作為控制中心，通過電信號反饋電路反饋的電信號動態(tài)的調(diào)整電壓調(diào)整電路的輸出端的電壓值，使得該電源的電壓不會隨著待測IC的功耗而改變，從而克服電源在待測IC驗證過程中供電電壓不準(zhǔn)確的問題。此外，本發(fā)明中在電壓調(diào)整電路的輸出端和待測IC之間設(shè)置有微型繼電器，通過微控制器對微型繼電器驅(qū)動的控制實現(xiàn)對待測IC的供電或斷電。相對于現(xiàn)有技術(shù)中缺少電源開關(guān)，本發(fā)明可以減小芯片帶電操作而損壞的可能性。此外，采用MOS管器件作為電源開關(guān)，在驗證待測IC功耗時，因為MOS管有漏電流存在會造成功耗測量誤差大，本發(fā)明使用微型繼電器，它不是PN結(jié)，是機械開關(guān)，不存在漏電流的影響，功耗能夠準(zhǔn)確測量。
【附圖說明】
[0049]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例，下面將對實施例中所需要使用的附圖做簡單的介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0050]圖1為本發(fā)明提供的一種IC驗證工具的電源的結(jié)構(gòu)圖；
[0051]圖2為本發(fā)明提供的另一種IC驗證工具的電源的結(jié)構(gòu)圖。
【具體實施方式】
[0052]下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下，所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護范圍。
[0053]本發(fā)明的核心是提供一種IC驗證工具的電源。
[0054]為了使本技術(shù)領(lǐng)域的人員更好地理解本發(fā)明方案，下面結(jié)合附圖和【具體實施方式】對本發(fā)明作進一步的詳細(xì)說明。
[0055]圖1為本發(fā)明提供的一種IC驗證工具的電源的結(jié)構(gòu)圖。IC驗證工具的電源，包括:
[0056]微處理器I ;
[0057]與微處理器I連接的數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器2 ;
[0058]與數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器2連接的，用于將數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器2輸出的電壓進行電壓調(diào)整的電壓調(diào)整電路3 ;
[0059]與電壓調(diào)整電路3和微處理器I連接的，用于采集電壓調(diào)整電路3輸出的電信號并將電信號反饋至微處理器I的電信號反饋電路4 ;
[0060]與電壓調(diào)整電路3的輸出端和待測IC連接的微型繼電器5 ;
[0061]