專利名稱：電子音量調(diào)節(jié)器及其測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及有效進(jìn)行了出廠測(cè)試的電子音量調(diào)節(jié)器及其測(cè)試方法。
制造該電子音量調(diào)節(jié)器時(shí)，要進(jìn)行出廠測(cè)試，但該出廠測(cè)試還包含上述可變電阻器的所有抽頭沒(méi)有短路等且連接是否正常的測(cè)試。如

圖12(A)所示，把邏輯測(cè)試器連接在電子音量調(diào)節(jié)器LSI上來(lái)進(jìn)行該測(cè)試，向電子音量調(diào)節(jié)器輸入一定的DC電壓(Vin)，切換音量設(shè)定值并順序連接所有的抽頭，用DC電壓測(cè)試電路測(cè)定對(duì)各音量設(shè)定值是否輸出與該設(shè)定值對(duì)應(yīng)的正常的模擬電壓Vout來(lái)進(jìn)行測(cè)試。
但是，對(duì)應(yīng)一個(gè)級(jí)段音量設(shè)定值的輸出電壓Vout的變化量?jī)H為數(shù)mV左右，為了正確測(cè)量它，需要等到輸出電壓穩(wěn)定時(shí)用高精度的DC電壓測(cè)定電路測(cè)定，除要求測(cè)定器的精度外，如圖12(B)所示，一個(gè)級(jí)段的測(cè)定中需要數(shù)ms～數(shù)十ms的時(shí)間。因此，所存在的問(wèn)題是，在可進(jìn)行256級(jí)的音量設(shè)定值控制的電子音量調(diào)節(jié)器的情況下，為測(cè)定該所有的級(jí)段，需要1秒到數(shù)秒的時(shí)間，而在立體聲用、多聲道用的電子音量調(diào)節(jié)器的情況下，還需要數(shù)倍于該聲道數(shù)的時(shí)間。
本發(fā)明方案1的特征在于設(shè)置有根據(jù)多級(jí)音量設(shè)定值控制從外部輸入的模擬信號(hào)的信號(hào)電平并作為輸出信號(hào)輸出的模擬電路、把從外部指示的音量設(shè)定值輸入上述模擬電路的控制器以及輸入上述輸出信號(hào)并在把音量設(shè)定值輸入模擬電路時(shí)比較輸入該音量設(shè)定值前后的上述輸出信號(hào)的信號(hào)電平的大小再把其比較結(jié)果作為2值電壓值輸出的測(cè)試電路。
本發(fā)明方案2的特征在于設(shè)置有聲道數(shù)的多個(gè)根據(jù)多級(jí)音量設(shè)定值控制從外部輸入的模擬信號(hào)的信號(hào)電平并作為輸出信號(hào)輸出的模擬電路、把從外部指示的各聲道的音量設(shè)定值輸入對(duì)應(yīng)聲道的上述模擬電路的控制器；并對(duì)應(yīng)各聲道設(shè)置有輸入上述輸出信號(hào)并在把音量設(shè)定值輸入模擬電路時(shí)比較輸入該音量設(shè)定值前后的上述輸出信號(hào)的信號(hào)電平的大小再輸出其比較結(jié)果的測(cè)試電路；同時(shí)還設(shè)置有把對(duì)各聲道的比較結(jié)果取邏輯“與”或邏輯“或”的結(jié)果作為2值電壓值輸出的編碼電路。
本發(fā)明方案3的特征在于上述測(cè)試電路用斬波型比較器比較上述輸出信號(hào)的信號(hào)電平的大小。
本發(fā)明方案4的特征在于對(duì)方案1或2或3所述的電子音量調(diào)節(jié)器一面作為上述模擬信號(hào)輸入規(guī)定電壓的DC信號(hào)一面順序輸入逐級(jí)降低或升高的音量設(shè)定值，通過(guò)監(jiān)視對(duì)應(yīng)于此輸出的上述2值的電壓值來(lái)判斷上述電子音量調(diào)節(jié)器的好壞。
如上所述，電子音量調(diào)節(jié)器的測(cè)試是將規(guī)定電壓的DC信號(hào)作為模擬信號(hào)輸入的同時(shí)順序輸入多級(jí)音量設(shè)定值，監(jiān)視模擬電路是否輸出與此對(duì)應(yīng)的DC電壓。按照本發(fā)明，內(nèi)置從外部輸入音量設(shè)定值時(shí)根據(jù)該音量設(shè)定值檢測(cè)模擬電路的輸出電壓是否正常變化的測(cè)試電路，通過(guò)輸出該檢測(cè)結(jié)果有效地進(jìn)行該測(cè)試。
一般，出廠測(cè)試中，把音量設(shè)定值逐級(jí)地從最大值下降到最小值，或逐級(jí)地從最小值升高到最大值，從模擬電路輸出與此對(duì)應(yīng)的電壓。因此，本發(fā)明中設(shè)置比較音量設(shè)定值輸入前后的模擬電路的輸出電壓并將其比較結(jié)果輸出的測(cè)試電路，可對(duì)音量設(shè)定值的每級(jí)輸出輸出電壓比前面電壓降低還是上升的比較結(jié)果。例如，模擬電路輸出的電壓比之前的電壓降低時(shí)輸出L電平(＝0V)，比之前的電壓升高時(shí)輸出H電平(＝5V)。
這樣，測(cè)試該電子音量調(diào)節(jié)器的測(cè)試裝置可通過(guò)監(jiān)視上述測(cè)試電路輸出的2值的電壓值進(jìn)行測(cè)試，從而可使用簡(jiǎn)單的比較器，同時(shí)可大幅度縮短測(cè)定時(shí)間。
由于上述測(cè)試電路內(nèi)置在電子音量調(diào)節(jié)器(LSI)中，因連線引起的浮動(dòng)電容或電阻極小，所以輸出電壓穩(wěn)定得快，電壓的精度也高。并且不按絕對(duì)值測(cè)定電壓，而僅僅是把本次的電壓與之前的電壓進(jìn)行比較，所以電路構(gòu)成也簡(jiǎn)單。
此外，由于測(cè)試電路的輸出是模擬電路的動(dòng)作正常與否的判定結(jié)果，因此即便是多聲道的電子音量調(diào)節(jié)器，也能夠同時(shí)測(cè)試所有聲道。即，多聲道的電子音量調(diào)節(jié)器的情況下，一個(gè)聲道不正常動(dòng)作都為不正常，因此將所有聲道的判定結(jié)果取邏輯“與”(比較結(jié)果的輸出正常＝L的情況下，為電邏輯“或”)，多個(gè)聲道中的某一個(gè)聲道不正常時(shí)，輸出翻轉(zhuǎn)，可一次測(cè)試多個(gè)聲道。
圖2是采用該電子音量調(diào)節(jié)器(LSI)1的音頻放大器的簡(jiǎn)要框圖。從CD播放器或調(diào)諧器等的前級(jí)電路輸入的模擬音頻信號(hào)經(jīng)緩沖器2被輸入到電子音量調(diào)節(jié)器1的Vin端子，緩沖器2是用來(lái)進(jìn)行阻抗變換的模擬緩沖放大器，并不是必須的部件。像圖1那樣的構(gòu)成，電子音量調(diào)節(jié)器1通過(guò)控制可變電阻器11、12來(lái)調(diào)整該模擬音頻信號(hào)的信號(hào)電平，并從Vout端子輸出。功率放大器3把從電子音量調(diào)節(jié)器1輸出的模擬音頻信號(hào)放大后從揚(yáng)聲器4放出聲音。
控制用的微計(jì)算機(jī)5被連接到電子音量調(diào)節(jié)器1，微計(jì)算機(jī)5對(duì)電子音量調(diào)節(jié)器1輸出用來(lái)控制模擬音頻信號(hào)的信號(hào)電平的數(shù)據(jù)即音量控制數(shù)據(jù)。該音量控制數(shù)據(jù)在電子音量調(diào)節(jié)器1內(nèi)被解碼為抽頭選擇信號(hào)，并輸入到可變電阻器11、12。
音頻放大器的用戶操作旋轉(zhuǎn)編碼器6時(shí)，對(duì)應(yīng)于該操作的脈沖信號(hào)就被輸入到微計(jì)算機(jī)5中。微計(jì)算機(jī)5對(duì)應(yīng)于該操作量變更音量設(shè)定值。變更音量設(shè)定值時(shí)，將該設(shè)定值顯示在顯示器7上，同時(shí)產(chǎn)生對(duì)應(yīng)該音量設(shè)定值的音量控制數(shù)據(jù)。微計(jì)算機(jī)5將音量控制數(shù)據(jù)作為串行數(shù)據(jù)SDATAI，與串行時(shí)鐘信號(hào)SCLK同步地輸入到電子音量調(diào)節(jié)器1。向電子音量調(diào)節(jié)器1輸入串行數(shù)據(jù)時(shí)，電子音量調(diào)節(jié)器1的芯片選擇信號(hào)CSN(激活·低)設(shè)為“L”，啟動(dòng)串行數(shù)據(jù)的輸入。輸入串行數(shù)據(jù)后，芯片選擇信號(hào)CSN設(shè)為“H”時(shí)，電子音量調(diào)節(jié)器1在其上升沿閂鎖該串行數(shù)據(jù)，根據(jù)該數(shù)據(jù)(音量控制數(shù)據(jù))控制模擬音頻信號(hào)的信號(hào)電平。對(duì)應(yīng)用戶這樣設(shè)定的音量設(shè)定值所產(chǎn)生的音量控制數(shù)據(jù)和上述抽頭選擇信號(hào)對(duì)應(yīng)該申請(qǐng)的各權(quán)利要求中的音量設(shè)定值。
圖1是上述電子音量調(diào)節(jié)器1的內(nèi)部框圖。該電子音量調(diào)節(jié)器設(shè)置有由可變電阻器11、12、放大器13構(gòu)成的模擬電路9、控制器10、解碼器14、零交叉檢測(cè)電路15、振蕩器16、解碼器17、S/P變換器18，另外，還設(shè)置有用于測(cè)試上述模擬電路9的選擇器19和模擬測(cè)試電路20。作為外部輸入輸出端子有模擬信號(hào)輸入端子Vin、模擬信號(hào)輸出端子Vout、串行數(shù)據(jù)輸出端子SDATAO、芯片選擇信號(hào)輸入端子CSN、串行時(shí)鐘輸入端子SCLK、串行數(shù)據(jù)輸入端子SDATAI、零交叉控制端子ZCEN1、ZCEN2、測(cè)試模式設(shè)定端子TEST-MODE等端子。下面說(shuō)明中，各端子的記號(hào)也用作表示從端子輸入輸出的信號(hào)的記號(hào)。
從模擬信號(hào)輸入端子Vin輸入模擬音頻信號(hào)。該模擬音頻信號(hào)提供給可變電阻器11和零交叉檢測(cè)電路15。可變電阻器11、12通過(guò)組合實(shí)現(xiàn)256級(jí)抽頭，由抽頭選擇信號(hào)TS1、TS2選擇的某一組抽頭連接到放大器13。從該選擇出的抽頭取出上述輸入的模擬音頻信號(hào)，并輸入到放大器13。即，選擇的抽頭的位置能夠調(diào)整模擬音頻信號(hào)的衰減量或放大量。該抽頭選擇信號(hào)TS1、TS2是用解碼器14對(duì)從上述微計(jì)算機(jī)5輸入的8比特的音量控制數(shù)據(jù)進(jìn)行解碼后的信號(hào)。該8比特的音量控制數(shù)據(jù)能夠按256級(jí)在-∞～+32dB的范圍內(nèi)控制所輸入的模擬音頻信號(hào)的信號(hào)電平范圍。
從上述微計(jì)算機(jī)5輸入的音量控制數(shù)據(jù)(串行數(shù)據(jù))由S/P(串行/并行)變換器18在芯片選擇端子CSN為“L”時(shí)與串行時(shí)鐘SCLK同步地取入作為從串行數(shù)據(jù)輸入端子SDATAI輸入的數(shù)據(jù)。并且，芯片選擇端子CSN為“H”時(shí)，閂鎖取入的數(shù)據(jù)并傳送到控制器10。
控制器10將從S/P變換器18傳送來(lái)的音量控制數(shù)據(jù)作為抽頭選擇信號(hào)經(jīng)解碼器14設(shè)定于可變電阻器11、12，但在由零交叉控制信號(hào)ZCEN1和ZCEN2的組合設(shè)定為不進(jìn)行零交叉控制的情況下，從S/P變換器18傳送來(lái)的音量控制數(shù)據(jù)即刻輸出到解碼器14，解碼器14把抽頭選擇信號(hào)TS1、TS2設(shè)定于可變電阻器11，12。另一方面，由零交叉控制信號(hào)ZCEN1和ZCEN2的組合設(shè)定為零交叉控制有效的情況下，從S/P變換器18傳送來(lái)的音量控制數(shù)據(jù)按其之后的零交叉定時(shí)輸出到解碼器14，將抽頭選擇信號(hào)TS1、TS2設(shè)定于可變電阻器11，12。這里，所謂零交叉定時(shí)是在+側(cè)、-側(cè)兩側(cè)具有振幅的輸入模擬信號(hào)通過(guò)0V的定時(shí)，該定時(shí)時(shí)刻即便音量變化了，由于振幅波形不會(huì)不連續(xù)，所以也不產(chǎn)生噪聲。因此，在重視音質(zhì)的情況下，等待該定時(shí)來(lái)輸出抽頭選擇信號(hào)TS1、TS2。
零交叉檢測(cè)電路15是比較輸入模擬信號(hào)和GND電壓電平(0V)并檢測(cè)作為模擬信號(hào)通過(guò)0V的定時(shí)的零交叉定時(shí)再通知控制器10的電路。控制器10使用振蕩器16作為計(jì)時(shí)器。即，進(jìn)行音量的零交叉控制的情況下，待機(jī)到輸入音量控制數(shù)據(jù)后從零交叉檢測(cè)電路15輸入零交叉檢測(cè)信號(hào)為止，但即使待機(jī)超過(guò)規(guī)定時(shí)間還未輸入零交叉檢測(cè)信號(hào)的情況下(例如DC偏置了的小信號(hào)等)，在完成了計(jì)時(shí)器進(jìn)行的上述規(guī)定時(shí)間的計(jì)時(shí)時(shí)，即便不是零交叉，也進(jìn)行音量控制。
SDATAO是用來(lái)輸出存儲(chǔ)在S/P變換器18中的設(shè)定數(shù)據(jù)(上次輸入的數(shù)據(jù))的端子。S/P變換器18具有緩沖從SDATAI輸入的串行數(shù)據(jù)的移位寄存器，從先輸入的比特開(kāi)始按順序經(jīng)SDATAO輸出其輸出?？梢园哑渌愲娮右袅空{(diào)節(jié)器的SDATAI端子雛菊鏈?zhǔn)降剡B接到該SDATAO的端子上，圖2的微計(jì)算機(jī)5可通過(guò)串行輸出多個(gè)電子音量調(diào)節(jié)器LSI的音量控制數(shù)據(jù)對(duì)所有電子音量調(diào)節(jié)器LSI設(shè)置音量控制數(shù)據(jù)，這就能夠進(jìn)行多聲道控制。
如以上所述，可變電阻器11、12和放大器13構(gòu)成的模擬電路用經(jīng)串行數(shù)據(jù)輸入端子SDATAI從外部輸入的音量控制數(shù)據(jù)控制所輸入的模擬信號(hào)的音量，但用來(lái)測(cè)試該模擬電路(尤其是可變電阻器11、12)是否正常動(dòng)作的模擬測(cè)試電路20和選擇器19內(nèi)置在該電子音量調(diào)節(jié)器中?？刂破?0把測(cè)試模式設(shè)定信號(hào)TE輸出到模擬測(cè)試電路20和選擇器19時(shí)(測(cè)試模式設(shè)定端子TEST-MODE為“H”時(shí))，成為測(cè)試模式動(dòng)作。
圖3、圖4是上述模擬測(cè)試電路20的電路構(gòu)成圖，圖5是電子音量調(diào)節(jié)器的出廠測(cè)試時(shí)的連接形態(tài)圖，圖6是測(cè)試時(shí)的各部分的信號(hào)圖。
圖5中，出廠測(cè)試時(shí)，電子音量調(diào)節(jié)器1上連接邏輯測(cè)試器8。邏輯測(cè)試器8設(shè)置有生成各種信號(hào)的插腳驅(qū)動(dòng)器8a和判定輸入的電壓是在規(guī)定的閾值以上還是以下的比較器8b。插腳驅(qū)動(dòng)器8a連接Vin、CSN、SCLK、SDATAI、TEST-MODE。插腳驅(qū)動(dòng)器8a開(kāi)始測(cè)試時(shí)，控制器10設(shè)定TEST-MODE，使作為指示測(cè)試模式的內(nèi)部信號(hào)的TE上升到“H”，結(jié)束測(cè)試時(shí)，控制器10設(shè)定TEST-MODE，使TE回落到“L”。產(chǎn)生規(guī)定的DC電壓(Vin)并輸入到Vin端子的同時(shí)，與芯片選擇信號(hào)CSN、串行時(shí)鐘信號(hào)SCLK同步地輸出音量控制數(shù)據(jù)SDATAI。SDATAI對(duì)每一芯片選擇信號(hào)CSN把音量設(shè)定值降低一級(jí)?？梢詫?duì)可變電阻器11、可變電阻器12分別進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試可變電阻器11時(shí)，固定可變電阻器12的抽頭選擇信號(hào)TS2(使增益最大)，將把控制可變電阻器11的衰減量的抽頭選擇信號(hào)TS1逐級(jí)下降的這種音量控制數(shù)據(jù)輸入到SDATAI。測(cè)試可變電阻器12時(shí)，固定可變電阻器11的抽頭選擇信號(hào)TS1(使衰減量最小)，將把控制可變電阻器12的增益的抽頭選擇信號(hào)TS2逐級(jí)下降的這種音量控制數(shù)據(jù)輸入到SDATAI。
這樣，如圖6(A)所示，對(duì)應(yīng)音量控制數(shù)據(jù)，電子音量調(diào)節(jié)器對(duì)輸入電壓Vin逐級(jí)地輸出分級(jí)降低的輸出電壓Vout。其中，邏輯測(cè)試器8并不觀察該Vout，而由比較器8b觀察經(jīng)SDATAO輸出的模擬測(cè)試電路20的比較結(jié)果信號(hào)ATEST的“H/L”。如后所述，模擬測(cè)試電路20在芯片選擇信號(hào)CSN從“L”上升到“H”時(shí)，即輸入新的音量控制數(shù)據(jù)時(shí)，比較其前后的模擬電路的輸出電壓Vout，當(dāng)前的電壓比此前的電壓低時(shí)，作為ATEST輸出“L”，輸出電壓Vout不降低時(shí)，將ATEST設(shè)為“H”。
邏輯測(cè)試器8的比較器8b判定該SDATAO是為“H”還是為“L”，就能夠判斷電子音量調(diào)節(jié)器是否正常動(dòng)作，不需要正確測(cè)定數(shù)mV的電壓，因此在極短時(shí)間里(數(shù)百ns～數(shù)μs)就能夠判定一級(jí)音量變化的正常/異常。
圖3中，電子音量調(diào)節(jié)器1中內(nèi)置的模擬測(cè)試電路20具有由反相器31、P溝道MOS晶體管32和電容器33構(gòu)成的所謂斬波型比較器電路30。即，并聯(lián)連接反相器31和P溝道MOS晶體管32，在P溝道MOS晶體管32中輸入柵極信號(hào)(負(fù)的柵電壓)而導(dǎo)通時(shí)，使反相器31的輸入側(cè)和輸出側(cè)短路。并且，經(jīng)電容器33(C1)把作為放大器13的輸出的Vout提供給反相器31的輸入側(cè)。此外，反相器31的輸入側(cè)布線圖形和P溝道MOS晶體管32的柵極側(cè)的布線圖形之間產(chǎn)生微小的寄生電容(連接電容)Cs。上述電容器33的電容量C1設(shè)定為寄生電容Cs的數(shù)倍以上。
一旦從控制器10輸入測(cè)試模式設(shè)定信號(hào)，柵極信號(hào)形成電路29就激活，與芯片選擇信號(hào)CSN的輸入同步并輸出P聲道柵極信號(hào)CNTP。
上述斬波型比較器電路30中，P聲道柵極信號(hào)CNTP為“L”時(shí)，P溝道MOS晶體管32導(dǎo)通，反相器31的輸入側(cè)和輸出側(cè)短路。此時(shí)，反相器31的輸入端子的電位被吸入低阻抗的輸出端子的電位，輸入側(cè)、輸出側(cè)都穩(wěn)定在反相器31的閾值Vt1。此時(shí)，作為電壓Vout輸入Vo1的值的電壓時(shí)，電容器33的電極之間的電位差為Vo1-Vt1，存儲(chǔ)該電位差大小的電荷。P聲道柵極信號(hào)CNTP與芯片選擇信號(hào)CSN同步輸出，因此在反相器31短路期間，輸入音量控制數(shù)據(jù)(在芯片選擇信號(hào)CSN為“L”的區(qū)間輸入SDATAI)。
之后，芯片選擇信號(hào)CSN上升時(shí)，所輸入的音量控制數(shù)據(jù)把模擬電路的輸出Vout變化為Vo2，同時(shí)P聲道柵極信號(hào)CNTP變?yōu)椤癏”，P溝道MOS晶體管32截止，該變化過(guò)的Vout＝Vo2呈現(xiàn)在電容器33的輸入側(cè)的電極上。此時(shí)，如上所述，由于電容器33具有的電位差是Vo1-Vt1，所以Vo2-(Vo1-Vt1)的電位呈現(xiàn)在電容器33的反相器31側(cè)。即，呈現(xiàn)出比反相器31的閾值Vt改變了Vo2-Vo1的電位。如果(從上述的邏輯測(cè)試器8輸入的)音量控制數(shù)據(jù)的控制把Vout的值降低一級(jí)，則Vo2-Vo1呈現(xiàn)為負(fù)值，對(duì)應(yīng)于此，反相器31輸出“H”。另一方面，Vo2-Vo1為正值時(shí)，反相器31輸出“L”。因此，將該斬波型比較器電路30的輸出電壓作為ATEST信號(hào)從SDATAO輸出，由此就能夠使音量控制數(shù)據(jù)改變一級(jí)時(shí)，按“H/L”的2值輸出與此相對(duì)應(yīng)的模擬電路的輸出電壓Vout的變化。
如果Vo2和Vo1同電位即Vo2-Vo1＝0時(shí)，反相器31的輸出電壓不定，由于能夠輸出“H/L”二者，抽頭短路等時(shí)，CSN前后為同電壓時(shí)的判定結(jié)果的可靠性降低。因此，該斬波型比較器電路30中，積極利用上述寄生電容Cs，P溝道MOS晶體管32截止時(shí)，寄生電容Cs的電荷量的電壓被施加在反相器31上，產(chǎn)生如圖6(A)所示的偏置。這樣，反相器31的輸出被錯(cuò)誤地?cái)[動(dòng)到“L”側(cè)，僅在Vo2-Vo1為正規(guī)的電壓變化時(shí)反相器31才輸出“H”。
反相器34是變換比較器的閾值與輸出一致同時(shí)把斬波型比較器的輸出保持在高阻抗來(lái)防止連接于輸出側(cè)的電路的影響的電路。
圖3中，僅連接一級(jí)斬波型比較器30，但反相器31對(duì)輸入的電位差(Vo2-Vo1)的增益不足時(shí)，反相器31的輸出不是“H/L”的最大擺動(dòng)，而是在線性放大區(qū)域輸出中間值。此時(shí)，如圖4所示，通過(guò)串聯(lián)連接兩級(jí)斬波型比較器30，就能夠使輸出最大擺動(dòng)到“H/L”，而進(jìn)行2值輸出。該圖4的結(jié)構(gòu)的情況下，因?yàn)樵黾右粋€(gè)反相器，輸出的電壓的“H/L”反轉(zhuǎn)，但將末級(jí)緩沖器作成非反轉(zhuǎn)的緩沖器35而不是反相器，就能夠使輸出的信號(hào)的極性與圖3一樣。
圖6(A)、(B)所示的ATEST、SDATAO的各信號(hào)表示如圖4所示的串聯(lián)連接兩個(gè)斬波型比較器時(shí)的波形。圖6(B)中，芯片選擇信號(hào)CSN(的L區(qū)間)具有相當(dāng)于與串行時(shí)鐘SCLK同步的SDATAI的數(shù)據(jù)長(zhǎng)的比特量的長(zhǎng)度，為大約數(shù)μs。芯片選擇信號(hào)的間隔(CSN＝“H”的區(qū)間)為大約數(shù)μs～10μs。與各芯片選擇信號(hào)同步輸入音量控制數(shù)據(jù)。如上所述，該音量控制數(shù)據(jù)是順序地逐級(jí)地降低音量的數(shù)據(jù)。邏輯測(cè)試器8的比較器在芯片選擇信號(hào)CSN上升到“H”后，通過(guò)取入數(shù)百ns～數(shù)μs的定時(shí)的SDATAO(ATEST信號(hào))來(lái)檢測(cè)出其電壓的“H/L”。此時(shí)，如果該信號(hào)為“L”，則電子音量調(diào)節(jié)器在該級(jí)的動(dòng)作判斷為正常，如果該信號(hào)仍為“H”，則該電子音量調(diào)節(jié)器判斷為不正常。所有的級(jí)段都正常動(dòng)作時(shí)，判斷該電子音量調(diào)節(jié)器為合格品。
圖7、圖8是上述模擬測(cè)試電路的其他實(shí)施例的示圖。該模擬測(cè)試電路20′中，使用N溝道MOS晶體管32′替代圖3、4所示的斬波型比較器的P溝道MOS晶體管32。圖1的模擬測(cè)試電路20中，P溝道MOS晶體管32的柵極布線圖形為低激活，因此寄生電容Cs向反相器31的輸入端子提供正電荷，把反相器31的輸入電壓Va偏置到正側(cè)，但圖7的斬波型比較器中，N溝道MOS晶體管32′的柵極布線圖形為高激活，因此寄生電容Cs′向反相器31的輸入端子提供負(fù)電荷，把反相器31的輸入電壓Va偏置到負(fù)側(cè)。并且，該模擬測(cè)試電路的柵極信號(hào)形成電路29′與芯片選擇信號(hào)同步地輸出N溝道柵極信號(hào)CNTN。該圖(A)是僅設(shè)置一級(jí)N溝道形式的斬波型比較器30′的例子，該圖(B)是設(shè)置兩級(jí)N溝道形式的斬波型比較器30′的例子。
圖8是內(nèi)置圖7(B)的模擬測(cè)試電路的電子音量調(diào)節(jié)器測(cè)試時(shí)的該模擬測(cè)試電路和邏輯測(cè)試器的各部分的信號(hào)圖。該圖(B)中，芯片選擇信號(hào)CSN的區(qū)間和芯片選擇信號(hào)的間隔與圖6(B)的情況相同。與各芯片選擇信號(hào)同步輸入音量控制數(shù)據(jù)。該音量控制數(shù)據(jù)是順序逐級(jí)提高音量的數(shù)據(jù)。邏輯測(cè)試器8的比較器在芯片選擇信號(hào)CSN上升到“H”后通過(guò)取入數(shù)百ns～數(shù)μs定時(shí)的SDATAO(ATEST信號(hào))來(lái)檢測(cè)出其電壓的“H/L”。此時(shí)，如果該信號(hào)為“H”，則電子音量調(diào)節(jié)器在該級(jí)段的動(dòng)作判斷為正常，如果該信號(hào)降落為“L”，則該電子音量調(diào)節(jié)器判斷為不正常。所有的級(jí)段都正常動(dòng)作時(shí)，判斷該電子音量調(diào)節(jié)器為合格品。
圖9是備有反相器31上連接N溝道MOS晶體管32′和P溝道MOS晶體管32的斬波型比較器30″的模擬測(cè)試電路的例子。該模擬測(cè)試電路的柵極信號(hào)形成電路29″可輸出P溝道柵極信號(hào)CNTP、N溝道柵極信號(hào)CNTN二者，對(duì)應(yīng)測(cè)試模式選擇信號(hào)TEST-MODE的“H/L”有選擇地輸出其中之一。圖1所示的TEST-MODE表示該信號(hào)。TEST-MODE可通過(guò)圖1的解碼器17的輸入TEST-MODE、ZCEN1、ZCEN2的組合從外部設(shè)定，輸入該組合的信號(hào)時(shí)，控制器10向測(cè)試電路輸出TEST-MODEP。TEST-MODE端子也可以為兩個(gè)。
如果測(cè)試模式設(shè)定信號(hào)TE為“H”同時(shí)測(cè)試模式選擇信號(hào)TEST-MODEP為“H”，則柵極信號(hào)形成電路29″把N溝道柵極信號(hào)CNTN固定為“L”，與芯片選擇信號(hào)同步輸出P溝道柵極信號(hào)。由此，可進(jìn)行圖6所示的逐級(jí)降低Vout的測(cè)試。相反，如果測(cè)試模式設(shè)定信號(hào)TE為“H”同時(shí)測(cè)試模式選擇信號(hào)TEST-MODEP為“L”，則柵極信號(hào)形成電路29″把P溝道柵極信號(hào)CNTP固定為“H”，與芯片選擇信號(hào)同步輸出N溝道柵極信號(hào)。由此，可進(jìn)行圖8所示的逐級(jí)升高Vout的測(cè)試。
該實(shí)施例中，在外部設(shè)置測(cè)試模式設(shè)定端子TEST-MODE，測(cè)試模式設(shè)定端子TEST-MODE上升到“H”時(shí)，為測(cè)試模式，但把特別的串行數(shù)據(jù)輸入到SDATAI時(shí)，對(duì)應(yīng)于此，控制器10可在內(nèi)部將TE設(shè)為“H”。這樣可節(jié)約LSI的端子。安裝電子音量調(diào)節(jié)器時(shí)，測(cè)試模式設(shè)定端子TEST-MODE接地(固定在“L”)使用。
為簡(jiǎn)化說(shuō)明，上述說(shuō)明是針對(duì)模擬電路為一個(gè)聲道的電子音量調(diào)節(jié)器的說(shuō)明，但內(nèi)置多聲道的模擬電路的電子音量調(diào)節(jié)器也同樣可采用本發(fā)明。此時(shí)，如圖10所示，多個(gè)聲道的模擬電路9-1～9-n上分別設(shè)置模擬測(cè)試電路20-1～20-n，各模擬測(cè)試電路的輸出ATEST1～ATESTn用編碼器40會(huì)集成一個(gè)信號(hào)ATEST后輸出到選擇器19。測(cè)試模式下，Vout正常進(jìn)行降低或上升的變化時(shí)，模擬測(cè)試電路20輸出“H”的情況下，將編碼器40設(shè)為AND電路，以使得僅在所有的模擬測(cè)試電路20輸出“H”時(shí)輸出“H”，在測(cè)試模式下，Vout正常變化時(shí)，模擬測(cè)試電路20輸出“L”的情況下，將編碼器40設(shè)為OR電路(低激活的AND電路)，以使得僅在所有的模擬測(cè)試電路20輸出“L”時(shí)輸出“L”。對(duì)應(yīng)上述TEST-MODEP信號(hào)可將編碼器40切換為AND電路或OR電路。
上述的實(shí)施例中，模擬測(cè)試電路20內(nèi)置在電子音量調(diào)節(jié)器1中，但是也可以把模擬測(cè)試電路20與電子音量調(diào)節(jié)器1分體設(shè)置。
這樣，根據(jù)本實(shí)施例，由于使用輸出串行數(shù)據(jù)的SDATAO端子輸出模擬測(cè)試電路20的比較結(jié)果信號(hào)ATEST，所以可節(jié)約端子數(shù)。
本實(shí)施例中，由于把模擬測(cè)試電路內(nèi)置在電子音量調(diào)節(jié)器中，比較音量設(shè)定前后的電壓，所以可進(jìn)行穩(wěn)定迅速且誤差小的測(cè)試。如果音量設(shè)定的某些方面通過(guò)其他途徑進(jìn)行Vout的絕對(duì)值測(cè)定，還可進(jìn)一步提高測(cè)試精度。
如上所述，根據(jù)本發(fā)明，可有效進(jìn)行按多級(jí)控制音量的電子音量調(diào)節(jié)器的測(cè)試。
權(quán)利要求
1.一種電子音量調(diào)節(jié)器，包括根據(jù)多級(jí)段音量設(shè)定值控制從外部輸入的模擬信號(hào)的信號(hào)電平并作為輸出信號(hào)輸出的模擬電路和把從外部指示的音量設(shè)定值輸入上述模擬電路的控制器，其特征在于設(shè)置有測(cè)試電路，在輸入上述輸出信號(hào)并把音量設(shè)定值輸入模擬電路時(shí)，比較輸入該音量設(shè)定值前后的上述輸出信號(hào)的信號(hào)電平的大小，把其比較結(jié)果作為2值電壓值輸出。
2.一種電子音量調(diào)節(jié)器，包括聲道數(shù)的多個(gè)根據(jù)多級(jí)段音量設(shè)定值控制從外部輸入的模擬信號(hào)的信號(hào)電平并作為輸出信號(hào)輸出的模擬電路，同時(shí)還包括把從外部指示的各聲道的音量設(shè)定值輸入對(duì)應(yīng)聲道的上述模擬電路的控制器，其特征在于對(duì)應(yīng)各聲道設(shè)置有測(cè)試電路，在輸入上述輸出信號(hào)并把音量設(shè)定值輸入模擬電路時(shí)，比較輸入該音量設(shè)定值前后的上述輸出信號(hào)的信號(hào)電平的大小，輸出其比較結(jié)果；同時(shí)還設(shè)置有把對(duì)各聲道的比較結(jié)果取邏輯“與”或邏輯“或”的結(jié)果作為2值電壓值輸出的編碼電路。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的電子音量調(diào)節(jié)器，其特征在于上述測(cè)試電路用斬波型比較器比較上述輸出信號(hào)的信號(hào)電平的大小。
4.一種判斷電子音量調(diào)節(jié)器好壞的測(cè)試方法，對(duì)于權(quán)利要求1或2或3所述的電子音量調(diào)節(jié)器，一面作為上述模擬信號(hào)輸入規(guī)定電壓的DC信號(hào)一面順序輸入逐級(jí)降低或升高的音量設(shè)定值；通過(guò)監(jiān)視對(duì)應(yīng)于此輸出的上述2值的電壓值來(lái)判斷上述電子音量調(diào)節(jié)器的好壞。
5.一種判斷電子音量調(diào)節(jié)器好壞的測(cè)試方法，所述電子音量調(diào)節(jié)器根據(jù)從外部指示的音量設(shè)定值控制輸入信號(hào)，并輸出輸出信號(hào)；該測(cè)試方法包括如下步驟把規(guī)定電平的輸入信號(hào)輸入到電子音量調(diào)節(jié)器；保持根據(jù)第一音量設(shè)定值輸出的第一輸出信號(hào)；把音量設(shè)定值從第一音量設(shè)定值變化為與第一音量設(shè)定值不同的第二音量設(shè)定值；比較所保持的第一輸出信號(hào)和根據(jù)該第二音量設(shè)定值輸出的第二輸出信號(hào)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5的測(cè)試方法，其特征在于在所述變化步驟中僅把第一音量設(shè)定值變化一級(jí)，來(lái)得到第二音量設(shè)定值。
7.根據(jù)權(quán)利要求5的測(cè)試方法，其特征在于在該比較步驟之后，把第二音量設(shè)定值作為第一音量設(shè)定值重復(fù)進(jìn)行保持步驟、變化步驟和比較步驟。
8.一種判斷根據(jù)從外部指示的音量設(shè)定值控制輸入信號(hào)并輸出輸出信號(hào)的電子音量調(diào)節(jié)器好壞的測(cè)試電路，包含把規(guī)定電平的輸入信號(hào)輸入到電子音量調(diào)節(jié)器的輸入裝置；保持根據(jù)第一音量設(shè)定值從該電子音量調(diào)節(jié)器輸出的第一輸出信號(hào)的保持裝置；把音量設(shè)定值從第一音量設(shè)定值變化為與第一音量設(shè)定值不同的第二音量設(shè)定值的變化裝置；比較所保持的第一輸出信號(hào)和根據(jù)該第二音量設(shè)定值輸出的第二輸出信號(hào)的比較裝置。
9.根據(jù)權(quán)利要求8的測(cè)試電路，其特征在于該變化裝置使第一音量設(shè)定值僅變化一級(jí)來(lái)得到第二音量設(shè)定值。
全文摘要
本發(fā)明旨在提高電子音量調(diào)節(jié)器出廠時(shí)的測(cè)試效率。測(cè)試模擬電路(9)的可變電阻器(11，12)的所有抽頭是否正常時(shí)，從Vin輸入規(guī)定電壓的DC信號(hào)，一面按音量設(shè)定數(shù)據(jù)順序切換抽頭一面觀察Vout。由內(nèi)置的模擬測(cè)試電路(20)進(jìn)行該運(yùn)作，在音量設(shè)定數(shù)據(jù)輸入前后將Vout是否降低(上升)作為H/L的2值電壓輸出。由此，外部裝置無(wú)須直接計(jì)量Vout，就能夠有效地進(jìn)行測(cè)試。
文檔編號(hào)H03G5/10GK1471228SQ03142768
公開(kāi)日2004年1月28日 申請(qǐng)日期2003年6月13日 優(yōu)先權(quán)日2002年6月13日
發(fā)明者岸井達(dá)也 申請(qǐng)人:雅馬哈株式會(huì)社