專利名稱：自動(dòng)選擇補(bǔ)償值以減少混頻信號(hào)輸出中的二階互調(diào)制產(chǎn)物的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種設(shè)備和方法，其用于自動(dòng)地選擇可用于減少混頻器的輸出信號(hào)中的二階互調(diào)制(IM2)產(chǎn)物(product)的補(bǔ)償值。
背景技術(shù)：
典型的射頻(RF)傳送/接收以如此高的頻率發(fā)生，以致根據(jù)背景技術(shù)以這樣的頻率執(zhí)行信號(hào)處理被認(rèn)為是不切實(shí)際的。結(jié)果，根據(jù)背景技術(shù)，接收高頻信號(hào)，然后將其轉(zhuǎn)換到較低頻率以便處理。
歷史上，超級(jí)外差接收器已經(jīng)是根據(jù)背景技術(shù)在商業(yè)上廣泛接受和實(shí)現(xiàn)的接收器體系結(jié)構(gòu)。在典型的超級(jí)外差接收器中，所接收的高頻信號(hào)經(jīng)過第一射頻(RF)帶通濾波器(BPF)到固定增益低噪聲放大器(LNA)。放大后的信號(hào)經(jīng)過第二RF BPF到使用第一本機(jī)振蕩器信號(hào)的第一混頻器，以便降頻轉(zhuǎn)換(轉(zhuǎn)換)到固定中頻(IF)。所得到的中頻信號(hào)由可變?cè)鲆娣糯笃?VGA)放大，然后提供給并行第二混頻器。然后，將第二本機(jī)振蕩器的相同相位和正交(90°)相位型式提供給并行第二混頻器，以將IF信號(hào)降頻轉(zhuǎn)換成相同相位(I)和正交相位(Q)基帶信號(hào)。
最近幾年，接收器體系結(jié)構(gòu)的直接轉(zhuǎn)換類型已被無線電話技術(shù)采用，主要是用于手持機(jī)。在典型的直接轉(zhuǎn)換接收器中，所接收的高頻信號(hào)經(jīng)過第一射頻(RF)帶通濾波器(BPF)到固定增益LNA。放大后的信號(hào)經(jīng)過第二RF BPF，然后直接地降頻轉(zhuǎn)換成相同相位(I)和正交相位(Q)基帶信號(hào)，而沒有中介IF混頻級(jí)。然后，I和Q基帶信號(hào)經(jīng)過并行低通濾波器(LPF)到并行VGA。
并行第二混頻器和/或并行VGA中例如由于制造公差等而引起的元件失配可能在I和Q基帶信號(hào)中產(chǎn)生DC偏移。由于并行VGA的凈空(headroom)典型地是有限的，因此當(dāng)它們?cè)诟咴鲆婺Ｊ街胁僮鲿r(shí)小的DC偏移可能顯著地減小信號(hào)擺幅或者有可能使VGA飽和，因此惡化接收器的有效動(dòng)態(tài)范圍。換句話說，這樣的元件失配可能惡化接收器的二階攔截點(diǎn)(IP2)。為了減輕該問題，背景技術(shù)在手持機(jī)的制造期間適應(yīng)性地補(bǔ)償器件失配。
圖6示出了根據(jù)背景技術(shù)的直接轉(zhuǎn)換接收器201。
在圖6中，接收器201包括集成電路(IC)200和第二帶通濾波電路205(為了簡(jiǎn)潔起見，未示出位于LNA 210的上游的對(duì)應(yīng)第一BPF)。帶通濾波電路205在IC 200的外部。例如，帶通濾波電路205的典型元件包括電容器C1；表面聲波(SAW)類型的帶通濾波器；電容器C2和C3，分別連接在SAW濾波器和帶通濾波電路205的輸出節(jié)點(diǎn)(節(jié)點(diǎn)N4和N6)之間；電感器L1和L2，分別連接在節(jié)點(diǎn)N4和N8與節(jié)點(diǎn)N6之間；以及，電容器C4，連接在節(jié)點(diǎn)N8和地之間。將節(jié)點(diǎn)N2上的放大高頻信號(hào)提供給SAW濾波器，其將濾波后的信號(hào)提供給電容器C1和C2。
圖6的IC 200包括LNA 210、表示并行混頻器的塊220、表示并行LPF的塊230、表示并行VGA的塊240、以及熔絲陣列260。在制造期間，技術(shù)人員266使用儀器268測(cè)量混頻器220的輸出阻抗，從而評(píng)估混頻器220的元件失配的程度?；诜磸?fù)試驗(yàn)，技術(shù)人員配置熔絲陣列260，通過其引入減小失配元件的影響的補(bǔ)償阻抗。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的實(shí)施例提供了一種設(shè)備，用于自動(dòng)地選擇可用于減少混頻器的輸出信號(hào)中的二階互調(diào)制(IM2)產(chǎn)物的補(bǔ)償值。這樣的設(shè)備可以包括混頻器，用于輸出混頻信號(hào)；檢測(cè)器，用于檢測(cè)與混頻信號(hào)相對(duì)應(yīng)的樣本中的IM2產(chǎn)物；補(bǔ)償確定電路，用于自動(dòng)地執(zhí)行下列操作將混頻器控制信號(hào)的多個(gè)候選值施加到混頻器，該混頻器控制信號(hào)影響混頻信號(hào)中的IM2產(chǎn)物的幅值；分別評(píng)價(jià)與該多個(gè)候選值相對(duì)應(yīng)的來自檢測(cè)器的樣本；以及在該多個(gè)候選值之中選擇一個(gè)作為補(bǔ)償值。
本發(fā)明的實(shí)施例提供了一種方法，用于自動(dòng)地選擇可用于減少混頻器的輸出信號(hào)中的二階互調(diào)制(IM2)產(chǎn)物的補(bǔ)償值。這樣的方法可以包括提供與混頻信號(hào)相對(duì)應(yīng)的樣本；檢測(cè)樣本中的IM2產(chǎn)物；自動(dòng)地執(zhí)行下列操作將混頻器控制信號(hào)的多個(gè)候選值施加到混頻器，該混頻器控制信號(hào)影響混頻信號(hào)中的IM2產(chǎn)物的幅值；分別評(píng)價(jià)與該多個(gè)候選值相對(duì)應(yīng)的來自檢測(cè)器的樣本；以及在該多個(gè)候選值之中選擇一個(gè)作為補(bǔ)償值。
根據(jù)下面對(duì)示例實(shí)施例的詳細(xì)描述、附圖和相關(guān)權(quán)利要求，本發(fā)明的其它特征和優(yōu)點(diǎn)將會(huì)變得完全清楚。


圖6示出了根據(jù)背景技術(shù)的直接轉(zhuǎn)換接收器。
其余附圖是意欲示出本發(fā)明的示例實(shí)施例，并且不應(yīng)當(dāng)被解釋為限制其范圍。附圖不是按比例繪制的。
圖1示出了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的直接轉(zhuǎn)換接收器101。
圖2示出了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的、圖1的信號(hào)生成電路的示例。
圖3示出了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的、圖1的檢測(cè)電路的示例。
圖4示出了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的、圖1的校正電路156的示例。
圖5A-5F是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的、通過圖1的檢測(cè)器中的各個(gè)元件產(chǎn)生的假設(shè)樣本波形。
具體實(shí)施例方式
作為展開本發(fā)明的一部分，識(shí)別了下面的關(guān)于背景技術(shù)的問題。在熔絲陣列260的配置之后提供的補(bǔ)償阻抗可以減小由于存在于IC 200內(nèi)的失配而引起的影響，但是不能補(bǔ)償由于外部帶通濾波電路205中的失配而引起的影響。另外，在完成接收器201的制造之后，由熔絲陣列260提供的補(bǔ)償是固定的，即，當(dāng)接收器201內(nèi)的元件老化并且開始呈現(xiàn)不同的行為時(shí)，不能對(duì)其進(jìn)行改變，以適應(yīng)性地補(bǔ)償。本發(fā)明的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例包括解決上述問題中的一個(gè)或多個(gè)的特征。
圖1示出了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的直接轉(zhuǎn)換接收器101。
在圖1中，接收器101包括集成電路(IC)100和第二帶通濾波電路205(為了簡(jiǎn)潔起見，沒有示出位于LNA(再次地，低噪聲放大器)110的上游的對(duì)應(yīng)第一BPF)。帶通濾波電路205在IC 100的外部。上面描述了帶通濾波電路205的典型元件。例如，接收器101可以包括在具有天線的無線電話手持機(jī)(或者，換言之，無線移動(dòng)單元)內(nèi)。
圖1的IC 100可以包括LNA 110；多路復(fù)用器(MUX)112；表示并行頻率轉(zhuǎn)換器/變換器的塊120，例如混頻器；自動(dòng)補(bǔ)償電路150；表示并行LPF的塊130；以及表示并行VGA的塊140。自動(dòng)補(bǔ)償(“自動(dòng)補(bǔ)償”)電路150可以包括信號(hào)生成器152、檢測(cè)電路154、以及校正電路156。
檢測(cè)器154輸出比較信號(hào)(COM)，其使MUX 112選擇信號(hào)生成器152的輸出，而不是所接收并帶通濾波后的高頻信號(hào)RF。信號(hào)生成器152接收本機(jī)振蕩器信號(hào)fLO，并且將其與例如偏移信號(hào)foffset和雙音(two-tone)信號(hào)±Δf進(jìn)行混頻，以獲得原始測(cè)試信號(hào)，可以將其表示如下fLO+foffset(1)原始測(cè)試信號(hào)通過帶通濾波電路205(再提一次，其在IC 100的外部)傳播，然后在混頻塊120對(duì)其進(jìn)行混頻。將混頻測(cè)試信號(hào)傳遞到LPF塊130，然后由VGA塊140放大濾波后的測(cè)試信號(hào)，以形成基帶信號(hào)BB(例如，可以由調(diào)制解調(diào)器對(duì)其進(jìn)行解碼)。檢測(cè)器154采樣由VGA塊140輸出的放大測(cè)試信號(hào)中的失真分量，例如，非線性二階互調(diào)制失真(IM2)。檢測(cè)器154還將當(dāng)前樣本的幅值與先前樣本的幅值相比較，以識(shí)別樣本序列的斜率變化。將斜率變化的表示作為信號(hào)COM，從檢測(cè)電路154輸出到MUX 112(如上所述)和校正電路156。
另外，響應(yīng)于由自動(dòng)補(bǔ)償電路150接收的主控制信號(hào)CM，校正電路156開始將調(diào)整信號(hào)的序列提供到節(jié)點(diǎn)N10和N12，其分別將混頻塊120連接到LPF塊130。一旦信號(hào)COM表示斜率已經(jīng)改變，就將發(fā)生兩件事情校正電路156在調(diào)整信號(hào)的序列之中選擇產(chǎn)生IM2失真分量的最小值的一個(gè)；并且MUX 110選擇LNA 110的輸出，而不是來自信號(hào)生成器152的原始測(cè)試信號(hào)。
由校正電路156輸出的調(diào)整信號(hào)可以采取不同的形式。例如，圖1示出了作為阻抗調(diào)整信號(hào)ADJ-Ω的調(diào)整信號(hào)?？蛇x地，校正電路156可以輸出本機(jī)振蕩器占空比調(diào)整信號(hào)ADJ-fLO-duty或本機(jī)振蕩器幅值調(diào)整信號(hào)ADJ-fLO-AMPL。為了增大這樣的可能性，即，調(diào)整信號(hào)的變化將產(chǎn)生IM2失真分量的單調(diào)減小、隨后是二階失真分量的單調(diào)增大，應(yīng)當(dāng)由校正電路156輸出調(diào)整信號(hào)的類型中的僅僅一種。然而，可選地，可以同時(shí)輸出兩種或更多種調(diào)整信號(hào)。
圖2示出了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的信號(hào)生成電路152的示例。
在圖2中，信號(hào)生成器152包括表示并行頻率轉(zhuǎn)換器/變換器的塊152a，例如混頻器?；祛l塊152a接收兩個(gè)信號(hào)foffset，并且將它們與本機(jī)振蕩器信號(hào)fLO的兩個(gè)實(shí)例進(jìn)行混頻。從混頻塊152b接收一對(duì)混頻信號(hào)(平衡輸入)的平衡-不平衡變換器(balun)152b產(chǎn)生原始測(cè)試信號(hào)(再次地，fLO+foffset)。原始測(cè)試信號(hào)表示失衡信號(hào)。
圖3示出了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的檢測(cè)電路154的示例。圖5a-5f是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的、由檢測(cè)器154中的各個(gè)元件產(chǎn)生的假設(shè)樣本波形。
在圖3中，檢測(cè)電路154包括峰值檢測(cè)器154a和斜率變化檢測(cè)電路154b。檢測(cè)電路152a包括放大電路154a-1和峰值采樣電路154a-2。
分別在節(jié)點(diǎn)N14和N16由放大電路154a-1接收基帶信號(hào)BB。放大電路154a-1包括運(yùn)算放大器(OPA)，在節(jié)點(diǎn)N18和N20具有輸入端；以及電阻器R1和R2，分別連接在節(jié)點(diǎn)N14和N16與節(jié)點(diǎn)N18和N20之間。在節(jié)點(diǎn)S1上提供OPA的輸出，通過電阻器R3將其反饋到節(jié)點(diǎn)N18處的輸入端。通過電阻器R4將節(jié)點(diǎn)N20連接到參考電壓，例如，二分之一的電源電壓(1/2VDD)。
在操作時(shí)，放大電路154a-1將差分輸入信號(hào)(即，基帶信號(hào)BB)轉(zhuǎn)換成單端信號(hào)。例如，在節(jié)點(diǎn)S1上所得到的單端信號(hào)可以具有節(jié)點(diǎn)N14和N16上的輸入信號(hào)中的任何一個(gè)的幅值的大約兩倍。圖5a示出了節(jié)點(diǎn)S1上的信號(hào)的假設(shè)樣本波形。
峰值采樣電路154a-2包括開關(guān)SW1、二極管、開關(guān)SW2和電容器C5。節(jié)點(diǎn)S1表示峰值采樣電路154a-2的輸入端，并且節(jié)點(diǎn)S3表示輸出端。節(jié)點(diǎn)S1和S3通過二極管連接在一起。開關(guān)SW1和二極管在節(jié)點(diǎn)S2處連接。節(jié)點(diǎn)S3通過電容器C5接地。開關(guān)SW1根據(jù)開關(guān)控制信號(hào)CS1而選擇性地將節(jié)點(diǎn)S1連接到節(jié)點(diǎn)S3(為了簡(jiǎn)潔起見，沒有示出用于生成開關(guān)控制信號(hào)CS1的邏輯)。開關(guān)SW2根據(jù)開關(guān)控制信號(hào)CS2而選擇性地將節(jié)點(diǎn)S3接地(為了簡(jiǎn)潔起見，沒有示出用于生成開關(guān)控制信號(hào)CS2的邏輯)。
在操作時(shí)，峰值采樣電路154a-2的電容器C5將節(jié)點(diǎn)S1上的AC信號(hào)轉(zhuǎn)換成節(jié)點(diǎn)S3上的DC信號(hào)。節(jié)點(diǎn)S3上的信號(hào)表示IM2失真分量的采樣DC部分。開關(guān)SW1執(zhí)行采樣和保持功能。并且開關(guān)SW2執(zhí)行重置功能，其清除保持在節(jié)點(diǎn)S3上的采樣值。圖5b示出了節(jié)點(diǎn)S2上的信號(hào)的假設(shè)樣本波形。圖5c示出了節(jié)點(diǎn)S3上的信號(hào)的假設(shè)樣本波形。
在圖3中，斜率變化檢測(cè)電路154b包括奇數(shù)采樣電路154b-1、偶數(shù)采樣電路154b-2、先前樣本選擇電路154b-3、當(dāng)前樣本選擇電路154b-4、以及比較器154b-5。
對(duì)于奇數(shù)采樣電路154b-1，節(jié)點(diǎn)S3表示輸入端，并且節(jié)點(diǎn)S4表示輸出端，其中根據(jù)開關(guān)控制信號(hào)CS3由開關(guān)SW3將它們選擇性地連接在一起(為了簡(jiǎn)潔起見，沒有示出用于生成開關(guān)控制信號(hào)CS3的邏輯)。節(jié)點(diǎn)S4通過電容器C6接地。對(duì)于偶數(shù)采樣電路154b-2，節(jié)點(diǎn)S3也表示輸入端，并且節(jié)點(diǎn)S5表示輸出端，其中根據(jù)開關(guān)控制信號(hào)CS4由開關(guān)SW4將它們選擇性地連接在一起(為了簡(jiǎn)潔起見，沒有示出用于生成開關(guān)控制信號(hào)CS4的邏輯)。節(jié)點(diǎn)S5通過電容器C7接地。
先前樣本選擇電路154b-3包括開關(guān)SW5和SW6，其分別根據(jù)開關(guān)控制信號(hào)CS5和CS6而選擇性地將節(jié)點(diǎn)S4和S5連接到節(jié)點(diǎn)S6(為了簡(jiǎn)潔起見，沒有示出用于生成開關(guān)控制信號(hào)CS5和CS6的邏輯)。節(jié)點(diǎn)S6也連接到比較器154b-5的反相輸入端。另外，節(jié)點(diǎn)S6通過電容器C8接地。
當(dāng)前樣本選擇電路154b-4包括開關(guān)SW7和SW8，其分別根據(jù)開關(guān)控制信號(hào)CS6和CS5而選擇性地將節(jié)點(diǎn)S4和S5連接到節(jié)點(diǎn)S7。節(jié)點(diǎn)S7也連接到比較器154b-5的正相輸入端。另外，節(jié)點(diǎn)S7通過電容器C9接地。開關(guān)控制信號(hào)CS6和CS5可以分別是開關(guān)控制信號(hào)CS3和CS4的延遲型式。
在操作時(shí)，開關(guān)控制信號(hào)CS3和CS4使開關(guān)SW3和SW4以交替方式斷開/閉合。當(dāng)開關(guān)SW3斷開時(shí)，開關(guān)SW4閉合，反之亦然。類似地，通過開關(guān)控制信號(hào)CS5和CS6，使開關(guān)對(duì)SW5和SW7、以及SW6和SW7以交替方式斷開/閉合。結(jié)果，總是將由采樣電路154b-1和154b-2提供的兩個(gè)樣本中的較舊樣本提供給比較器154b-5的反相輸入端。并且，總是將由采樣電路154b-1和154b-2提供的兩個(gè)樣本中的較新(較近)樣本提供給比較器154b-5的正相輸入端。圖5d示出了節(jié)點(diǎn)S4和S5上的信號(hào)的假設(shè)樣本波形、以及用于開關(guān)控制信號(hào)CS3和CS4的樣本波形。圖5e示出了節(jié)點(diǎn)S6和S7上的信號(hào)的假設(shè)樣本波形、以及用于開關(guān)控制信號(hào)CS5和CS6的樣本波形。
校正電路156的操作首先遞增且單調(diào)地減小IM2的幅值(再次地，其DC分量呈現(xiàn)在節(jié)點(diǎn)S3上)。這樣，比較器154b-5的輸出(即，信號(hào)COM)典型地首先將不變化。然后，在經(jīng)過或超過了IM2的幅值的最小值之后，校正電路156將遞增且單調(diào)地增大IM2的幅值(再次地，其DC分量呈現(xiàn)在節(jié)點(diǎn)S3上)。一旦節(jié)點(diǎn)S3的較新(較近)樣本的幅值變得大于節(jié)點(diǎn)S3的較舊樣本，則比較器154b-5的輸出將變化，即，信號(hào)COM將變化。圖5f示出了說明正是這樣的變化的信號(hào)COM的假設(shè)樣本波形。
圖4示出了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的校正電路156的示例。
在圖4中，校正電路156包括計(jì)數(shù)器156a；計(jì)數(shù)選擇電路156b；以及校正值生成電路156c。計(jì)數(shù)選擇電路156b包括開關(guān)SW9；延遲單元DLY；存儲(chǔ)器裝置例如寄存器REG；以及MUX(再次地，多路復(fù)用器)156d。校正值生成電路156c的示例可以在下列專利申請(qǐng)中找到共同未決的、具有序列號(hào)11/013,902的美國(guó)專利申請(qǐng)(對(duì)應(yīng)于美國(guó)提前準(zhǔn)許公布No.US20050143044A1，并且在2004年12月15日提交)；共同未決的、具有序列號(hào)11/325,512的美國(guó)專利申請(qǐng)(在2006年1月5日提交)，在此將其中每個(gè)專利申請(qǐng)的全文引作參考。
計(jì)數(shù)器156a接收時(shí)鐘信號(hào)CLK，并且通過主控制信號(hào)CM重置。寄存器REG也接收主控制信號(hào)CM，并且通過主控制信號(hào)CM清除其內(nèi)容。
開關(guān)SW9根據(jù)比較器154b-5的輸出即信號(hào)COM，選擇性地將由計(jì)數(shù)器156a輸出的計(jì)數(shù)值連接到延遲單元DLY。該計(jì)數(shù)值可以被描述為代碼值。延遲單元DLY將其延遲的計(jì)數(shù)值傳遞到寄存器REG，其中，將該值存儲(chǔ)在寄存器REG中。MUX 156d也根據(jù)信號(hào)COM，將計(jì)數(shù)器156a的輸出端連接到校正值生成器156c。
在操作時(shí)，在信號(hào)COM指示斜率變化之前，(通過信號(hào)COM)將開關(guān)SW9和MUX 156d控制到其第一位置，其中它們選擇由計(jì)數(shù)器156a產(chǎn)生的計(jì)數(shù)值。由于延遲電路DLY，寄存器REG將總是保持先前計(jì)數(shù)值，而在開關(guān)SW9和MUX 156d處于它們的第一位置時(shí)，MUX將傳輸當(dāng)前計(jì)數(shù)值。一旦信號(hào)COM指示斜率變化，就將開關(guān)SW9和MUX 156d控制到它們的第二位置，其中將延遲電路DLY與計(jì)數(shù)器156a斷開；并且MUX 156d選擇寄存器REG的輸出。
一旦信號(hào)COM指示由于當(dāng)前計(jì)數(shù)值引起的斜率變化，就應(yīng)當(dāng)理解，先前計(jì)數(shù)值則表示期望計(jì)數(shù)值。當(dāng)前計(jì)數(shù)值經(jīng)過(超過)了返回IM2幅值的最小值的計(jì)數(shù)值。因此，需要某個(gè)邏輯來恢復(fù)先前計(jì)數(shù)值。該邏輯由計(jì)數(shù)選擇電路156b提供。
本發(fā)明的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例包括這樣的特征，即不僅在制造時(shí)，而且在完成接收器201的制造之后并且它由于老化而開始呈現(xiàn)不同行為時(shí)，可以減小由于存在于IC 200內(nèi)的失配而引起的負(fù)面影響、以及/或者由于外部帶通濾波電路205中的失配而引起的影響。本發(fā)明的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例自動(dòng)地減小了這樣的負(fù)面影響，即，無需技術(shù)人員的介入。
當(dāng)然，雖然這里討論了本發(fā)明的若干變體和示例實(shí)施例，但是本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員容易理解，還可以對(duì)本發(fā)明進(jìn)行各種附加修改。從而，這里討論的示例實(shí)施例不限制由相關(guān)權(quán)利要求限定的本發(fā)明。
權(quán)利要求
1.一種設(shè)備，用于自動(dòng)地選擇可用于減少混頻器的輸出信號(hào)中的二階互調(diào)制(IM2)產(chǎn)物的補(bǔ)償值，該設(shè)備包括混頻器，用于輸出混頻信號(hào)；檢測(cè)器，用于檢測(cè)與混頻信號(hào)相對(duì)應(yīng)的樣本中的IM2產(chǎn)物；補(bǔ)償確定電路，用于自動(dòng)地執(zhí)行下列操作將混頻器控制信號(hào)的多個(gè)候選值施加到混頻器，該混頻器控制信號(hào)影響混頻信號(hào)中的IM2產(chǎn)物的幅值；分別評(píng)價(jià)與該多個(gè)候選值相對(duì)應(yīng)的來自檢測(cè)器的樣本；以及在該多個(gè)候選值之中選擇一個(gè)作為補(bǔ)償值。
2.如權(quán)利要求1所述的校準(zhǔn)設(shè)備，其中檢測(cè)器包括IM2采樣器，分別用于產(chǎn)生與混頻信號(hào)相對(duì)應(yīng)的樣本，及生成樣本中的IM2產(chǎn)物的幅值的指示；以及單調(diào)變化傳感器，用于檢測(cè)在由IM2采樣器輸出的樣本的單調(diào)級(jí)數(shù)中是否存在變化。
3.如權(quán)利要求2所述的校準(zhǔn)設(shè)備，其中IM2采樣器包括差分到單端信號(hào)轉(zhuǎn)換器，用于將差分信號(hào)轉(zhuǎn)換成其單端型式；以及AC/DC轉(zhuǎn)換器，用于將差分信號(hào)的單端型式轉(zhuǎn)換成DC信號(hào)；以及采樣電路，用于對(duì)DC信號(hào)進(jìn)行采樣。
4.如權(quán)利要求2所述的校準(zhǔn)設(shè)備，還包括定時(shí)信號(hào)生成器；以及其中單調(diào)變化傳感器包括以下第一采樣和保持(S&H)電路，用于根據(jù)來自定時(shí)信號(hào)生成器的第一定時(shí)信號(hào)，采樣和保持由IM2采樣器輸出的第一值，第二S&H電路，用于根據(jù)來自定時(shí)信號(hào)生成器的第二定時(shí)信號(hào)，采樣和保持由IM2采樣器輸出的第二值，比較器，以及開關(guān)電路，用于選擇性地將第一S&H電路中的第一值和第二S&H電路中的第二值當(dāng)中的較舊者連接到比較器的第一輸入端，并且將其較新者連接到比較器的第二輸入端；其中定時(shí)信號(hào)生成器可用于使第一和第二S&H電路基于交替的方式對(duì)IM2采樣器的輸出進(jìn)行采樣；以及其中當(dāng)比較器的輸出顯著變化時(shí)，檢測(cè)由IM2采樣器輸出的樣本的單調(diào)級(jí)數(shù)變化。
5.如權(quán)利要求2所述的校準(zhǔn)設(shè)備，還包括低通濾波器，用于對(duì)混頻信號(hào)進(jìn)行濾波；以及放大器，用于放大混頻信號(hào)的濾波型式；其中IM2采樣器可用于對(duì)放大器的輸出進(jìn)行采樣。
6.如權(quán)利要求1所述的校準(zhǔn)設(shè)備，其中補(bǔ)償確定電路包括校正生成器，用于生成混頻器控制信號(hào)的該多個(gè)值，以便分別地以不同方式影響混頻信號(hào)中的IM2產(chǎn)物的幅值。
7.如權(quán)利要求6所述的校準(zhǔn)設(shè)備，其中校正生成器包括代碼生成器，用于生成用來對(duì)混頻器控制信號(hào)進(jìn)行整形的代碼的多個(gè)值；以及信號(hào)整形器，用于分別根據(jù)代碼的這些值來對(duì)混頻器控制信號(hào)進(jìn)行整形。
8.如權(quán)利要求7所述的校準(zhǔn)設(shè)備，其中代碼生成器是計(jì)數(shù)器。
9.如權(quán)利要求7所述的校準(zhǔn)設(shè)備，其中校正生成器還包括延遲單元，用于延遲代碼的第i值，從而獲得代碼的第(i-1)值；存儲(chǔ)器，用于保持代碼的第(i-1)值；開關(guān)電路，用于響應(yīng)于由單調(diào)變化傳感器檢測(cè)到變化，將存儲(chǔ)器的內(nèi)容施加到信號(hào)整形器。
10.如權(quán)利要求1所述的校準(zhǔn)設(shè)備，還包括測(cè)試信號(hào)生成器，用于生成測(cè)試信號(hào)，并且將其提供給表示外部輸出端的節(jié)點(diǎn)；其中混頻器被布置成在對(duì)外部供應(yīng)的信號(hào)操作；以及從外部供應(yīng)的信號(hào)是測(cè)試信號(hào)的型式。
11.如權(quán)利要求10所述的校準(zhǔn)設(shè)備，其中測(cè)試信號(hào)的型式是通過在校準(zhǔn)設(shè)備的外部但是校準(zhǔn)設(shè)備是其一部分的系統(tǒng)的一部分來傳播的型式。
12.如權(quán)利要求10所述的校準(zhǔn)設(shè)備，其中測(cè)試信號(hào)生成器包括混頻器，用于對(duì)本機(jī)振蕩信號(hào)和雙音信號(hào)進(jìn)行混頻，從而獲得前驅(qū)信號(hào)；以及平衡-不平衡轉(zhuǎn)換電路，用于使前驅(qū)信號(hào)失衡，從而獲得測(cè)試信號(hào)。
13.如權(quán)利要求10所述的校準(zhǔn)設(shè)備，還包括放大器，用于放大來自天線的信號(hào)的型式，并且將放大后的信號(hào)提供給節(jié)點(diǎn)。
14.如權(quán)利要求1所述的校準(zhǔn)設(shè)備，其中校準(zhǔn)設(shè)備被形成為集成電路。
15.如權(quán)利要求1所述的校準(zhǔn)設(shè)備，其中混頻器被布置成對(duì)來源在校準(zhǔn)設(shè)備的外部的信號(hào)或者在其型式操作。
16.一種校準(zhǔn)設(shè)備，用于自動(dòng)地校準(zhǔn)可用于減少混頻器的輸出信號(hào)中的二階互調(diào)制(IM2)產(chǎn)物的補(bǔ)償值，該設(shè)備包括混頻器，用于輸出混頻信號(hào)；IM2采樣器，用于產(chǎn)生與混頻信號(hào)相對(duì)應(yīng)的樣本，并且生成樣本中的IM2產(chǎn)物的幅值的指示；單調(diào)變化傳感器，用于檢測(cè)在由IM2采樣器輸出的樣本的單調(diào)級(jí)數(shù)中是否存在變化；校正生成器，用于將混頻器控制信號(hào)的多個(gè)值提供給混頻器，該混頻器控制信號(hào)影響混頻信號(hào)中的IM2產(chǎn)物的幅值。
17.一種方法，用于自動(dòng)地選擇可用于減少混頻器的輸出信號(hào)中的二階互調(diào)制(IM2)產(chǎn)物的補(bǔ)償值，該方法包括提供與混頻信號(hào)相對(duì)應(yīng)的樣本；檢測(cè)樣本中的IM2產(chǎn)物；自動(dòng)地執(zhí)行下列操作將混頻器控制信號(hào)的多個(gè)候選值施加到混頻器，該混頻器控制信號(hào)影響混頻信號(hào)中的IM2產(chǎn)物的幅值，分別評(píng)價(jià)與該多個(gè)候選值相對(duì)應(yīng)的來自檢測(cè)器的樣本，以及在該多個(gè)候選值之中選擇一個(gè)作為補(bǔ)償值。
18.如權(quán)利要求17所述的方法，其中檢測(cè)步驟包括分別生成樣本中的IM2產(chǎn)物的幅值的指示；以及檢測(cè)在由IM2采樣器輸出的樣本的單調(diào)級(jí)數(shù)中是否存在變化。
19.如權(quán)利要求2所述的方法，其中生成步驟包括將差分信號(hào)轉(zhuǎn)換成其單端型式；以及將差分信號(hào)的單端型式AC/DC轉(zhuǎn)換成DC信號(hào)；以及對(duì)DC信號(hào)進(jìn)行采樣。
20.如權(quán)利要求17所述的方法，還包括對(duì)混頻器控制信號(hào)的該多個(gè)值進(jìn)行整形，以便分別地以不同方式影響混頻信號(hào)中的IM2產(chǎn)物的幅值。
21.如權(quán)利要求17所述的方法，其中整形步驟包括形成用來對(duì)混頻器控制信號(hào)進(jìn)行整形的代碼的多個(gè)值；以及分別地根據(jù)代碼的這些值對(duì)混頻器控制信號(hào)進(jìn)行整形。
22.如權(quán)利要求21所述的方法，其中形成步驟包括對(duì)時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行計(jì)數(shù)。
23.如權(quán)利要求21所述的方法，其中整形步驟還包括延遲代碼的第i值，從而獲得代碼的第(i-1)值；存儲(chǔ)代碼的第(i-1)值；響應(yīng)于單調(diào)級(jí)數(shù)變化的檢測(cè)，選擇性地使用所存儲(chǔ)的代碼的第(i-1)值。
全文摘要
一種設(shè)備，用于自動(dòng)地選擇可用于減少混頻器的輸出信號(hào)中的二階互調(diào)制(IM2)產(chǎn)物的補(bǔ)償值，其可以包括混頻器，用于輸出混頻信號(hào)；檢測(cè)器，用于檢測(cè)與混頻信號(hào)相對(duì)應(yīng)的樣本中的IM2產(chǎn)物；補(bǔ)償確定電路，用于自動(dòng)地執(zhí)行下列操作將混頻器控制信號(hào)的多個(gè)候選值施加到混頻器，該混頻器控制信號(hào)影響混頻信號(hào)中的IM2產(chǎn)物的幅值；分別評(píng)價(jià)與該多個(gè)候選值相對(duì)應(yīng)的來自檢測(cè)器的樣本；以及在該多個(gè)候選值之中選擇一個(gè)作為補(bǔ)償值。
文檔編號(hào)H03D7/18GK1917361SQ200610108790
公開日2007年2月21日 申請(qǐng)日期2006年8月16日 優(yōu)先權(quán)日2005年8月17日
發(fā)明者金佑年 申請(qǐng)人:三星電子株式會(huì)社