專利名稱：一種譯碼方法、裝置和編譯碼系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明實施例涉及譯碼技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種譯碼方法、裝置和編譯碼 系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
循環(huán)碼是線性分組碼的一個重要子集，其最大的特點(diǎn)就是碼字的循環(huán)特 性，所謂循環(huán)特性是指循環(huán)碼中任一許用碼組無論是向左還是右循環(huán)移位后， 所得到的碼組仍然是許用碼組?？s短循環(huán)碼是一種常見的循環(huán)碼，其縮短的是 碼多項式的高S位。如果用傳統(tǒng)的梅吉特譯碼器進(jìn)行譯碼，伴隨著縮短長度S 的變化，其對應(yīng)的校驗子圖樣會不一樣。
圖1為傳統(tǒng)的梅吉特譯碼器原理圖。所述梅吉特譯碼器的校驗子計算電路 可釆用除法電路，某碼組循環(huán)移位/次的校驗子等于原碼組校驗子在除法電路 中運(yùn)轉(zhuǎn)/次所得到的結(jié)果。接收到的碼組同時輸入到校驗子計算電路和緩存器
中；當(dāng)該碼組輸入完畢并且校驗子計算結(jié)束后，將輸入斷開，進(jìn)行除法電路運(yùn) 轉(zhuǎn)和錯誤圖樣識別。當(dāng)除法電路運(yùn)轉(zhuǎn)到某個時刻，除法電路寄存器的圖樣被電 路識別，即將該時刻對應(yīng)的緩存接收數(shù)據(jù)與相應(yīng)的錯誤圖樣模二力口，實現(xiàn)糾錯。 在圖1所示現(xiàn)有的梅吉特譯碼器原理圖基礎(chǔ)上，請一并參閱圖2，圖2為 循環(huán)碼CRC-CCITT碼的梅吉特譯碼器的實現(xiàn)示意圖。CRC-CCITT碼的梅吉 特譯碼器的錯誤圖樣識別電路為一個與門，識別的圖樣為對應(yīng)的碼多項式的最 高位出錯時對應(yīng)的校驗子圖樣。開始工作時，校驗子生成電路的寄存器為0， 門l打開，開關(guān)K斷開；當(dāng)一個包輸入完畢時，計算得到校驗子圖樣^(x)，門 1關(guān)閉，且使緩沖器停止移動；開關(guān)K閉合，校驗子生成電路的校驗子圖樣4x) 送到下面的除法電路中，隨即開關(guān)K斷開，且校驗子生成電路中的寄存器清 空為0。這時，門1再次打開，緩存器送出當(dāng)前包的數(shù)據(jù)，同時接收下一包的 數(shù)據(jù)。與此同時，校驗子生成電路計算下一包接收數(shù)據(jù)的校驗子，而下面的除 法電路則對當(dāng)前包的數(shù)據(jù)進(jìn)行糾正。當(dāng)且僅當(dāng)下面的除法電路的寄存器中的圖 樣為該校-驗子圖樣時，與門的輸出為l,其余情況與門的輸出為0。與門輸出與緩存器中輸出的接收數(shù)據(jù)依次進(jìn)行模二力口，即可對相應(yīng)位置上的錯誤進(jìn)行糾 正。
發(fā)明人在實現(xiàn)本發(fā)明的過程中發(fā)現(xiàn)，縮短循環(huán)碼進(jìn)行縮短的是碼多項式的 高次位，隨著縮短長度的變化對應(yīng)的需識別的校驗子圖樣也會不一樣。因此， 對縮短長度可變的縮短循環(huán)碼進(jìn)行譯碼時，現(xiàn)有的梅吉特譯碼器的校驗子圖樣 識別電路無法靈活應(yīng)用；且由于校驗子除法電路每轉(zhuǎn)一次就要進(jìn)行校驗子圖樣 識別，難以實現(xiàn)并行計算。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明實施例要解決的技術(shù)問題是提出一種譯碼方法、裝置和 編譯碼系統(tǒng)，可以靈活適應(yīng)縮短循環(huán)碼縮短長度的變化，并易于并行計算。
為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明實施例提供的技術(shù)方案是這樣的 本發(fā)明實施例提供了一種譯碼方法，包括
接收碼多項式，將所述碼多項式對預(yù)先設(shè)定的生成多項式進(jìn)行求模，獲取 原校驗子圖樣；
將所述原校驗子圖樣代入基于生成多項式的反多項式的電路運(yùn)轉(zhuǎn)，原校驗 子圖樣對應(yīng)的錯誤多項式向所述接收的碼多項式的低次方向循環(huán)移位，確定錯 誤圖樣；
將所述接收的碼多項式的倒序和錯誤圖樣進(jìn)行模二加。 本發(fā)明實施例還提供了一種譯碼器，包括
原校驗子生成單元，用于接收碼多項式，將所述碼多項式對預(yù)先設(shè)定的生 成多項式進(jìn)行求模，獲取原校驗子圖樣；
基于生成多項式的反多項式的電路單元，用于接收所述原校驗子圖樣并運(yùn) 轉(zhuǎn)，原校驗子圖樣對應(yīng)的錯誤多項式向所述接收的碼多項式的低次方向循環(huán)移 位；確定錯誤圖樣并輸出；
緩存器，用于接收碼多項式，并輸出；
糾錯單元，用于將緩存器輸出的碼多項式的倒序和基于生成多項式的反多 項式的電路單元輸出的錯誤圖樣進(jìn)行模二加。
本發(fā)明實施例還提供了一種編譯碼系統(tǒng)，包括譯碼器，與編碼器以可通信 方式連4妻，所述譯碼器，用于接收碼多項式，將所述碼多項式對預(yù)先設(shè)定的生成多項 式進(jìn)行求模，獲取原校驗子圖樣；
將所述原校驗子圖樣代入基于生成多項式的反多項式的電路中運(yùn)轉(zhuǎn)，原校
驗子圖樣對應(yīng)的錯誤多項式向所述接收的碼多項式的低次方向循環(huán)移位；由電 路的寄存器圖樣確定錯誤圖樣，并輸出；
將所述接收到的碼多項式的倒序和所述輸出的錯誤圖樣和進(jìn)行模二加。 本發(fā)明實施例基于生成多項式的反多項式電路的應(yīng)用，由于縮短循環(huán)碼縮 短的是碼多項式的高次位不會影響到低次位，且本發(fā)明實施例應(yīng)用基于生成多 項式的反多項式電路對原校驗子圖樣進(jìn)行運(yùn)算，等效于與原校驗子圖樣對應(yīng)的 錯誤多項式向接收到的碼多項式的低次方向循環(huán)移位，所述碼多項式的低次位 出錯對應(yīng)的校驗子圖樣不會隨著縮短長度的變化而變化，可以靈活適應(yīng)縮短循 環(huán)碼的縮短長度的變化，并易于并行計算。


圖1為現(xiàn)有的梅吉特譯碼器的原理圖2為現(xiàn)有技術(shù)中CRC-CCITT碼的糾錯方法的實現(xiàn)示意圖； 圖3為本發(fā)明實施例提供的譯碼方法的流程示意圖； 圖4為本發(fā)明實施例提供的一種譯碼方法的實現(xiàn)示意圖； 圖5為本發(fā)明實施例提供的又一種譯碼方法的實現(xiàn)示意圖； 圖6為本發(fā)明實施例提供的一種譯碼器的邏輯結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施例方式
本發(fā)明實施例提供了一種譯碼方法、裝置和編譯碼系統(tǒng)，使與原校驗子圖 樣對應(yīng)的錯誤多項式向接收的碼多項式的低次方向循環(huán)移位，靈活適應(yīng)縮短循 環(huán)碼的縮短長度的變化，并易于并行計算。
為了便于對本發(fā)明實施例進(jìn)一步的理解，下面結(jié)合附圖對本發(fā)明實施例進(jìn) 4亍i羊纟田4苗述。
請參閱圖3，圖3為本發(fā)明實施例提供的譯碼方法的流程示意圖，該方法 具體可以包括
步驟301:接收碼多項式，將所述碼多項式對預(yù)先設(shè)定的生成多項式進(jìn)行 求模，獲取原校驗子圖樣。其中，所述接收的碼多項式由編碼器發(fā)送的碼多項式和傳輸過程中產(chǎn)生的
4晉i吳多項式才莫二加而成；
所述接收的碼多項式除以生成多項式并取余式，得到原校驗子圖樣；所述 生成多項式是編碼時預(yù)先設(shè)定的，譯碼時采用與編碼時完全相同的生成多項式 進(jìn)行譯碼糾檢錯。
假設(shè)編碼時發(fā)射的碼多項式為C(x)，譯碼時接收到的碼多項式為r(;c)，錯 誤多項式為e(x),有r(x)二C(x) + e(jc)。
對于循環(huán)碼，原校驗子圖樣4x)常定義為r(x)除以生成多項式g(x)的余 式，即
二r(x)modg(x) ( 1 )
對式(1)進(jìn)行分解，且利用發(fā)射的碼多項式C(:c)必定能被g(;c)整除的性 質(zhì)，得
= r(x)modg(x) = (C(x) + e(x))modg(x) =C(x)modg(x) + e(x)modg(x) ( )
=e(x)modg(x)
可見，原校驗子圖樣4x)僅和錯誤多項式44有關(guān)，和編碼時發(fā)射的碼多 項式為C(^無關(guān)。當(dāng)錯誤多項式e(x)^時，原校驗子圖樣4^ = 0，則認(rèn)為接 收碼字r(x)正確；當(dāng)錯誤多項式e(xpO時，原校驗子圖樣x(;c)^0,則認(rèn)為接 收碼字r(x)不正確。
步驟302:應(yīng)用基于生成多項式的反多項式電^各對原4吏驗子圖樣進(jìn)行運(yùn)轉(zhuǎn)， 原校驗子圖樣對應(yīng)的錯誤多項式向接收的碼多項式的低次方向循環(huán)移位，確定 錯誤圖樣。
其中，將所述原校驗子圖樣代入基于生成多項式的反多項式的電路；所述 反多項式是將所述預(yù)先設(shè)定的生成多項式的系數(shù)逆置得到的；
所述原校驗子圖樣在基于生成多項式的反多項式的電路中運(yùn)轉(zhuǎn)；對應(yīng)的電 路寄存器中的圖樣是所述原校驗子圖樣對應(yīng)的錯誤多項式向接收的碼多項式 的低次方向循環(huán)移位后得到校驗子圖樣；
對基于生成多項式的反多項式的電路中的寄存器圖樣進(jìn)行識別，從而得到對應(yīng)的錯誤圖樣。
其中，所述對基于生成多項式的反多項式的電路中的寄存器圖樣進(jìn)行識
別，從而得到對應(yīng)的錯誤圖樣具體可以是
判斷構(gòu)成所述基于生成多項式的反多項式的電路中的寄存器的數(shù)值之和 是否小于等于所述接收的碼多項式的可糾正錯誤個數(shù)，如果是，則輸出寄存器 圖樣對應(yīng)的錯誤圖樣。
其中，所述反多項式是將所述預(yù)先設(shè)定的生成多項式的系數(shù)逆置得到的， 具體可以是
所述生成多項式底數(shù)不變，指數(shù)取反，得到指數(shù)為負(fù)值的生成多項式；
所述生成多項式指數(shù)最高項乘以所述指數(shù)為負(fù)值的生成多項式得到所述 生成多項式的反多項式。
其中，所述判斷構(gòu)成所述基于生成多項式的反多項式的電路中的寄存器的 數(shù)值之和是否小于等于所述接收的碼多項式的可糾正錯誤個數(shù)，如果是，則輸 出寄存器圖樣對應(yīng)的錯誤圖樣具體可以是
所述基于生成多項式的反多項式電路的寄存器的數(shù)值隨電路的運(yùn)轉(zhuǎn)發(fā)生 相應(yīng)變化，所述基于生成多項式的反多項式電路的寄存器的數(shù)值構(gòu)成原校驗子 循環(huán)移位后對應(yīng)的校驗子圖樣；判斷所述寄存器的數(shù)值之和是否小于等于t (t 為該碼多項式可以糾正的錯誤的個數(shù))，如果是，則輸出所述校驗子圖樣對應(yīng) 的錯誤圖樣。
假設(shè)(x)為原校驗子圖樣5(x)逆行循環(huán)移位m次后的校驗子圖樣，有
<formula>formula see original document page 9</formula>等式兩邊同時乘以/、得
<formula>formula see original document page 9</formula>其中''〈(x) = L (x-' )*x" 、 /(x) = s(x-，卜x" 、= g(x-')*x"分別是 g(x)的反多項式，n為編碼后碼字長度，k為編碼前信息比特長度。所以基于 的反多項式g'(x)的電路的運(yùn)轉(zhuǎn)可以得到相應(yīng)的錯誤多項式向低次方向循環(huán)移位對應(yīng)的4L瞼子圖樣。
步驟303:將所述接收的碼多項式的倒序和錯誤圖樣進(jìn)行模二加。
其中，所述錯誤圖樣與接收的碼多項式的低次位出錯時的校驗子圖樣對 應(yīng)，當(dāng)且僅當(dāng)所述錯誤圖樣與接收的碼多項式的低次位出錯時的校驗子圖樣對 應(yīng)時，所述基于生成多項式的反多項式電路的寄存器的數(shù)值之和小于等于t (t 為該碼多項式可以糾正的錯誤的個數(shù))，電路輸出所述寄存器的數(shù)值，所述緩 存器中接收到的碼序列的倒序和寄存器的數(shù)值進(jìn)行模二加，即可對相應(yīng)位置上 的錯誤進(jìn)行糾正。
步驟304:如果在譯碼過程中沒有出現(xiàn)可識別的錯誤圖樣，則輸出不可糾 指示。
本發(fā)明實施例提供的譯碼方法基于生成多項式的反多項式電路的應(yīng)用，將 與所述接收的碼多項式的低次位出錯時的校驗子圖樣對應(yīng)的錯誤圖樣作為識 別電路的圖樣，使原校驗子圖樣對應(yīng)的錯誤多項式向接收的碼多項式的低次方 向循環(huán)移位，乂人而可以靈活適應(yīng)縮短循環(huán)碼縮短長度的變換，并易于并行計算。
實施例一
本實施例以CRC-CCITT碼作糾檢錯應(yīng)用、并行計算16位、且輸入包的比 特數(shù)N能被16整除為例，介紹本發(fā)明實施例提供的糾檢錯方法。請參閱圖4， 圖4為本發(fā)明實施例提供一種譯碼方法的實現(xiàn)示意圖。如圖4所示，校驗子生成 電路中CRC-CCITT碼的生成多項式為g("二x"+x'2+x5+];反生成多項式 電路中的反生成多項式為二 g(x-"xx16 二 x'6 + x11 + x4 +1 。
如圖4所示，開始工作時，校驗子生成電路中的寄存器清空為O，門1打開， 開關(guān)K斷開。當(dāng)一個包輸入完畢時，計算得到校驗子圖樣4:c)，門1閉合，且使 緩沖器停止移動；開關(guān)K打開，校驗子生成電路的原校驗子圖樣s(x)送到下面 的反生成多項式電路中，隨即開關(guān)K關(guān)閉，且校驗子生成電路中的寄存器清空 為0。這時，門l再次打開，緩存器一邊送出當(dāng)前包的數(shù)據(jù)， 一邊接收下一包的 數(shù)據(jù)。與此同時，校驗子生成電路計算下一包接收數(shù)據(jù)的校驗子，而下面的基 于生成多項式的反多項式電路則開始運(yùn)轉(zhuǎn)，數(shù)門同時輸出，當(dāng)基于生成多項式 的反多項式電路中的寄存器的數(shù)值之和等于1時(1為CRC-CCITT碼的可糾正 的錯誤個數(shù))，數(shù)門輸出電路寄存器的值；反之，數(shù)門輸出序列為全零。緩存器中的接收碼序列的倒序和數(shù)門輸出電路寄存器的值進(jìn)行模二加, 假設(shè)校驗子生成電路在第w拍譯碼時刻的并行計算等式為
<formula>formula see original document page 11</formula>其中，拍數(shù)"=0, 1,…，N/16-l (N為輸入包的比特數(shù))，每一拍的處理 等效于圖4所示的才吏驗子生成電3各運(yùn)轉(zhuǎn)16次；ZT-'[(]表示上一拍(即第"-l拍) 譯碼時刻的校正子生成電路中寄存器里的值，即有= (,' = 0,1,…，15)。 似[/](/ = 0，1,...，15)是并行計算的中間處理結(jié)果；則在第"拍譯碼時刻，計算 所得的校驗子生成電路中的寄存器里的新值為/)"[/]=《"*16 + (15-/')]@〃[/]， (/ = 0，1，...,15)，其中，"[/]() = 0，1,...#-1)是接收到的碼字序列的值。
需要說明的是，上述校驗子生成電路并行計算獲取原校驗子圖樣是現(xiàn)有技 術(shù)，是本領(lǐng)域普通技術(shù)人員所熟悉的，本發(fā)明實施例在此不做進(jìn)一步推導(dǎo)。
當(dāng)校驗子生成電路轉(zhuǎn)了 N/16拍后，所生成的校驗子圖樣將輸入到基于生成 多項式的反多項式電路中，等式為<formula>formula see original document page 12</formula> (6)
假設(shè)
<formula>formula see original document page 12</formula>(7)
是基于生成多項式的反多項式電路運(yùn)轉(zhuǎn)完第附拍時，其寄存；
D, (/' = 0， 1,...， 15)的值，初始值為c-1 [z] (/二 0， 1，…,15)。則數(shù)門輸出的對錯誤
圖樣的估計等式為
<formula>formula see original document page 12</formula>(8)
數(shù)門判斷第附-l拍時刻所述基于生成多項式的反多項式電路的寄存器內(nèi) 的數(shù)值之和是否等于l，如果是，則輸出與寄存器內(nèi)的校驗子圖樣對應(yīng)的錯誤 圖樣；如果否，則輸出全零序列。所述緩存器中的接收碼序列的倒序和所述錯 誤圖樣進(jìn)行模二加的得到糾錯后碼序列的等式為
<formula>formula see original document page 12</formula>(9)
其中= 0，1"..^-1)是接收到的碼字序列的值，/[y'](7' = 0,l，...W-l)是 進(jìn)行糾錯后的碼字序列的值。假i!A^U6， /取0時，等式(9)為
<formula>formula see original document page 12</formula> ( 10)
即是實現(xiàn)了緩存器中的接收碼序列的倒序與錯誤圖樣進(jìn)行模二加得到糾錯后 碼序列。其中，所述基于生成多項式的反多項式電路循環(huán)運(yùn)轉(zhuǎn)完第柳拍時，得 到其寄存器D,. (/ = 0,1,...,15)的值^"[/]的并行計算等式為<formula>formula see original document page 13</formula>
需要說明的是，電路先進(jìn)行數(shù)門判決，得到數(shù)門輸出圖樣。接收的碼序列 的倒序和數(shù)門輸出圖樣進(jìn)行模二加，完成當(dāng)前拍的糾錯。同時，基于生成多項 式的反多項式電路將并行計算一拍，得到校驗子圖樣，為下一拍的糾錯作準(zhǔn)備。 直到整個包的序列譯碼完畢后，沒有出現(xiàn)可識別的4告誤圖樣，則輸出不可糾指 示。當(dāng)前包譯碼完畢后，所述寄存器重新接收校驗子生成電路輸入的下一個包 的原校驗子圖樣。
本發(fā)明實施例基于生成多項式的反多項式電路的應(yīng)用，等效于原校驗子圖 樣對應(yīng)的錯誤多項式向接收的碼多項式的低次方向循環(huán)移位，且將與所述接收 的碼多項式的低位出錯時的校驗子圖樣對應(yīng)的錯誤圖樣作為識別電路的圖樣， 從而可以靈活適應(yīng)縮短循環(huán)碼縮短長度的變換，并易于并行計算。
實施例二
本實施例還是以CRC-CCITT碼作糾檢錯應(yīng)用、并行計算16位、且輸入包 的比特數(shù)N能被16整除為例，介紹本發(fā)明實施例提供的糾檢錯方法。請參閱圖 5，圖5為本發(fā)明實施例提供又一種譯碼方法的實現(xiàn)示意圖。圖5所示的本發(fā)明 實施例二提供的譯碼方法的實現(xiàn)示意圖與圖4所示的本發(fā)明實施例一提供的譯 碼方法的實現(xiàn)示意圖的不同之處在于圖4將接收到的碼多項式從校驗子生成 電路的低位輸入；圖5將接收到的碼多項式從校驗子生成電路的高位輸入。如圖5所示，校驗子生成電路中CRC-CCITT碼的生成多項式為 g(:c)=,+x12+x5+l ;反生成多項式電路中的反生成多項式為<formula>formula see original document page 14</formula>首先，布1設(shè)似[,']={"*16 + (15-/)] /)"-'[/] (/ = 0，1,...,15) (l]) 其中，拍數(shù)"=0， 1, N/16-1 (N為輸入包的比特數(shù))，每一拍的處理等效 于圖5所示的校驗子生成電路循環(huán)運(yùn)轉(zhuǎn)16次。ZT"'[,']表示上一拍(第"-l拍)譯 碼時刻的校驗子生成電路中寄存器里的值，即有D"-'[(^D, (,' = 0,1,...,15);而 M[d(^0,l,…，15)是并行計算的中間處理結(jié)果，r[./](./ = 0,l，...W-l)是接收到的碼 字序列的值。
則在第w拍譯碼時刻，計算所得的校驗子生成電路中寄存器里的新的值
為
<formula>formula see original document page 14</formula>需要說明的是，上述校驗子生成電路并行計算獲取原校驗子圖樣是現(xiàn)有技 術(shù)，是本領(lǐng)域普通技術(shù)人員所熟悉的，本發(fā)明實施例在此不做進(jìn)一步推導(dǎo)。
當(dāng)校驗子生成電路轉(zhuǎn)了 iV/16拍后，所生成的原校驗子圖樣將輸入到基于 生成多項式的反多項式電路中，等式為<formula>formula see original document page 15</formula>
(12)
假設(shè)
<formula>formula see original document page 15</formula>
(13)
是基于生成多項式的反多項式電路運(yùn)轉(zhuǎn)完第w拍時，其寄存器 0,(/ = 0,1,...,15)的值。初始值為c-'[,]G二0,1，…，15)。
其中，所述基于生成多項式的反多項式電路運(yùn)轉(zhuǎn)完第附拍時，并行計算其
寄存器A
c
c' c'
c' r c'"
=0,1,...，15)的值的等式為
:C"'
'[12] Cm '[13] Cm '[14]④C"
'[10] C"; '[11]十C"'
'[13]④C"
1 [12] C" 1 [13] C"
1 [5] C"
8] C" C" '[5]十C" [6] C"
0] Cm-'[2] '[4]④f [3] —1 [5]④C'"'[爭C"
10] Cm_'[8] C' [5]④f [4〗 C -1
6]十C"'-' [5] C'"-1 [1]
7][6] C"'-1 [2] Cm-' [1] 8] Cm-' [7] C -1 [3]十C"'-' [2]十C -' 9]十C'" [8]十C -1 j4] C -1 [3]十Cm-1 10] C"'-1 [9] C"'-' [5] C"'-' [4] Cm-11] Cm-1 [10] @ Cm-1 [6] Cffl-1 [5] Cw 7]④C"'-1 [2] @ C"'-1
8]十C"-'[3]十C"-1 [1] 9] C'"-' [4] C"'-1 [2] 10] C'"-1 [5] Cm-' [3] C"'-1
則數(shù)門輸出的對錯誤圖樣的估計等式為
<formula>formula see original document page 15</formula>
(14)
<formula>formula see original document page 15</formula> 數(shù)門判斷第m拍時刻所述基于生成多項式的反多項式電路的寄存器的數(shù)值之和是否等于l,如果是，則輸出與寄存器內(nèi)的校驗子圖樣對應(yīng)的錯誤圖樣； 如果否，則輸出全零序列。所述緩存器中的接收碼多項式的倒序與錯誤圖樣進(jìn)
行模二加的得到糾錯后碼序列的等式為
卩 W) (15)
L 16 J
其中4/](/ = 0，1，...^-l)是接收到的碼字序列的值，/[7'](./ = 0,1,...#-1)是進(jìn) 行糾錯后的碼字序列的值。假i5JV^16, /取0時，等式(14)為
/[15] = 415]@e'
(16) 即是實現(xiàn)了緩存器中的接收碼多項式的倒序與錯誤圖樣進(jìn)行模二加得到糾錯 后碼序列。
需要說明的是，每一拍的運(yùn)轉(zhuǎn)先是基于生成多項式的反多項式電路將并行 計算一拍，得到原校驗子循環(huán)移位后對應(yīng)的校驗子圖樣；然后電路再進(jìn)行數(shù)門 判決，得到數(shù)門輸出圖樣。接收的碼序列的倒序與數(shù)門輸出圖樣進(jìn)行才莫二加， 完成當(dāng)前拍的糾錯。直到整個包的序列譯碼完畢后，沒有出現(xiàn)可識別的錯誤圖 樣，則輸出不可糾指示。當(dāng)前包譯碼完畢后，所述寄存器重新接收校驗子生成 電路輸入的下一個包的原校驗子圖樣。
本發(fā)明實施例基于生成多項式的反多項式電路的應(yīng)用，將所述接收的碼多 項式的低次位出錯時的校驗子圖樣對應(yīng)的錯誤圖樣作為識別電路的圖樣，使原 校驗子圖樣對應(yīng)的錯誤多項式向接收的碼多項式的低次方向循環(huán)移位，從而可 以靈活適應(yīng)縮短循環(huán)碼縮短長度的變換，并易于并行計算。
以上結(jié)合具體的實施例對本發(fā)明實施例提供的譯碼方法進(jìn)行了詳細(xì)的介 紹。上述基于生成多項式的反多項式電路還適用于循環(huán)碼與縮短循環(huán)碼的梅吉 特譯碼、捕錯譯碼及其修正算法中。而且，應(yīng)用了基于生成多項式的反多項式 電路以及捕錯譯碼，還可易于實現(xiàn)電路的并行計算。如當(dāng)循環(huán)碼(n, k)的糾 錯能力，l時，把4射吳圖樣識別電路的判據(jù)設(shè)為校驗子圖樣重量是否等于1,所 述校驗子圖樣重量為電路中寄存器的數(shù)值之和；即可支持小于等于n-k位的并 行計算，從而也解決了現(xiàn)有梅吉特譯碼器難以實現(xiàn)并行計算的問題。
實施例三請參閱圖6，圖6為本發(fā)明實施例4是供的一種i奪碼器的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖6 所示的譯碼器具體可以包括
原校驗子生成單元601,用于接收碼多項式，將所述碼多項式對預(yù)先設(shè)定 的生成多項式進(jìn)行求模，獲取原校驗子圖樣。
基于生成多項式的反多項式的電路單元602,用于接收所述原校驗子圖樣 并運(yùn)轉(zhuǎn)，原校驗子圖樣對應(yīng)的錯誤多項式向所述接收的碼多項式的低次方向循 環(huán)移位；確定4普誤圖樣并輸出。
緩存器603,用于接收碼多項式，并輸出。
糾錯單元604，用于將緩存器輸出的碼多項式的倒序和基于生成多項式的 反多項式的電路單元602輸出的錯誤圖樣進(jìn)行模二加。
其中，所述基于生成多項式的反多項式的電路單元602可以包括
反多項式單元605,用于接收原校驗子生成單元輸入的原校驗子圖樣并運(yùn) 轉(zhuǎn)；原校驗子圖樣對應(yīng)的錯誤多項式向所述接收的碼多項式的低次方向循環(huán)移 位，得到循環(huán)移位后的校驗子圖樣。
數(shù)門判決單元606,用于判斷所述基于生成多項式的反多項式的電路中的 寄存器的數(shù)值之和是否小于等于所述接收的碼多項式的可糾正錯誤個數(shù)，如果 是，則輸出循環(huán)移位后的校驗子圖樣對應(yīng)的錯誤圖樣。
所述糾錯單元604還用于根據(jù)基于生成多項式的反多項式的電路的寄存器 的圖樣確定錯誤圖樣，判斷是否出現(xiàn)可識別的4普誤圖樣，如果否，則輸出不可 糾指示。
短循環(huán)碼的梅吉特譯碼、捕錯譯碼及其修正算法中，易于實現(xiàn)并行計算。
根據(jù)本發(fā)明實施例提供的譯碼方法可知，開始時原校驗子生成單元6(M和 緩存器603同時接收到碼多項式/"(x)，原才交驗子生成單元601才艮據(jù)所述的生成多
項式g(x)和碼多項式r(x)計算原校驗子圖樣^(x)并代入基于生成多項式的反
多項式的電路單元602;所述基于生成多項式的反多項式的電路單元602的反多 項式單元605進(jìn)行運(yùn)轉(zhuǎn)，等效于所述原校驗子圖樣對應(yīng)的錯誤多項式向低次方 向循環(huán)移位；得到循環(huán)移位后的錯誤圖樣對應(yīng)的校驗子圖樣；數(shù)門判決單元606 判斷基于生成多項式的反多項式的電路單元602的寄存器內(nèi)的數(shù)值之和是否等于l,如果是，則輸出與寄存器內(nèi)的校驗子圖樣對應(yīng)的錯誤圖樣；如果否則輸 出全零序列；糾錯單元604將緩存器603輸出的碼多項式的倒序和數(shù)門判決單元 606輸出的錯誤圖樣進(jìn)行模二加，糾正錯誤。
需要說明的是，本發(fā)明實施例以數(shù)門判決的方法進(jìn)行錯誤圖樣的識別，該
法易于并行計算，但本領(lǐng)域的技術(shù)人員也可以用其他方法代替，本發(fā)明實施例 在此不作限定。
上述介紹了本發(fā)明實施例提供的一種譯碼器，基于生成多項式的反多項式 電路的應(yīng)用，使原校驗子圖樣對應(yīng)的錯誤多項式向接收的碼多項式的低次方向 循環(huán)移位，將所述接收的碼多項式的低位出錯時的校驗子圖樣對應(yīng)的錯誤圖樣 作為識別電路的圖樣，從而可以靈活適應(yīng)縮短循環(huán)碼縮短長度的變換，并易于
并行計算。 實施例四
上述分別介紹了本發(fā)明實施例提供的譯碼方法和譯碼器，下面介紹本發(fā)明 實施例^是供的一種編譯碼系統(tǒng)。所述系統(tǒng)可以包括譯碼器，與編碼器以可通信 方式連接，
所述譯碼器，所述譯碼器，用于接收碼多項式，將所述碼多項式對預(yù)先設(shè) 定的生成多項式進(jìn)行求模，獲取原校驗子圖樣；
將所述原校驗子圖樣代入基于生成多項式的反多項式的電路中運(yùn)轉(zhuǎn)，原校 驗子圖樣對應(yīng)的錯誤多項式向所述接收的碼多項式的低次方向循環(huán)移位；由電 路的寄存器圖樣確定錯誤圖樣，并輸出；
將所述接收到的碼多項式的倒序和所述輸出的錯誤圖樣和進(jìn)行模二加。
其中，根據(jù)所述基于生成多項式的反多項式的電路的寄存器的圖樣無法識 別錯誤圖樣，則輸出不可糾指示。
其中，所述基于生成多項式的反多項式電路還可以應(yīng)用于循環(huán)碼與縮短循 環(huán)碼的梅吉特譯碼、捕錯譯碼及其修正算法中，易于實現(xiàn)并行計算。
本發(fā)明實施例提供的編譯碼系統(tǒng)是基于生成多項式的反多項式的應(yīng)用，將 所述接收的碼多項式的低位出錯時的校驗子圖樣對應(yīng)的錯誤圖樣作為識別電 路的圖樣，使原校驗子圖樣對應(yīng)的錯誤多項式向碼多項式的低次方向循環(huán)移 位，從而可以靈活適應(yīng)縮短循環(huán)碼縮短長度的變換，并易于并行計算。以上對本發(fā)明實施例所提供的譯碼方法、裝置和編譯碼系統(tǒng)進(jìn)行了詳細(xì)介
述，以上實施例的說明只是用于幫助理解本發(fā)明實施例的方法及其核心思想； 同時，對于本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員，依據(jù)本發(fā)明實施例的思想，在具體實施方 式及應(yīng)用范圍上均會有改變之處，綜上所述，本說明書內(nèi)容不應(yīng)理解為對本發(fā) 明實施例的限制。
權(quán)利要求
1、一種譯碼方法，其特征在于，包括接收碼多項式，將所述碼多項式對預(yù)先設(shè)定的生成多項式進(jìn)行求模，獲取原校驗子圖樣；將所述原校驗子圖樣代入基于生成多項式的反多項式的電路運(yùn)轉(zhuǎn)，原校驗子圖樣對應(yīng)的錯誤多項式向所述接收的碼多項式的低次方向循環(huán)移位，確定錯誤圖樣；將所述接收的碼多項式的倒序和錯誤圖樣進(jìn)行模二加。
2、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的方法，其特征在于，所述將碼多項式對預(yù)先設(shè)定 的生成多項式進(jìn)行求模，獲取原校驗子圖樣包括將所述接收的碼多項式除以所述預(yù)先設(shè)定的生成多項式并取余式，得到原 校驗子圖樣；所述接收的碼多項式由編碼端發(fā)送的碼多項式和傳輸過程中產(chǎn)生的錯誤 多項式模二加而成。
3、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的方法，其特征在于，所述將原校驗子圖樣代入基 于生成多項式的反多項式的電路運(yùn)轉(zhuǎn)，原校驗子圖樣對應(yīng)的錯誤多項式向所述 接收的碼多項式的低次方向循環(huán)移位，確定錯誤圖樣包括將所述原校驗子圖樣代入基于生成多項式的反多項式的電路；所述反多項 式是將所述預(yù)先設(shè)定的生成多項式的系數(shù)逆置得到的；原校驗子圖樣在基于生成多項式的反多項式的電路中運(yùn)轉(zhuǎn)；電路的寄存器 圖樣是原校驗子圖樣對應(yīng)的錯誤多項式向接收的碼多項式的低次方向循環(huán)移 位后得到的校驗子圖樣；對基于生成多項式的反多項式的電路的寄存器圖樣進(jìn)行識別，從而得到對 應(yīng)的錯誤圖樣。
4、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述對基于生成多項式的反 多項式的電路的寄存器圖樣進(jìn)行識別，從而得到對應(yīng)的錯誤圖樣包括判斷構(gòu)成所述基于生成多項式的反多項式的電路的寄存器的數(shù)值之和是 否小于等于所述接收的碼多項式的可糾正錯誤個數(shù)，如果是，則輸出循環(huán)移位 后的校驗子圖樣對應(yīng)的錯誤圖樣。
5、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法包括所述生成多項式底數(shù)不變，指數(shù)取反，得到指數(shù)為負(fù)值的生成多項式；所述生成多項式指數(shù)最高項乘以所述指數(shù)為負(fù)值的生成多項式得到所述 生成多項式的反多項式。
6、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的方法，其特征在于，所述方法還包括 判斷在譯碼過程中是否出現(xiàn)可識別的錯誤圖像，如果是，則將所述接收的碼多項式的倒序和錯誤圖樣進(jìn)行模二加。
7、 一種譯碼器，其特征在于，包括原校驗子生成單元，用于接收碼多項式，將所述碼多項式對預(yù)先設(shè)定的生 成多項式進(jìn)行求模，獲取原校驗子圖樣；基于生成多項式的反多項式的電路單元，用于接收所述原校驗子圖樣并運(yùn) 轉(zhuǎn)，原校驗子圖樣對應(yīng)的錯誤多項式向所述接收的碼多項式的低次方向循環(huán)移 位；確定4普誤圖樣并輸出；緩存器，用于接收碼多項式，并輸出；糾錯單元，用于將緩存器輸出的碼多項式的倒序和基于生成多項式的反多 項式的電路單元輸出的錯誤圖樣進(jìn)行模二加。
8、 根據(jù)權(quán)利要求7所述的譯碼器，其特征在于，所述糾錯單元還用于根據(jù) 基于生成多項式的反多項式的電路的寄存器的圖樣判斷是否出現(xiàn)可識別的錯 誤圖樣，如果否，則輸出不可糾指示。
9、 根據(jù)權(quán)利要求7所述的譯碼器，其特征在于，所述基于生成多項式的反 多項式的電路單元包括反多項式單元，用于接收原校驗子生成單元輸入的原校驗子圖樣并運(yùn)轉(zhuǎn)； 原校驗子圖樣對應(yīng)的錯誤多項式向所述接收的碼多項式的低次方向循環(huán)移位， 得到循環(huán)移位后的校驗子圖樣；數(shù)門判決單元，用于判斷所述基于生成多項式的反多項式的電路中的寄存 器的數(shù)值之和是否小于等于所述接收的碼多項式的可糾正錯誤個數(shù)，如果是， 則輸出循環(huán)移位后的校驗子圖樣對應(yīng)的錯誤圖樣。
10、 一種編譯碼系統(tǒng)，包括譯碼器，與編碼器以可通信方式連接，其特征在于，所述譯碼器，用于接收碼多項式，將所述碼多項式對預(yù)先設(shè)定的生成多項式進(jìn)行求模，獲取原校驗子圖樣；將所述原校驗子圖樣代入基于生成多項式的反多項式的電路中運(yùn)轉(zhuǎn)，原校驗子圖樣對應(yīng)的錯誤多項式向所述接收的碼多項式的低次方向循環(huán)移位；由電 路的寄存器圖樣確定錯誤圖樣，并輸出；將所述接收到的碼多項式的倒序和所述輸出的錯誤圖樣和進(jìn)行模二加。
全文摘要
本發(fā)明實施例公開了一種譯碼方法、裝置和編譯碼系統(tǒng)。該方法包括接收碼多項式，將所述碼多項式對預(yù)先設(shè)定的生成多項式進(jìn)行求模，獲取原校驗子圖樣；將所述原校驗子圖樣代入基于生成多項式的反多項式的電路運(yùn)轉(zhuǎn)，原校驗子圖樣對應(yīng)的錯誤多項式向所述接收的碼多項式的低次方向循環(huán)移位，確定錯誤圖樣；將所述接收的碼多項式的倒序和錯誤圖樣進(jìn)行模二加。該裝置包括原校驗子生成單元、基于生成多項式的反多項式的電路單元、緩存器和糾錯單元。本發(fā)明實施例提供的方法、裝置和編譯碼系統(tǒng)可靈活適應(yīng)縮短循環(huán)碼縮短長度的變化，并易于實現(xiàn)并行計算。
文檔編號H03M13/00GK101409565SQ20081004261
公開日2009年4月15日 申請日期2008年9月4日 優(yōu)先權(quán)日2008年9月4日
發(fā)明者方冬梅 申請人:上海華為技術(shù)有限公司