專利名稱：Ask/ook調(diào)制模式檢波電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及信號(hào)處理技術(shù)，尤其是射頻接收領(lǐng)域的信號(hào)處理。
背景技術(shù)：
ASK/OOK調(diào)制模式接收電路如圖1所示，ASK/OOK調(diào)制模式的射頻信號(hào)由接收端天 線接收，然后將天線接收到的射頻信號(hào)通過低噪聲放大器放大，再經(jīng)過混頻器混頻輸出中 頻信號(hào)，中頻信號(hào)經(jīng)過中頻放大器放大，中頻放大器放大器輸出的差分信號(hào)一 VIN1和差分 信號(hào)二VIN2輸入到檢波解調(diào)模塊，通過檢波解調(diào)出被調(diào)制在射頻上的信號(hào)。在檢波調(diào)制的 過程中一般要需要進(jìn)行峰值檢波，峰值檢波提取出信號(hào)峰值和噪聲峰值，然后比較信號(hào)峰 值和噪聲峰值，最后解調(diào)出被調(diào)制的信號(hào)。 檢波解調(diào)模塊如圖2所示，包括雙端輸入轉(zhuǎn)單端輸出模塊、單端峰值檢波模塊、低 通濾波器和取平均值模塊和比較器，將差分信號(hào)一 VIN1和差分信號(hào)二 VIN2轉(zhuǎn)換成單端信 號(hào)A，單端信號(hào)A經(jīng)過單端峰值檢波模塊取出包含ASK/00K調(diào)制信號(hào)的峰值包絡(luò)信號(hào)B，峰 值包絡(luò)信號(hào)B具有一定的紋波，低通濾波器濾除峰值包絡(luò)信號(hào)B的紋波得到去紋波信號(hào)C， 同時(shí)峰值包絡(luò)信號(hào)B經(jīng)過取平均值模塊取出峰值包絡(luò)信號(hào)B的平均值信號(hào)D，然后去紋波信 號(hào)C和平均值信號(hào)D通過比較器比較得到解調(diào)出來的被調(diào)制信號(hào)E。 如圖3所示為傳統(tǒng)的檢波電路檢波前后波形示意圖，該圖中去紋波信號(hào)C和平均 值信號(hào)D的差值信號(hào)AVI較小，導(dǎo)致整個(gè)接收前端靈敏度偏低，在低噪聲放大器、混頻器、 中頻放大器前幾級(jí)模塊電路噪聲和增益一定的情況下，如果需要再進(jìn)一步提高靈敏度，則 需要優(yōu)化檢波電路。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明旨在解決現(xiàn)有檢波技術(shù)的不足，提供一種可提高接收電路靈敏度的ASK/ OOK調(diào)制模式檢波電路。 ASK/OOK調(diào)制模式檢波電路，包括整流模塊、單端峰值檢波模塊、低通濾波器、取平 均值模塊以及比較器，將輸入的差分信號(hào)一 VIN1和差分信號(hào)二 VIN2通過整流模塊整流并 且轉(zhuǎn)換成單端信號(hào)A2，單端信號(hào)A2經(jīng)過單端峰值檢波模塊取出包含ASK/00K調(diào)制信號(hào)的峰 值包絡(luò)信號(hào)B2，峰值包絡(luò)信號(hào)B2具有一定的紋波，低通濾波器濾除峰值包絡(luò)信號(hào)B2的紋波 得到去紋波信號(hào)C2，同時(shí)峰值包絡(luò)信號(hào)B2經(jīng)過取平均值模塊取出峰值包絡(luò)信號(hào)B2的平均 值信號(hào)D2，然后去紋波信號(hào)C2和平均值信號(hào)D2通過比較器比較得到解調(diào)出來的被調(diào)制信 號(hào)E。 所述的整流模塊，包括第一 NMOS晶體管Ml和第二 NMOS晶體管M2和電流源，所述 電流源提供電流偏置信號(hào)Iss，第一NMOS晶體管M1和第二NMOS晶體管M2的源極連接電 流源Iss的一端，電流源Iss的另外一端接地；第一 NM0S晶體管Ml和第二 NM0S晶體管M2 的漏極連接在電源VDD上；第一 NM0S晶體管Ml和第二 NM0S晶體管M2的柵極分別接中頻 放大器輸出的差分信號(hào)一 VIN1和差分信號(hào)二 VIN2，第一 NMOS晶體管Ml和第二 NMOS晶體管M2的源極作為整流模塊的輸出端VOUT并連接到單端峰值檢波模塊。 ASK/OOK調(diào)制模式檢波電路的整流電路輸入差分信號(hào)一 VIN1和差分信號(hào)二VIN2，
當(dāng)差分信號(hào)一 VIN1為高，差分信號(hào)二 VIN2為低時(shí)，第一 NMOS晶體管Ml導(dǎo)通，第二 NMOS晶
體管M2截止，整流模塊的輸出端VOUT輸出的交流信號(hào)等于差分信號(hào)一 VIN1 ;當(dāng)差分信號(hào)
一 VIN1為低，差分信號(hào)二 VIN2為高時(shí)，第二 NMOS晶體管M2導(dǎo)通，第一 NMOS晶體管Ml截
止，整流模塊的輸出端VOUT輸出的交流信號(hào)等于差分信號(hào)二 VIN2 ;整流模塊的輸出端VOUT
輸出的VOUT交流信號(hào)為差分信號(hào)一 VIN1和差分信號(hào)二 VIN2正半周期信號(hào)的疊加，ASK/
OOK調(diào)制模式檢波電路的整流電路同時(shí)也實(shí)現(xiàn)了雙端輸入到單端輸出的轉(zhuǎn)換，對(duì)于后面的
單端峰值檢波模塊，不需要采用額外的雙端轉(zhuǎn)單端的電路。 另外，電路也可以有其他的實(shí)現(xiàn)形式，例如晶體管采用雙極型的等。 本發(fā)明的有益效果在于ASK/OOK調(diào)制模式檢波電路在檢波輸入增加一個(gè)整流電
路，增大單端峰值檢波模塊檢波出來的包絡(luò)信號(hào)B2(或者去紋波信號(hào)C2)中信號(hào)峰值和噪
聲峰值的峰值差，最終有效改善接受前端靈敏度。同時(shí)，如圖6所示，由于整流電路的存在，
峰值檢波的單位時(shí)間里，中頻信號(hào)的峰值出現(xiàn)的個(gè)數(shù)加倍，單位時(shí)間檢測(cè)到的峰值多，導(dǎo)致
峰值包絡(luò)信號(hào)B2增大，進(jìn)而去紋波信號(hào)C2和平均值信號(hào)D2差值信號(hào)A V2增大，而噪聲部
分因?yàn)樵肼曨l譜本身就是分布在每個(gè)頻段，檢波的時(shí)間常數(shù)相對(duì)較大，檢波到的噪聲的峰
值包絡(luò)信號(hào)基本上就是等于噪聲信號(hào)本身的峰值，整流對(duì)噪聲的峰值包絡(luò)信號(hào)大小沒有影
響。綜上，本發(fā)明通過整流電路提高了中頻信號(hào)部分的峰值包絡(luò)電壓，而噪聲峰值包絡(luò)的電
壓不變，這樣信號(hào)部分的峰值包絡(luò)和噪聲部分的峰值包絡(luò)的電壓差A(yù) V2就會(huì)變大，提高了
信噪比，有利于后面的比較器比較；進(jìn)一步，對(duì)于同一個(gè)比較器而言，因?yàn)檎髑暗姆逯蛋?br> 絡(luò)和噪聲部分的峰值包絡(luò)的電壓差A(yù)V1小于整流后的峰值包絡(luò)和噪聲部分的峰值包絡(luò)的
電壓差A(yù) V2，所以輸入信號(hào)VIN1和VIN2可以更小，也就是天線接收到更小信號(hào)的時(shí)候，接
收電路還能解調(diào)出來，提高了整個(gè)接收前端的靈敏度。同時(shí)，整流電路實(shí)現(xiàn)差分信號(hào)轉(zhuǎn)單端
信號(hào)的功能，可以節(jié)省電路成本。


圖1ASK/00K調(diào)制模式接收電路結(jié)構(gòu)圖 圖2ASK/00K調(diào)制模式接收電路中的檢波解調(diào)模塊結(jié)構(gòu)圖 圖3傳統(tǒng)的檢波電路檢波前后波形示意圖 圖4本發(fā)明提出的ASK/00K調(diào)制模式檢波電路結(jié)構(gòu)圖 圖5本發(fā)明提出的ASK/00K調(diào)制模式檢波電路的整流模塊電路圖 圖6本發(fā)明的的ASK/00K調(diào)制模式檢波電路檢波前后波形示意圖 圖7本發(fā)明提出的ASK/00K調(diào)制模式檢波電路的整流模塊電路圖 圖8本發(fā)明提出的ASK/00K調(diào)制模式檢波電路的整流模塊電路圖
具體實(shí)施例方式
ASK/00K調(diào)制模式檢波電路，如圖4所示，包括整流模塊(21)、單端峰值檢波模塊 (22)、低通濾波器(23)、取平均值模塊(24)以及比較器(25)，將輸入的差分信號(hào)一VIN1和 差分信號(hào)二VIN2通過整流模塊(21)整流并且轉(zhuǎn)換成單端信號(hào)A2，單端信號(hào)A2經(jīng)過單端峰值檢波模塊(22)取出包含ASK/00K調(diào)制信號(hào)的峰值包絡(luò)信號(hào)B2，峰值包絡(luò)信號(hào)B2具有一 定的紋波，低通濾波器濾除峰值包絡(luò)信號(hào)B2的紋波得到去紋波信號(hào)C2，同時(shí)峰值包絡(luò)信號(hào) B2經(jīng)過取平均值模塊取出峰值包絡(luò)信號(hào)B2的平均值信號(hào)D2，然后去紋波信號(hào)C2和平均值 信號(hào)D2通過比較器比較得到解調(diào)出來的被調(diào)制信號(hào)E。 所述的整流模塊如圖5所示，包括第一 NMOS晶體管Ml和第二 NMOS晶體管M2和 電流源，所述電流源提供電流偏置信號(hào)Iss，第一 NMOS晶體管Ml和第二 NMOS晶體管M2的 源極連接電流源Iss的一端，電流源Iss的另外一端接地；第一NM0S晶體管M1和第二NM0S 晶體管M2的漏極連接在電源VDD上；第一 NM0S晶體管Ml和第二 NMOS晶體管M2的柵極分 別接中頻放大器輸出的差分信號(hào)一 VIN1和差分信號(hào)二 VIN2，第一 NM0S晶體管Ml和第二 NMOS晶體管M2的源極作為整流模塊(21)的輸出端VOUT并連接到單端峰值檢波模塊(22)。
ASK/00K調(diào)制模式檢波電路的整流電路(21)差分信號(hào)一 VIN1和差分信號(hào)二 VIN2，如圖5(a)所示，整流輸出信號(hào)波形如圖5(b)所示。當(dāng)差分信號(hào)一 VIN1為高，差分信 號(hào)二 VIN2為低時(shí)，第一 NM0S晶體管Ml導(dǎo)通，第二 NM0S晶體管M2截止，整流模塊(21)的 輸出端V0UT輸出的交流信號(hào)等于差分信號(hào)一VIN1 ;當(dāng)差分信號(hào)一VIN1為低，差分信號(hào)二 VIN2為高時(shí)，第二NM0S晶體管M2導(dǎo)通，第一NM0S晶體管M1截止，整流模塊(21)的輸出端 V0UT輸出的交流信號(hào)等于差分信號(hào)二VIN2 ;整流模塊(21)的輸出端V0UT輸出的V0UT交 流信號(hào)為差分信號(hào)一 VIN1和差分信號(hào)二 VIN2正半周期信號(hào)的疊加，ASK/00K調(diào)制模式檢 波電路的整流電路(21)同時(shí)也實(shí)現(xiàn)了雙端輸入到單端輸出的轉(zhuǎn)換，對(duì)于后面的單端峰值 檢波模塊(22)，不需要采用額外的雙端轉(zhuǎn)單端的電路。 另外，電路也可以有其他的實(shí)現(xiàn)形式，例如晶體管采用雙極型等，如圖7和圖8。
上述實(shí)施例只是對(duì)本發(fā)明的說明，而不是對(duì)本發(fā)明的限制，任何不超出本發(fā)明實(shí) 質(zhì)精神范圍內(nèi)的非實(shí)質(zhì)性的替換或修改的發(fā)明創(chuàng)造均落入本發(fā)明保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
ASK/OOK調(diào)制模式檢波電路，其特征在于包括整流模塊、單端峰值檢波模塊、低通濾波器、取平均值模塊以及比較器，將輸入的差分信號(hào)一VIN1和差分信號(hào)二VIN2通過整流模塊整流并且轉(zhuǎn)換成單端信號(hào)A2，單端信號(hào)A2經(jīng)過單端峰值檢波模塊取出包含ASK/OOK調(diào)制信號(hào)的峰值包絡(luò)信號(hào)B2，峰值包絡(luò)信號(hào)B2具有一定的紋波，低通濾波器濾除峰值包絡(luò)信號(hào)B2的紋波得到去紋波信號(hào)C2，同時(shí)峰值包絡(luò)信號(hào)B2經(jīng)過取平均值模塊取出峰值包絡(luò)信號(hào)B2的平均值信號(hào)D2，然后去紋波信號(hào)C2和平均值信號(hào)D2通過比較器比較得到解調(diào)出來的被調(diào)制信號(hào)E。
2. 如權(quán)利要求1所述的ASK/OOK調(diào)制模式檢波電路，其特征在于整流模塊包括第一 NMOS晶體管M1和第二NMOS晶體管M2和電流源，所述電流源提供電流偏置信號(hào)Iss，第一 NMOS晶體管M1和第二NMOS晶體管M2的源極連接電流源Iss的一端，電流源Iss的另外一 端接地；第一 NM0S晶體管Ml和第二 NMOS晶體管M2的漏極連接在電源VDD上；第一 NMOS 晶體管M1和第二NM0S晶體管M2的柵極分別接中頻放大器輸出的差分信號(hào)一 VIN1和差 分信號(hào)二 VIN2，第一NM0S晶體管M1和第二NM0S晶體管M2的源極作為整流模塊的輸出端 V0UT并連接到單端峰值檢波模塊。
3. 如權(quán)利要求2所述的ASK/00K調(diào)制模式檢波電路，其特征在于當(dāng)差分信號(hào)一VIN1為 高，差分信號(hào)二 VIN2為低時(shí)，第一 NM0S晶體管Ml導(dǎo)通，第二 NM0S晶體管M2截止，整流模 塊的輸出端V0UT輸出的交流信號(hào)等于差分信號(hào)一VIN1 ;當(dāng)差分信號(hào)一VIN1為低，差分信 號(hào)二 VIN2為高時(shí)，第二 NM0S晶體管M2導(dǎo)通，第一 NM0S晶體管Ml截止，整流模塊的輸出端 V0UT輸出的交流信號(hào)等于差分信號(hào)二 VIN2 ;整流模塊的輸出端VOUT輸出的VOUT交流信號(hào) 為差分信號(hào)一 VIN1和差分信號(hào)二 VIN2正半周期信號(hào)的疊加。
全文摘要
本發(fā)明提供了ASK/OOK調(diào)制模式檢波電路，其中將輸入的差分信號(hào)一VIN1和差分信號(hào)二VIN2通過整流模塊整流并且轉(zhuǎn)換成單端信號(hào)A2，單端信號(hào)A2經(jīng)過單端峰值檢波模塊取出包含ASK/OOK調(diào)制信號(hào)的峰值包絡(luò)信號(hào)B2，峰值包絡(luò)信號(hào)B2具有一定的紋波，低通濾波器濾除峰值包絡(luò)信號(hào)B2的紋波得到去紋波信號(hào)C2，同時(shí)峰值包絡(luò)信號(hào)B2經(jīng)過取平均值模塊取出峰值包絡(luò)信號(hào)B2的平均值信號(hào)D2，然后去紋波信號(hào)C2和平均值信號(hào)D2通過比較器比較得到解調(diào)出來的被調(diào)制信號(hào)E。由于增加整流電路，有效改善接受前端靈敏度，同時(shí)可以節(jié)省電路成本。
文檔編號(hào)H03D1/18GK101714851SQ20091015384
公開日2010年5月26日 申請(qǐng)日期2009年11月16日 優(yōu)先權(quán)日2009年11月16日
發(fā)明者潘華兵, 胡鐵剛 申請(qǐng)人:杭州士蘭微電子股份有限公司