專利名稱：超快邊沿階躍脈沖發(fā)生方法及其發(fā)生器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電氣設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種用于特性阻抗測試儀的超快邊沿階
躍脈沖發(fā)生方法及其發(fā)生器。
背景技術(shù)：
時域反射計(Time Domain Ref lectometer， TDR)是一種重要的時域測試儀器，典型的TDR設(shè)備由寬帶取樣示波器外接高速階躍脈沖發(fā)生器組成，已經(jīng)廣泛應(yīng)用于PCB、 IC、電纜和連接器等測試領(lǐng)域。在線路板行業(yè)，TDR是檢測PCB走線特性阻抗是否符合設(shè)計要求的主要測試設(shè)備，通常被稱為特性阻抗測試儀。TDR設(shè)備最主要的性能指標(biāo)是系統(tǒng)上升時間T^，它代表TDR設(shè)備能發(fā)現(xiàn)或者感知的最小(即最短)的阻抗不連續(xù)距離的能力。系統(tǒng)上升時間(反射上升時間)由階躍脈沖的上升時間(入射上升時間)和取樣門的上升時間(示波器上升時間)共同決定 77 = t/j1.2 y ++J7'
丄， V i incident s<
,2
■sccpe( J ) 其中T^表示TDR反射上升時間，即TDR系統(tǒng)上升時間，也就是示波器實際測量的上升時間；Tin。idmt表示TDR入射上升時間，即階躍脈沖的上升時間；TS，表示TDR示波器上升時間。
TDR是通過測量脈沖信號的往返時間來間接測量距離的，可由下式給出
輸速率，
為
1 1 c
2 P 2{ (2)
F =
' (3)
「 {
式中T = TDR測量時間，L =距離脈沖發(fā)射點的距離，Vp =電信號在介質(zhì)中的傳e r = PCB板材介電常數(shù)，c =真空中的光速
將系統(tǒng)上升時間代入公式(2)，可得到TDR設(shè)備最小距離分辨率即最小可測長度
1 1 C
丄min = X T = 7 /~ X
2 2 v&
(4) 根據(jù)信號完整性理論，如果一個電信號從發(fā)射到經(jīng)由阻抗不連續(xù)點反射回來的時
間間隔小于入射電信號的上升時間，那么這部分的反射信號將會被正在上升的入射信號所
湮沒，這樣TDR也就無法分辨反射信號，也就是說TDR設(shè)備無法分辨該阻抗不連續(xù)點。所以一個階躍信號在被測件上傳輸時能分辨(或稱為感知)的最小的阻抗不連續(xù)距離為電信號在該階躍信號的上升時間內(nèi)在被測件上傳輸?shù)木嚯x。 在本發(fā)明實施例中，系統(tǒng)上升時間Tsys小于200ps，得到在本發(fā)明TDR設(shè)備理論最小距離分辨力是
3
, lCx; 1 200戸3xl()8油 30 &、丄M":^~= S-^-= ~^附附匸5J
特性阻抗測試儀在在空氣中"=1.0006)可測的最小長度是
r 30 30 ^
丄空氣mm = 了附W =/， ^八，腦- ( 6 )
/￡VI .0006
特性阻抗測試儀在普通FR4 ( e = 4) PCB上可測的最小長度是30
^ 4min =~77附附=15附附(7)在本發(fā)明實施例中，T，e已經(jīng)測定約為120pS，為使T^小于200pS，則要求T^dent
小于160ps。 除了上升時間，階躍脈沖的提前畸變(預(yù)沖)也可能會明顯影響TDR系統(tǒng)的分辨率，一般要求階躍脈沖的提前畸變盡可能的小。 入射脈沖的幅度是影響特性阻抗測量精度最重要的參數(shù)，幅度越高，測量的信噪比就越高， 一般的TDR入射脈沖的幅度都是數(shù)百毫伏。 綜上分析，基于TDR技術(shù)的特性阻抗測試儀要求能夠提供一種幅度較高、脈沖畸變較小、上升時間極快的超快邊沿階躍脈沖發(fā)生器。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是針對現(xiàn)有特性阻抗測試要求，提供一種新的能滿足TDR入射脈沖
信號要求的超快邊沿階躍脈沖發(fā)生方法，還提供一種采用該方法的超快邊沿階躍脈沖發(fā)生
器，使其上升時間小于160ps、幅度大于500mV、過沖小于10%。 為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案 超快邊沿階躍脈沖發(fā)生方法，它包括以下步驟 A、高精度的時鐘基準(zhǔn)源經(jīng)過分頻之后產(chǎn)生脈沖激勵信號； B、激勵信號激勵高速比較器產(chǎn)生一個較快邊沿的脈沖信號； C、對較快邊沿的脈沖信號的幅度進行放大和預(yù)整形； D、利用階躍恢復(fù)二極管的階躍恢復(fù)效應(yīng)，對經(jīng)過幅度調(diào)整之后脈沖信號的上升邊沿作進一步加速。 E、對輸出脈沖信號的波形進行整形和幅度控制；
F、將脈沖信號輸出。 其中，步驟A中所述時鐘基準(zhǔn)源是外部提供的時鐘或者是以脈沖源自帶的高穩(wěn)晶振作為時鐘。 步驟B中所述高速比較器對激勵信號邊沿進行一次加速，將激勵信號的上升/下降邊沿加速整形到納秒級。 步驟D中利用階躍恢復(fù)二極管的階躍恢復(fù)效應(yīng)，對經(jīng)過幅度調(diào)整之后脈沖信號的
上升邊沿作進一步加速，將激勵信號的上升/下降邊沿加速整形到皮秒級。 其中，步驟B中所述高速比較器產(chǎn)生脈沖信號的同時進行時間延遲，以便在延遲
時間之后通知取樣頭進行取樣以完成等效采樣。
其中，步驟E中利用肖特基二極管對輸出脈沖信號的波形進行整形。 本發(fā)明還公開了超快邊沿階躍脈沖發(fā)生器，它包括有依次連接的產(chǎn)生時鐘激勵信
號的時鐘基準(zhǔn)源、產(chǎn)生較快邊沿脈沖信號的高速比較器、對較快邊沿脈沖信號幅度進行放
大和預(yù)整形的脈沖幅度調(diào)整電路、脈沖上升邊沿加速電路和脈沖輸出接口 ，所述脈沖上升
邊沿加速電路利用階躍恢復(fù)二極管的階躍恢復(fù)效應(yīng)，對經(jīng)過幅度調(diào)整之后脈沖信號的上升
邊沿作進一步加速，同時對輸出脈沖信號的波形進行整形和幅度控制。 所述時鐘基準(zhǔn)源與高速比較器連接有用于控制控制脈沖源產(chǎn)生和停止脈沖的模擬開關(guān)。 所述高速比較器的輸出端連接有延遲芯片。 所述脈沖幅度調(diào)整電路包括有放大級電路，放大級電路的兩個輸入端分別通過傳輸線連接高速比較器的兩個輸出端，放大級電路連接恒流源。該差分放大器利用一個電流源來進行偏置，其優(yōu)點是發(fā)射極電流與P和基極的端接電阻的值無關(guān)，因此基極的端接電阻的大小不會影響偏置點的穩(wěn)定性。該恒流源由集成運算放大器U、三極管Q3、電容Cl、電阻R13、R14、R15、R16組成。 所述脈沖上升邊沿加速電路包括有三極管Q4、階躍恢復(fù)二極管SRD、電阻R19、電容C、瞬態(tài)抑制二極管D0、二極管D1、D2、D3、D4，SRD的陰極連接Q4的發(fā)射極，SRD的陽極分別連接電阻R19的一端和電容C的一端，電阻R19的另一端連接電源端+Vss，電容C的另一端接地；D1、D2、D3、D4串聯(lián)在Q4的發(fā)射極與脈沖輸出接口之間，DO與脈沖輸出接口并聯(lián)。
本發(fā)明有益效果為本發(fā)明由高精度的時鐘基準(zhǔn)源產(chǎn)生時鐘激勵信號，時鐘激勵信號進入脈沖源之后，激勵高速比較器產(chǎn)生一個較快邊沿的脈沖信號，由脈沖幅度調(diào)整電路對較快邊沿的脈沖信號的幅度進行放大和預(yù)整形，然后進入脈沖上升邊沿加速電路，利用階躍恢復(fù)二極管的階躍恢復(fù)效應(yīng)，對經(jīng)過幅度調(diào)整之后脈沖信號的上升邊沿作進一步加速，同時對輸出脈沖信號的波形進行整形和幅度控制，以達(dá)到特性阻抗測試儀對上升時間和幅度以及過沖的要求，最后由脈沖輸出接口進行輸出，輸出的脈沖上升時間約為150ps、幅度大于500mV、過沖小于10%、預(yù)沖可以忽略不計，能發(fā)現(xiàn)或者感知較小的阻抗不連續(xù)距離。


圖1是本發(fā)明超快邊沿階躍脈沖發(fā)生器的原理框 圖2是本發(fā)明激勵信號源輸入電路原理框 圖3是本發(fā)明高速比較器及其外圍電路原理 圖4是本發(fā)明脈沖源的放大級電路原理 圖5是本發(fā)明恒流電流源電路原理圖； 圖6是本發(fā)明階躍恢復(fù)二極管脈沖上升邊沿加速電路原理 圖7是本發(fā)明脈沖源的脈沖輸出波形。
具體實施例方式
下面結(jié)合附圖對本發(fā)明作進一步的說明，超快邊沿階躍脈沖發(fā)生方法，它包括以下步驟
5
A、由高精度的時鐘基準(zhǔn)源1產(chǎn)生時鐘激勵信號；脈沖源的激勵信號來自時鐘基準(zhǔn)源l，該時鐘基準(zhǔn)源1可以是外部提供的時鐘，也可以是脈沖源上自帶的高穩(wěn)晶振作為時鐘輸出。在高穩(wěn)晶振時鐘基準(zhǔn)的選擇上，本實施例是直接從外部引入lOOKHz的時鐘，當(dāng)然也可以是在板上裝一個20M的時鐘經(jīng)過分頻而得到lOOKHz的時鐘。 B、時鐘激勵信號進入脈沖源之后，激勵信號激勵高速比較器3產(chǎn)生一個較快邊沿的脈沖信號；在高速比較器3和時鐘輸出之間，在這里設(shè)計了一個模擬開關(guān)2，這樣就可以通過面板上的按鈕來控制脈沖源，何時產(chǎn)生脈沖。高速比較器3相當(dāng)于是對脈沖信號進行第一次加速，將激勵信號的上升/下降邊沿加速整形到納秒級，輸出上升時間在Ins左右，幅度為800mV的方波信號。高速比較器3產(chǎn)生脈沖信號的同時進行時間延遲，以便在延遲時間之后通知取樣頭進行取樣以完成等效采樣。 C、對較快邊沿的脈沖信號的幅度進行放大和預(yù)整形；高速比較器3輸出的方波信號將進入脈沖幅度調(diào)整電路4，對脈沖的幅度進行放大和預(yù)整形，將其幅度放大為3. 5V。
D、經(jīng)過了幅度調(diào)整之后的脈沖信號將進入脈沖邊沿加速電路，利用階躍恢復(fù)二極管的階躍恢復(fù)效應(yīng)，對經(jīng)過幅度調(diào)整之后脈沖信號的上升邊沿作進一步加速，同時利用肖特基二極管對輸出脈沖信號的波形進行整形和幅度控制，以達(dá)到特性阻抗測試儀對上升時間和幅度以及過沖的要求，最后由射頻連接器SMA接頭作為脈沖輸出接口 6進行輸出。輸出的脈沖上升時間為150ps、幅度大于500mV、過沖小于10%、預(yù)沖小、分辨率高，能發(fā)現(xiàn)或者感知較小的阻抗不連續(xù)距離。 見圖1所示，采用上述方法的超快邊沿階躍脈沖發(fā)生器，它包括有依次連接的時鐘基準(zhǔn)源1、高速比較器3、脈沖幅度調(diào)整電路4、脈沖上升邊沿加速電路5和脈沖輸出接口6。 見圖2所示，如果脈沖源的激勵信號來自外部時鐘，那么可以利用脈沖源板上的SMA接頭通過同軸電纜與時鐘輸出的設(shè)備相連。同時，該脈沖源在設(shè)計上也考慮到了可以利用自帶時鐘的方式來獲得脈沖源的激勵信號。本實施例選用的晶振是溫度補償晶體振蕩器TCXO，溫度補償晶體振蕩器連接隔離保護電路的輸入端，隔離保護電路的輸出端連接模擬開關(guān)2，模擬開關(guān)2再連接到高速比較器3。由于溫度補償晶體振蕩器以通過其溫度傳感器來調(diào)整晶振的輸出頻率，所以它的頻率輸出的穩(wěn)定性和精確性更高，性能比普通的晶振的性能高出20倍。 信號在準(zhǔn)備進入高速比較器3之前，還得通過一個模擬開關(guān)2。該模擬開關(guān)2的作用是控制脈沖源何時產(chǎn)生脈沖。當(dāng)需要進行測量時，便可以通過面板上面的按鈕或者腳踏板開關(guān)使模擬開關(guān)2導(dǎo)通，讓脈沖源輸出脈沖，當(dāng)不需要測量時，則可以將模擬開關(guān)2斷開，讓脈沖源停止輸出脈沖。 圖3為高速比較器3及其外圍電路原理圖，高速比較器3的作用主要是對信號邊沿進行一次加速，將激勵信號的上升/下降邊沿加速整形到納秒級。由于后繼電路都是使用的是PECL電平，且PECL的端接電壓為+1.3V，所以在輸出線上分別加上端接電阻R1和R2。根據(jù)TDR整機方案，需脈沖源在發(fā)出脈沖的同時去通知延遲芯片7，告知延遲芯片7脈沖已經(jīng)發(fā)出，延遲芯片7再根據(jù)現(xiàn)場可編程門陣列預(yù)設(shè)的延遲時間做一定的時間延遲，以便在延遲時間之后通知取樣頭進行取樣以完成等效采樣。所以，從高速比較器3輸出的脈沖信號要分成兩路一路將直接進入后一級電路作為后一級再加速模塊的觸發(fā)電路，另一
6路則作為延遲芯片7的觸發(fā)信號去觸發(fā)延時。由于信號上升時間很快，抖動很小，可以為取樣門提供低抖動的高速觸發(fā)信號。由于高速比較器3的輸出電阻為50Q，所以為了保證信號傳輸質(zhì)量，減小信號反射帶來的振鈴，避免誤觸發(fā)，在傳輸線上要加入一些端接電阻R3、R4、 R5和R6來做阻抗匹配，使信號在前向通路上保持阻抗恒定。 圖4為脈沖源的放大級電路原理圖。由于從高速比較器3出來的脈沖信號是PECL電平，高電平為2. 2V 2. 49V，低電平為1. 35V 1. 76V，其壓差為800mV左右，這樣的壓差無法讓階躍恢復(fù)二極管SRD獲得反向電流，以致無法在后繼電路中使后面的脈沖邊沿加速模塊——階躍恢復(fù)二極管產(chǎn)生快速階躍，因此需要對該信號進行放大。由于高速比較器3的輸出的信號是PECL電平，是差分信號，同時也為了抑制由于溫度變化所帶來的電壓漂移，所以將放大級設(shè)計成了差分放大器的形式。由于放大級的輸入信號是高速差分信號，所以就要在信號入口處利用R7、R8和RD組成了 Ji型端接，讓信號波被端接電阻所吸收，而不會反射回源端造成振鈴。 脈沖幅度調(diào)整電路4包括有放大級電路，放大級電路由三極管Ql 、Q2和連接在Ql 、Q2之間的電阻R9、 RIO、 Rll、 R12組成，放大級電路的兩個輸入端分別通過傳輸線連接高速比較器3的兩個輸出端，放大級電路連接電流源，放大級電路的兩個信號輸入端之間連接有電阻RD，兩個信號輸入端與接地端之間分別連接有電阻R7、R8，R7、R8和RD組成了 ji型端接。圖5為恒流電流源電路原理圖，該差分放大器是利用一個電流源來進行偏置的。利用恒流源來進行偏置的優(yōu)點是發(fā)射極電流與P和基極的端接電阻的值無關(guān)，因此基極的端接電阻的大小不會影響偏置點的穩(wěn)定性。該恒流源由集成運算放大器U、三極管Q3、電容C1、電阻R13、R14、R15、R16組成，由于集成運放具有溫度漂移小，開環(huán)增益大等優(yōu)點，所以，利用集成運放組成的恒流源能大大降低噪聲并顯著提高溫度性能，同時集成運放共模抑制比高，對因輸入電壓波動而引起的電流紋波有很顯著的抑制作用。其中可以調(diào)節(jié)R16來改變電流源電流的大小，利用Cl用來進行相位補償。 圖6為階躍恢復(fù)二極管脈沖邊沿加速電路原理圖，脈沖經(jīng)過放大級電路的放大之后，成為了電壓幅度差為3. 5V，邊沿上升時間為納秒級的脈沖信號。接下來，就需要將這個脈沖信號整形成為幅度大于500mV，邊沿上升時間為150ps的快速階躍脈沖信號。見圖6所示，脈沖上升邊沿加速電路5包括有三極管Q4、階躍恢復(fù)二極管SRD、電阻R0、R17、R18、R19、電容C、瞬態(tài)抑制二極管DO、二極管D1、D2、D3、D4，SRD的陰極連接Q4的發(fā)射極，SRD的陽極分別連接電阻R19的一端和電容C的一端，電阻R19的另一端連接電源端+Vss，電容C的另一端接地；D1、D2、D3、D4串聯(lián)在Q4的發(fā)射極與脈沖輸出接口 6之間，DO與脈沖輸出接口 6并聯(lián)。在脈沖信號為低電平時，階躍恢復(fù)二極管SRD正向?qū)?，電阻R18、 R19和+Vss組成了對SRD的直流偏置。這時候調(diào)節(jié)R2和R3的大小可以保證在低電平時二極管Dl D4上沒有電流流過，這樣也就保證了SMA接頭的輸出為O電平。當(dāng)脈沖信號轉(zhuǎn)換為高電平時，由于SRD開始反向?qū)ㄟM入SRD的存儲時間，A點電壓仍然不會顯著升高，二極管D1、D2、D3、D4上仍然沒有電流流過。為了縮短SRD的存儲時間，需要增大反向電流，但是如果將SRD前端的阻抗減小，即減小R18又會導(dǎo)致對SRD的正向偏置發(fā)生改變，這樣會增加設(shè)計難度。所以，在電路設(shè)計上就在SRD前端的節(jié)點B加上了一個旁路電容C，反向電流就可以通過該電容流到接地端上，這樣既減小的方向通路上的阻抗，又可以保證SRD的正向偏置不受改變。當(dāng)存儲時間結(jié)束之后，SRD立即截止，此時A點電壓也就迅速升高，產(chǎn)生了一個快速階躍脈沖。這時，二極管D1、D2、D3、D4也開始導(dǎo)通，SMA接頭便輸出一個快邊沿的階躍脈沖信號。調(diào)節(jié)R17和R18以及R19的大小，除了可以調(diào)節(jié)SRD的正向偏置外，還可以調(diào)節(jié)脈沖輸出幅度的大小，以及波形的過沖和上升時間。 普通二極管的結(jié)電容太大，一般在幾十甚至上百pF，無法很好的對該階躍信號進行衰減，所以要利用結(jié)電容很小的肖特基二極管來對輸出脈沖進行脈沖底部整形。由于肖特基二極管的反向擊穿電壓為30V， SRD的擊穿電壓是40V，為了防止靜電尖脈沖從SMA接頭進入對元件造成損壞，所以在SMA接頭出并接了一個瞬態(tài)抑制二極管DO，可以在靜電尖脈沖來臨時，把這部分能量短接到地，以保護脈沖源的電路元件。 圖7是本發(fā)明脈沖源的脈沖輸出波形，本發(fā)明的發(fā)生器電路，經(jīng)過了相關(guān)測試之后，其脈沖源的脈沖輸出的波形幅度為673. 82mV，上升時間為153. 70ps，僅有7. 67%的過沖，幾乎沒有預(yù)沖，完全可以達(dá)到特性阻抗測試對激勵脈沖的要求。 以上所述僅是本發(fā)明的較佳實施例，故凡依本發(fā)明專利申請范圍所述的構(gòu)造、特征及原理所做的等效變化或修飾，均包括于本發(fā)明專利申請范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
超快邊沿階躍脈沖發(fā)生方法，其特征在于，它包括以下步驟A、由高精度的時鐘基準(zhǔn)源產(chǎn)生時鐘激勵信號；B、激勵信號激勵高速比較器產(chǎn)生一個較快邊沿的脈沖信號；C、對較快邊沿的脈沖信號的幅度進行放大和預(yù)整形；D、利用階躍恢復(fù)二極管的階躍恢復(fù)效應(yīng)，對經(jīng)過幅度調(diào)整之后脈沖信號的上升邊沿作進一步加速；E、對輸出脈沖信號的波形進行整形和幅度控制；F、將脈沖信號輸出。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的超快邊沿階躍脈沖發(fā)生方法，其特征在于步驟B中所述高速比較器對激勵信號邊沿進行一次加速，將激勵信號的上升/下降邊沿加速整形到納秒級。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的超快邊沿階躍脈沖發(fā)生方法，其特征在于步驟D中利用階躍恢復(fù)二極管的階躍恢復(fù)效應(yīng)，對經(jīng)過幅度調(diào)整之后脈沖信號的上升邊沿作進一步加速，將激勵信號的上升/下降邊沿加速整形到皮秒級。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的超快邊沿階躍脈沖發(fā)生方法，其特征在于步驟B中所述高速比較器產(chǎn)生脈沖信號的同時進行時間延遲，以便在延遲時間之后通知取樣頭進行取樣以完成等效采樣。
5. 根據(jù)權(quán)利要求l-4任意一項所述的超快邊沿階躍脈沖發(fā)生方法，其特征在于步驟E中利用肖特基二極管對輸出脈沖信號的波形進行整形和幅度控制。
6. 超快邊沿階躍脈沖發(fā)生器，其特征在于它包括有依次連接的產(chǎn)生時鐘激勵信號的時鐘基準(zhǔn)源、產(chǎn)生較快邊沿脈沖信號的高速比較器、對較快邊沿脈沖信號幅度進行放大和預(yù)整形的脈沖幅度調(diào)整電路、脈沖上升邊沿加速電路和脈沖輸出接口 ，所述脈沖上升邊沿加速電路利用階躍恢復(fù)二極管的階躍恢復(fù)效應(yīng)，對經(jīng)過幅度調(diào)整之后脈沖信號的上升邊沿作進一步加速，同時對輸出脈沖信號的波形進行整形和幅度控制。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的超快邊沿階躍脈沖發(fā)生器，其特征在于所述時鐘基準(zhǔn)源與高速比較器連接有用于控制控制脈沖源產(chǎn)生和停止脈沖的模擬開關(guān)。
8. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的超快邊沿階躍脈沖發(fā)生器，其特征在于所述高速比較器的輸出端連接有延遲芯片，提供低抖動高速觸發(fā)信號。
9. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的超快邊沿階躍脈沖發(fā)生器，其特征在于所述脈沖幅度調(diào)整電路包括有抑制溫度漂移的放大級電路，放大級電路的兩個輸入端采用抑制振鈴的n型端接，然后分別通過傳輸線連接高速比較器的兩個輸出端，放大級電路連接電流源。
10. 根據(jù)權(quán)利要求6-9任意一項所述的超快邊沿階躍脈沖發(fā)生器，其特征在于所述脈沖上升邊沿加速電路包括有三極管Q4、階躍恢復(fù)二極管SRD、電阻R19、電容C、瞬態(tài)抑制二極管D0、二極管D1、D2、D3、D4， SRD的陰極連接Q4的發(fā)射極，SRD的陽極分別連接電阻R19的一端和電容C的一端，電阻R19的另一端連接電源端+Vss，電容C的另一端接地；D1、D2、D3、D4串聯(lián)在Q4的發(fā)射極與脈沖輸出接口之間，DO與脈沖輸出接口并聯(lián)。
全文摘要
本發(fā)明涉及電氣設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及超快邊沿階躍脈沖發(fā)生方法及其發(fā)生器，本發(fā)明由高精度的時鐘基準(zhǔn)源產(chǎn)生時鐘激勵信號，時鐘激勵信號激勵高速比較器產(chǎn)生一個較快邊沿的脈沖信號，由脈沖幅度調(diào)整電路對較快邊沿的脈沖信號的幅度進行放大和預(yù)整形，然后進入脈沖上升邊沿加速電路，利用階躍恢復(fù)二極管的階躍恢復(fù)效應(yīng)，對經(jīng)過幅度調(diào)整之后脈沖信號的上升邊沿作進一步加速，同時對輸出脈沖信號的波形進行整形和幅度控制，以達(dá)到特性阻抗測試儀對上升時間和幅度以及過沖的要求，最后由脈沖輸出接口進行輸出，輸出的脈沖上升時間150ps、幅度大于500mV、過沖小于10％，預(yù)沖可忽略不計，能發(fā)現(xiàn)或者感知較小的阻抗不連續(xù)距離。
文檔編號H03K5/12GK101777891SQ20091021396
公開日2010年7月14日 申請日期2009年12月18日 優(yōu)先權(quán)日2009年12月18日
發(fā)明者周振興, 徐地華, 曹勇, 朱習(xí)松, 梅領(lǐng)亮, 秦開宇, 陳伯平 申請人:廣東正業(yè)科技股份有限公司;電子科技大學(xué)