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一種抗單粒子翻轉(zhuǎn)的可置位和復(fù)位d觸發(fā)器的制作方法

文檔序號(hào):7522620閱讀:281來(lái)源:國(guó)知局
專利名稱:一種抗單粒子翻轉(zhuǎn)的可置位和復(fù)位d觸發(fā)器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種帶有可置位和復(fù)位結(jié)構(gòu)的主從D觸發(fā)器,特別涉及一種抗單粒子翻轉(zhuǎn)(signal event upset)的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器。
背景技術(shù)
在宇宙空間中,存在大量高能粒子(質(zhì)子、電子、重離子)和帶電粒子。集成電路受這些高能粒子和帶電粒子的轟擊后,集成電路中會(huì)產(chǎn)生電子脈沖,可能使集成電路內(nèi)部節(jié)點(diǎn)原有的電平發(fā)生翻轉(zhuǎn),此效應(yīng)稱為單粒子翻轉(zhuǎn)(SEU)。單粒子轟擊集成電路的LET(線性能量轉(zhuǎn)移)值越高,產(chǎn)生的電子脈沖越強(qiáng)。航空、航天領(lǐng)域中使用的集成電路都會(huì)受到單粒子翻轉(zhuǎn)的威脅,使集成電路工作不穩(wěn)定,甚至產(chǎn)生致命的錯(cuò)誤,因此開發(fā)先進(jìn)的集成電路抗單粒子翻轉(zhuǎn)加固技術(shù)尤為重要。集成電路的抗單粒子翻轉(zhuǎn)加固技術(shù)可以分為系統(tǒng)級(jí)加固、電路級(jí)加固和器件級(jí)加固。系統(tǒng)級(jí)加固的集成電路可靠性高,但版圖面積大、功耗大、運(yùn)行速度慢。器件級(jí)加固的集成電路運(yùn)行速度快,版圖面積小、功耗低,但器件級(jí)加固實(shí)現(xiàn)難度大,成本高。電路級(jí)加固的集成電路可靠性高,版圖面積、功耗和運(yùn)行速度優(yōu)于系統(tǒng)級(jí)加固的集成電路,且實(shí)現(xiàn)難度和成本小于器件級(jí)加固的集成電路,是十分重要的集成電路抗單粒子翻轉(zhuǎn)加固方法。D觸發(fā)器是時(shí)序邏輯電路中使用最多的單元之一,其抗單粒子翻轉(zhuǎn)能力直接決定了集成電路的抗單粒子翻轉(zhuǎn)能力。對(duì)D觸發(fā)器進(jìn)行電路級(jí)加固可以在較小的版圖面積、功耗和成本下有效地提高集成電路的抗單粒子翻轉(zhuǎn)能力。傳統(tǒng)的D觸發(fā)器為主從D觸發(fā)器,一般由主級(jí)鎖存器和從級(jí)鎖存器串聯(lián)構(gòu)成,鎖存器的抗單粒子翻轉(zhuǎn)加固是實(shí)現(xiàn)D觸發(fā)器抗單粒子加固的有效方法。T. Clain等人在IEEE Transaction on Nuclear Science (IEEE 原子能禾斗學(xué)學(xué)報(bào))上發(fā)表的 “Upset Hardened Memory Design for Submicron CMOS ^Technology”(在亞微米 CMOS 技術(shù)下的翻轉(zhuǎn)加固存儲(chǔ)單元設(shè)計(jì))(1996年12月第6期43卷,第觀74 2878頁(yè))提出了一種冗余加固的鎖存器,該鎖存器在經(jīng)典鎖存器結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上增加了一個(gè)反相器和一個(gè)反饋回路,與原有反相器和反饋回路互為冗余電路。反相器中N管的輸入和P管的輸入分離,分別連接兩個(gè)反饋回路,反饋回路中C2MOS電路的N管和P管的輸入分別來(lái)自兩個(gè)反相器的輸出。該鎖存器的信號(hào)輸入和信號(hào)保存由C2MOS時(shí)鐘電路控制。該冗余加固的鎖存器優(yōu)點(diǎn)在于轟擊一個(gè)節(jié)點(diǎn)時(shí)產(chǎn)生的翻轉(zhuǎn)電平可以通過(guò)其冗余電路內(nèi)對(duì)應(yīng)節(jié)點(diǎn)的正確電平恢復(fù)到原來(lái)狀態(tài)。該冗余加固的鎖存器的不足在于輸入端兩個(gè)互為冗余的C2MOS電路共用一個(gè)上拉PMOS管和一個(gè)下拉NMOS管,使反饋回路中C2MOS電路的輸出節(jié)點(diǎn)與冗余電路對(duì)應(yīng)節(jié)點(diǎn)之間存在一個(gè)間接通路,當(dāng)單粒子轟擊使該C2MOS電路輸出節(jié)點(diǎn)的電平翻轉(zhuǎn),則該翻轉(zhuǎn)電平會(huì)沿間接通路傳播到冗余電路的對(duì)應(yīng)節(jié)點(diǎn),如果單粒子轟擊的LET值較高,則兩個(gè)互為冗余的電路均會(huì)發(fā)生電平翻轉(zhuǎn),最終使鎖存器的輸出也發(fā)生翻轉(zhuǎn)。由兩個(gè)該種冗余加固的鎖存器串聯(lián)組成的傳統(tǒng)冗余加固的D觸發(fā)器,當(dāng)單粒子轟擊的LET值較高,則兩個(gè)互為冗余的電路也均會(huì)發(fā)生電平翻轉(zhuǎn),最終使傳統(tǒng)冗余加固的D觸發(fā)器的輸出也發(fā)生翻轉(zhuǎn)。R. Naseer等人在the 48thIEEE International Midwest Symposium on Circuits and Systems (第 48 屆 IEEE 電路和系統(tǒng)中西部國(guó)際會(huì)議)上發(fā)表的“The DF-DICE Storage Element for Immunity to Soft Errors”(對(duì)軟錯(cuò)誤免疫的DF-DICE存儲(chǔ)單元)也提出了一種與上述鎖存器結(jié)構(gòu)類似的冗余加固的鎖存器。此鎖存器輸入端的兩個(gè)C2MOS電路是完全獨(dú)立的,兩個(gè)互為冗余的電路中對(duì)應(yīng)節(jié)點(diǎn)不存在間接通路,克服了 T. Clain等人提出的冗余加固的鎖存器的不足之處。但R. Naseer等人提出的冗余加固的鎖存器在反饋回路中使用了傳輸門結(jié)構(gòu),當(dāng)一個(gè)節(jié)點(diǎn)受單粒子轟擊發(fā)生翻轉(zhuǎn)時(shí),其冗余電路將正確電平通過(guò)傳輸門反饋至該節(jié)點(diǎn)。由于傳輸門結(jié)構(gòu)的噪聲容限較低,反饋回路的信號(hào)反饋能力較弱,當(dāng)單粒子轟擊的LET值較高時(shí),反饋回路不能使該節(jié)點(diǎn)恢復(fù)正確電平,嚴(yán)重影響了該鎖存器抗單粒子翻轉(zhuǎn)能力。由兩個(gè)該種冗余加固的鎖存器串聯(lián)組成的傳統(tǒng)冗余加固的D觸發(fā)器,當(dāng)單粒子轟擊的LET值較高時(shí),也會(huì)因?yàn)榉答伝芈分械膫鬏旈T結(jié)構(gòu),不能使該節(jié)點(diǎn)恢復(fù)正確電平,影響了該傳統(tǒng)冗余加固的D 觸發(fā)器抗單粒子翻轉(zhuǎn)能力。專利號(hào)為CN101499788A的中國(guó)專利公開了一種抗單粒子翻轉(zhuǎn)和單粒子瞬態(tài)脈沖的D觸發(fā)器。該發(fā)明是一種結(jié)構(gòu)類似于時(shí)間采樣結(jié)構(gòu)的D觸發(fā)器,包括兩個(gè)多路開關(guān)、兩個(gè)延遲電路、兩個(gè)保護(hù)門電路和三個(gè)反相器,實(shí)現(xiàn)了 D觸發(fā)器的抗單粒子翻轉(zhuǎn)加固。由于采用延遲電路和保護(hù)門電路來(lái)屏蔽轟擊產(chǎn)生的電子脈沖,當(dāng)單粒子轟擊的LET值較高時(shí),電子脈沖寬度會(huì)大于延遲電路的延遲時(shí)間,使保護(hù)門電路的輸出電平發(fā)生翻轉(zhuǎn),大大降低了該D 觸發(fā)器的抗單粒子翻轉(zhuǎn)能力。某些集成電路需要控制集成電路中D觸發(fā)器的狀態(tài),強(qiáng)制D觸發(fā)器輸出高電平或低電平以及把其中鎖存的數(shù)據(jù)置為邏輯“1”或邏輯“0”。在D觸發(fā)器原有的結(jié)構(gòu)基礎(chǔ)上增加置位和復(fù)位電路以及置位信號(hào)端和復(fù)位信號(hào)端,可以實(shí)現(xiàn)D觸發(fā)器自身的置位和復(fù)位結(jié)構(gòu),并通過(guò)置位和復(fù)位信號(hào)來(lái)控制D觸發(fā)器的置位和復(fù)位功能。但目前可置位和復(fù)位D觸發(fā)器抗單粒子翻轉(zhuǎn)能力不高,不利于在航空、航天等領(lǐng)域的集成電路芯片中使用。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是,針對(duì)目前抗單粒子翻轉(zhuǎn)的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器抗單粒子翻轉(zhuǎn)能力不高的問(wèn)題,提出一種抗單粒子翻轉(zhuǎn)的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器,它可以在較高LET值的單粒子轟擊下正常工作而不產(chǎn)生單粒子翻轉(zhuǎn)。本發(fā)明提出的一種抗單粒子翻轉(zhuǎn)的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器由時(shí)鐘電路、復(fù)位緩沖電路、主鎖存器、從鎖存器和輸出緩沖電路組成。本發(fā)明一種抗單粒子翻轉(zhuǎn)的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器有四個(gè)輸入端和一個(gè)輸出端。 四個(gè)輸入端分別是CK即時(shí)鐘信號(hào)輸入端、D即數(shù)據(jù)信號(hào)輸入端、SN即置位信號(hào)輸入端和RN 復(fù)位信號(hào)輸入端;一個(gè)輸出端是Q即數(shù)據(jù)輸出信號(hào)端。時(shí)鐘電路有一個(gè)輸入端和兩個(gè)輸出端,輸入端為CK,輸出端為C、CN。時(shí)鐘電路為一個(gè)兩級(jí)反相器,由第一級(jí)反相器和第二級(jí)反相器組成;第一級(jí)反相器由第一 PMOS管和第一 NMOS管組成,第一 PMOS管的柵極Pgl連接CK,漏極Pdl連接第一 NMOS管的漏極Ndl,并作為時(shí)鐘電路的一個(gè)輸出端CN。第一 NMOS管的柵極Ngl連接CK,漏極Ndl連接Pdl ;第二級(jí)反相器由第二 PMOS管和第二 NMOS管組成,第二 PMOS管的柵極Pg2連接CN,漏極Pd2連接第二 NMOS管的漏極Nd2,并作為時(shí)鐘電路的另一個(gè)輸出端C。第二 NMOS管的柵極Ng2連接CN,漏極Nd2連接Pd2。第一 PMOS管和第二 PMOS管的襯底連接電源VDD,源極1^1、Ps2 連接電源VDD ;第一 NMOS管和第二 NMOS管的襯底接地VSS,源極Nsl、Ns2也接地VSS。復(fù)位緩沖電路有一個(gè)輸入端和一個(gè)輸出端,輸入端為RN,輸出端為R。復(fù)位緩沖電路為一個(gè)一級(jí)反相器,第三十四PMOS管的柵極1^34連接RN,漏極Pd34連接第三十四NMOS 管的漏極Nd34并作為復(fù)位緩沖電路的輸出R,源極1^34連接電源VDD ;第三十四NMOS管柵極NgM連接RN,漏極而;34連接Pd;34,源極NsM接地VSS。主鎖存器和從鎖存器均為冗余加固的鎖存器。主鎖存器和從鎖存器前后串聯(lián),并均與時(shí)鐘電路和復(fù)位緩沖電路連接。從鎖存器還與輸出緩沖電路連接。主鎖存器有五個(gè)輸入端和一個(gè)輸出端,五個(gè)輸入端為D、C、CN、SN、R,一個(gè)輸出端為M0。主鎖存器由十四個(gè)PMOS管和十四個(gè)NMOS管組成,主鎖存器中所有PMOS管的襯底連接電源VDD,所有NMOS管的襯底接地VSS。第三PMOS管的柵極Pg3連接D,漏極Pd3連接第四PMOS管的源極1^4,源極Ps3連接電源VDD ;第四PMOS管的柵極Pg4連接C,漏極 Pd4連接第三NMOS管的漏極Nd3,源極Ps4連接Pd3 ’第五PMOS管的柵極Pg5連接D,漏極 Pd5連接第六PMOS管的源極1^6,源極Ps5連接電源VDD ;第六PMOS管的柵極Pg6連接C, 漏極Pd6連接第五NMOS管的漏極Nd5,源極Ps6連接Pd5 ;第七PMOS管的柵極Pg7連接R, 漏極Pd7連接第八PMOS管的源極1^8,源極Ps7連接電源VDD ;第八PMOS管的柵極Pg8連接Pd6,漏極PdS連接第七NMOS管的漏極Nd7并作為主鎖存器的輸出端M0,源極PsS連接 Pd7 ;第九PMOS管的柵極Pg9連接SN,漏極Pd9連接Pd8,源極Ps9連接電源VDD ;第十PMOS 管的柵極I^glO連接R,漏極PdlO連接第i^一 PMOS管的源極I^sll,源極I3sIO連接電源VDD ; 第i^一 PMOS管的柵極I^gll連接Pd4,漏極Pdll連接第十NMOS管的漏極NdlO,源極I3sIl 連接PdlO ;第十二 PMOS管的柵極1^12連接SN,漏極Pdl2連接Pdll,源極1^12連接電源 VDD ;第十三PMOS管的柵極1^13連接Pdll,漏極Pdl3連接第十四PMOS管的源極1^14,源極Psl3連接電源VDD ;第十四PMOS管的柵極I3gH連接CN,漏極Pdl4連接第十三NMOS管的漏極Ndl3,源極1^14連接Pdl3 ;第十五PMOS管的柵極1^15連接Pd8,漏極Pdl5連接第十六PMOS管的源極1^16,源極1^15連接電源VDD ;第十六PMOS管的柵極1^16連接CN,漏極Pdl6連接第十五NMOS管的漏極Ndl5,源極1^16連接Pdl5 ;第三NMOS管的柵極Ng3連接CN,漏極Nd3連接Pd4,源極Ns3連接第四NMOS管的漏極Nd4 ;第四NMOS管的柵極Ng4連接D,漏極Nd4連接Ns3,源極Ns4接地VSS ’第五NMOS管的柵極Ng5連接CN,漏極Nd5連接 Pd6,源極Ns5連接第六NMOS管的漏極Nd6 ;第六NMOS管的柵極Ng6連接D,漏極Nd6連接 Ns5,源極Ns6接地VSS ;第七NMOS管的柵極Ng7連接Pd4,漏極Nd7連接Pd8,源極Ns7連接第九NMOS管的漏極Nd9 ;第八NMOS管的柵極Ng8連接R,漏極Nd8連接Pd8,源極Ns8連接 Nd9 ;第九NMOS管的柵極Ng9連接SN,漏極Nd9連接Ns7,源極Ns9接地VSS ;第十NMOS管的柵極NglO連接Pd6,漏極NdlO連接Pdl 1,源極NslO連接第十二 NMOS管的漏極Ndl2 ;第 i^一 NMOS管的柵極Ngl 1連接R,漏極Ndl 1連接Pdl 1,源極Nsl 1連接Ndl2 ;第十二 NMOS管的柵極1^12連接SN,漏極Ndl2連接NslO,源極Nsl2接地VSS ;第十三NMOS管的柵極Ngl3 連接C,漏極Ndl3連接Pdl4,源極Nsl3連接第十四NMOS管的漏極Ndl4 ;第十四NMOS管的柵極Ngl4連接Pd8,漏極Ndl4連接Nsl3,源極Nsl4接地VSS ;第十五NMOS管的柵極Ngl5 連接C,漏極Ndl5連接Pdl6,源極Nsl5連接第十六NMOS管的漏極Ndl6 ;第十六NMOS管的柵極Ngl6連接Pdl 1,漏極Ndl6連接Ns 15,源極Ns 16接地VSS。
從鎖存器有五個(gè)輸入端和一個(gè)輸出端,五個(gè)輸入端為M0、C、CN、SN、R,一個(gè)輸出端為SO。從鎖存器由十四個(gè)PMOS管和十四個(gè)NMOS管組成,從鎖存器中所有PMOS管的襯底連接電源VDD,所有NMOS管的襯底接地VSS。第十七PMOS管的柵極1^17連接M0,漏極Pdl7 連接第十七NMOS管的源極Ndl7,源極1^17連接電源VDD ;第十八PMOS管的柵極I^glS連接 CN,漏極Pdl8連接第十八NMOS管的源極Nsl8,源極1^18連接Pdl7 ;第十九PMOS管的柵極 Pgl9連接M0,漏極Pdl9連接第十九NMOS管的漏極Ndl9,源極1^19連接電源VDD ;第二十 PMOS管的柵極1^20連接CN,漏極Pd20連接第二十NMOS管的源極Ns20,源極1^20連接 Pdl9 ;第二i^一 PMOS管的柵極1^21連接R,漏極Pd21連接第二十二 PMOS管的源極1^22, 源極1^21連接電源VDD ;第二十二 PMOS管的柵極1^22連接Pd20,漏極Pd22連接第二十一 NMOS管的漏極Nd21并作為從鎖存器的輸出端S0,源極1^22連接Pd21 ;第二十三PMOS管的柵極1^23連接SN,漏極Pd23連接Pd22,源極1^23連接電源VDD ;第二十四PMOS管的柵極1 連接R,漏極PdM連接第二十五PMOS管的源極1^25,源極I^sM連接電源VDD ;第二十五PMOS管的柵極1^25連接Pdl8,漏極Pd25連接第二十四NMOS管的漏極Nd24,源極 Ps25連接PdM ;第二十六PMOS管的柵極1 連接SN,漏極Pc^6連接Pd25,源極連接電源VDD ;第二十七PMOS管的柵極1^27連接Pd25,漏極Pd27連接第二十八PMOS管的源極I3WS,源極1^27連接電源VDD ;第二十八PMOS管的柵極1 連接C,漏極Pc^S連接第二十七NMOS管的漏極Nd27,源極I3S^連接Pd27 ;第二十九PMOS管的柵極1 連接Pd22, 漏極Pc^9連接第三十PMOS管的源極1^30,源極I3s^連接電源VDD ;第三十PMOS管的柵極1^30連接C,漏極Pd30連接第二十九NMOS管的漏極Nc^9,源極1^30連接卩業(yè)9。第十七 NMOS管的柵極Ngl7連接M0,漏極Ndl7連接Pdl7,源極Nsl7接地VSS ;第十八NMOS管的柵極Ngl8連接C,漏極Ndl8連接Pdl7,源極Nsl8連接Pdl8 ;第十九NMOS管的柵極Ngl9連接M0,漏極Ndl9連接Pdl9,源極Nsl9接地VSS ;第二十NMOS管的柵極Ng20連接C,漏極 Nd20連接Pdl9,源極Ns20連接Pd20 ;第二i^一 NMOS管的柵極Ng21連接Pdl8,漏極Nd21 連接Pd22,源極Ns21連接第二十三NMOS管的漏極Nd23 ;第二十二 NMOS管的柵極Ng22連接R,漏極Nd22連接Pd22,源極Ns22連接Nd23 ;第二十三NMOS管的柵極Ng23連接SN,漏極Nd23連接Ns21,源極Ns23接地VSS ;第二十四NMOS管的柵極NgM連接Pd20,漏極NdM 連接Pd25,源極NsM連接第二十六NMOS管的漏極而沈;第二十五NMOS管的柵極Ng25連接R,漏極Nd25連接Pd25,源極Ns25連接而沈;第二十六NMOS管的柵極Ng^連接SN,漏極Nc^6連接NW4,源極NW6接地VSS ;第二十七NMOS管的柵極Ng27連接CN,漏極Nd27連接卩業(yè)8,源極Ns27連接第二十八NMOS管的漏極Nc^8 ;第二十八NMOS管的柵極Ng^連接 Pd22,漏極而觀連接Ns27,源極Ns^接地VSS ;第二十九NMOS管的柵極Ng^連接CN,漏極Nc^9連接Pd30,源極NW9連接第三十NMOS管的漏極Nd30 ;第三十NMOS管的柵極Ng30 連接Pd25,漏極Nd30連接Ns^,源極Ns30接地VSS。輸出緩沖電路有三個(gè)輸入端和一個(gè)輸出端,三個(gè)輸入端分別為SO、R、SN,一個(gè)輸出端為Q。輸出緩沖電路包括三個(gè)PMOS管和三個(gè)NMOS管,輸出緩沖電路中所有PMOS管的襯底連接電源VDD,所有NMOS管的襯底接地VSS。第三十一 PMOS管的柵極1^31連接R,漏極Pd31連接第三十二 PMOS管的源極1^32,源極1^31連接電源VDD ;第三十二 PMOS管的柵極1^32連接S0,漏極Pd32連接第三十一 NMOS管的漏極Nd31并作為緩沖電路輸出Q,源極 Ps32連接Pd31 ;第三十三PMOS管的柵極1^33連接SN,漏極Pd33連接Pd32,源極1^33連接電源VDD ;第三i^一 NMOS管的柵極Ng31連接S0,漏極Nd31連接Pd32,源極Ns31連接第三十三NMOS管的漏極Nd33 ;第三十二 NMOS管的柵極Ng32連接R,漏極Nd32連接Pd32,源極Ns32連接Ns31 ;第三十三NMOS管的柵極Ng33連接SN,漏極Nd33連接Ns31,源極Ns33 接地VSS。本發(fā)明一種抗單粒子翻轉(zhuǎn)的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器工作過(guò)程如下本發(fā)明一種抗單粒子翻轉(zhuǎn)的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器可以在任意時(shí)刻進(jìn)行置位和復(fù)位,置位和復(fù)位功能由SN即置位信號(hào)輸入端和RN即復(fù)位信號(hào)輸入端共同控制。當(dāng)SN為低電平、RN為高電平或低電平時(shí),本發(fā)明一種抗單粒子翻轉(zhuǎn)的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器均進(jìn)入置位狀態(tài),即主鎖存器和從鎖存器均被強(qiáng)行鎖存邏輯“1”,輸出緩沖電路的輸出端Q為高電平。當(dāng)SN為高電平、RN為低電平時(shí),本發(fā)明一種抗單粒子翻轉(zhuǎn)的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器進(jìn)入復(fù)位狀態(tài),即主鎖存器和從鎖存器均被強(qiáng)行鎖存邏輯“0”,輸出緩沖電路的輸出端Q 為低電平。當(dāng)SN為高電平、RN為高電平時(shí),本發(fā)明一種抗單粒子翻轉(zhuǎn)的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器處于正常工作狀態(tài),本發(fā)明處于正常工作狀態(tài),時(shí)鐘電路接收CK,對(duì)CK進(jìn)行緩沖后分別產(chǎn)生與CK反相的CN和與CK同相的C,并且把CN和C傳入到主鎖存器和從鎖存器。在CK 為低電平期間,CN為高電平、C為低電平,主鎖存器開啟,接收D并對(duì)其進(jìn)行緩沖處理后輸出與D同相的M0,從鎖存器處于保存狀態(tài),不接收主鎖存器輸出的MO而是保存上一個(gè)CK下降沿采樣到的MO ;在CK為高電平期間,CN為低電平、C為高電平,主鎖存器處于保存狀態(tài),保存前一個(gè)CK上升沿采樣到的D并輸出與D同相的M0,從鎖存器開啟并接收主鎖存器的輸出 M0,對(duì)MO進(jìn)行緩沖處理并輸出與MO同相的SO。在本發(fā)明處于正常工作狀態(tài)中的任意時(shí)刻輸出緩沖電路都要接收從鎖存器的輸出S0,對(duì)SO緩沖并輸出與SO同相的Q。采用本發(fā)明可以達(dá)到以下技術(shù)效果本發(fā)明一種抗單粒子翻轉(zhuǎn)的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器的抗單粒子翻轉(zhuǎn)能力優(yōu)于傳統(tǒng)未加固的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器、時(shí)間采樣加固的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器和傳統(tǒng)冗余加固的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器。因?yàn)楸景l(fā)明對(duì)傳統(tǒng)未加固的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器結(jié)構(gòu)進(jìn)行改造,對(duì)主鎖存器和從鎖存器均進(jìn)行了雙模冗余加固,并針對(duì)主鎖存器中C2MOS電路進(jìn)行了改進(jìn),即分離互為冗余的C2MOS電路中的上拉PMOS管和下拉NMOS管,進(jìn)一步提高了本發(fā)明一種抗單粒子翻轉(zhuǎn)的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器的抗單粒子翻轉(zhuǎn)能力。本發(fā)明一種抗單粒子翻轉(zhuǎn)的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器適合用于抗單粒子翻轉(zhuǎn)加固集成電路的標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù),應(yīng)用于航空、航天等領(lǐng)域。


圖1為本發(fā)明一種抗單粒子翻轉(zhuǎn)的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器邏輯結(jié)構(gòu)示意圖。圖2為本發(fā)明一種抗單粒子翻轉(zhuǎn)的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器中時(shí)鐘電路結(jié)構(gòu)示意圖。圖3為本發(fā)明一種抗單粒子翻轉(zhuǎn)的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器中復(fù)位緩沖電路結(jié)構(gòu)示意圖。圖4為本發(fā)明一種抗單粒子翻轉(zhuǎn)的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器中主鎖存器結(jié)構(gòu)示意圖。圖5為本發(fā)明一種抗單粒子翻轉(zhuǎn)的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器中從鎖存器結(jié)構(gòu)示意圖。圖6為本發(fā)明一種抗單粒子翻轉(zhuǎn)的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器中輸出緩沖電路結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式圖1為本發(fā)明一種抗單粒子翻轉(zhuǎn)的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器邏輯結(jié)構(gòu)示意圖。本發(fā)明由時(shí)鐘電路(如圖2所示)、復(fù)位緩沖電路(如圖3所示)、主鎖存器(如圖4所示)、從鎖存器(如圖5所示)和輸出緩沖電路(如圖6所示)組成。本發(fā)明有四個(gè)輸入端和一個(gè)輸出端。四個(gè)輸入端分別是CK即時(shí)鐘信號(hào)輸入端、D即數(shù)據(jù)信號(hào)輸入端、SN即置位信號(hào)輸入端和RN復(fù)位信號(hào)輸入端;一個(gè)輸出端是Q即數(shù)據(jù)輸出信號(hào)端。時(shí)鐘電路接收CK,對(duì)CK進(jìn)行緩沖處理后分別輸出C和CN。復(fù)位緩沖電路對(duì)RN進(jìn)行緩沖,輸入與RN反相的R,并把R 傳入主鎖存器和從鎖存器中。主鎖存器接收D以及C和CN,主鎖存器在C和CN的控制下對(duì) D進(jìn)行鎖存處理后輸出M0。從鎖存器接收MO以及C和CN,從鎖存器在C和CN的控制下對(duì) MO進(jìn)行鎖存處理后分別輸出SO。輸出緩沖電路接收S0、R和SN,對(duì)其進(jìn)行緩沖等處理后輸出Q。SN為高電平、RN為高電平時(shí),本發(fā)明一種抗單粒子翻轉(zhuǎn)的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器處于正常工作狀態(tài);SN為高電平、RN為低電平時(shí),本發(fā)明一種抗單粒子翻轉(zhuǎn)的可置位和復(fù)位D 觸發(fā)器進(jìn)入復(fù)位狀態(tài)。SN為低電平、RN為高電平或低電平時(shí),本發(fā)明一種抗單粒子翻轉(zhuǎn)的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器均進(jìn)入置位狀態(tài)。如圖2所示,時(shí)鐘電路有一個(gè)輸入端和兩個(gè)輸出端,輸入端為CK,輸出端為C、CN。 時(shí)鐘電路為一個(gè)兩級(jí)反相器,第一級(jí)反相器由第一 PMOS管和第一 NMOS管組成,第一 PMOS 管的柵極I^gl連接CK,漏極Pdl連接第一NMOS管的漏極Ndl,并作為時(shí)鐘電路的一個(gè)輸出端 CN。第一 NMOS管的柵極Ngl連接CK,漏極Ndl連接Pdl ;第二級(jí)反相器由第二 PMOS管和第二 NMOS管組成,第二 PMOS管的柵極Pg2連接CN,漏極Pd2連接第二 NMOS管的漏極Nd2,并作為時(shí)鐘電路的另一個(gè)輸出端C。第二 NMOS管的柵極Ng2連接CN,漏極Nd2連接Pd2。第一 PMOS管和第二 PMOS管的襯底連接電源VDD,源極I3sUd連接電源VDD ;第一 NMOS管和第二 NMOS管的襯底接地VSS,源極Nsl、Ns2也接地VSS。如圖3所示,復(fù)位緩沖電路有一個(gè)輸入端和一個(gè)輸出端,輸入端為RN,輸出端為R。 復(fù)位緩沖電路為一個(gè)一級(jí)反相器,其中第三十四PMOS管的柵極1^34連接RN,漏極Pd34連接第三十四NMOS管的漏極Nd34并作為復(fù)位緩沖電路的輸出R,源極1^34連接電源VDD ;第三十四NMOS管柵極NgM連接RN,漏極而;34連接Pd;34,源極NsM接地VSS。如圖4所示,主鎖存器有五個(gè)輸入端和一個(gè)輸出端,五個(gè)輸入端為D、C、CN、SN、R, 一個(gè)輸出端為M0。主鎖存器由十四個(gè)PMOS管和十四個(gè)NMOS管組成,主鎖存器中所有PMOS 管的襯底連接電源VDD,所有NMOS管的襯底接地VSS。第三PMOS管的柵極Pg3連接D,漏極Pd3連接第四PMOS管的源極1^4,源極Ps3連接電源VDD ;第四PMOS管的柵極Pg4連接 C,漏極Pd4連接第三NMOS管的漏極Nd3,源極Ps4連接Pd3 ;第五PMOS管的柵極Pg5連接 D,漏極Pd5連接第六PMOS管的源極1^6,源極Ps5連接電源VDD ;第六PMOS管的柵極Pg6 連接C,漏極Pd6連接第五NMOS管的漏極Nd5,源極Ps6連接Pd5 ;第七PMOS管的柵極Pg7連接R,漏極Pd7連接第八PMOS管的源極1^8,源極Ps7連接電源VDD ;第八PMOS管的柵極 PgS連接Pd6,漏極PdS連接第七NMOS管的漏極Nd7并作為主鎖存器的輸出端M0,源極PsS 連接Pd7 ;第九PMOS管的柵極Pg9連接SN,漏極Pd9連接Pd8,源極Ps9連接電源VDD ;第十PMOS管的柵極I^glO連接R,漏極PdlO連接第i^一 PMOS管的源極I^sl 1,源極I3sIO連接電源VDD ;第i^一 PMOS管的柵極I^gll連接Pd4,漏極Pdll連接第十NMOS管的漏極NdlO, 源極I3Sll連接PdlO ;第十二 PMOS管的柵極1^12連接SN,漏極Pdl2連接Pdl 1,源極1^12 連接電源VDD ;第十三PMOS管的柵極1^13連接Pdl 1,漏極Pdl3連接第十四PMOS管的源極 Psl4,源極Psl3連接電源VDD ;第十四PMOS管的柵極I3gH連接CN,漏極Pdl4連接第十三 NMOS管的漏極Ndl3,源極1^14連接Pdl3 ;第十五PMOS管的柵極1^15連接Pd8,漏極Pdl5 連接第十六PMOS管的源極1^16,源極1^15連接電源VDD ;第十六PMOS管的柵極1^16連接CN,漏極Pdl6連接第十五NMOS管的漏極Ndl5,源極1^16連接Pdl5 ;第三NMOS管的柵極Ng3連接CN,漏極Nd3連接Pd4,源極Ns3連接第四NMOS管的漏極Nd4 ;第四NMOS管的柵極Ng4連接D,漏極Nd4連接Ns3,源極Ns4接地VSS ’第五NMOS管的柵極Ng5連接CN,漏極Nd5連接Pd6,源極Ns5連接第六NMOS管的漏極Nd6 ;第六NMOS管的柵極Ng6連接D,漏極Nd6連接Ns5,源極Ns6接地VSS ;第七NMOS管的柵極Ng7連接Pd4,漏極Nd7連接Pd8, 源極Ns7連接第九NMOS管的漏極Nd9 ;第八NMOS管的柵極Ng8連接R,漏極Nd8連接Pd8, 源極Ns8連接Nd9 ;第九NMOS管的柵極Ng9連接SN,漏極Nd9連接Ns7,源極Ns9接地VSS ; 第十匪OS管的柵極NglO連接Pd6,漏極NdlO連接Pdl 1,源極NslO連接第十二 NMOS管的漏極Ndl2 ;第i^一 NMOS管的柵極Ngll連接R,漏極Ndll連接Pdll,源極Nsll連接Ndl2 ; 第十二 NMOS管的柵極1^12連接SN,漏極Ndl2連接NslO,源極Nsl2接地VSS ;第十三NMOS 管的柵極Ngl3連接C,漏極Ndl3連接Pdl4,源極Nsl3連接第十四NMOS管的漏極Ndl4 ;第十四NMOS管的柵極Ngl4連接Pd8,漏極Ndl4連接Nsl3,源極Nsl4接地VSS ;第十五NMOS 管的柵極Ngl5連接C,漏極Ndl5連接Pdl6,源極Nsl5連接第十六NMOS管的漏極Ndl6 ’第十六NMOS管的柵極Ngl6連接Pdl 1,漏極Ndl6連接Ns 15,源極Ns 16接地VSS。
如圖5所示,從鎖存器有五個(gè)輸入端和一個(gè)輸出端,五個(gè)輸入端為M0、C、CN、SN、R, 一個(gè)輸出端為so。從鎖存器由十四個(gè)PMOS管和十四個(gè)NMOS管組成,從鎖存器中所有PMOS 管的襯底連接電源VDD,所有NMOS管的襯底接地VSS。第十七PMOS管的柵極1^17連接M0, 漏極Pdl7連接第十七NMOS管的源極Ndl7,源極1^17連接電源VDD ;第十八PMOS管的柵極1^18連接CN,漏極Pdl8連接第十八NMOS管的源極Nsl8,源極1^18連接Pdl7 ;第十九 PMOS管的柵極1^19連接M0,漏極Pdl9連接第十九NMOS管的漏極Ndl9,源極1^19連接電源VDD ;第二十PMOS管的柵極1^20連接CN,漏極Pd20連接第二十NMOS管的源極Ns20,源極1^20連接Pdl9 ;第二i^一 PMOS管的柵極1^21連接R,漏極Pd21連接第二十二 PMOS管的源極1^22,源極1^21連接電源VDD ;第二十二 PMOS管的柵極1^22連接Pd20,漏極Pd22 連接第二十一 NMOS管的漏極Nd21并作為從鎖存器的輸出端S0,源極1^22連接Pd21 ;第二十三PMOS管的柵極1^23連接SN,漏極Pd23連接Pd22,源極1^23連接電源VDD ;第二十四 PMOS管的柵極1 連接R,漏極PdM連接第二十五PMOS管的源極1^25,源極I^sM連接電源VDD ;第二十五PMOS管的柵極1^25連接Pdl8,漏極Pd25連接第二十四NMOS管的漏極 Nd24,源極1^25連接PdM ;第二十六PMOS管的柵極1 連接SN,漏極Pc^6連接Pd25,源極 Ps26連接電源VDD ;第二十七PMOS管的柵極1^27連接Pd25,漏極Pd27連接第二十八PMOS管的源極I3S^,源極1^27連接電源VDD ;第二十八PMOS管的柵極1 連接C,漏極Pc^8連接第二十七NMOS管的漏極Nd27,源極I^dS連接Pd27 ;第二十九PMOS管的柵極1 連接 Pd22,漏極Pc^9連接第三十PMOS管的源極1^30,源極I3s^連接電源VDD ;第三十PMOS管的柵極1^30連接C,漏極Pd30連接第二十九NMOS管的漏極Nc^9,源極1^30連接Pc^9。第十七NMOS管的柵極Ngl7連接M0,漏極Ndl7連接Pdl7,源極Nsl7接地VSS ;第十八NMOS管的柵極Ngl8連接C,漏極Ndl8連接Pdl7,源極Nsl8連接Pdl8 ;第十九NMOS管的柵極Ngl9 連接M0,漏極Ndl9連接Pdl9,源極Ns 19接地VSS ;第二十NMOS管的柵極Ng20連接C,漏極 Nd20連接Pdl9,源極Ns20連接Pd20 ;第二i^一 NMOS管的柵極Ng21連接Pdl8,漏極Nd21 連接Pd22,源極Ns21連接第二十三NMOS管的漏極Nd23 ;第二十二 NMOS管的柵極Ng22連接R,漏極Nd22連接Pd22,源極Ns22連接Nd23 ;第二十三NMOS管的柵極Ng23連接SN,漏極Nd23連接Ns21,源極Ns23接地VSS ;第二十四NMOS管的柵極NgM連接Pd20,漏極NdM 連接Pd25,源極NsM連接第二十六NMOS管的漏極而沈;第二十五NMOS管的柵極Ng25連接R,漏極Nd25連接Pd25,源極Ns25連接而沈;第二十六NMOS管的柵極Ng^連接SN,漏極Nc^6連接NW4,源極NW6接地VSS ;第二十七NMOS管的柵極Ng27連接CN,漏極Nd27連接卩業(yè)8,源極Ns27連接第二十八NMOS管的漏極Nc^8 ;第二十八NMOS管的柵極Ng^連接 Pd22,漏極而觀連接Ns27,源極Ns^接地VSS ;第二十九NMOS管的柵極Ng^連接CNjJI 極Nc^9連接Pd30,源極NW9連接第三十NMOS管的漏極Nd30 ;第三十NMOS管的柵極Ng30 連接Pd25,漏極Nd30連接Ns^,源極Ns30接地VSS。如圖6所示,輸出緩沖電路有三個(gè)輸入端和一個(gè)輸出端,三個(gè)輸入端分別為S0、R、 SN,一個(gè)輸出端為Q。輸出緩沖電路包括三個(gè)PMOS管和三個(gè)NMOS管,輸出緩沖電路中所有 PMOS管的襯底連接電源VDD,所有NMOS管的襯底接地VSS。第三i^一 PMOS管的柵極1^31 連接R,漏極Pd31連接第三十二 PMOS管的源極1^32,源極1^31連接電源VDD ;第三十二 PMOS管的柵極1^32連接S0,漏極Pd32連接第三十一 NMOS管的漏極Nd31并作為緩沖電路輸出Q,源極1^32連接Pd31 ;第三十三PMOS管的柵極1^33連接SN,漏極Pd33連接Pd32, 源極1^33連接電源VDD ;第三i^一 NMOS管的柵極Ng31連接S0,漏極Nd31連接Pd32,源極 Ns31連接第三十三NMOS管的漏極Nd33 ;第三十二 NMOS管的柵極Ng32連接R,漏極Nd32連接Pd32,源極Ns32連接Ns31 ;第三十三NMOS管的柵極Ng33連接SN,漏極Nd33連接Ns31, 源極Ns33接地VSS。北京原子能研究院H-13串列加速器可以產(chǎn)生LET值分別為2. 88MeV · cm2/mg、 8. 62MeV .Cm2Aig, 12. 6MeV .Cm2Aig和17. OMeV 'cm'/mg的四種地面重離子輻照測(cè)試環(huán)境。將處于正常工作狀態(tài)的傳統(tǒng)未加固的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器、傳統(tǒng)冗余加固的可置位和復(fù)位 D觸發(fā)器、時(shí)間采樣加固的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器和本發(fā)明一種抗單粒子翻轉(zhuǎn)的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器置于北京原子能研究院H-13串列加速器產(chǎn)生的LET值分別為2. 88MeV -cm2/ mg、8. 62MeV · cm2/mg、12. 6MeV · cm2/mg 禾口 17. OMeV · cm2/mg 的地面重離子輻照測(cè)試環(huán)境中,觀察各D觸發(fā)器是否發(fā)生單粒子翻轉(zhuǎn),得到各D觸發(fā)器發(fā)生單粒子翻轉(zhuǎn)需要的最低LET 值數(shù)據(jù)。表1為使用北京原子能研究院H-13串列加速器進(jìn)行的地面重粒子輻照測(cè)試得到的傳統(tǒng)未加固的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器、傳統(tǒng)冗余加固的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器、時(shí)間采樣加固的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器和本發(fā)明一種抗單粒子翻轉(zhuǎn)的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器發(fā)生單粒子翻轉(zhuǎn)需要的最低LET值數(shù)據(jù)。傳統(tǒng)未加固的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器在LET值為2. 88MeV · cm2/mg、8. 62MeV · cm2/mg、12. 6MeV · cm2/mg 禾口 17. OMeV · cm2/mg 的地面重離子輻照測(cè)試環(huán)境工作時(shí)均發(fā)生單粒子翻轉(zhuǎn),傳統(tǒng)冗余加固的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器在LET值為 12. 6MeV · cm2/mg和17. OMeV · cm2/mg的地面重離子輻照測(cè)試環(huán)境工作時(shí)發(fā)生單粒子翻轉(zhuǎn), 時(shí)間采樣加固的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器在LET值為8. 62MeV · cm2/mg、12. 6MeV · cm2/mg和 17. OMeV .cm2/mg的地面重離子輻照測(cè)試環(huán)境工作時(shí)發(fā)生單粒子翻轉(zhuǎn),本發(fā)明一種抗單粒子翻轉(zhuǎn)的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器僅在LET值為17. OMeV · cm2/mg的地面重離子輻照測(cè)試環(huán)境工作時(shí)發(fā)生單粒子翻轉(zhuǎn)。從此表可以看出,本發(fā)明發(fā)生單粒子翻轉(zhuǎn)需要的最低LET值比傳統(tǒng)未加固的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器提高343%,比傳統(tǒng)冗余加固的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器提高35%,比時(shí)間采樣加固的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器提高97%,故本發(fā)明的抗單粒子翻轉(zhuǎn)能力優(yōu)于傳統(tǒng)未加固的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器、時(shí)間采樣加固的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器和傳統(tǒng)冗余加固的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器,適合用于抗單粒子翻轉(zhuǎn)加固集成電路的標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù),應(yīng)用于航空、航天等領(lǐng)域。表 權(quán)利要求
1. 一種抗單粒子翻轉(zhuǎn)的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器,抗單粒子翻轉(zhuǎn)的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器由時(shí)鐘電路、復(fù)位緩沖電路、主鎖存器、從鎖存器和輸出緩沖電路組成,有四個(gè)輸入端和一個(gè)輸出端,四個(gè)輸入端分別是CK即時(shí)鐘信號(hào)輸入端、D即數(shù)據(jù)信號(hào)輸入端、SN即置位信號(hào)輸入端和RN復(fù)位信號(hào)輸入端;一個(gè)輸出端是Q即數(shù)據(jù)輸出信號(hào)端;時(shí)鐘電路有一個(gè)輸入端和兩個(gè)輸出端,輸入端為CK,輸出端為C、CN ;時(shí)鐘電路為一個(gè)兩級(jí)反相器,由第一級(jí)反相器和第二級(jí)反相器組成;第一級(jí)反相器由第一 PMOS管和第一 NMOS管組成,第一 PMOS管的柵極Pgl連接CK,漏極Pdl連接第一 NMOS管的漏極Ndl,并作為時(shí)鐘電路的一個(gè)輸出端CN ; 第一 NMOS管的柵極Ngl連接CK,漏極Ndl連接Pdl ;第二級(jí)反相器由第二 PMOS管和第二 NMOS管組成,第二 PMOS管的柵極Pg2連接CN,漏極Pd2連接第二 NMOS管的漏極Nd2,并作為時(shí)鐘電路的另一個(gè)輸出端C ;第二 NMOS管的柵極Ng2連接CN,漏極Nd2連接Pd2 ;第一 PMOS管和第二 PMOS管的襯底連接電源VDD,源極I3sUd連接電源VDD ;第一 NMOS管和第二 NMOS管的襯底接地VSS,源極Nsl、Ns2也接地VSS ;復(fù)位緩沖電路有一個(gè)輸入端和一個(gè)輸出端,輸入端為RN,輸出端為R ;復(fù)位緩沖電路為一個(gè)一級(jí)反相器,第三十四PMOS管的柵極1 連接RN,漏極Pd34連接第三十四NMOS管的漏極Nd34并作為復(fù)位緩沖電路的輸出 R,源極1^34連接電源VDD ;第三十四NMOS管柵極Ng34連接RN,漏極Nd34連接Pd34,源極 Ns34接地VSS ;輸出緩沖電路有三個(gè)輸入端和一個(gè)輸出端,三個(gè)輸入端分別為SO、R、SN,一個(gè)輸出端為Q ;輸出緩沖電路包括三個(gè)PMOS管和三個(gè)NMOS管,輸出緩沖電路中所有PMOS管的襯底連接電源VDD,所有NMOS管的襯底接地VSS ;第三十一 PMOS管的柵極1^31連接R,漏極Pd31連接第三十二 PMOS管的源極1^32,源極1^31連接電源VDD ;第三十二 PMOS管的柵極1^32連接S0,漏極Pd32連接第三十一 NMOS管的漏極Nd31并作為緩沖電路輸出Q,源極 Ps32連接Pd31 ;第三十三PMOS管的柵極1^33連接SN,漏極Pd33連接Pd32,源極1^33連接電源VDD ;第三i^一 NMOS管的柵極Ng31連接S0,漏極Nd31連接Pd32,源極Ns31連接第三十三NMOS管的漏極Nd33 ;第三十二 NMOS管的柵極Ng32連接R,漏極Nd32連接Pd32,源極Ns32連接Ns31 ;第三十三NMOS管的柵極Ng33連接SN,漏極Nd33連接Ns31,源極Ns33 接地VSS ;主鎖存器和從鎖存器均為冗余加固的鎖存器,主鎖存器和從鎖存器前后串聯(lián),并均與時(shí)鐘電路和復(fù)位緩沖電路連接,從鎖存器還與輸出緩沖電路連接;其特征在于主鎖存器有五個(gè)輸入端和一個(gè)輸出端,五個(gè)輸入端為D、C、CN、SN、R,一個(gè)輸出端為MO ;主鎖存器由十四個(gè)PMOS管和十四個(gè)NMOS管組成,主鎖存器中所有PMOS管的襯底連接電源VDD,所有 NMOS管的襯底接地VSS ;第三PMOS管的柵極Pg3連接D,漏極Pd3連接第四PMOS管的源極 1^4,源極Ps3連接電源VDD ;第四PMOS管的柵極Pg4連接C,漏極Pd4連接第三NMOS管的漏極Nd3,源極Ps4連接Pd3 ;第五PMOS管的柵極Pg5連接D,漏極Pd5連接第六PMOS管的源極1^6,源極Ps5連接電源VDD ;第六PMOS管的柵極Pg6連接C,漏極Pd6連接第五NMOS 管的漏極Nd5,源極Ps6連接Pd5 ;第七PMOS管的柵極Pg7連接R,漏極Pd7連接第八PMOS 管的源極1^8,源極Ps7連接電源VDD ;第八PMOS管的柵極PgS連接Pd6,漏極PdS連接第七NMOS管的漏極Nd7并作為主鎖存器的輸出端M0,源極PsS連接Pd7 ;第九PMOS管的柵極 Pg9連接SN,漏極Pd9連接Pd8,源極Ps9連接電源VDD ;第十PMOS管的柵極I^glO連接R, 漏極PdlO連接第i^一 PMOS管的源極Mil,源極I3SlO連接電源VDD ;第i^一 PMOS管的柵極 Pgll連接Pd4,漏極Pdll連接第十NMOS管的漏極NdlO,源極I3sIl連接PdlO ;第十二 PMOS 管的柵極1^12連接SN,漏極Pdl2連接Pdl 1,源極1^12連接電源VDD ;第十三PMOS管的柵極1^13連接Pdll,漏極Pdl3連接第十四PMOS管的源極1^14,源極1^13連接電源VDD ;第十四PMOS管的柵極1^14連接CN,漏極Pdl4連接第十三NMOS管的漏極Ndl3,源極I3sH連接Pdl3 ;第十五PMOS管的柵極1^15連接Pd8,漏極Pdl5連接第十六PMOS管的源極1^16, 源極1^15連接電源VDD ;第十六PMOS管的柵極1^16連接CN,漏極Pdl6連接第十五NMOS 管的漏極Ndl5,源極1^16連接Pdl5 ;第三NMOS管的柵極Ng3連接CN,漏極Nd3連接Pd4, 源極Ns3連接第四NMOS管的漏極Nd4 ;第四NMOS管的柵極Ng4連接D,漏極Nd4連接Ns3, 源極Ns4接地VSS ’第五NMOS管的柵極Ng5連接CN,漏極Nd5連接Pd6,源極Ns5連接第六 NMOS管的漏極Nd6 ;第六NMOS管的柵極Ng6連接D,漏極Nd6連接Ns5,源極Ns6接地VSS ; 第七NMOS管的柵極Ng7連接Pd4,漏極Nd7連接Pd8,源極Ns7連接第九NMOS管的漏極Nd9 ; 第八NMOS管的柵極Ng8連接R,漏極Nd8連接Pd8,源極Ns8連接Nd9 ;第九NMOS管的柵極 Ng9連接SN,漏極Nd9連接Ns7,源極Ns9接地VSS ;第十NMOS管的柵極NglO連接Pd6,漏極NdlO連接Pdl 1,源極NslO連接第十二 NMOS管的漏極Ndl2 ;第i^一 NMOS管的柵極Ngll 連接R,漏極Ndll連接Pdl 1,源極Nsll連接Ndl2 ;第十二 NMOS管的柵極1^12連接SNJI 極Ndl2連接NslO,源極Nsl2接地VSS ;第十三NMOS管的柵極Ngl3連接C,漏極Ndl3連接 Pdl4,源極Nsl3連接第十四NMOS管的漏極Ndl4 ;第十四NMOS管的柵極Ngl4連接Pd8,漏極Ndl4連接Nsl3,源極Nsl4接地VSS ;第十五NMOS管的柵極Ngl5連接C,漏極Ndl5連接 Pdl6,源極Nsl5連接第十六NMOS管的漏極Ndl6 ;第十六NMOS管的柵極Ngl6連接PdllJI 極Ndl6連接Nsl5,源極Nsl6接地VSS ;從鎖存器有五個(gè)輸入端和一個(gè)輸出端,五個(gè)輸入端為M0、C、CN、SN、R,一個(gè)輸出端為SO ;從鎖存器由十四個(gè)PMOS管和十四個(gè)NMOS管組成,從鎖存器中所有PMOS管的襯底連接電源VDD,所有NMOS管的襯底接地VSS ;第十七PMOS管的柵極1^17連接M0,漏極Pdl7連接第十七NMOS管的源極Ndl7,源極1^17連接電源VDD ;第十八PMOS管的柵極1^18連接CN,漏極Pdl8連接第十八NMOS管的源極Ns 18,源極1^18連接Pdl7 ;第十九PMOS管的柵極1^19連接M0,漏極Pdl9連接第十九NMOS管的漏極Ndl9, 源極1^19連接電源VDD ;第二十PMOS管的柵極1^20連接CN,漏極Pd20連接第二十NMOS 管的源極Ns20,源極1^20連接Pdl9 ;第二i^一 PMOS管的柵極1^21連接R,漏極Pd21連接第二十二 PMOS管的源極1^22,源極1^21連接電源VDD ;第二十二 PMOS管的柵極1^22連接 Pd20,漏極Pd22連接第二十一 NMOS管的漏極Nd21并作為從鎖存器的輸出端S0,源極1^22 連接Pd21 ;第二十三PMOS管的柵極1^23連接SN,漏極Pd23連接Pd22,源極1^23連接電源VDD ;第二十四PMOS管的柵極1 連接R,漏極PdM連接第二十五PMOS管的源極1^25, 源極I^sM連接電源VDD ;第二十五PMOS管的柵極1^25連接Pdl8,漏極Pd25連接第二十四 NMOS管的漏極NdM,源極1^25連接PdM ;第二十六PMOS管的柵極1 連接SN,漏極Pc^6 連接Pd25,源極I3S^連接電源VDD ;第二十七PMOS管的柵極1^27連接Pd25,漏極Pd27連接第二十八PMOS管的源極I3S^,源極1^27連接電源VDD ;第二十八PMOS管的柵極1 連接C,漏極卩業(yè)8連接第二十七NMOS管的漏極Nd27,源極1^ 連接Pd27 ;第二十九PMOS 管的柵極1 連接Pd22,漏極Pc^9連接第三十PMOS管的源極1^30,源極I3s^連接電源 VDD ;第三十PMOS管的柵極1^30連接C,漏極Pd30連接第二十九NMOS管的漏極而四,源極 Ps30連接卩業(yè)9 ;第十七NMOS管的柵極Ngl7連接M0,漏極Ndl7連接Pdl7,源極Nsl7接地 VSS ;第十八NMOS管的柵極Ngl8連接C,漏極Ndl8連接Pdl7,源極Nsl8連接Pdl8 ;第十九 NMOS管的柵極Ngl9連接M0,漏極Ndl9連接Pdl9,源極Nsl9接地VSS ;第二十NMOS管的柵極Ng20連接C,漏極Nd20連接Pdl9,源極Ns20連接Pd20 ;第二i^一 NMOS管的柵極Ng21連接Pdl8,漏極Nd21連接Pd22,源極Ns21連接第二十三NMOS管的漏極Nd23 ;第二十二 NMOS 管的柵極Ng22連接R,漏極Nd22連接Pd22,源極Ns22連接Nd23 ;第二十三NMOS管的柵極 Ng23連接SN,漏極Nd23連接Ns21,源極Ns23接地VSS ;第二十四NMOS管的柵極NgM連接Pd20,漏極NdM連接Pd25,源極NsM連接第二十六NMOS管的漏極而沈;第二十五NMOS 管的柵極Ng25連接R,漏極Nd25連接Pd25,源極Ns25連接而沈;第二十六NMOS管的柵極 Ng26連接SN,漏極而沈連接NW4,源極NW6接地VSS ;第二十七NMOS管的柵極Ng27連接 CN,漏極Nd27連接Pd28,源極Ns27連接第二十八NMOS管的漏極Nc^8 ;第二十八NMOS管的柵極Ng^連接Pd22,漏極Nc^8連接Ns27,源極NW8接地VSS ;第二十九NMOS管的柵極 Ng29連接CN,漏極Nc^9連接Pd30,源極NW9連接第三十NMOS管的漏極Nd30 ;第三十NMOS 管的柵極Ng30連接Pd25,漏極Nd30連接NW9,源極Ns30接地VSS。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種抗單粒子翻轉(zhuǎn)的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器,目的是提高抗單粒子翻轉(zhuǎn)的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器的抗單粒子翻轉(zhuǎn)能力。它由時(shí)鐘電路、復(fù)位緩沖電路、主鎖存器、從鎖存器和輸出緩沖電路組成;主鎖存器由十四個(gè)PMOS管和十四個(gè)NMOS管組成,從鎖存器由十個(gè)PMOS管和十個(gè)NMOS管組成,主鎖存器和從鎖存器均進(jìn)行了雙模冗余加固,且主鎖存器中C2MOS電路進(jìn)行了改進(jìn),即分離互為冗余的C2MOS電路中的上拉PMOS管和下拉NMOS管。本發(fā)明抗單粒子翻轉(zhuǎn)的可置位和復(fù)位D觸發(fā)器的抗單粒子翻轉(zhuǎn)能力強(qiáng),適合用于抗單粒子翻轉(zhuǎn)加固集成電路的標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù),應(yīng)用于航空、航天等領(lǐng)域。
文檔編號(hào)H03K3/02GK102394600SQ201110323908
公開日2012年3月28日 申請(qǐng)日期2011年10月21日 優(yōu)先權(quán)日2011年10月21日
發(fā)明者何益百, 劉必慰, 劉真, 李振濤, 李鵬, 杜延康, 梁斌, 池雅慶, 陳建軍 申請(qǐng)人:中國(guó)人民解放軍國(guó)防科學(xué)技術(shù)大學(xué)
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