專利名稱：一種高精度時(shí)刻鑒別電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于時(shí)刻鑒別領(lǐng)域，涉及一種時(shí)刻鑒別電路，尤其是一種高精度時(shí)刻鑒別電路。
背景技術(shù)：
隨著激光技術(shù)的發(fā)展，激光測距的技術(shù)已經(jīng)趨于完善和成熟。激光測距一般采用兩種方法脈沖法和相位法。其中脈沖激光測距法的發(fā)展迅速，應(yīng)用也十分廣泛。測距儀發(fā)射出的激光經(jīng)被測量物體的反射后又被測距儀接收，測距儀同時(shí)記錄激光往返的時(shí)間。光速和往返時(shí)間的乘積的一半，就是測距儀和被測量物體之間的距離。傳統(tǒng)的方法是將脈沖激光發(fā)出產(chǎn)生的信號與接收產(chǎn)生的信號送入到兩套不同的后續(xù)處理電路之中。然而，由于電子元件以及電子芯片存在的固有誤差在不同的電路中會(huì)有差別，兩套不同的后續(xù)處理電路的固有誤差也有所不同。因此，將發(fā)出信號與接收信號送入到兩套不同的后續(xù)處理電路之中會(huì)增加測距系統(tǒng)的誤差，使精度有所下降。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，提供一種高精度時(shí)刻鑒別電路，該電路將發(fā)出信號與接收信號送入到同一套后續(xù)處理電路之中，可以抵消這方面增加的誤差，提聞測量的精度。本發(fā)明的目的是通過以下技術(shù)方案來解決的一種高精度時(shí)刻鑒別電路，包括兩個(gè)APD探測器，兩個(gè)調(diào)理電路，兩個(gè)電子開關(guān)，兩個(gè)比較器，衰減模塊，延時(shí)模塊，時(shí)間間隔測量模塊以及CPU模塊；所述兩個(gè)Aro探測器的信號輸出端分別與兩個(gè)調(diào)理電路的信號輸入端相連，兩調(diào)理電路的輸出端分別連接到第一電子開關(guān)的SI以及S2接口，第一電子開關(guān)的輸出端分別與第一比較器的正向輸入端、衰減模塊輸入端以及延時(shí)模塊輸入端相連；所述衰減模塊與延時(shí)模塊的輸出端分別連接到第二比較器的反向輸入端與正向輸入端；所述兩個(gè)比較器的輸出端均連接到與門的兩個(gè)信號輸入端，與門的輸出與第二電子開關(guān)的輸入端相連，第二電子開關(guān)的SI與S2接口均連接到時(shí)間間隔測量模塊的兩個(gè)輸入端；所述時(shí)間間隔測量模塊的信號輸出端與CPU的信號輸入口相連，CPU的兩個(gè)I/O接口分別連接到兩電子開關(guān)的控制信號接口上。上述比較器采用高速比較器MAX9600。上述時(shí)間間隔測量模塊的信號輸出端通過CPU的SPI接口與CPU相連。本發(fā)明設(shè)置兩個(gè)Aro探測器，將發(fā)出信號與接收信號送入到同一套后續(xù)處理電路之中，由于同一套電子元件以及電子芯片的固有誤差在相同的電路中的差別很小，因此，將發(fā)出信號與接收信號送入到同一套后續(xù)處理電路之中會(huì)減小測距系統(tǒng)的誤差，提高測量的精度。


圖I為本發(fā)明的整體結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖對本發(fā)明做進(jìn)一步詳細(xì)描述參見圖1，這種高精度時(shí)刻鑒別電路，包括兩個(gè)APD探測器，兩個(gè)調(diào)理電路，兩個(gè)電·子開關(guān)，兩個(gè)比較器，衰減模塊，延時(shí)模塊，時(shí)間間隔測量模塊以及CPU模塊；所述兩個(gè)APD探測器的信號輸出端分別與兩個(gè)調(diào)理電路的信號輸入端相連，兩調(diào)理電路的輸出端分別連接到第一電子開關(guān)5的SI以及S2接口，第一電子開關(guān)的輸出端分別與第一比較器6的正向輸入端、衰減模塊輸入端以及延時(shí)模塊輸入端相連；所述衰減模塊與延時(shí)模塊的輸出端分別連接到第二比較器7的反向輸入端與正向輸入端；所述兩個(gè)比較器的輸出端均連接到與門8的兩個(gè)信號輸入端，與門8的輸出與第二電子開關(guān)9的輸入端相連，第二電子開關(guān)9的SI與S2接口均連接到時(shí)間間隔測量模塊的兩個(gè)輸入端；所述時(shí)間間隔測量模塊的信號輸出端與CPU的信號輸入口相連，CPU的兩個(gè)I/O接口分別連接到兩電子開關(guān)的控制信號接口上。比較器采用高速比較器MAX9600。時(shí)間間隔測量模塊的信號輸出端通過CPU的SPI接口與CPU相連。參見圖I，本發(fā)明的具體實(shí)施過程如下CPU通過I/O 口輸出低電平，使SI導(dǎo)通，當(dāng)?shù)谝?APD探測器I接收到光照，產(chǎn)生方波A。此時(shí)SI導(dǎo)通，S2斷開，所以方波A就能通過第一電子開關(guān)5進(jìn)入到后續(xù)第一調(diào)理電路3之中。在激光從目標(biāo)反射回來之前，CPU通過I/O 口輸出高電平，使S2導(dǎo)通。當(dāng)反射激光照射到第二 APD探測器2上，產(chǎn)生方波B。而此時(shí)S2導(dǎo)通，SI斷開，所以方波B就能通過第一電子開關(guān)5進(jìn)入到后續(xù)第二調(diào)理電路4之中。后續(xù)電路之中使用到了兩個(gè)高速比較器MAX9600，其中一個(gè)用于時(shí)刻鑒別比較，另一個(gè)是用來抑制干擾。兩個(gè)MAX9600的輸出端接入一個(gè)與門(8)，當(dāng)方波是由目標(biāo)反射的激光產(chǎn)生時(shí)，高速比較后的產(chǎn)生的脈沖首先通過SI連入時(shí)間間隔測量模塊，之后CPU將開關(guān)再切換至S2，等待方波B通過S2連入時(shí)間間隔測量模塊，最后，時(shí)間間隔測量模塊測量兩個(gè)脈沖之間的時(shí)間間隔，并將時(shí)間間隔測量值通過SPI 口輸入到CPU中并計(jì)算出距離值。
權(quán)利要求
1.一種高精度時(shí)刻鑒別電路，其特征在于包括兩個(gè)Aro探測器，兩個(gè)調(diào)理電路，兩個(gè)電子開關(guān)，兩個(gè)比較器，衰減模塊，延時(shí)模塊，時(shí)間間隔測量模塊以及CPU模塊；所述兩個(gè)APD探測器的信號輸出端分別與兩個(gè)調(diào)理電路的信號輸入端相連，兩調(diào)理電路的輸出端分別連接到第一電子開關(guān)(5)的SI以及S2接口，第一電子開關(guān)的輸出端分別與第一比較器(6)的正向輸入端、衰減模塊輸入端以及延時(shí)模塊輸入端相連；所述衰減模塊與延時(shí)模塊的輸出端分別連接到第二比較器(7)的反向輸入端與正向輸入端；所述兩個(gè)比較器的輸出端均連接到與門(8)的兩個(gè)信號輸入端，與門(8)的輸出與第二電子開關(guān)(9)的輸入端相連，第二電子開關(guān)(9)的SI與S2接口均連接到時(shí)間間隔測量模塊的兩個(gè)輸入端；所述時(shí)間間隔測量模塊的信號輸出端與CPU的信號輸入口相連，CPU的兩個(gè)I/O接口分別連接到兩電子開關(guān)的控制信號接口上。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種高精度時(shí)刻鑒別電路，其特征在于所述比較器采用高速比較器MAX9600。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種高精度時(shí)刻鑒別電路，其特征在于所述時(shí)間間隔測量模塊的信號輸出端通過CPU的SPI接口與CPU相連。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種高精度時(shí)刻鑒別電路，包括兩個(gè)APD探測器，所述兩個(gè)APD探測器的信號輸出端分別與兩個(gè)調(diào)理電路的信號輸入端相連，兩調(diào)理電路的輸出端分別連接到第一電子開關(guān)的S1以及S2接口；所述時(shí)間間隔測量模塊的信號輸出端與CPU的信號輸入口相連，CPU的兩個(gè)I/O接口分別連接到兩電子開關(guān)的控制信號接口上。本發(fā)明設(shè)置兩個(gè)APD探測器，將發(fā)出信號與接收信號送入到同一套后續(xù)處理電路之中，由于同一套電子元件以及電子芯片的固有誤差在相同的電路中的差別很小，因此，將發(fā)出信號與接收信號送入到同一套后續(xù)處理電路之中會(huì)減小測距系統(tǒng)的誤差，提高測量的精度。
文檔編號H03K5/125GK102946242SQ20121043661
公開日2013年2月27日 申請日期2012年11月5日 優(yōu)先權(quán)日2012年11月5日
發(fā)明者孫劍, 田征, 侯德門, 郭鵬斌 申請人:西安交通大學(xué)