數(shù)模轉(zhuǎn)換器中的時鐘信號誤差校正的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及數(shù)模轉(zhuǎn)換器中的時鐘信號誤差校正。在一個實(shí)施例中，本文公開一種數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)，所述數(shù)模轉(zhuǎn)換器包括用于時鐘的校正電路，所述時鐘包括差分時鐘。誤差校正可借助于復(fù)制品單元來在DAC核心內(nèi)發(fā)生，所述復(fù)制品單元大致上與轉(zhuǎn)換單元類似。所述復(fù)制品單元可被配置來將反饋信號提供至?xí)r鐘接收器，所述反饋信號具有用于校正時鐘信號的信息，而不是將所述復(fù)制品單元的輸出作用于所轉(zhuǎn)換的信號。所述反饋信號可操作以校正如在所述DAC核心處所測量的例如工作循環(huán)和交叉點(diǎn)中的誤差。
【專利說明】數(shù)模轉(zhuǎn)換器中的時鐘信號誤差校正
[0001]相關(guān)申請的交叉引用
[0002]本申請要求2013 年 3 月 15 日提交的題為 “Duty Cycle Detect1n Circuit ForDouble Data Rate Convers1n(用于雙倍數(shù)據(jù)速率轉(zhuǎn)換的工作循環(huán)檢測電路)”的美國臨時申請61/799，723的優(yōu)先權(quán)，所述申請全部通過引用并入本文中。

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0003]本申請涉及信號處理領(lǐng)域，并且更具體地說涉及數(shù)模轉(zhuǎn)換器中的時鐘信號誤差校正電路。

【背景技術(shù)】
[0004]信號處理電路(如數(shù)模轉(zhuǎn)換器)可能需要計時以便確保數(shù)據(jù)輸出正確地同步化。在一些情況下，反饋電路用于校正時鐘信號參數(shù)中的誤差，包括例如工作循環(huán)和交叉點(diǎn)。
[0005]電流導(dǎo)引DAC被配置成使用η 二進(jìn)制加權(quán)開關(guān)的陣列來轉(zhuǎn)換η位數(shù)字輸入信號。
開關(guān)機(jī)制使得電流能夠被提供至電流合并網(wǎng)絡(luò)。舉例來說，當(dāng)η = 4時，電流是

【權(quán)利要求】
1.一種數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC),其包括: 時鐘接收器，其可操作以提供所分配的時鐘輸出信號并且可操作以響應(yīng)于反饋信號來調(diào)整所述分配的時鐘信號；以及 DAC核心，其可操作以接收所述分配的時鐘信號并且將所述分配的時鐘信號提供至多個轉(zhuǎn)換單元，所述DAC核心包括時鐘誤差檢測電路，所述時鐘誤差檢測電路可操作以檢測所述分配的時鐘信號中的第一種類誤差。
2.如權(quán)利要求1所述的DAC，其中所述時鐘信號輸出是差分時鐘信號。
3.如權(quán)利要求1所述的DAC，其中所述第一種類誤差包括工作循環(huán)誤差。
4.如權(quán)利要求1所述的DAC，其中所述第一種類誤差包括交叉點(diǎn)誤差。
5.如權(quán)利要求1所述的DAC，其中所述DAC核心進(jìn)一步包括可操作以檢測第二種類誤差的第二誤差檢測電路。
6.如權(quán)利要求5所述的DAC，其中所述第一種類誤差包括工作循環(huán)誤差，并且其中所述第二種類誤差包括交叉點(diǎn)誤差。
7.如權(quán)利要求1所述的DAC，其中所述時鐘誤差檢測電路進(jìn)一步可操作以提供誤差校正信號，并且其中所述時鐘分配器包括: 第一 DAC復(fù)制品單元，其包括第一共同源極節(jié)點(diǎn)，所述第一共同源極節(jié)點(diǎn)可操作以接收直流(DC)參考； 第二 DAC復(fù)制品單元，其包括第二共同源極節(jié)點(diǎn)并且可操作以接收數(shù)據(jù)輸入；以及 比較器，其可操作以將第一共同源極節(jié)點(diǎn)上的漣波與第二共同源極節(jié)點(diǎn)上的漣波比較并且由此提供交叉點(diǎn)誤差。
8.如權(quán)利要求1所述的DAC，其中所述誤差檢測電路包括所述轉(zhuǎn)換單元中的一個轉(zhuǎn)換單元的實(shí)質(zhì)性克隆。
9.如權(quán)利要求8所述的DAC，其中所述轉(zhuǎn)換單元中的一個轉(zhuǎn)換單元的所述實(shí)質(zhì)性克隆包括二進(jìn)制DAC單元。
10.如權(quán)利要求8所述的DAC，其中: 所述轉(zhuǎn)換單元包括包含第一種類轉(zhuǎn)換單元的最高有效位(MSB)區(qū)域和包含第二種類轉(zhuǎn)換單元的最低有效位(LSB)區(qū)域；以及 所述誤差檢測電路包括所述第一種類轉(zhuǎn)換單元的實(shí)質(zhì)性克隆。
11.如權(quán)利要求10所述的DAC，其中所述第一種類轉(zhuǎn)換單元包括溫度計DAC。
12.—種集成電路，其包括如權(quán)利要求1所述的DAC。
13.—種時鐘信號誤差檢測器,其包括: 用于接收時鐘信號輸入的輸入端； 誤差檢測核心電路，其可操作以檢測所述時鐘信號輸入中的第一種類誤差；以及 用于提供時鐘校正信號的輸出端； 其中所述時鐘信號誤差檢測器安置于數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換核心內(nèi)并且包括電路，所述電路是所述數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換核心內(nèi)的真實(shí)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路的實(shí)質(zhì)性克隆。
14.如權(quán)利要求13所述的時鐘信號誤差檢測器，其中所述誤差檢測核心電路可操作以檢測工作循環(huán)誤差。
15.如權(quán)利要求13所述的時鐘信號誤差檢測器，其中所述誤差檢測核心電路可操作以檢測交叉點(diǎn)誤差。
16.如權(quán)利要求15所述的時鐘信號誤差檢測器，其中所述誤差檢測核心電路通過測量共同源極節(jié)點(diǎn)處的漣波來間接地檢測交叉點(diǎn)誤差。
17.一種提供校正的時鐘信號的方法，其包括: 產(chǎn)生輸出時鐘信號； 將所述輸出時鐘信號分配至數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換核心內(nèi)的多個轉(zhuǎn)換單元； 在所述數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換核心內(nèi)檢測所述時鐘信號中的誤差；以及 提供反饋信號以便校正所述輸出時鐘信號。
18.如權(quán)利要求17所述的方法，其中檢測所述時鐘信號中的誤差包括檢測所述時鐘信號的工作循環(huán)中的誤差。
19.如權(quán)利要求17所述的方法，其中所述輸出時鐘信號是差分時鐘信號，并且其中檢測所述時鐘信號中的誤差包括檢測所述時鐘信號的交叉點(diǎn)中的誤差。
20.如權(quán)利要求17所述的方法，其中檢測所述時鐘信號中的誤差包括操作電路，所述電路是所述數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換核心的真實(shí)轉(zhuǎn)換電路的實(shí)質(zhì)性復(fù)制品。
【文檔編號】H03M1/66GK104052479SQ201410099136
【公開日】2014年9月17日 申請日期:2014年3月17日 優(yōu)先權(quán)日:2013年3月15日
【發(fā)明者】B·謝佛, 雷平榮, 何秋榮 申請人:美國亞德諾半導(dǎo)體公司