本發(fā)明有關(guān)半速率時(shí)鐘數(shù)據(jù)回復(fù)電路，尤指一種可動(dòng)態(tài)改變?nèi)有盘?hào)延遲量的半速率時(shí)鐘數(shù)據(jù)回復(fù)電路。

背景技術(shù)：

傳統(tǒng)的半速率時(shí)鐘數(shù)據(jù)回復(fù)電路會(huì)利用壓控振蕩器產(chǎn)生同相時(shí)鐘信號(hào)(inphaseclocksignal)與相位相差90度的正交相時(shí)鐘信號(hào)(quadraturephaseclocksignal)。在傳統(tǒng)半速率時(shí)鐘數(shù)據(jù)回復(fù)電路中，數(shù)據(jù)取樣電路會(huì)采用前述的同相時(shí)鐘信號(hào)作為輸入信號(hào)的數(shù)據(jù)取樣時(shí)鐘，而邊緣取樣電路則會(huì)采用前述的正交相時(shí)鐘信號(hào)來(lái)作為輸入信號(hào)的邊緣取樣時(shí)鐘。當(dāng)正交相時(shí)鐘信號(hào)的邊緣對(duì)齊輸入信號(hào)的眼圖邊緣時(shí)，同相時(shí)鐘信號(hào)的邊緣理論上應(yīng)該會(huì)對(duì)準(zhǔn)輸入信號(hào)的眼圖中央。如此一來(lái)，利用同相時(shí)鐘信號(hào)作為輸入信號(hào)的數(shù)據(jù)取樣時(shí)鐘便可降低半速率時(shí)鐘數(shù)據(jù)回復(fù)電路的位錯(cuò)誤率。

然而，在實(shí)際應(yīng)用環(huán)境中，由于傳輸介質(zhì)的衰減導(dǎo)致輸入信號(hào)的眼圖往往不是理想的對(duì)稱形狀，而且邊緣取樣電路也常會(huì)有一定的數(shù)據(jù)保持時(shí)間(holdtime)。在此情況下，使用相位差固定為90度的同相時(shí)鐘信號(hào)與正交相時(shí)鐘信號(hào)來(lái)進(jìn)行取樣，會(huì)導(dǎo)致回路鎖定時(shí)輸入信號(hào)的取樣位置偏離眼圖中的最佳取樣點(diǎn)，進(jìn)而導(dǎo)致數(shù)據(jù)錯(cuò)誤率增加。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

有鑒于此，如何有效提升輸入信號(hào)的取樣正確性，進(jìn)而降低半速率時(shí)鐘數(shù)據(jù)回復(fù)電路的位錯(cuò)誤率，實(shí)為業(yè)界有待解決的問(wèn)題。

本說(shuō)明書提供一種半速率時(shí)鐘數(shù)據(jù)回復(fù)電路的實(shí)施例，用于提供一時(shí)鐘數(shù)據(jù)信號(hào)給一數(shù)據(jù)處理電路。該半速率時(shí)鐘數(shù)據(jù)回復(fù)電路包含有：一控制電壓產(chǎn)生電路，設(shè)置成產(chǎn)生一控制電壓；一數(shù)據(jù)取樣電路，設(shè)置成依據(jù)一數(shù)據(jù)取樣時(shí)鐘對(duì)一輸入信號(hào)進(jìn)行數(shù)據(jù)取樣，以產(chǎn)生該時(shí)鐘數(shù)據(jù)信號(hào)；一邊緣取樣電路，設(shè)置成依據(jù)一邊緣取樣時(shí)鐘對(duì)該輸入信號(hào)進(jìn)行邊緣取樣，以產(chǎn)生一邊緣取樣信號(hào)；一相位檢測(cè)電路，耦接于該控制電壓產(chǎn)生電路、該數(shù)據(jù)取樣電路、及該邊緣取樣電路，設(shè)置成比較該時(shí)鐘數(shù)據(jù)信號(hào)與該邊緣取樣信號(hào)兩者在相鄰取樣時(shí)間的數(shù)據(jù)一致性，以控制該控制電壓產(chǎn)生電路調(diào)整該控制電壓的大??；一壓控振蕩器，耦接于該控制電壓產(chǎn)生電路，設(shè)置成依據(jù)該控制電壓產(chǎn)生該數(shù)據(jù)取樣時(shí)鐘與該邊緣取樣時(shí)鐘；一調(diào)整電路，耦接于該壓控振蕩器，設(shè)置成在多個(gè)測(cè)試期間中動(dòng)態(tài)控制該壓控振蕩器將該數(shù)據(jù)取樣時(shí)鐘與該邊緣取樣時(shí)鐘之間的一相位差調(diào)整成異于90度；以及一控制電路，耦接于該調(diào)整電路，設(shè)置成指示該調(diào)整電路在該多個(gè)測(cè)試期間中分別利用不同的控制值組合來(lái)控制該壓控振蕩器，并記錄該數(shù)據(jù)處理電路分別在該多個(gè)測(cè)試期間中所產(chǎn)生的多個(gè)回復(fù)信號(hào)質(zhì)量指針，而在該多個(gè)測(cè)試期間之后，該控制電路會(huì)指示該調(diào)整電路利用與該多個(gè)回復(fù)信號(hào)質(zhì)量指針中的一最佳質(zhì)量指針相對(duì)應(yīng)的一控制值組合來(lái)控制該壓控振蕩器，以降低該時(shí)鐘數(shù)據(jù)信號(hào)的錯(cuò)誤率。

上述實(shí)施例的優(yōu)點(diǎn)之一，是該調(diào)整電路會(huì)刻意將該壓控振蕩器產(chǎn)生的數(shù)據(jù)取樣時(shí)鐘與邊緣取樣時(shí)鐘之間的相位差調(diào)整成異于90度，以避免如先前技術(shù)將兩者的相位差固定在90度時(shí)所衍生的缺點(diǎn)。

本發(fā)明的其它優(yōu)點(diǎn)將藉由以下的說(shuō)明和圖式進(jìn)行更詳細(xì)的解說(shuō)。

附圖說(shuō)明

圖1為本發(fā)明一實(shí)施例的半速率時(shí)鐘數(shù)據(jù)回復(fù)電路簡(jiǎn)化后的功能方塊圖。

圖2為圖1中的壓控振蕩器的一實(shí)施例簡(jiǎn)化后的功能方塊圖。

圖3為圖2的壓控振蕩器的其中一個(gè)振蕩單元的一實(shí)施例簡(jiǎn)化后的功能方塊圖。

具體實(shí)施方式

以下將配合相關(guān)圖式來(lái)說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施例。在圖式中，相同的標(biāo)號(hào)表示相同或類似的組件或方法流程。

圖1為本發(fā)明一實(shí)施例的半速率時(shí)鐘數(shù)據(jù)回復(fù)電路(half-rateclockdatarecoverycircuit)100簡(jiǎn)化后的功能方塊圖。半速率時(shí)鐘數(shù)據(jù)回復(fù)電路100用于提供一時(shí)鐘數(shù)據(jù)信號(hào)(clockdatasignal)dout給一數(shù)據(jù)處理電路(dataprocessingcircuit)102。如圖1所示，半速率時(shí)鐘數(shù)據(jù)回復(fù)電路100包含一控制電壓產(chǎn)生電路110、一數(shù)據(jù)取樣電路120、一邊緣取樣電路130、一相位檢測(cè)電路140、一壓控振蕩器150、一頻率檢測(cè)電路160、一調(diào)整電路170、一控制電路180、以及一儲(chǔ)存裝置190。

在半速率時(shí)鐘數(shù)據(jù)回復(fù)電路100中，控制電壓產(chǎn)生電路110設(shè)置成產(chǎn)生一控制電壓vc。數(shù)據(jù)取樣電路120設(shè)置成依據(jù)一數(shù)據(jù)取樣時(shí)鐘(datasamplingclock)cki對(duì)一輸入信號(hào)(inputdata)din進(jìn)行數(shù)據(jù)取樣，以產(chǎn)生時(shí)鐘數(shù)據(jù)信號(hào)dout。邊緣取樣電路130設(shè)置成依據(jù)一邊緣取樣時(shí)鐘(edgesamplingclock)ckq對(duì)輸入信號(hào)din進(jìn)行邊緣取樣，以產(chǎn)生一邊緣取樣信號(hào)(edge-sampledsignal)es。相位檢測(cè)電路140耦接于控制電壓產(chǎn)生電路110、數(shù)據(jù)取樣電路120、及邊緣取樣電路130，并設(shè)置成比較時(shí)鐘數(shù)據(jù)信號(hào)dout與邊緣取樣信號(hào)es兩者在相鄰取樣時(shí)間的數(shù)據(jù)一致性，以控制控制電壓產(chǎn)生電路110調(diào)整控制電壓vc的大小。

實(shí)作上，控制電壓產(chǎn)生電路110可包含一電荷泵111以及一回路濾波器(loopfilter)113。相位檢測(cè)電路140可依據(jù)時(shí)鐘數(shù)據(jù)信號(hào)dout與邊緣取樣信號(hào)es兩者在相鄰取樣時(shí)間的數(shù)據(jù)一致性比較結(jié)果，產(chǎn)生提升信號(hào)up或是調(diào)降信號(hào)dn，以調(diào)整電荷泵111的輸出電壓大小。回路濾波器113則會(huì)對(duì)電荷泵111的輸出電壓進(jìn)行補(bǔ)償與濾波，以產(chǎn)生壓控振蕩器150的控制電壓vc。

在半速率時(shí)鐘數(shù)據(jù)回復(fù)電路100中，壓控振蕩器150耦接于控制電壓產(chǎn)生電路110，設(shè)置成依據(jù)控制電壓vc產(chǎn)生前述的數(shù)據(jù)取樣時(shí)鐘cki與邊緣取樣時(shí)鐘ckq。

頻率檢測(cè)電路160耦接于壓控振蕩器150與調(diào)整電路170，設(shè)置成控制調(diào)整電路170調(diào)整壓控振蕩器150的振蕩頻率，直到一參考時(shí)鐘rck的頻率與壓控振蕩器150的振蕩頻率兩者的差值小于一預(yù)定臨界值。調(diào)整電路170耦接于壓控振蕩器150，并設(shè)置成在多個(gè)測(cè)試期間中動(dòng)態(tài)控制壓控振蕩器150將數(shù)據(jù)取樣時(shí)鐘cki與邊緣取樣時(shí)鐘ckq之間的相位差調(diào)整成異于90度?？刂齐娐?80耦接于調(diào)整電路170，設(shè)置成指示調(diào)整電路170在多個(gè)測(cè)試期間中分別利用不同的控制值組合來(lái)控制壓控振蕩器150，并將數(shù)據(jù)處理電路102分別在多個(gè)測(cè)試期間中所產(chǎn)生的多個(gè)回復(fù)信號(hào)質(zhì)量指針(recovered-signalqualityindicator，rsqi)記錄在儲(chǔ)存裝置190中。

實(shí)作上，壓控振蕩器150的輸出信號(hào)可以是單端信號(hào)(single-endedsignal)的形式，也可以是差動(dòng)信號(hào)(differentialsignal)的形式。例如，在需要壓控振蕩器150提供差動(dòng)輸出信號(hào)的實(shí)施例中，壓控振蕩器150可依據(jù)控制電壓vc產(chǎn)生差動(dòng)形式的數(shù)據(jù)取樣時(shí)鐘cki與ckib，以及差動(dòng)形式的邊緣取樣時(shí)鐘ckq與ckqb。

另外，數(shù)據(jù)處理電路102所產(chǎn)生的回復(fù)信號(hào)質(zhì)量指針rsqi可以是位錯(cuò)誤率(biterrorrate，ber)、服務(wù)質(zhì)量(qualityofservice，qos)、信號(hào)噪聲 比(signal-to-noiseratio，snr)、或是可供后級(jí)電路評(píng)估輸入信號(hào)din的取樣正確性的其它指標(biāo)。

在前述的多個(gè)測(cè)試期間之后，控制電路180會(huì)指示調(diào)整電路170利用與多個(gè)回復(fù)信號(hào)質(zhì)量指針中的一最佳質(zhì)量指針相對(duì)應(yīng)的一控制值組合來(lái)控制壓控振蕩器150，以降低時(shí)鐘數(shù)據(jù)信號(hào)dout的錯(cuò)誤率。

以下搭配圖2與圖3來(lái)進(jìn)一步說(shuō)明半速率時(shí)鐘數(shù)據(jù)回復(fù)電路100的運(yùn)作方式。

圖2為壓控振蕩器150的一實(shí)施例簡(jiǎn)化后的功能方塊圖。圖3為壓控振蕩器150中的第一振蕩單元210的一實(shí)施例簡(jiǎn)化后的功能方塊圖。

如圖2所示，壓控振蕩器150包含有多個(gè)振蕩單元(oscillatorcell)210-240，且振蕩單元210-240劃分為一第一振蕩單元群組(oscillatorcellgroup)以及一第二振蕩單元群組，其中，第一振蕩單元群組包含一第一振蕩單元210與一第二振蕩單元220，而第二振蕩單元群組則包含一第三振蕩單元230及一第四振蕩單元240。

在圖2的實(shí)施例中，第二振蕩單元220的輸入端vip與vin分別耦接于第一振蕩單元210的輸出端vop與von，第三振蕩單元230的輸入端vip與vin分別耦接于第二振蕩單元220的輸出端vop與von，第四振蕩單元240的輸入端vip與vin分別耦接于第三振蕩單元230的輸出端vop與von，且第四振蕩單元240的輸出端vop與von分別耦接于第一振蕩單元210的輸入端vin與vip。換言之，振蕩單元210-240構(gòu)成了一環(huán)狀振蕩器(ringoscillator)。

在壓控振蕩器150中，第二振蕩單元220的兩輸出端vop與von分別用于提供差動(dòng)形式的數(shù)據(jù)取樣時(shí)鐘cki與ckib，且第四振蕩單元240的 兩輸出端vop與von分別用于提供差動(dòng)形式的邊緣取樣時(shí)鐘ckq與ckqb。

如圖3所示，第一振蕩單元210包含第一晶體管311、第二晶體管313、第三晶體管315、第四晶體管317、第一電阻321、第二電阻323、第一電流源331、以及第二電流源333。

在第一振蕩單元210中，第一電阻321的第一端耦接于一操作電壓vdd，而第二端耦接于第一晶體管311的第一端以及第三晶體管315的第一端。第二電阻323的第一端耦接于操作電壓vdd，而第二端耦接于第二晶體管313的第一端以及第四晶體管317的第一端。

第一電流源331耦接于第一晶體管311的第二端與第二晶體管313的第二端。第二電流源333耦接于第三晶體管315的第二端與第四晶體管317的第二端。

第一振蕩單元210的輸入端vip與vin分別耦接于第一晶體管311的控制端與第二晶體管313的控制端，而第一振蕩單元210的輸出端vop與von則分別耦接于第二電阻323的第二端與第一電阻321的第二端。

調(diào)整電路170可控制第一電流源331與第二電流源333兩者的電流大小關(guān)系，來(lái)調(diào)整第一振蕩單元210的輸入端與輸出端之間的信號(hào)延遲量(signaldelay)。例如，調(diào)整電路170可調(diào)增第一電流源331的電流ifast的大小，或是調(diào)降第二電流源333的電流islow的大小，以同時(shí)減少輸入端vip與輸出端vop之間的信號(hào)延遲量，以及輸入端vin與輸出端von之間的信號(hào)延遲量?；蛘撸{(diào)整電路170可調(diào)降第一電流源331的電流ifast的大小，或是調(diào)增第二電流源333的電流islow的大小，以同時(shí)增加輸入端vip與輸出端vop之間的信號(hào)延遲量，以及輸入端vin與輸出端von之間的信號(hào)延遲量。

對(duì)于第一振蕩單元210而言，基于電路結(jié)構(gòu)的對(duì)稱性，輸入端vip與輸出端vop之間的信號(hào)延遲量，會(huì)跟輸入端vin與輸出端von之間的信號(hào)延遲量相同。

壓控振蕩器150中的其它振蕩單元220-240都具有與第一振蕩單元210相同的電路架構(gòu)，因此，前述有關(guān)第一振蕩單元210的電路架構(gòu)的描述，亦適用于其它的振蕩單元220-240。

在一實(shí)施例中，第一電流源331的電流ifast與第二電流源333的電流islow兩者的大小總和是固定值。在此情況下，調(diào)整電路170可利用以二元控制碼(binarycode)或是熱碼(thermalcode)形式實(shí)現(xiàn)的控制值，來(lái)控制電流ifast與電流islow的分配比例。例如，當(dāng)控制值愈大時(shí)，可調(diào)增電流ifast的大小并相應(yīng)調(diào)降電流islow的大小，以減少振蕩單元的信號(hào)延遲量，并提高振蕩單元的振蕩頻率。相反地，當(dāng)控制值愈小時(shí)，可調(diào)降電流ifast的大小并相應(yīng)調(diào)增電流islow的大小，以增加振蕩單元的信號(hào)延遲量，并降低振蕩單元的振蕩頻率。

在初始階段中，可將壓控振蕩器150的控制電壓vc設(shè)置在一固定電位，而調(diào)整電路170則可利用一相同的初始控制值來(lái)控制壓控振蕩器150中的所有振蕩單元210-240開(kāi)始振蕩。在此階段中，頻率檢測(cè)電路160可比較一參考時(shí)鐘rck的頻率與壓控振蕩器150的振蕩頻率(例如數(shù)據(jù)取樣時(shí)鐘cki的頻率)，并控制調(diào)整電路170調(diào)整壓控振蕩器150的振蕩頻率，直到參考時(shí)鐘rck的頻率與壓控振蕩器150的振蕩頻率兩者間的差值小于一預(yù)定臨界值為止。

例如，若壓控振蕩器150的振蕩頻率(例如數(shù)據(jù)取樣時(shí)鐘cki的頻率)高于參考時(shí)鐘rck的頻率，則頻率檢測(cè)電路160可控制調(diào)整電路170調(diào)降初始控制值的大小。反之，若壓控振蕩器150的的振蕩頻率(例如數(shù)據(jù)取樣時(shí)鐘cki的頻率)低于參考時(shí)鐘rck的頻率，則頻率檢測(cè)電路160可控制調(diào)整電路170調(diào)升初始控制值的大小。如此一來(lái)，便可將壓控振蕩器 150的振蕩頻率鎖定在一目標(biāo)頻率(亦即參考時(shí)鐘rck的頻率)上，并完成調(diào)整電路170對(duì)于初始控制值的設(shè)置。

換言之，在初始階段中，調(diào)整電路170會(huì)用相同的控制值來(lái)控制壓控振蕩器150中的所有振蕩單元210-240的信號(hào)延遲量。

如前所述，在實(shí)際應(yīng)用環(huán)境中，輸入信號(hào)din的眼圖往往不是理想的對(duì)稱形狀，而且邊緣取樣電路130也會(huì)有保持時(shí)間(holdtime)。因此，在結(jié)束初始階段后，半速率時(shí)鐘數(shù)據(jù)回復(fù)電路100可進(jìn)入一測(cè)試階段。

測(cè)試階段可劃分成多個(gè)測(cè)試期間。調(diào)整電路170可在該多個(gè)測(cè)試期間中動(dòng)態(tài)控制壓控振蕩器150將數(shù)據(jù)取樣時(shí)鐘cki與邊緣取樣時(shí)鐘ckq之間的相位差調(diào)整成異于90度。具體而言，在每一測(cè)試期間中，調(diào)整電路170可利用一第一控制值ctrl_a來(lái)控制前述第一振蕩單元群組中的振蕩單元210-220的信號(hào)延遲量，并利用一相異的第二控制值ctrl_b來(lái)控制前述第二振蕩單元群組中的振蕩單元230-240的信號(hào)延遲量。如此一來(lái)，便可刻意將數(shù)據(jù)取樣時(shí)鐘cki(或ckib)與邊緣取樣時(shí)鐘ckq(或ckqb)之間的相位差調(diào)整成大于90度或小于90度，而非固定在90度。

控制電路180還會(huì)指示調(diào)整電路170將第一控制值ctrl_a與第二控制值ctrl_b設(shè)置成在不同的測(cè)試期間中有不同的差值。例如，控制電路180可指示調(diào)整電路170在多個(gè)測(cè)試期間中分別利用不同的控制值組合(亦即，改變第一控制值ctrl_a與第二控制值ctrl_b的至少其一的大小)來(lái)控制壓控振蕩器150。另外，控制電路180可將數(shù)據(jù)處理電路102分別在多個(gè)測(cè)試期間中所產(chǎn)生的多個(gè)回復(fù)信號(hào)質(zhì)量指針rsqi記錄在儲(chǔ)存裝置190中，并記錄每個(gè)回復(fù)信號(hào)質(zhì)量指針?biāo)鶎?duì)應(yīng)的控制值組合。

在經(jīng)過(guò)前述的多個(gè)測(cè)試期間之后，控制電路180便可檢視記錄在儲(chǔ)存裝置190中的紀(jì)錄，并指示調(diào)整電路170利用與該多個(gè)回復(fù)信號(hào)質(zhì)量指針 中的一最佳質(zhì)量指針相對(duì)應(yīng)的一控制值組合來(lái)控制壓控振蕩器150，以降低時(shí)鐘數(shù)據(jù)信號(hào)dout的錯(cuò)誤率。

實(shí)作上，亦可依據(jù)實(shí)際的需要增加壓控振蕩器150中的振蕩單元個(gè)數(shù)，例如，擴(kuò)充至八個(gè)或十六個(gè)振蕩單元。

由前述說(shuō)明可知，由于調(diào)整電路170會(huì)刻意將壓控振蕩器150產(chǎn)生的數(shù)據(jù)取樣時(shí)鐘與邊緣取樣時(shí)鐘之間的相位差調(diào)整成異于90度，故可避免如先前技術(shù)將兩者的相位差局限在90度時(shí)所衍生的缺點(diǎn)。

另外，藉由控制電路180與調(diào)整電路170的搭配，可使半速率時(shí)鐘數(shù)據(jù)回復(fù)電路100依據(jù)輸入信號(hào)din的實(shí)際情況，改變壓控振蕩器150中的個(gè)別振蕩單元的信號(hào)延遲量，以使產(chǎn)生的數(shù)據(jù)取樣時(shí)鐘與邊緣取樣時(shí)鐘的相位，能適應(yīng)性地因應(yīng)輸入信號(hào)din的實(shí)際情況而動(dòng)態(tài)調(diào)整，以獲得較佳的回復(fù)數(shù)據(jù)質(zhì)量。

換言之，即使輸入信號(hào)din的眼圖不是理想的對(duì)稱形狀，或是邊緣取樣電路130有一定的保持時(shí)間，前述的半速率時(shí)鐘數(shù)據(jù)回復(fù)電路100都能動(dòng)態(tài)地改變數(shù)據(jù)取樣時(shí)鐘與邊緣取樣時(shí)鐘的相位，以獲得最佳的數(shù)據(jù)取樣正確性。

在說(shuō)明書及申請(qǐng)專利范圍中使用了某些詞匯來(lái)指稱特定的組件。然而，所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識(shí)者應(yīng)可理解，同樣的組件可能會(huì)用不同的名詞來(lái)稱呼。說(shuō)明書及申請(qǐng)專利范圍并不以名稱的差異做為區(qū)分組件的方式，而是以組件在功能上的差異來(lái)做為區(qū)分的基準(zhǔn)。在說(shuō)明書及申請(qǐng)專利范圍所提及的「包含」為開(kāi)放式的用語(yǔ)，故應(yīng)解釋成「包含但不限定于」。另外，「耦接」在此包含任何直接及間接的連接手段。因此，若文中描述第一組件耦接于第二組件，則代表第一組件可通過(guò)電性連接或無(wú)線傳輸、光學(xué)傳輸?shù)刃盘?hào)連接方式而直接地連接于第二組件，或者通過(guò)其它組件或連接手段間接地電性或信號(hào)連接至該第二組件。

在此所使用的「及/或」的描述方式，包含所列舉的其中之一或多個(gè)項(xiàng)目的任意組合。另外，除非說(shuō)明書中特別指明，否則任何單數(shù)格的用語(yǔ)都同時(shí)包含復(fù)數(shù)格的涵義。

以上僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，凡依本發(fā)明權(quán)利要求所做的均等變化與修飾，皆應(yīng)屬本發(fā)明的涵蓋范圍。

符號(hào)說(shuō)明

100半速率時(shí)鐘數(shù)據(jù)回復(fù)電路

102數(shù)據(jù)處理電路

110控制電壓產(chǎn)生電路

111電荷泵

113回路濾波器

120數(shù)據(jù)取樣電路

130邊緣取樣電路

140相位檢測(cè)電路

150壓控振蕩器

160頻率檢測(cè)電路

170調(diào)整電路

180控制電路

190儲(chǔ)存裝置

210第一振蕩單元

220第二振蕩單元

230第三振蕩單元

240第四振蕩單元

311第一晶體管

313第二晶體管

315第三晶體管

317第四晶體管

321第一電阻

323第二電阻

331第一電流源

333第二電流源。