本申請涉及一種時脈及數(shù)據(jù)恢復(fù)技術(shù),且特別涉及一種時脈及數(shù)據(jù)恢復(fù)裝置及方法。
背景技術(shù):
突發(fā)通信模式在點(diǎn)對多點(diǎn)光纖接入系統(tǒng)中被廣為使用。近來,在建立芯片與芯片間的通信連結(jié)時,也需要突發(fā)模式的運(yùn)作來節(jié)省功率消耗。功率的節(jié)省成效仰賴于此連結(jié)能多快被開啟和關(guān)閉。根據(jù)突發(fā)數(shù)據(jù)來使連結(jié)開啟及關(guān)閉,可使時脈及數(shù)據(jù)恢復(fù)裝置降低鎖定時間。然而,如何將鎖定時間降低至幾十個位元時間內(nèi),是最大的挑戰(zhàn)。
因此,如何設(shè)計一個新的時脈及數(shù)據(jù)恢復(fù)裝置及方法來解決上述的問題,乃為此一業(yè)界亟待解決的問題。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
因此,本申請?zhí)峁┮环N時脈及數(shù)據(jù)恢復(fù)裝置,包含振蕩器、取樣器、相位檢測器、相位旋轉(zhuǎn)器及回路濾波器。振蕩器產(chǎn)生相位相差90度的參考時脈信號及輔助時脈信號,且參考時脈信號及輔助時脈信號具有多轉(zhuǎn)態(tài)邊緣,轉(zhuǎn)態(tài)邊緣其中之一為數(shù)據(jù)取樣邊緣。取樣器在各個轉(zhuǎn)態(tài)邊緣對輸入數(shù)據(jù)信號進(jìn)行取樣,以產(chǎn)生多主要取樣信號。相位檢測器將各主要取樣信號與數(shù)據(jù)取樣邊緣進(jìn)行比較,進(jìn)一步判斷輸入數(shù)據(jù)信號的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)態(tài)點(diǎn)相對于參考時脈信號間的相位差。相位旋轉(zhuǎn)器根據(jù)相位差旋轉(zhuǎn)主要取樣信號及該參考時脈信號的相位,以使相位檢測器接收旋轉(zhuǎn)后的主要取樣信號及旋轉(zhuǎn)后的參考時脈信號?;芈窞V波器產(chǎn)生控制信號至振蕩器,以根據(jù)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)態(tài)點(diǎn)相對于旋轉(zhuǎn)后的參考時脈信號的相位差改變參考時脈信號和輔助時脈信號的相位。
本申請的另一態(tài)樣是在提供一種時脈及數(shù)據(jù)恢復(fù)裝置,包含鎖相回路 單元、一對相位內(nèi)插器、取樣器、相位檢測器、控制單元及回路濾波器。鎖相回路單元配置以產(chǎn)生原始時脈信號。相位內(nèi)插器配置以接收原始時脈信號并分別產(chǎn)生相位相差90度的參考時脈信號及輔助時脈信號,且參考時脈信號及輔助時脈信號具有多轉(zhuǎn)態(tài)邊緣,轉(zhuǎn)態(tài)邊緣其中之一為數(shù)據(jù)取樣邊緣。取樣器配置以在各個轉(zhuǎn)態(tài)邊緣對輸入數(shù)據(jù)信號進(jìn)行取樣,以產(chǎn)生多主要取樣信號。相位檢測器配置以將各主要取樣信號與數(shù)據(jù)取樣邊緣進(jìn)行比較,進(jìn)一步判斷輸入數(shù)據(jù)信號的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)態(tài)點(diǎn)相對于參考時脈信號間的相位差??刂茊卧渲靡愿鶕?jù)相位差,通過相位內(nèi)插器疊加調(diào)整相位于參考時脈信號及輔助時脈信號的相位,以使相位檢測器接收由取樣器產(chǎn)生的調(diào)整后的主要取樣信號,以判斷數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)態(tài)點(diǎn)與調(diào)整后的參考時脈信號間的相位差位于預(yù)設(shè)范圍?;芈窞V波器配置以根據(jù)相位差,通過相位內(nèi)插器疊加變化相位于參考時脈信號及輔助時脈信號的相位。
本申請的又一態(tài)樣是在提供一種時脈及數(shù)據(jù)恢復(fù)方法,包含:產(chǎn)生相位相差90度的參考時脈信號及輔助時脈信號,且參考時脈信號及輔助時脈信號具有多轉(zhuǎn)態(tài)邊緣,轉(zhuǎn)態(tài)邊緣其中之一為數(shù)據(jù)取樣邊緣。在各個轉(zhuǎn)態(tài)邊緣對輸入數(shù)據(jù)信號進(jìn)行取樣,以產(chǎn)生多主要取樣信號。使相位檢測器將各主要取樣信號與數(shù)據(jù)取樣邊緣進(jìn)行比較,進(jìn)一步判斷輸入數(shù)據(jù)信號的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)態(tài)點(diǎn)相對于參考時脈信號間的相位差。根據(jù)相位差旋轉(zhuǎn)主要取樣信號及該參考時脈信號的相位,以使相位檢測器接收旋轉(zhuǎn)后的主要取樣信號及旋轉(zhuǎn)后的參考時脈信號。產(chǎn)生控制信號至振蕩器,以根據(jù)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)態(tài)點(diǎn)相對于旋轉(zhuǎn)后的參考時脈信號的相位差改變參考時脈信號和輔助時脈信號的相位。
應(yīng)用本申請的優(yōu)點(diǎn)在于利用相位檢測器尋找數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)態(tài)點(diǎn)相對于參考時脈信號間的相位差,并通過相位旋轉(zhuǎn)器或是相位內(nèi)插器快速地調(diào)整主要取樣信號及該參考時脈信號間的相位差至預(yù)設(shè)范圍,以提升相位鎖定的效率,達(dá)到上述的目的。
附圖說明
圖1為本申請一實(shí)施例中一種電子裝置的方塊圖;
圖2為本申請一實(shí)施例中在電子裝置傳送的信號波形圖;
圖3為本申請一實(shí)施例中取樣器的方塊圖;
圖4為本申請一實(shí)施例中相位檢測器的示意圖;
圖5為本申請一實(shí)施例中相位相對于轉(zhuǎn)態(tài)邊緣的范圍的示意圖;
圖6為本申請一實(shí)施例中相位旋轉(zhuǎn)器的方塊圖;及
圖7為本申請一實(shí)施例中一種電子裝置的方塊圖。
附圖標(biāo)記說明:
1:電子裝置
100:振蕩器
102:取樣器
104:相位檢測器
106:控制單元
108:相位旋轉(zhuǎn)器
110:開關(guān)
112:回路濾波器
114:頻寬控制器
300、302、304、306:正反器
400、402、404、406:取樣單元
408:邏輯模塊
410、412、414、416:XOR門
420、422:AND門
600、602、604、606:取樣信號多工器
608:時脈多工器
7:電子裝置
700:鎖相回路單元
702、704:相位內(nèi)插器
706、708:相位疊加器
710:振蕩器
712:相位頻率檢測器
714:鎖相回路濾波器
具體實(shí)施方式
圖1為本申請一實(shí)施例中一種電子裝置1的方塊圖。電子裝置1為鎖相回路式的時脈及數(shù)據(jù)恢復(fù)裝置,包含振蕩器100、取樣器102、相位檢測器104、控制單元106、相位旋轉(zhuǎn)器108、開關(guān)110及回路濾波器112。于一實(shí)施例中,振蕩器100為電壓控制式的振蕩器,以產(chǎn)生參考時脈信號I-CLK及輔助時脈信號Q-CLK。
一并參照圖2,圖2為本申請一實(shí)施例中電子裝置1傳送的信號波形圖。參考時脈信號I-CLK及輔助時脈信號Q-CLK的相位相差90度。參考時脈信號I-CLK包含正緣IRE及負(fù)緣IFE。輔助時脈信號Q-CLK包含正緣QRE及負(fù)緣QFE。這些轉(zhuǎn)態(tài)邊緣將參考時脈信號I-CLK的一周期分隔為四部分,各占據(jù)90度的相位。于一實(shí)施例中,正緣IRE被選擇為數(shù)據(jù)取樣邊緣。
取樣器102在參考時脈信號I-CLK及輔助時脈信號Q-CLK的各個轉(zhuǎn)態(tài)邊緣對輸入數(shù)據(jù)信號IDATA進(jìn)行取樣,以產(chǎn)生對應(yīng)于轉(zhuǎn)態(tài)邊緣IRE、IFE、QRE及QFE的主要取樣信號Ir、If、Qr及Qf。主要取樣信號Ir對應(yīng)于數(shù)據(jù)取樣邊緣(即正緣IRE)。
參照圖3。圖3為本申請一實(shí)施例中取樣器102的方塊圖。取樣器102包含正反器300、302、304及306,各接收輸入數(shù)據(jù)信號IDATA并根據(jù)參考時脈信號I-CLK及輔助時脈信號Q-CLK對輸入數(shù)據(jù)信號IDATA進(jìn)行取樣,以產(chǎn)生主要取樣信號Ir、If、Qr及Qf。
于一實(shí)施例中,如圖1所示,相位旋轉(zhuǎn)器108耦接于取樣器102和相位檢測器104間,并在初始狀態(tài)時直接將主要取樣信號Ir、If、Qr及Qf傳送至相位檢測器104。相位檢測器104判斷輸入數(shù)據(jù)信號IDATA的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)態(tài)點(diǎn)(如圖2的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)態(tài)點(diǎn)DT)相對于參考時脈信號I-CLK間的相位差。
參照圖4。圖4為本申請一實(shí)施例中相位檢測器104的示意圖。相位檢測器104包含取樣單元400、402、404及406及邏輯模塊408。取樣單元400、402、404及406在參考時脈信號I-CLK的數(shù)據(jù)取樣邊緣(即正緣IRE)對主要取樣信號Ir、If、Qr及Qf進(jìn)行取樣,以產(chǎn)生圖2所示的次要取樣信號Ir_d、If_d、Qr_d及Qf_d。
次要取樣信號Ir_d是對應(yīng)于主要取樣信號Ir。根據(jù)次要取樣信號 Ir_d、If_d、Qr_d及Qf_d及主要取樣信號Ir的值,將可判斷輸入數(shù)據(jù)信號IDATA的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)態(tài)點(diǎn)DT的位置。
因此,邏輯模塊408進(jìn)行邏輯運(yùn)算,以將各主要取樣信號Ir、If、Qr及Qf與主要數(shù)據(jù)取樣信號Ir和次要數(shù)據(jù)取樣信號Ir_d的至少其中一者進(jìn)行比較,以產(chǎn)生相位檢測信號。
如圖4所示,邏輯模塊408包含XOR門(異或門)410、412、414及416和AND門(與門)420及422。
XOR門410接收次要數(shù)據(jù)取樣信號Ir_d及次要取樣信號If_d以產(chǎn)生相位檢測信號PD1。次要取樣信號If_d對應(yīng)于由落后于數(shù)據(jù)取樣邊緣180度的轉(zhuǎn)態(tài)邊緣所取樣的主要取樣信號If。
XOR門412接收次要數(shù)據(jù)取樣信號Ir_d及次要取樣信號Qr_d以產(chǎn)生相位檢測信號PD2。次要取樣信號Qr_d對應(yīng)于由落后于數(shù)據(jù)取樣邊緣90度的轉(zhuǎn)態(tài)邊緣所取樣的主要取樣信號Qr。
XOR門414接收主要數(shù)據(jù)取樣信號Ir及次要取樣信號If_d以產(chǎn)生相位檢測信號PD3。
XOR門416接收主要數(shù)據(jù)取樣信號Ir及次要取樣信號Qf_d以產(chǎn)生相位檢測信號PD4。次要取樣信號Qf_d對應(yīng)于由落后于數(shù)據(jù)取樣邊緣270度的轉(zhuǎn)態(tài)邊緣所取樣的主要取樣信號Qf。
AND門420接收相位檢測信號PD1及反相的相位檢測信號PD2,以產(chǎn)生相位檢測信號PD5。
AND門422接收相位檢測信號PD3及反相的相位檢測信號PD4,以產(chǎn)生相位檢測信號PD6。
根據(jù)相位檢測信號PD1-PD6的邏輯電平的組合,可得到數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)態(tài)點(diǎn)DT相對于參考時脈信號I-CLK的相位差。于一實(shí)施例中,數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)態(tài)點(diǎn)DT的相位差是由數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)態(tài)點(diǎn)DT相對于邊緣取樣邊緣(亦即負(fù)緣IFE)的四個狀況表示。邊緣取樣邊緣與數(shù)據(jù)取樣邊緣IRE的相位相差180度。
參考圖5。圖5為本申請一實(shí)施例中相位相對于轉(zhuǎn)態(tài)邊緣IFE、QRE、IRE及QFE的范圍的示意圖。四個狀況包含:(1)「早」對應(yīng)于第一象限,表示負(fù)緣IFE相對數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)態(tài)點(diǎn)DT領(lǐng)先90度以內(nèi);(2)「非常早」對應(yīng)于第二象限,表示負(fù)緣IFE相對數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)態(tài)點(diǎn)DT領(lǐng)先90度至180度;(3)「晚」 對應(yīng)于第四象限,表示負(fù)緣IFE相對數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)態(tài)點(diǎn)DT落后90度以內(nèi);(4)「非常晚」對應(yīng)于第三象限,表示負(fù)緣IFE相對數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)態(tài)點(diǎn)DT落后90度至180度。
于一實(shí)施例中,上述的狀況是由相位檢測信號PD1-PD6的邏輯電平所檢測。當(dāng)相位檢測信號PD6具有非低態(tài)時,狀況是「早」。當(dāng)相位檢測信號PD4具有非低態(tài)時,狀況是「非常早」。當(dāng)相位檢測信號PD5具有非低態(tài)時,狀況是「晚」。當(dāng)相位檢測信號PD2具有非低態(tài)時,狀況是「非常晚」。如圖2所示,其狀況是具有非低態(tài)的相位檢測信號PD6,檢測到的狀況是「早」。
在判斷數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)態(tài)點(diǎn)DT的相位位置后,控制單元106接收相位檢測信號PD1-PD6并據(jù)以產(chǎn)生旋轉(zhuǎn)控制信號RC。于一實(shí)施例中,控制單元106僅需要相位檢測信號PD2、PD4、PD5及PD6即可產(chǎn)生旋轉(zhuǎn)控制信號RC。
相位旋轉(zhuǎn)器108接收旋轉(zhuǎn)控制信號RC,以旋轉(zhuǎn)相位檢測器104所接收到的主要取樣信號Ir、If、Qr及Qf及參考時脈信號I-CLK的相位,以使相位檢測器104接收旋轉(zhuǎn)后的主要取樣信號R_Ir、R_If、R_Qr及R_Qf及旋轉(zhuǎn)后的參考時脈信號R_CLK。旋轉(zhuǎn)的目的是使數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)態(tài)點(diǎn)DT及旋轉(zhuǎn)后的參考時脈信號R_CLK間的相位差落于預(yù)設(shè)范圍中,如圖5所繪示的第一及第四象限。
參照圖6,圖6為本申請一實(shí)施例中相位旋轉(zhuǎn)器108的方塊圖。相位旋轉(zhuǎn)器108包含取樣信號多工器600、602、604及606及時脈多工器608。各取樣信號多工器600、602、604及606接收Ir、If、Qr及Qf,并根據(jù)用以代表欲旋轉(zhuǎn)的相位的旋轉(zhuǎn)控制信號RC輸出主要取樣信號Ir、If、Qr及Qf其中之一以產(chǎn)生旋轉(zhuǎn)后的主要取樣信號R_Ir、R_If、R_Qr及R_Qf。
在一實(shí)施例中,當(dāng)相位差位于預(yù)設(shè)范圍(亦即對應(yīng)于狀況「早」和「晚」)時,主要取樣信號Ir、If、Qr及Qf的相位不需要旋轉(zhuǎn)。旋轉(zhuǎn)控制信號RC將控制取樣信號多工器600、602、604及606分別把自標(biāo)示為「a」的輸入端口的信號。
于一實(shí)施例中,當(dāng)相位差并未位于預(yù)設(shè)范圍,且負(fù)緣IFE領(lǐng)先數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)態(tài)點(diǎn)DT達(dá)90度至180度(亦即對應(yīng)于第二象限的狀況「非常早」)時,主要取樣信號Ir、If、Qr及Qf的相位需要旋轉(zhuǎn)以延遲90度。旋轉(zhuǎn)控制信號 RC將控制取樣信號多工器600、602、604及606分別把自標(biāo)示為「b」的輸入端口的信號,亦即主要取樣信號Qr、If、Qf及Ir進(jìn)行輸出。這樣的輸出方式相當(dāng)于把這些信號延遲90度。
于一實(shí)施例中,當(dāng)相位差并未位于預(yù)設(shè)范圍,且負(fù)緣IFE落后數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)態(tài)點(diǎn)DT達(dá)90度至180度(亦即對應(yīng)于第三象限的狀況「非常晚」)時,主要取樣信號Ir、If、Qr及Qf的相位需要旋轉(zhuǎn)以前移90度。旋轉(zhuǎn)控制信號RC將控制取樣信號多工器600、602、604及606分別把自標(biāo)示為「d」的輸入端口的信號,亦即主要取樣信號Qf、Ir、Qr及If進(jìn)行輸出。這樣的輸出方式相當(dāng)于把這些信號前移90度。
于一實(shí)施例中,當(dāng)相位差并未位于預(yù)設(shè)范圍,且負(fù)緣IFE領(lǐng)先或是落后數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)態(tài)點(diǎn)DT達(dá)90度至180度(亦即對應(yīng)于第二象限及第三象限的狀況「非常早」和「非常晚」)時,主要取樣信號Ir、If、Qr及Qf的相位需要旋轉(zhuǎn)以延遲或是前移180度。旋轉(zhuǎn)控制信號RC將控制取樣信號多工器600、602、604及606分別把自標(biāo)示為「c」的輸入端口的信號,亦即主要取樣信號If、Qf、Ir及Qr進(jìn)行輸出。這樣的輸出方式相當(dāng)于把這些信號延遲或是前移180度。
與上述的機(jī)制類似,時脈多工器608接收時脈信號I-CLK、Q-CLK及其反向信號,并根據(jù)旋轉(zhuǎn)控制信號RC輸出其中之一,以產(chǎn)生旋轉(zhuǎn)后的參考時脈信號R-CLK。如圖所示,時脈信號I-CLK、Q-CLK及其反向信號分別根據(jù)對應(yīng)于輸入端口a、b、c及d的狀況輸出。
控制單元106進(jìn)一步產(chǎn)生開關(guān)控制信號SC,以在上述的狀況被判斷前,控制開關(guān)110為斷路,并在狀況被判斷后,控制開關(guān)110為通路,以耦接相位檢測器104及回路濾波器112。
在開關(guān)110耦接相位檢測器104及回路濾波器112后,回路濾波器112產(chǎn)生控制電壓CV以根據(jù)狀況控制振蕩器100改變時脈信號I-CLK、Q-CLK的相位。
由于在旋轉(zhuǎn)后,相位差位于預(yù)設(shè)范圍中,因此相位差只有兩種可能的狀況,即為「早」和「晚」。當(dāng)回路濾波器112改變時脈信號I-CLK、Q-CLK的相位,以使相位差顯示參考時脈信號I-CLK切換在相對于輸入數(shù)據(jù)信號IDATA的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)態(tài)點(diǎn)DT的領(lǐng)先位置和落后位置間(亦即「早」和「晚」 之間)時,相位檢測器104將檢測到相位鎖定狀況。旋轉(zhuǎn)后的參考時脈信號R-CLK的邊緣取樣邊緣(亦即負(fù)緣)將與輸入數(shù)據(jù)信號IDATA的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)態(tài)點(diǎn)DT對齊。
于一實(shí)施例中,電子裝置1可選擇性地包含頻寬控制器114??刂茊卧?06更產(chǎn)生頻寬設(shè)定信號BW控制頻寬控制器114以在開關(guān)110被控制為通路時放大回路濾波器112的頻寬。更進(jìn)一步地,控制單元106產(chǎn)生頻寬設(shè)定信號BW控制頻寬控制器114以在相位檢測器104檢測到相位鎖定狀況時,調(diào)整頻寬到最佳值。
因此,本申請的電子裝置1可通過旋轉(zhuǎn)主要取樣數(shù)據(jù)信號,快速地縮減數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)態(tài)點(diǎn)和邊緣取樣邊緣間的相位差而降低鎖定時間,并進(jìn)一步降低功率消耗。更進(jìn)一步地,對于回路濾波器112的頻寬的動態(tài)控制更進(jìn)一步降低鎖定時間至幾十個位元時間內(nèi),并在較高的抖動頻率中有較高的抖動容忍度。
參照圖7。圖7為本申請一實(shí)施例中電子裝置7的方塊圖。電子裝置7為雙回路(dual-loop)時脈及數(shù)據(jù)恢復(fù)裝置。類似于電子裝置1,電子裝置7包含與圖1類似獲相同的取樣器102、相位檢測器104、控制單元106、開關(guān)110及回路濾波器112。因此這些元件將不在此贅述。
電子裝置7包括鎖相回路單元700及一對相位內(nèi)插器702及704。于一實(shí)施例中,鎖相回路單元700包含振蕩器710、相位頻率檢測器712及鎖相回路濾波器714。
振蕩器710產(chǎn)生原始時脈信號O-CLK。相位頻率檢測器712接收鎖相回路參考時脈信號PLLCLK及原始時脈信號O-CLK,以產(chǎn)生誤差信號ES。鎖相回路濾波器714接收誤差信號ES,以產(chǎn)生控制信號CV控制振蕩器710調(diào)整原始時脈信號O-CLK的時脈相位。
相位內(nèi)插器702及704接收原始時脈信號O-CLK并分別產(chǎn)生相位相差90度的參考時脈信號I-CLK及輔助時脈信號Q-CLK。于一實(shí)施例中,相位內(nèi)插器702直接輸出原始時脈信號O-CLK做為參考時脈信號I-CLK。相位疊加器706則疊加90度的相位至相位內(nèi)插器704,以使輔助時脈信號Q-CLK為參考時脈信號I-CLK疊加90度后的結(jié)果。
取樣器102在時脈信號I-CLK及時脈信號Q-CLK的各個轉(zhuǎn)態(tài)邊緣對輸 入數(shù)據(jù)信號IDATA進(jìn)行取樣,以產(chǎn)生取樣信號Ir、If、Qr及Qf。相位檢測器104根據(jù)主要取樣信號Ir、If、Qr及Qf和時脈信號I-CLK的數(shù)據(jù)取樣邊緣IRE,判斷輸入數(shù)據(jù)信號IDATA的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)態(tài)點(diǎn)DT相對于數(shù)據(jù)取樣邊緣IRE的相位差。其中,相位差的狀況是由相位檢測信號PD1-PD6的一組邏輯電平表示。
于本實(shí)施例中,當(dāng)相位差并未位于預(yù)設(shè)范圍時,控制單元106利用相位疊加器708,通過相位內(nèi)插器702及704疊加調(diào)整相位AP于參考時脈信號I-CLK及輔助時脈信號Q-CLK的相位。
因此,相位檢測器104接收由取樣器102產(chǎn)生的調(diào)整后的主要取樣信號Ir、If、Qr及Qf,以判斷數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)態(tài)點(diǎn)DT與調(diào)整后的參考時脈信號I-CLK間的相位差。
回路濾波器112根據(jù)相位差,利用相位疊加器708疊加變化相位VP于輸入至相位內(nèi)插器702及704的時脈信號的相位(進(jìn)一步輸入至取樣器102)。當(dāng)變化相位VP改變輸入至相位內(nèi)插器702及704的時脈信號的相位,以使相位差顯示參考時脈信號I-CLK切換在相對于輸入數(shù)據(jù)信號IDATA的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)態(tài)點(diǎn)DT的領(lǐng)先位置和落后位置間(亦即「早」和「晚」之間)時,相位檢測器104將檢測到相位鎖定狀況。
在一些實(shí)施例中,電子裝置1、7亦稱作時脈及數(shù)據(jù)恢復(fù)裝置。
雖然本申請內(nèi)容已以實(shí)施方式公開如上,然其并非配置以限定本申請內(nèi)容,任何本領(lǐng)域技術(shù)人員,在不脫離本申請內(nèi)容的精神和范圍內(nèi),當(dāng)可作各種的變動與潤飾。