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一種基于反相器電路的方波發(fā)生器的制作方法

文檔序號:12750521閱讀:2662來源:國知局
一種基于反相器電路的方波發(fā)生器的制作方法與工藝

本發(fā)明涉及方波發(fā)生器技術領域,具體涉及一種基于反相器電路的方波發(fā)生器。



背景技術:

目前,雖然現(xiàn)有的信號發(fā)生器已經(jīng)相當成熟了,但是電磁噪聲對信號發(fā)生器的干擾一直存在,直接影響產(chǎn)品的長期穩(wěn)定性和可靠性。另一方面,在數(shù)字電路、模擬傳感器、精密儀器儀表等方面,對信號發(fā)生器中輸出波形的要求越來越高。傳統(tǒng)的電路,形式比較復雜,使用較多的微信號器件,容易受惡劣環(huán)境的干擾,長期使用存在一定的隱患,其長期可靠性不能夠得到保證?,F(xiàn)有技術方波發(fā)生器的穩(wěn)定性和頻率特性都有待提高。



技術實現(xiàn)要素:

針對上述現(xiàn)有技術,本發(fā)明目的在于提供,解決現(xiàn)有技術其電流源功耗高、穩(wěn)定性差,且環(huán)路振蕩器中存在大量脈沖噪聲等技術問題。

為達到上述目的,本發(fā)明采用的技術方案如下:

一種基于反相器電路的方波發(fā)生器,包括

脈沖發(fā)生單元,用于產(chǎn)生具有相對相位差第一方波脈沖和第二方波脈沖,接收基準時鐘;

所述的脈沖發(fā)生單元,包括用于提供環(huán)路充放電的電流源電路、用于切換環(huán)路輸出的反相器電路和用于提供相位差的緩沖電路,電流源電路和反相器電路構成環(huán)路振蕩器。

上述方案中,所述的脈沖發(fā)生單元,還包括過沖保護電路,接收反相器電路的輸出時鐘,并選擇地泄放電流源電路的輸入電源。

上述方案中,所述的電流源電路,包括

第一電源;

第一電流源,其高電勢端連接第一電源;

第一場效應管,其源極連接第一電流源的低電勢端;

第二場效應管,其源極連接第一電流源的低電勢端且漏極接地;

第三場效應管,其漏極連接第一場效應管的漏極;

第四場效應管,其源極連接第三場效應管的源極;

第二電源,連接第四場效應管的漏極;

第二電流源,其高電勢端連接第三場效應管的源極且低電勢端接地;

第一電容,用于充放電電荷緩沖,其一端連接第一電源且另一端連接第一場效應管的漏極。

上述方案中,所述的反相器電路,用于形成內環(huán)振蕩和自反饋電壓切換輸出,包括

第五場效應管,其柵極連接第一場效應管的漏極;

第六場效應管,其柵極連接第一場效應管的漏極且漏極連接第五場效應管的漏極;

第七場效應管,其柵極、漏極均連接第六場效應管的源極且源極接地;

第八場效應管,用于作為偏置電壓開關,其漏極連接第六場效應管的源極且源極接地;

第三電源;

第九場效應管,其柵極、漏極均連接第五場效應管的源極且源極連接第三電源;

第十場效應管,用于作為偏置電壓開關,其源極連接第三電源且漏極連接第五場效應管的源極;

第一反相器,其輸入端連接第五場效應管的漏極;

第二反相器、第三反相器和第二電容,依次串聯(lián)第一反相器,第二電容還連接至第五反饋回路的柵極,構成反相器電路的反饋回路;

第三電容,用于提供內環(huán)振蕩回路充電、放電,其一端連接第一場效應管的漏極且另一端接地;

所述的第十場效應管、第八場效應管,柵極均連接至第三反相器的輸出端,用于輸出切換;

所述的第二場效應管、第四場效應管,柵極均連接至第二反相器的輸出端,用于充放電切換。

上述方案中,所述的緩沖電路,用于獲得兩路延時輸出,包括

第四反相器,其輸入端連接第二反相器的輸出端;

第五反相器、第六反相器,構成鎖存器,鎖存器串聯(lián)第四反相器;

第七反相器,其輸入端連接鎖存器輸出端;

第一緩沖器,串聯(lián)第七反相器,輸出第一方波脈沖;

第二緩沖器,串聯(lián)第四反相器,輸出第二方波脈沖;

所述的第一場效應管、第三場效應管,柵極均連接至第四反相器的輸出端,用于充放電切換。

上述方案中,所述的過沖保護電路,用于過振蕩時電源快速泄放,包括

比較器,其高電端連接有參考電壓且低電端連接第五場效應管的柵極;

與非門,其輸入端口連接比較器的輸出端且接收一使能信號;

第十一場效應管,其柵極連接與非門的輸出端,漏極連接第一場效應管的漏極且源極接地。

上述方案中,所述的第三場效應管,其源極還連接有第四電容,第四電容還接地。

上述方案中,所述的第二電流源,包括

第一運算放大器、第一PMOS管、第一NMOS管、第二NMOS管、第二PMOS管、第三NMOS管和第四NMOS管;

所述第一運算放大器的正輸入端接基準電壓,負輸入端接第一NMOS管的源極和第二NMOS管的漏極,輸出端接第一NMOS管的柵極;

所述第一PMOS管的柵極和漏極接在一起再接第一NMOS管的漏極和第二PMOS管的柵極,源極接電源電壓;

所述第一NMOS管的柵極接第一運算放大器的輸出端,漏極接第一PMOS管的柵極和漏極和第二PMOS管的柵極,源極接第一運算放大器的負輸入端和第二NMOS管的漏極;

所述第二NMOS管的柵極接第二PMOS管的漏極和第三NMOS管的柵極和漏極和第四NMOS管的柵極,漏極接第一NMOS管的源極和第一運算放大器的負輸入端,源極接地;

所述第二PMOS管的柵極接第一PMOS管的柵極和漏極和第一NMOS管的漏極,漏極接第二NMOS管的柵極和第三NMOS管的柵極和漏極和第四NMOS管的柵極,源極接電源電壓;

所述第三NMOS管的柵極和漏極接在一起再接第二NMOS管的柵極和第二PMOS管的漏極和第四NMOS管的柵極,源極接地;

所述第四NMOS管的柵極接第二NMOS管的柵極和第三NMOS管的柵極和漏極和第二PMOS管的漏極,漏極作為電流輸出端IOUT,源極接地。

與現(xiàn)有技術相比,本發(fā)明的有益效果:提高了其脈沖發(fā)生器的穩(wěn)定性,在不影響輸出特性的前提下,實現(xiàn)了更加平滑的環(huán)路振蕩充放電過程。

附圖說明

圖1為本發(fā)明脈沖發(fā)生器的具體電路圖;

圖2為本發(fā)明電容C3和電容C2的電壓變化示意圖;

圖3為本發(fā)明反相器U18和電容C3的電壓變化示意圖;

圖4為本發(fā)明電位點A、B、C和D處電壓幅值變化示意圖;

圖5為本發(fā)明下拉場效應Q7的漏源極電壓變化示意圖;

圖6為本發(fā)明下拉場效應Q7連接電容C4后的漏源極電壓變化示意圖;

圖7為本發(fā)明的第一電流源的電路原理圖。

具體實施方式

本說明書中公開的所有特征,或公開的所有方法或過程中的步驟,除了互相排斥的特征和/或步驟以外,均可以以任何方式組合。

下面結合附圖對本發(fā)明做進一步說明:

實施例1

在圖1中,結合圖2、圖3和圖4電壓變化,場效應管Q8、Q12等效為二極管,場效應管Q9、Q13作為反饋控制的偏置電壓開關,場效應管Q10、Q11構成由場效應管Q9、Q13控制的等效反相器,反相器電路的輸出時鐘波形為電位點C處時鐘波形,電流源電路的輸入電源包括電流源I1和電流源I2;基準時鐘SCLK可以在電位點A處輸入,也可以在場效應管Q5柵極處輸入,電路初始條件設置為電位點A為接地電壓,場效應管Q5、Q10、Q9處于導通狀態(tài),電流源I1對電容C1充電,當電容C1電壓升到足以使得場效應管Q10截止,等效反相器發(fā)生偏轉,電位點D電壓從電壓VCC變?yōu)榻拥仉妷?,場效應管Q9截止且場效應管Q13導通,場效應管Q4導通,電流源I1被泄放,電流源I2對電容C1進行放電,直到場效應管Q10再次被導通,不斷重復這一過程,進而輸出振蕩方波。由于脈沖發(fā)生器中使用電容和電流源,考慮實際使用器件的完美程度,充放電可能存在重疊的窗口,導致回路中可能有較高的尖峰電壓值,并且極可能發(fā)生在電位點C處,所以設置比較器進行檢測,用于及時對尖峰電壓放電,還可以進一步設置與非門邏輯電路,使用處理芯片的使能信號進行驅動。

圖5和圖6,圖5中可以明顯看出,由于不同電容充放電過程,造成回路電壓出現(xiàn)短促峰值,如果在現(xiàn)實應用中,疊加電源的波動,甚至可以將部分場效應管反向擊穿,造成回路短路,從而損害器件。圖6為增加安全電容C4后的場效應管Q7的漏源極電壓變化波形,使得充放電過程更加平滑,沒有短時畸變脈沖峰。

實施例2

如圖7所示,所述的第一電流源I1包括電阻101、NMOS管102、NMOS管103、NMOS管104、NMOS管105、PMOS管106、PMOS管107和PMOS管108:所述電阻101的一端接地,另一端接所述NMOS管102的源極;所述NMOS管102的柵極接所述NMOS管103的柵極和漏極和所述NMOS管105的源極,漏極接所述NMOS管104的源極,源極接所述電阻101的一端;所述NMOS管103的柵極和漏極接在一起再接所述NMOS管105的源極和所述NMOS管102的柵極,源極接地;所述NMOS管104的柵極接所述PMOS管106的漏極和所述NMOS管105的柵極和漏極,漏極接所述PMOS管106的柵極和所述PMOS管107的柵極和漏極和所述PMOS管108的柵極,源極接所述NMOS管102的漏極;所述NMOS管105的柵極和漏極接在一起再接所述PMOS管106的漏極和所述NMOS管104的柵極,源極接所述NMOS管103的柵極和漏極和所述NMOS管102的柵極;所述PMOS管106的柵極接所述PMOS管107的柵極和漏極和所述PMOS管108的柵極和所述NMOS管104的漏極,漏極接所述NMOS管105的柵極和漏極和所述NMOS管104的柵極,源極接電源電壓VCC;所述PMOS管107的柵極和漏極接在一起再接所述PMOS管106的柵極和所述PMOS管108的柵極和所述NMOS管104的漏極,源極接電源電壓VCC;所述PMOS管108的柵極接所述PMOS管106的柵極和所述PMOS管107的柵極和漏極和所述NMOS管104的漏極,漏極作為電流輸出端IOUT,源極接電源電壓VCC。

所述電阻101兩端的電壓為所述NMOS管103的閾值電壓,所述電阻101上的電流為所述NMOS管103的閾值電壓除以所述電阻101的電阻值,該電流再通過所述PMOS管107鏡像給所述PMOS管106和所述PMOS管108,從所述PMOS管108的漏極輸出電流IOUT。

以上所述,僅為本發(fā)明的具體實施方式,但本發(fā)明的保護范圍并不局限于此,任何屬于本技術領域的技術人員在本發(fā)明揭露的技術范圍內,可輕易想到的變化或替換,都應涵蓋在本發(fā)明的保護范圍之內。

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