本實(shí)用新型涉及集成電路測試領(lǐng)域，特別是涉及一種SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

隨著當(dāng)今電子科技的高速發(fā)展，現(xiàn)有的集成電路的結(jié)構(gòu)非常復(fù)雜、集成化高且功能也很多樣化，面對電子信息技術(shù)的日益增長的需求，整個(gè)集成電路產(chǎn)業(yè)得到了飛速發(fā)展。

在現(xiàn)有的芯片設(shè)計(jì)中，SAR(逐次逼近)模數(shù)轉(zhuǎn)換器是眾多系統(tǒng)中不可缺少的模塊，在芯片量產(chǎn)時(shí)，如何快速準(zhǔn)確的確定芯片中的SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器模塊是否存在缺陷，是非常重要的測試流程。

在現(xiàn)有技術(shù)中，對SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器進(jìn)行量產(chǎn)測試時(shí)，是先由探針為SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器輸入不同的測試電壓，然后由SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器進(jìn)行采樣量化，再由測試儀器對SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器的輸出測試數(shù)據(jù)碼進(jìn)行對比，如果對比結(jié)果在允許的誤差范圍內(nèi)，則測試通過，否則測試失敗。這種測試方法對模數(shù)轉(zhuǎn)換器的測試樣本電壓太少，可靠性不高，且消耗時(shí)間較長，從而增加了測試成本。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種測試快捷、可靠性高且能節(jié)約測試成本的SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器測試系統(tǒng)。

本實(shí)用新型的目的是通過以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)的：一種SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器測試系統(tǒng)，包括用于輸入模擬差分信號(hào)的輸入端、與所述輸入端相連的SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器、與所述SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器相連的線性反饋移位寄存器、與所述SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器及所述線性反饋移位寄存器相連的數(shù)字比較器、測試數(shù)據(jù)碼輸出端、誤差數(shù)據(jù)輸入端及測試結(jié)果輸出端，所述線性反饋移位寄存器產(chǎn)生用于測試所述SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器的測試碼，所述SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器對所述測試碼進(jìn)行轉(zhuǎn)換后，產(chǎn)生測試數(shù)據(jù)碼至所述測試數(shù)據(jù)碼輸出端及所述數(shù)字比較器，所述數(shù)字比較器對所述SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器產(chǎn)生的測試數(shù)據(jù)碼與所述線性反饋移位寄存器產(chǎn)生的理想測試碼進(jìn)行比較，判斷比較結(jié)果是否在所述誤差數(shù)據(jù)輸入端輸入的誤差范圍之內(nèi)，所述測試結(jié)果輸出端根據(jù)判斷結(jié)果指示測試結(jié)果。

所述SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器包括與所述輸入端相連的電容式數(shù)模轉(zhuǎn)換器、與所述電容式數(shù)模轉(zhuǎn)換器相連的比較器及與所述比較器及所述電容式數(shù)模轉(zhuǎn)換器相連的邏輯控制單元。

所述線性反饋移位寄存器產(chǎn)生用于測試所述SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器的測試碼至所述電容式數(shù)模轉(zhuǎn)換器，所述電容式數(shù)模轉(zhuǎn)換器將所述測試碼轉(zhuǎn)換為模擬信號(hào)，所述SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器通過所述比較器及所述邏輯控制單元對所述模擬信號(hào)進(jìn)行轉(zhuǎn)換后，產(chǎn)生所述測試數(shù)據(jù)碼。

所述數(shù)字比較器判斷比較結(jié)果是否在誤差數(shù)據(jù)輸入端輸入的誤差范圍之內(nèi)，如果比較結(jié)果在誤差范圍之內(nèi)，則所述測試結(jié)果輸出端指示測試通過；如果比較結(jié)果不在誤差范圍之內(nèi)，則測試結(jié)果輸出端指示測試失敗。

所述線性反饋移位寄存器產(chǎn)生的測試碼包括N個(gè)隨機(jī)測試電壓，且N≥1，所述數(shù)字比較器根據(jù)所述測試碼中的測試電壓，對所述SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器產(chǎn)生的測試數(shù)據(jù)碼與所述線性反饋移位寄存器產(chǎn)生的理想測試碼進(jìn)行N次比較，如果其中一次比較結(jié)果不在誤差范圍之內(nèi)，則測試結(jié)果輸出端指示測試失敗。

本實(shí)用新型的有益效果是：量產(chǎn)測試快捷、測試結(jié)果可靠性高且測試成本降低。

附圖說明

圖1為本實(shí)用新型SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器測試系統(tǒng)的系統(tǒng)架構(gòu)圖；

圖2為本實(shí)用新型SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器測試系統(tǒng)的工作流程圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖進(jìn)一步詳細(xì)描述本實(shí)用新型的技術(shù)方案，但本實(shí)用新型的保護(hù)范圍不局限于以下所述。

如圖1所示，圖1為本實(shí)用新型SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器測試系統(tǒng)的系統(tǒng)架構(gòu)圖，本實(shí)用新型SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器測試系統(tǒng)包括用于輸入模擬差分信號(hào)的輸入端Vip/Vin、與輸入端Vip/Vin相連的SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器、與SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器相連的線性反饋移位寄存器(LFSR，Linear Feedback Shifting Register)、與SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器及線性反饋移位寄存器相連的數(shù)字比較器、測試數(shù)據(jù)碼輸出端D、誤差數(shù)據(jù)輸入端error及測試結(jié)果輸出端Pass/failed。線性反饋移位寄存器產(chǎn)生用于測試SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器的測試碼，SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器對測試碼進(jìn)行轉(zhuǎn)換后，產(chǎn)生測試數(shù)據(jù)碼至測試數(shù)據(jù)碼輸出端D及數(shù)字比較器，數(shù)字比較器對SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器產(chǎn)生的測試數(shù)據(jù)碼與線性反饋移位寄存器產(chǎn)生的理想測試碼進(jìn)行比較，判斷比較結(jié)果是否在誤差數(shù)據(jù)輸入端error輸入的誤差范圍之內(nèi)，測試結(jié)果輸出端Pass/failed根據(jù)判斷結(jié)果指示測試結(jié)果。

其中，SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器包括與輸入端Vip/Vin相連的電容式數(shù)模轉(zhuǎn)換器、與電容式數(shù)模轉(zhuǎn)換器相連的比較器及與比較器及電容式數(shù)模轉(zhuǎn)換器相連的邏輯控制單元。

線性反饋移位寄存器產(chǎn)生用于測試SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器的測試碼至電容式數(shù)模轉(zhuǎn)換器，電容式數(shù)模轉(zhuǎn)換器將測試碼轉(zhuǎn)換為模擬信號(hào)，SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器通過比較器及邏輯控制單元對模擬信號(hào)進(jìn)行轉(zhuǎn)換后，產(chǎn)生測試數(shù)據(jù)碼至測試數(shù)據(jù)碼輸出端D及數(shù)字比較器，數(shù)字比較器對SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器產(chǎn)生的測試數(shù)據(jù)碼與線性反饋移位寄存器產(chǎn)生的理想測試碼進(jìn)行比較，并判斷比較結(jié)果是否在誤差數(shù)據(jù)輸入端error輸入的誤差范圍之內(nèi)，如果比較結(jié)果在誤差范圍之內(nèi)，則測試結(jié)果輸出端Pass/failed指示測試通過；如果比較結(jié)果不在誤差范圍之內(nèi)，則測試結(jié)果輸 出端Pass/failed指示測試失敗。其中，線性反饋移位寄存器產(chǎn)生的測試碼包括N個(gè)隨機(jī)測試電壓，且N≥1，數(shù)字比較器根據(jù)測試碼中的測試電壓，對SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器產(chǎn)生的測試數(shù)據(jù)碼與線性反饋移位寄存器產(chǎn)生的理想測試碼進(jìn)行N次比較，如果其中一次比較結(jié)果不在誤差范圍之內(nèi)，則測試結(jié)果輸出端Pass/failed指示測試失敗。

如圖2所示，圖2為本實(shí)用新型SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器測試系統(tǒng)的工作流程圖，本實(shí)用新型SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器測試系統(tǒng)的工作流程包括以下步驟：

步驟一，線性反饋移位寄存器產(chǎn)生用于測試SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器的測試碼至SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器的電容式數(shù)模轉(zhuǎn)換器。

步驟二，電容式數(shù)模轉(zhuǎn)換器將測試碼轉(zhuǎn)換為模擬信號(hào)。

步驟三，SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器通過比較器及邏輯控制單元對模擬信號(hào)進(jìn)行轉(zhuǎn)換后，產(chǎn)生測試數(shù)據(jù)碼至測試數(shù)據(jù)碼輸出端D及數(shù)字比較器。

步驟四，數(shù)字比較器對SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器產(chǎn)生的測試數(shù)據(jù)碼與線性反饋移位寄存器產(chǎn)生的理想測試碼進(jìn)行比較。

步驟五，數(shù)字比較器判斷比較結(jié)果是否在誤差數(shù)據(jù)輸入端error輸入的誤差范圍之內(nèi)，如果比較結(jié)果在誤差范圍之內(nèi)，則測試結(jié)果輸出端Pass/failed指示測試通過；如果比較結(jié)果不在誤差范圍之內(nèi)，則測試結(jié)果輸出端Pass/failed指示測試失敗。

其中，線性反饋移位寄存器產(chǎn)生的測試碼包括N個(gè)隨機(jī)測試電壓，且N≥1，數(shù)字比較器根據(jù)測試碼中的測試電壓，對SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器產(chǎn)生的測試數(shù)據(jù)碼與線性反饋移位寄存器產(chǎn)生的理想測試碼進(jìn)行N次比較，如果其中一次比較結(jié)果不在誤差范圍之內(nèi)，則測試結(jié)果輸出端Pass/failed指示測試失敗。

本實(shí)用新型SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器測試系統(tǒng)使得用于測試SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器的測試碼不再是幾個(gè)固定的電壓，而是隨機(jī)測試電壓，因此測試更加快捷，測試結(jié)果更加可靠，且不會(huì)增加太多的電路，節(jié)約了測試成本。

綜上所述，本實(shí)用新型SAR模數(shù)轉(zhuǎn)換器測試系統(tǒng)，使得量產(chǎn)測試快捷、測試結(jié)果可靠性高且測試成本降低。