本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種發(fā)光器件的老化測試方法和老化測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

隨著有機半導(dǎo)體技術(shù)的進步，有機發(fā)光二極管(organiclightemittingdiodes，簡稱oled)日益成熟，其在照明和顯示等領(lǐng)域發(fā)揮的作用越來越重要。與傳統(tǒng)的液晶顯示器不同，因為oled具有自發(fā)光、寬視角、響應(yīng)速度快、超薄、發(fā)光效率高、功耗低、工作溫度寬等特點，被認為更有應(yīng)用前景。同時，有機照明的研究工作也取得了較大的進展。

發(fā)光壽命是評價oled的重要指標，目前oled除了要在材料和制備工藝方面繼續(xù)提高之外，穩(wěn)定的器件性能也是不可缺少的因素。oled量產(chǎn)制備過程中影響因素眾多，不同批次間的產(chǎn)品壽命差異較大，導(dǎo)致后期對oled老化的控制較困難。如果老化的不合理就會導(dǎo)致出廠后的產(chǎn)品壽命差異較大，影響客戶的使用。不同批次的oled雖然為相同結(jié)構(gòu)的器件，但是壽命的離散性卻很大。為保證出廠后產(chǎn)品的均一性和穩(wěn)定性，出廠前會對產(chǎn)品進行老化處理。

現(xiàn)有技術(shù)中，老化處理中對oled老化量的控制，一般采取老化時間控制或者衰減量控制，但是上述兩種方案都不能很好的控制產(chǎn)品的均一性。例如，若在老化處理過程中以老化時間控制oled的老化量，則在對不同的oled采用相同的半小時的老化時間進行老化處理之后，不同的oled的壽命差異較大。從而導(dǎo)致了采用現(xiàn)有技術(shù)對oled進行老化處理，無法保證oled產(chǎn)品之間壽命的均一性。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明提供一種發(fā)光器件的老化測試方法和老化測試系統(tǒng)，用于提高發(fā)光器件之間壽命的均一性。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種發(fā)光器件的老化測試方法，包括：

s1、在對發(fā)光器件進行老化的過程中，采集所述發(fā)光器件的多個第一特征參數(shù)和與每個第一特征參數(shù)對應(yīng)的測試時間；

s2、根據(jù)所述第一特征參數(shù)和與每個第一特征參數(shù)對應(yīng)的測試時間生成特征線，并生成所述特征線的斜率；

s3、判斷所述特征線的斜率是否大于或等于設(shè)定閾值且小于0，若判斷出所述特征線的斜率大于或等于0時執(zhí)行步驟s4；若判斷出所述特征線的斜率大于或等于設(shè)定閾值且小于0時執(zhí)行步驟s5，若判斷出所述特征線的斜率小于設(shè)定閾值時繼續(xù)執(zhí)行步驟s1；

s4、將特征線的斜率大于或等于0時對應(yīng)的第一特征參數(shù)清零以及將初始特征參數(shù)設(shè)置為特征線的斜率大于或等于0時對應(yīng)的第一特征參數(shù)中的最大值，并繼續(xù)執(zhí)行步驟s1；

s5、停止對發(fā)光器件進行老化。

可選地，所述s2包括：

s21、將所述第一特征參數(shù)和設(shè)置的初始特征參數(shù)相除，計算出第二特征參數(shù)；

s22、根據(jù)所述第二特征參數(shù)和與每個所述第二特征參數(shù)對應(yīng)的測試時間生成特征線。

可選地，所述初始特征參數(shù)等于采集的多個第一特征參數(shù)中第一個第一特征參數(shù)。

可選地，所述第一特征參數(shù)為第一亮度值，所述初始特征參數(shù)為初始亮度值。

可選地，所述s5之后還包括：

s6、記錄老化時間和/或老化量。

可選地，所述特征線為曲線或者直線。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種發(fā)光器件的老化測試系統(tǒng)，包括：

采集模塊，用于在對發(fā)光器件進行老化的過程中，采集所述發(fā)光器件的多個第一特征參數(shù)和與每個第一特征參數(shù)對應(yīng)的測試時間；

生成模塊，用于根據(jù)所述第一特征參數(shù)和與每個第一特征參數(shù)對應(yīng)的測試時間生成特征線，并生成所述特征線的斜率；

判斷模塊，用于判斷所述特征線的斜率是否大于或等于設(shè)定閾值且小于0，若判斷出所述特征線的斜率小于設(shè)定閾值時，觸發(fā)所述采集模塊，由所述采集模塊繼續(xù)執(zhí)行所述在對發(fā)光器件進行老化的過程中，采集所述發(fā)光器件的多個第一特征參數(shù)的步驟；

老化控制模塊，用于若所述判斷模塊判斷出所述特征線的斜率大于或等于設(shè)定閾值且小于0時，停止對發(fā)光器件進行老化；

設(shè)置模塊，用于若所述判斷模塊判斷出所述特征線的斜率大于或等于0時，將特征線的斜率大于或等于0時對應(yīng)的第一特征參數(shù)清零以及將初始特征參數(shù)設(shè)置為特征線的斜率大于或等于0時對應(yīng)的第一特征參數(shù)中的最大值，并觸發(fā)所述采集模塊，由所述采集模塊繼續(xù)執(zhí)行所述在對發(fā)光器件進行老化的過程中，采集所述發(fā)光器件的多個第一特征參數(shù)的步驟。

可選地，所述生成模塊包括：

計算子模塊，用于將所述第一特征參數(shù)和設(shè)置的初始特征參數(shù)相除，計算出第二特征參數(shù)；

生成子模塊，用于根據(jù)所述第二特征參數(shù)和與每個所述第二特征參數(shù)對應(yīng)的測試時間生成特征線。

可選地，所述初始特征參數(shù)等于采集的多個第一特征參數(shù)中第一個第一特征參數(shù)。

可選地，所述第一特征參數(shù)為第一亮度值，所述初始特征參數(shù)為初始亮度值。

本發(fā)明具有以下有益效果：

本發(fā)明提供的技術(shù)方案中，在對發(fā)光器件進行老化的過程中，根據(jù)采集的第一特征參數(shù)和與每個第一特征參數(shù)對應(yīng)的時間生成特征線，若判斷出特征線的斜率大于或等于設(shè)定閾值且小于0時，停止對發(fā)光器件進行老化，本發(fā)明對不同的發(fā)光器件進行相應(yīng)的老化處理，降低了不同的發(fā)光器件之間的壽命差異，從而提高了發(fā)光器件壽命的均一性。

附圖說明

圖1為本發(fā)明實施例一提供的一種發(fā)光器件的老化測試方法的流程圖；

圖2為未采用實施例一對發(fā)光器件進行老化時發(fā)光器件的壽命曲線圖；

圖3為采用實施例一對發(fā)光器件進行測試后發(fā)光器件的壽命曲線圖；

圖4為本發(fā)明實施例二提供的一種發(fā)光器件的老化測試方法的流程圖；

圖5為未采用實施例二對發(fā)光器件進行老化時發(fā)光器件的壽命曲線圖

圖6為實施例二中對發(fā)光器件的壽命曲線對比圖；

圖7為本發(fā)明實施例三提供的一種發(fā)光器件的老化測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實施方式

為使本領(lǐng)域的技術(shù)人員更好地理解本發(fā)明的技術(shù)方案，下面結(jié)合附圖對本發(fā)明提供的發(fā)光器件的老化測試方法和老化測試系統(tǒng)進行詳細描述。

圖1為本發(fā)明實施例一提供的一種發(fā)光器件的老化測試方法的流程圖，如圖1所示，該方法包括：

步驟s1、在對發(fā)光器件進行老化的過程中，采集發(fā)光器件的多個第一特征參數(shù)和與每個第一特征參數(shù)對應(yīng)的測試時間。

本實施例中的發(fā)光器件的老化測試方法是在對發(fā)光器件進行老化過程中進行的。優(yōu)選地，發(fā)光器件可以為oled。

本實施例中各步驟可以由發(fā)光器件的老化測試系統(tǒng)執(zhí)行。則在執(zhí)行本步驟之前，需要打開發(fā)光器件的老化測試系統(tǒng)的控制電源，對發(fā)光器件的老化測試系統(tǒng)進行預(yù)熱。

本實施例中，在執(zhí)行本步驟之前還需要設(shè)置測試模式。其中，測試模式可包括恒流模式,恒電壓模式或者恒亮度模式。本實施例中，測試模式為恒流模式，例如，可將所有發(fā)光器件的電流密度設(shè)置為10ma/cm²。則本實施中，在對發(fā)光器件進行測試過程中，所有發(fā)光器件均以設(shè)置的測試模式發(fā)光。例如，當測試模式采用恒流模式時，所有發(fā)光器件均以恒流模式發(fā)光，即發(fā)光器件的電流是恒定的。

本實施例中，可按設(shè)定時間間隔采集發(fā)光器件的多個第一特征參數(shù)并記錄采集每個第一特征參數(shù)時的測試時間。采集的第一特征參數(shù)的數(shù)量為多個，例如，數(shù)量可以為2個、10個、40個或者60個等，采集的第一特征參數(shù)的數(shù)量可根據(jù)需要進行設(shè)置，此處不再一一列舉。

本實施例中，第一特征參數(shù)可以為第一亮度值。

步驟s2、根據(jù)第一特征參數(shù)和與每個第一特征參數(shù)對應(yīng)的測試時間生成特征線，并生成特征線的斜率。

本步驟具體可包括：

步驟s21、將第一特征參數(shù)和設(shè)置的初始特征參數(shù)相除，計算出第二特征參數(shù)。

本實施例中，由于采集的第一特征參數(shù)的數(shù)量為多個，則計算出的第二特征參數(shù)的數(shù)量也為多個。換言之，根據(jù)每個第一特征參數(shù)和設(shè)置的初始特征參數(shù)可計算出多個第二特征參數(shù)。

本實施例中，第一特征參數(shù)為第一亮度值l，初始特征參數(shù)為初始亮度值l0，則第二特征參數(shù)＝l/l0×100％。

本實施例中，可按時間順序采集多個第一特征參數(shù)，其中，步驟s1中采集的多個第一特征參數(shù)中第一個采集的第一特征參數(shù)可設(shè)置為初始特征參數(shù)，也就是就說，初始特征參數(shù)等于采集的多個第一特征參數(shù)中第一個第一特征參數(shù)。則初始亮度值l0等于第一個第一亮度值l，因此第一個第二特征參數(shù)為100％。

步驟s22、根據(jù)第二特征參數(shù)和與每個第二特征參數(shù)對應(yīng)的測試時間生成特征線。

需要說明的是：每個第一特征參數(shù)均對應(yīng)于一個測試時間，該測試時間為采集第一特征參數(shù)的時間。由于第二特征參數(shù)是根據(jù)第一特征參數(shù)計算出的，因此與每個第二特征參數(shù)對應(yīng)的測試時間即為與每個第一特征參數(shù)對應(yīng)的測試時間。

本步驟中，可以第二特征參數(shù)為縱軸和以與第二特征參數(shù)對應(yīng)的測試時間為橫軸，繪制出特征線。換言之，特征線的縱軸為第二特征參數(shù)，特征線的橫軸為與第二特征參數(shù)對應(yīng)的測試時間。

本實施例中，特征線為曲線或者直線。例如，若步驟s1中采集的第一特征參數(shù)的數(shù)量為2個，則計算出的第二特征參數(shù)的數(shù)量為2個，此時特征線可以為直線；若步驟s1中采集的第一特征參數(shù)的數(shù)量為60個，則計算出的第二特征參數(shù)的數(shù)量為60個，此時特征線可以為曲線。

本實施例中，特征線為壽命線。

步驟s3、判斷特征線的斜率是否大于或等于設(shè)定閾值且小于0，若判斷出特征線的斜率大于或等于設(shè)定閾值且小于0時執(zhí)行步驟s5，若判斷出特征線的斜率小于設(shè)定閾值時執(zhí)行步驟s1。

本步驟中，若特征線為直線，則可根據(jù)該直線上點的橫坐標值和縱坐標值計算出該特征線的斜率。

本步驟中，若特征線為曲線，則可將該曲線近似成直線，即將該曲線轉(zhuǎn)換為直線，并根據(jù)該直線上點的橫坐標值和縱坐標值計算出該特征線的斜率。

本實施例中，設(shè)定閾值小于0，例如，設(shè)定閾值為-0.05。

步驟s5、停止對發(fā)光器件進行老化。

本步驟中，可控制老化設(shè)備停止對發(fā)光器件進行老化處理。

可選地，步驟s5之后還可以包括：s6、記錄老化時間和/或老化量。

其中，老化時間可以為從開始老化至停止老化所經(jīng)歷的時間；老化量為從開始老化至停止老化所進行老化的老化量，具體地，老化量為開始老化的時間點對應(yīng)的第二特征參數(shù)與停止老化的時間點對應(yīng)的第二特征參數(shù)之間的差值的絕對值。

在實際生產(chǎn)中，按照本實施例提供的方法對所有需要老化的發(fā)光器件進行老化之后，可對不同的老化后的發(fā)光器件進行壽命測試。例如，可對不同批次的發(fā)光器件進行抽測。下面通過將圖2和圖3進行對比，對本實施例中發(fā)光器件的老化測試方法所帶來的效果進行詳細描述。

圖2為未采用實施例一對發(fā)光器件進行老化時發(fā)光器件的壽命曲線圖，如圖2所示，圖2中發(fā)光器件未進行老化處理，從圖2可以看出，發(fā)光器件1的壽命曲線和發(fā)光器件2的壽命曲線差別較大，兩個不同的發(fā)光器件的壽命曲線存在較大的離散性，不同的發(fā)光器件的壽命均一性較差。

圖3為采用實施例一對發(fā)光器件進行測試后發(fā)光器件的壽命曲線圖，如圖3所示，圖3中采用實施例一的方案對發(fā)光器件進行老化，因此圖3中示出的是老化處理后的發(fā)光器件的壽命曲線，換言之，圖3中是對老化處理后的發(fā)光器件再進行壽命測試后繪制出的壽命曲線。從圖3可以看出，發(fā)光器件1的壽命曲線和發(fā)光器件2的壽命曲線非常接近，因此兩個不同的發(fā)光器件的壽命曲線非常接近，不存在較大的離散性，因此不同的發(fā)光器件的壽命均一性較好。

本實施例提供的發(fā)光器件的老化測試方法的技術(shù)方案中，在對發(fā)光器件進行老化的過程中，根據(jù)采集的第一特征參數(shù)和與每個第一特征參數(shù)對應(yīng)的時間生成特征線，若判斷出特征線的斜率大于或等于設(shè)定閾值且小于0時，停止對發(fā)光器件進行老化，本實施例對不同的發(fā)光器件進行相應(yīng)的老化處理，降低了不同的發(fā)光器件之間的壽命差異，從而提高了發(fā)光器件壽命的均一性。

圖4為本發(fā)明實施例二提供的一種發(fā)光器件的老化測試方法的流程圖，如圖4所示，該方法包括：

步驟s1、在對發(fā)光器件進行老化的過程中，采集發(fā)光器件的多個第一特征參數(shù)和與每個第一特征參數(shù)對應(yīng)的測試時間。

本實施例中的發(fā)光器件的老化測試方法是在對發(fā)光器件進行老化過程中進行的。優(yōu)選地，發(fā)光器件可以為oled。

本實施例中各步驟可以由發(fā)光器件的老化測試系統(tǒng)執(zhí)行。則在執(zhí)行本步驟之前，需要打開發(fā)光器件的老化測試系統(tǒng)的控制電源，對發(fā)光器件的老化測試系統(tǒng)進行預(yù)熱。

本實施例中，在執(zhí)行本步驟之前還需要設(shè)置測試模式。其中，測試模式可包括恒流模式,恒電壓模式或者恒亮度模式、恒定模式或者恒流模式。本實施例中，測試模式為恒流模式，例如，可將所有發(fā)光器件的電流密度設(shè)置為10ma/cm²。則本實施中，在對發(fā)光器件進行測試過程中，所有發(fā)光器件均以設(shè)置的測試模式發(fā)光。例如，當測試模式采用恒流模式時，所有發(fā)光器件均以恒流模式發(fā)光，即發(fā)光器件的電流是恒定的。

本實施例中，可按設(shè)定時間間隔采集發(fā)光器件的多個第一特征參數(shù)并記錄采集每個第一特征參數(shù)時的測試時間。采集的第一特征參數(shù)的數(shù)量為多個，例如，數(shù)量可以為2個、10個、40個或者60個等，采集的第一特征參數(shù)的數(shù)量可根據(jù)需要進行設(shè)置，此處不再一一列舉。

本實施例中，第一特征參數(shù)可以為第一亮度值。

步驟s2、根據(jù)第一特征參數(shù)和與每個第一特征參數(shù)對應(yīng)的時間生成特征線，并生成特征線的斜率。

本步驟具體可包括：

步驟s21、將第一特征參數(shù)和設(shè)置的初始特征參數(shù)相除，計算出第二特征參數(shù)。

本實施例中，由于采集的第一特征參數(shù)的數(shù)量為多個，則計算出的第二特征參數(shù)的數(shù)量也為多個。換言之，根據(jù)每個第一特征參數(shù)和設(shè)置的初始特征參數(shù)可計算出多個第二特征參數(shù)。

本實施例中，第一特征參數(shù)為第一亮度值l，初始特征參數(shù)為初始亮度值l0，則第二特征參數(shù)＝l/l0×100％。

本實施例中，可按時間順序采集多個第一特征參數(shù)，其中，步驟101中采集的多個第一特征參數(shù)中第一個采集的第一特征參數(shù)可設(shè)置為初始特征參數(shù)，也就是就說，初始特征參數(shù)等于采集的多個第一特征參數(shù)中第一個第一特征參數(shù)。則初始亮度值l0等于第一個第一亮度值l，因此第一個第二特征參數(shù)為100％。

步驟s21、根據(jù)第二特征參數(shù)和與每個第二特征參數(shù)對應(yīng)的時間生成特征線。

需要說明的是：每個第一特征參數(shù)均對應(yīng)于一個測試時間，該測試時間為采集第一特征參數(shù)的時間。由于第二特征參數(shù)是根據(jù)第一特征參數(shù)計算出的，因此與每個第二特征參數(shù)對應(yīng)的測試時間即為與每個第一特征參數(shù)對應(yīng)的測試時間。

本步驟中，可以第二特征參數(shù)為縱軸和以與第二特征參數(shù)對應(yīng)的測試時間為橫軸，繪制出特征線。換言之，特征線的縱軸為第二特征參數(shù)，特征線的橫軸為與第二特征參數(shù)對應(yīng)的測試時間。

本實施例中，特征線為曲線或者直線。例如，若步驟s1中采集的第一特征參數(shù)的數(shù)量為2個，則計算出的第二特征參數(shù)的數(shù)量為2個，此時特征線可以為直線；若步驟s1中采集的第一特征參數(shù)的數(shù)量為60個，則計算出的第二特征參數(shù)的數(shù)量為60個，此時特征線可以為曲線。

本實施例中，特征線為壽命線。

步驟s3、判斷特征線的斜率是否大于或等于設(shè)定閾值且小于0，若判斷出特征線的斜率大于或等于設(shè)定閾值且小于0時執(zhí)行步驟s5，若判斷出特征線的斜率小于設(shè)定閾值時執(zhí)行步驟s1，若判斷出所述特征線的斜率大于或等于0時執(zhí)行步驟s4。

本步驟中，若特征線為直線，則可根據(jù)該直線上點的橫坐標值和縱坐標值計算出該特征線的斜率。

本步驟中，若特征線為曲線，則可將該曲線近似成直線，即將該曲線轉(zhuǎn)換為直線，并根據(jù)該直線上點的橫坐標值和縱坐標值計算出該特征線的斜率。

本實施例中，設(shè)定閾值小于0，例如，設(shè)定閾值為-0.05。

本步驟中，若判斷出所述特征線的斜率大于或等于0，表明特征線異常，該特征線異常是由發(fā)光器件本身異常導(dǎo)致的。圖5為未采用實施例二對發(fā)光器件進行老化時發(fā)光器件的壽命曲線圖，如圖5所示，在初始階段出現(xiàn)了曲線上升的情況且上升曲線的最高點大于100％，而后曲線開始下降，其中，曲線上升即對應(yīng)了特征線的斜率大于0的情況，即為特征線異常。也就是說，如果未對發(fā)光器件進行老化而對發(fā)光器件進行壽命測試，會出現(xiàn)圖5中曲線上升的情況，此種情況出現(xiàn)表示發(fā)光器件本身出現(xiàn)異常，這種情況也體現(xiàn)在本實施例中特征線出現(xiàn)異常。

步驟s4、將特征線的斜率大于或等于0時對應(yīng)的第一特征參數(shù)清零以及將初始特征參數(shù)設(shè)置為特征線的斜率大于或等于0時對應(yīng)的第一特征參數(shù)中的最大值，并繼續(xù)執(zhí)行步驟s1。

當特征線異常時可執(zhí)行步驟s4。本步驟中，可將發(fā)光器件異常時采集到的第一特征參數(shù)清零，并重新設(shè)置初始特征參數(shù)。而后在處理完特征線發(fā)生異常時的第一特征參數(shù)和初始特征參數(shù)后，需要重新對發(fā)光器件進行測試，即繼續(xù)執(zhí)行步驟s1。設(shè)置完初始特征參數(shù)后繼續(xù)采集第一特征參數(shù)，由于設(shè)置的初始特征參數(shù)為特征線的斜率大于或等于0時對應(yīng)的第一特征參數(shù)中的最大值，因此從初始特征參數(shù)開始若后續(xù)特征線下降且滿足步驟s3中的特征線的斜率大于或等于設(shè)定閾值且小于0，則可停止對發(fā)光器件進行老化處理；若從初始特征參數(shù)開始若后續(xù)特征線繼續(xù)上升則表明特征線繼續(xù)出現(xiàn)異常，則需要再執(zhí)行步驟s4。

圖6為實施例二中對發(fā)光器件的壽命曲線對比圖，如圖6所示，圖6中示出了兩條曲線，一條曲線為異常曲線，對該異常曲線的具體描述可參見圖5及其對應(yīng)的描述。另一條曲線為老化后曲線，即為采用實施例二的方案對發(fā)光器件進行老化并在老化后進行壽命測試得出的壽命曲線，換言之，圖6中另一條曲線是對老化處理后的發(fā)光器件再進行壽命測試后繪制出的壽命曲線。從圖6可以看出與異常曲線相比，老化后曲線不存在初始階段的曲線上升的情況，從而解決了特征線出現(xiàn)異常的問題，得出了正常的壽命曲線。

步驟s5、停止對發(fā)光器件進行老化。

本步驟中，可控制老化設(shè)備停止對發(fā)光器件進行老化處理。

可選地，步驟s5之后還可以包括：s6、記錄老化時間和/或老化量。

其中，老化時間可以為從開始老化至停止老化所經(jīng)歷的時間；老化量為從開始老化至停止老化所進行老化的老化量，具體地，老化量為開始老化的時間點對應(yīng)的第二特征參數(shù)與停止老化的時間點對應(yīng)的第二特征參數(shù)之間的差值的絕對值。此處需要說明的是：針對特征線出現(xiàn)異常的情況，開始老化的時間點指的是執(zhí)行本實施例的方案后特征線開始下降的時間點(即特征線恢復(fù)正常的時間點)。

本實施例提供的發(fā)光器件的老化測試方法的技術(shù)方案中，在對發(fā)光器件進行老化的過程中，根據(jù)采集的第一特征參數(shù)和與每個第一特征參數(shù)對應(yīng)的時間生成特征線，若判斷出特征線的斜率大于或等于設(shè)定閾值且小于0時，停止對發(fā)光器件進行老化，本實施例對不同的發(fā)光器件進行相應(yīng)的老化處理，降低了不同的發(fā)光器件之間的壽命差異，從而提高了發(fā)光器件壽命的均一性。

圖7為本發(fā)明實施例三提供的一種發(fā)光器件的老化測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖，如圖7所示，該系統(tǒng)包括：采集模塊11、生成模塊12、判斷模塊13和老化控制模塊14。

采集模塊11用于在對發(fā)光器件進行老化的過程中，采集所述發(fā)光器件的多個第一特征參數(shù)和與每個第一特征參數(shù)對應(yīng)的測試時間。

生成模塊12用于根據(jù)所述第一特征參數(shù)和與每個第一特征參數(shù)對應(yīng)的測試時間生成特征線，并生成所述特征線的斜率.

判斷模塊13用于判斷所述特征線的斜率是否大于或等于設(shè)定閾值且小于0。

老化控制模塊14用于若判斷模塊13判斷出所述特征線的斜率大于或等于設(shè)定閾值且小于0時，停止對發(fā)光器件進行老化。具體地，老化控制模塊14可控制老化設(shè)備停止對發(fā)光器件進行老化處理。進一步地，老化控制模塊14還用于在停止對發(fā)光器件進行老化之后記錄老化時間和/或老化量。

進一步地，判斷模塊13還用于若判斷出特征線的斜率小于設(shè)定閾值時，觸發(fā)采集模塊11，由采集模塊11繼續(xù)執(zhí)行所述在對發(fā)光器件進行老化的過程中，采集所述發(fā)光器件的多個第一特征參數(shù)的步驟。

進一步地，該系統(tǒng)還包括：設(shè)置模塊15。設(shè)置模塊15用于若判斷模塊13判斷出特征線的斜率大于或等于0時，將特征線的斜率大于或等于0時對應(yīng)的第一特征參數(shù)清零以及將初始特征參數(shù)設(shè)置為特征線的斜率大于或等于0時對應(yīng)的第一特征參數(shù)中的最大值，并觸發(fā)采集模塊11，由采集模塊11繼續(xù)執(zhí)行所述在對發(fā)光器件進行老化的過程中，采集所述發(fā)光器件的多個第一特征參數(shù)的步驟。

進一步地，生成模塊12包括：計算子模塊121和生成子模塊122。計算子模塊121用于將第一特征參數(shù)和設(shè)置的初始特征參數(shù)相除，計算出第二特征參數(shù)。生成子模塊122用于根據(jù)所述第二特征參數(shù)和與每個所述第二特征參數(shù)對應(yīng)的測試時間生成特征線。

本實施例中，所述初始特征參數(shù)等于采集的多個第一特征參數(shù)中第一個第一特征參數(shù)。

本實施例中，所述第一特征參數(shù)為第一亮度值，所述初始特征參數(shù)為初始亮度值。

本實施例中，所述特征線為曲線或者直線。

本實施例提供的發(fā)光器件的老化測試系統(tǒng)可用于實現(xiàn)上述實施例一或?qū)嵤├峁┑陌l(fā)光器件的老化測試方法。

本實施例提供的發(fā)光器件的老化測試系統(tǒng)的技術(shù)方案中，在對發(fā)光器件進行老化的過程中，根據(jù)采集的第一特征參數(shù)和與每個第一特征參數(shù)對應(yīng)的時間生成特征線，若判斷出特征線的斜率大于或等于設(shè)定閾值且小于0時，停止對發(fā)光器件進行老化，本實施例對不同的發(fā)光器件進行相應(yīng)的老化處理，降低了不同的發(fā)光器件之間的壽命差異，從而提高了發(fā)光器件壽命的均一性。

可以理解的是，以上實施方式僅僅是為了說明本發(fā)明的原理而采用的示例性實施方式，然而本發(fā)明并不局限于此。對于本領(lǐng)域內(nèi)的普通技術(shù)人員而言，在不脫離本發(fā)明的精神和實質(zhì)的情況下，可以做出各種變型和改進，這些變型和改進也視為本發(fā)明的保護范圍。