1.一種時鐘測量電路與校正方法，其特征在于，包括：
2.如權(quán)利要求1所述的時鐘測量電路與校正方法，其特征在于：所述使用時鐘頻率檢測電路測量計算內(nèi)部待校準(zhǔn)的晶振時鐘頻率包括，使用外部高精度時鐘輸入作為基準(zhǔn)參考源，使用內(nèi)部待校準(zhǔn)的晶振時鐘作為被測時鐘；所述被測時鐘首先針對外部輸入的低頻高精度時鐘進(jìn)行邊沿檢測，使用同步的方法檢定外部輸入時鐘源的上升沿與下降沿；
3.如權(quán)利要求2所述的時鐘測量電路與校正方法，其特征在于：所述進(jìn)入校準(zhǔn)狀態(tài)包括校準(zhǔn)初始狀態(tài)s0，校準(zhǔn)開始狀態(tài)s1，校準(zhǔn)結(jié)果頻率上溢狀態(tài)s2，校準(zhǔn)結(jié)果頻率下溢狀態(tài)s3，校準(zhǔn)結(jié)果頻率符合狀態(tài)s4；
4.如權(quán)利要求3所述的時鐘測量電路與校正方法，其特征在于：所述對頻率進(jìn)行循環(huán)校準(zhǔn)包括，當(dāng)程序進(jìn)行初始化之后進(jìn)入初始化狀態(tài)，當(dāng)程序執(zhí)行頻率測量后進(jìn)入校準(zhǔn)開始狀態(tài)；
5.如權(quán)利要求4所述的時鐘測量電路與校正方法，其特征在于：所述調(diào)整校準(zhǔn)寄存器包括，在校準(zhǔn)狀態(tài)轉(zhuǎn)換之后，校準(zhǔn)寄存器根據(jù)理論值和校準(zhǔn)狀態(tài)的差進(jìn)行相加或相減，具體操作如下：
6.如權(quán)利要求5所述的時鐘測量電路與校正方法，其特征在于：所述當(dāng)頻率數(shù)值校準(zhǔn)至設(shè)定誤差范圍內(nèi)，完成時鐘校準(zhǔn)包括，當(dāng)校準(zhǔn)程序進(jìn)行頻率檢測時，根據(jù)當(dāng)前測量計數(shù)值與理論計數(shù)值進(jìn)行比較，發(fā)現(xiàn)當(dāng)前時鐘頻率誤差大而且當(dāng)前時鐘頻率遠(yuǎn)大于理想值，則校準(zhǔn)程序針對校準(zhǔn)寄存器進(jìn)行大顆粒調(diào)整，等待時鐘調(diào)整穩(wěn)定之后開啟下一輪時鐘頻率測量；
7.如權(quán)利要求6所述的時鐘測量電路與校正方法，其特征在于：所述進(jìn)行校準(zhǔn)穩(wěn)定性測試，優(yōu)化校準(zhǔn)過程包括，結(jié)合測量頻率與目標(biāo)頻率之間的偏差、環(huán)境因素對時鐘頻率的影響，穩(wěn)定性評估公式表示為：
8.一種采用如權(quán)利要求1-7任一所述方法的一種時鐘測量電路與校正系統(tǒng)，其特征在于：
9.一種計算機(jī)設(shè)備，包括存儲器和處理器，所述存儲器存儲有計算機(jī)程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述計算機(jī)程序時實現(xiàn)權(quán)利要求1至7中任一項所述的方法的步驟。
10.一種計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有計算機(jī)程序，其特征在于，所述計算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)權(quán)利要求1至7中任一項所述的方法的步驟。