本公開(kāi)涉及導(dǎo)電,具體而言,涉及一種導(dǎo)電裝置及其制備方法。
背景技術(shù):
1、模內(nèi)電子(ime)是傳統(tǒng)模內(nèi)注塑裝飾技術(shù)與柔性印制電路的結(jié)合,可制得帶有不同復(fù)雜程度嵌入式電路的3d形狀。印刷導(dǎo)線在高溫3d成型過(guò)程中的可拉伸性是保障模內(nèi)電子(ime)器件成功制備的關(guān)鍵。
2、在相關(guān)技術(shù)中,可拉伸導(dǎo)線方案由于剛性金屬導(dǎo)電填料的機(jī)械性能與樹(shù)脂的不匹配,往往在低應(yīng)變下(<100%)即產(chǎn)生不可逆裂紋,導(dǎo)致導(dǎo)電線路連接失效。
3、需要說(shuō)明的是,在上述背景技術(shù)部分公開(kāi)的信息僅用于加強(qiáng)對(duì)本公開(kāi)的背景的理解,因此可以包括不構(gòu)成對(duì)本領(lǐng)域普通技術(shù)人員已知的現(xiàn)有技術(shù)的信息。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本公開(kāi)的目的在于克服上述現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種導(dǎo)電裝置及其制備方法,可以提高電路穩(wěn)定性。
2、根據(jù)本公開(kāi)的一個(gè)方面,提供一種導(dǎo)電裝置,具有:
3、第一封裝層;
4、第二封裝層;
5、導(dǎo)電單元;所述導(dǎo)電單元位于所述第一封裝層和所述第二封裝層之間;所述導(dǎo)電裝置具有非平整區(qū),所述導(dǎo)電單元在所述非平整區(qū)具有層疊設(shè)置的第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)和第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu);所述第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)覆蓋所述第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu);所述第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)內(nèi)具有至少一種第一金屬元素,所述第一金屬元素為固態(tài)金屬元素;所述第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)內(nèi)具有至少一種第二金屬元素,所述第二金屬元素為液態(tài)金屬元素。
6、在本公開(kāi)一種實(shí)施方式中,所述導(dǎo)電裝置還具有電子元器件;所述導(dǎo)電裝置具有平整區(qū)與非平整區(qū);
7、所述第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)從所述非平整區(qū)延伸至所述平整區(qū),所述第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)覆蓋所述第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu);
8、所述電子元器件設(shè)置在所述第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)遠(yuǎn)離所述第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)的表面,且與所述第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)電連接。
9、在本公開(kāi)一種實(shí)施方式中,所述第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)內(nèi)具有一種第一金屬元素,所述第一金屬元素為金;所述第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)內(nèi)具有三種第二金屬元素,該三種第二金屬元素分別為鎵、銦、錫。
10、在本公開(kāi)一種實(shí)施方式中,所述第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)內(nèi)具有至少一種第一金屬元素,且所述第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)內(nèi)還具有至少一種第二金屬元素。
11、在本公開(kāi)一種實(shí)施方式中,所述第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)內(nèi)具有三種第二金屬元素,該三種第二金屬元素為鎵、銦、錫;
12、所述第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)內(nèi)具有至少一種第一金屬元素,至少其中一個(gè)第一金屬元素為銀或銅,所述第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)內(nèi)至少具有一個(gè)第二金屬元素,所述第二金屬元素為鎵。
13、在本公開(kāi)一種實(shí)施方式中,在所述第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)中,鎵、銦、錫的質(zhì)量百分比為65%~100%:0%~30%:0%~20%。
14、在本公開(kāi)一種實(shí)施方式中,在所述第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)中,鎵、銦、錫的質(zhì)量百分比為68.5%:21.5%:10%。
15、在本公開(kāi)一種實(shí)施方式中,所述第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)的厚度為1μm~1mm;所述第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)的厚度為50nm~5μm。
16、根據(jù)本公開(kāi)的另一個(gè)方面,提供一種導(dǎo)電裝置的制備方法,包括以下步驟:
17、提供一導(dǎo)電裝置,所述導(dǎo)電裝置具有:
18、第一封裝層;
19、第二封裝層;
20、導(dǎo)電單元;所述導(dǎo)電單元位于所述第一封裝層和所述第二封裝層之間;所述導(dǎo)電裝置具有非平整區(qū),所述導(dǎo)電單元在所述非平整區(qū)具有層疊設(shè)置的第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)和第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu);所述第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)覆蓋所述第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu);所述第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)內(nèi)具有至少一種第一金屬元素,所述第一金屬元素為固態(tài)金屬元素;所述第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)內(nèi)具有至少一種第二金屬元素,所述第二金屬元素為液態(tài)金屬元素。
21、在本公開(kāi)一種實(shí)施方式中,包括以下步驟:
22、在第一封裝層上形成圖案化的第一金屬層;
23、利用液態(tài)金屬元素在第一封裝層和第一金屬層上浸潤(rùn)性的差異,在第一金屬層上形成第二金屬層,從而獲得具有第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)和第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)的第一封裝層;
24、對(duì)具有第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)和第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)的第一封裝層進(jìn)行彎折,形成非平整區(qū);
25、在第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)上形成第二封裝層。
26、應(yīng)當(dāng)理解的是,以上的一般描述和后文的細(xì)節(jié)描述僅是示例性和解釋性的,并不能限制本公開(kāi)。
1.一種導(dǎo)電裝置,其特征在于,具有:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的導(dǎo)電裝置,其特征在于,所述導(dǎo)電裝置還具有電子元器件;所述導(dǎo)電裝置具有平整區(qū)與非平整區(qū);
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的導(dǎo)電裝置,其特征在于,所述第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)內(nèi)具有一種第一金屬元素,所述第一金屬元素為金;所述第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)內(nèi)具有三種第二金屬元素,該三種第二金屬元素分別為鎵、銦、錫。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的導(dǎo)電裝置,其特征在于,所述第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)內(nèi)具有至少一種第一金屬元素,且所述第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)內(nèi)還具有至少一種第二金屬元素。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的導(dǎo)電裝置,其特征在于,所述第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)內(nèi)具有三種第二金屬元素,該三種第二金屬元素為鎵、銦、錫;
6.根據(jù)權(quán)利要求3或5所述的導(dǎo)電裝置,其特征在于,在所述第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)中,鎵、銦、錫的質(zhì)量百分比為65%~100%:0%~30%:0%~20%。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的導(dǎo)電裝置,其特征在于,在所述第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)中,鎵、銦、錫的質(zhì)量百分比為68.5%:21.5%:10%。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的導(dǎo)電裝置,其特征在于,所述第二導(dǎo)電結(jié)構(gòu)的厚度為1μm~1mm;所述第一導(dǎo)電結(jié)構(gòu)的厚度為50nm~5μm。
9.一種導(dǎo)電裝置的制備方法,其特征在于,包括以下步驟:
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的導(dǎo)電裝置的制備方法,其特征在于,包括以下步驟: