本申請(qǐng)涉及信號(hào)測(cè)量，具體涉及一種失調(diào)校準(zhǔn)方法、芯片及電子設(shè)備。

背景技術(shù)：

1、模數(shù)轉(zhuǎn)換器(analog?digital?convertor，adc)可以將電壓信號(hào)(例如傳感器輸出的電信號(hào))轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)，被廣泛應(yīng)用于通信、測(cè)量、控制、信號(hào)處理等場(chǎng)景中。由于模數(shù)轉(zhuǎn)換器的轉(zhuǎn)換精度會(huì)受到其失調(diào)電壓的影響，因此在模數(shù)轉(zhuǎn)換器出廠前通常會(huì)對(duì)模數(shù)轉(zhuǎn)換器的失調(diào)電壓進(jìn)行校準(zhǔn)，以保證模數(shù)轉(zhuǎn)換器對(duì)信號(hào)的高精度測(cè)量。

2、然而，在出廠時(shí)刻標(biāo)定的失調(diào)電壓，可能隨著模數(shù)轉(zhuǎn)換器工作時(shí)間而發(fā)生緩慢變化，例如在一些需要長(zhǎng)壽命且工作環(huán)境惡劣的應(yīng)用場(chǎng)景(如工業(yè)、汽車等)，失調(diào)電壓隨著工作壽命(如5年、10年甚至更長(zhǎng))發(fā)生顯著變化，最終導(dǎo)致出廠時(shí)標(biāo)定好的模數(shù)轉(zhuǎn)換器精度下降而測(cè)量誤差增大的現(xiàn)象。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、鑒于以上問(wèn)題，本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種失調(diào)校準(zhǔn)方法、芯片及電子設(shè)備，以解決上述技術(shù)問(wèn)題。

2、第一方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種失調(diào)校準(zhǔn)方法，失調(diào)校準(zhǔn)方法應(yīng)用于電壓測(cè)量電路，方法包括：

3、判斷電壓測(cè)量電路是否滿足預(yù)設(shè)的失調(diào)校準(zhǔn)條件；

4、當(dāng)電壓測(cè)量電路滿足預(yù)設(shè)的失調(diào)校準(zhǔn)條件時(shí)，測(cè)量電壓測(cè)量電路的實(shí)時(shí)失調(diào)數(shù)據(jù)；

5、根據(jù)實(shí)時(shí)失調(diào)數(shù)據(jù)以及初始失調(diào)數(shù)據(jù)，確定電壓測(cè)量電路的校準(zhǔn)失調(diào)參數(shù)，初始失調(diào)數(shù)據(jù)為電壓測(cè)量電路上一次校準(zhǔn)過(guò)程確定的校準(zhǔn)失調(diào)參數(shù)

6、第二方面，本申請(qǐng)實(shí)施例還提供一種芯片，包括電壓測(cè)量電路，電壓測(cè)量電路使用如第一方面所述的失調(diào)校準(zhǔn)方法更新校準(zhǔn)失調(diào)參數(shù)。

7、第三方面，本申請(qǐng)實(shí)施例還提供一種電子設(shè)備，包括上述的芯片。

8、本申請(qǐng)?jiān)陔妷簻y(cè)量電路(例如模數(shù)轉(zhuǎn)換器)滿足預(yù)設(shè)的失調(diào)校準(zhǔn)條件時(shí)，測(cè)量電壓測(cè)量電路工作過(guò)程中的實(shí)時(shí)失調(diào)數(shù)據(jù)，從而可以根據(jù)電壓測(cè)量電路的實(shí)時(shí)失調(diào)數(shù)據(jù)以及電壓測(cè)量電路上一次校準(zhǔn)過(guò)程確定的初始失調(diào)數(shù)據(jù)，更新電壓測(cè)量電路的校準(zhǔn)失調(diào)參數(shù)。也就是說(shuō)，本申請(qǐng)的失調(diào)校準(zhǔn)方法可以在電壓測(cè)量電路工作過(guò)程中更新電壓測(cè)量電路的校準(zhǔn)失調(diào)參數(shù)，從而避免電壓測(cè)量電路出廠前標(biāo)定的失調(diào)參數(shù)因長(zhǎng)時(shí)間工作失效而測(cè)量誤差增大的現(xiàn)象。

9、本申請(qǐng)的這些方面或其他方面在以下實(shí)施例的描述中會(huì)更加簡(jiǎn)明易懂。

技術(shù)特征：

1.一種失調(diào)校準(zhǔn)方法，其特征在于，所述失調(diào)校準(zhǔn)方法應(yīng)用于電壓測(cè)量電路，方法包括：

2.如權(quán)利要求1所述的失調(diào)校準(zhǔn)方法，其特征在于，所述根據(jù)所述實(shí)時(shí)失調(diào)數(shù)據(jù)以及初始失調(diào)數(shù)據(jù)，確定所述電壓測(cè)量電路的校準(zhǔn)失調(diào)參數(shù)的步驟包括：

3.如權(quán)利要求1所述的失調(diào)校準(zhǔn)方法，其特征在于，所述測(cè)量所述電壓測(cè)量電路的實(shí)時(shí)失調(diào)數(shù)據(jù)的步驟包括：

4.如權(quán)利要求3所述的失調(diào)校準(zhǔn)方法，其特征在于，所述測(cè)量數(shù)據(jù)集合包括所述電壓測(cè)量電路多次測(cè)量電壓為零的所述輸入電壓的多個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)；

5.如權(quán)利要求3所述的失調(diào)校準(zhǔn)方法，其特征在于，所述電壓測(cè)量電路集成于目標(biāo)芯片內(nèi)；

6.如權(quán)利要求5所述的失調(diào)校準(zhǔn)方法，其特征在于，電壓為零的所述輸入電壓由所述目標(biāo)芯片的內(nèi)部電路提供；

7.如權(quán)利要求1所述的失調(diào)校準(zhǔn)方法，其特征在于，所述判斷所述電壓測(cè)量電路是否滿足預(yù)設(shè)的失調(diào)校準(zhǔn)條件的步驟包括：

8.如權(quán)利要求7所述的失調(diào)校準(zhǔn)方法，其特征在于，所述待測(cè)信號(hào)包括多組待測(cè)電壓，所述校準(zhǔn)測(cè)量數(shù)據(jù)包括經(jīng)所述初始失調(diào)數(shù)據(jù)校準(zhǔn)的多組電壓校準(zhǔn)結(jié)果；

9.一種芯片，其特征在于，包括電壓測(cè)量電路，所述電壓測(cè)量電路使用如權(quán)利要求1至8任一項(xiàng)所述的失調(diào)校準(zhǔn)方法更新校準(zhǔn)失調(diào)參數(shù)。

10.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括如權(quán)利要求9所述的芯片。

技術(shù)總結(jié)
本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種失調(diào)校準(zhǔn)方法、芯片及電子設(shè)備，失調(diào)校準(zhǔn)方法包括：判斷電壓測(cè)量電路是否滿足預(yù)設(shè)的失調(diào)校準(zhǔn)條件；當(dāng)電壓測(cè)量電路滿足預(yù)設(shè)的失調(diào)校準(zhǔn)條件時(shí)，測(cè)量電壓測(cè)量電路的實(shí)時(shí)失調(diào)數(shù)據(jù)；根據(jù)實(shí)時(shí)失調(diào)數(shù)據(jù)以及初始失調(diào)數(shù)據(jù)，確定電壓測(cè)量電路的校準(zhǔn)失調(diào)參數(shù)。本申請(qǐng)的失調(diào)校準(zhǔn)方法可以在電壓測(cè)量電路工作過(guò)程中更新電壓測(cè)量電路的校準(zhǔn)失調(diào)參數(shù)，從而避免電壓測(cè)量電路出廠前標(biāo)定的失調(diào)參數(shù)因長(zhǎng)時(shí)間工作失效而導(dǎo)致測(cè)量誤差增大的現(xiàn)象。

技術(shù)研發(fā)人員：孫昳昀,李曉,許浩東
受保護(hù)的技術(shù)使用者：芯海科技（深圳）股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/6