本發(fā)明實施例涉及電磁屏蔽,尤其涉及一種電磁屏蔽罩及線路板。
背景技術(shù):
1、目前移動終端往小型化發(fā)展,例如麥克風(fēng)、無線耳機等,需要用到極小型或者微型電路。在小型線路板的制作中,傳統(tǒng)的貼片電阻、電容無法滿足小體積的線路制作需求,片式電子元器件目前已在電子產(chǎn)品中得到廣泛應(yīng)用。
2、現(xiàn)有的薄膜電阻產(chǎn)品在線路制作過程中,應(yīng)用端使用時電阻層容易開裂,導(dǎo)致電阻失效,影響線路板制作效率和品質(zhì)。
技術(shù)實現(xiàn)思路
1、本發(fā)明提供一種復(fù)合金屬箔、覆金屬層疊板、芯片及電路板,實現(xiàn)提高功能層的致密性,提高復(fù)合金屬箔的韌性,避免線路板壓合過程功能層開裂。
2、第一方面,本發(fā)明實施例提供一種復(fù)合金屬箔,包括:層疊設(shè)置的基底層和功能層;所述基底層的導(dǎo)熱系數(shù)大于400w/m.k。
3、可選的,所述基底層的導(dǎo)熱系數(shù)在400w/m.k-450w/m.k之間。
4、可選的,所述基底層靠近和/或遠(yuǎn)離所述功能層的一側(cè)設(shè)置隔熱層。
5、可選的,單位面積內(nèi),所述基底層中晶粒與晶界的數(shù)量比例為0.1~2。
6、可選的,單位面積內(nèi)所述基底層的所有所述晶粒中,單晶取向的晶粒占比為70~100%。
7、可選的,所述復(fù)合金屬箔還包括緩沖層,所述緩沖層、所述基底層及所述功能層分別層疊設(shè)置。
8、可選的,所述基底層的材質(zhì)包括銅、金、銀、鐵、鋁、石墨、導(dǎo)電聚合物和碳纖維復(fù)合材料中的一種或兩種以上材料;和/或,所述功能層包括鎳、鉻、鋅、鋁、鐵、鈦、磷、錫、氧、氮和銅中的至少一種元素。
9、可選的,所述功能層中鉻的含量范圍為10%~40%,鎳的含量范圍為60%~90%。
10、可選的,所述基底層的厚度為5~50μm;和/或,所述基底層靠近所述功能層的一側(cè)表面的粗糙度rz范圍為0.5~10μm。
11、可選的,所述的復(fù)合金屬箔,還包括調(diào)節(jié)層,所述調(diào)節(jié)層設(shè)置在所述功能層遠(yuǎn)離所述基底層的一側(cè),所述調(diào)節(jié)層用于作用提升壓合時所述基底層與基板的結(jié)合力。
12、第二方面,本發(fā)明實施例提供一種覆金屬層疊板,所述覆金屬層疊板包括本發(fā)明任意實施例所述的復(fù)合金屬箔。
13、第三方面,本發(fā)明實施例提供一種芯片,所述芯片包括本發(fā)明任意實施例所述的復(fù)合金屬箔。
14、第四方面,本發(fā)明實施例提供一種電路板,所述電路板包括本發(fā)明任意實施例所述的復(fù)合金屬箔。
15、本發(fā)明實施例提供的技術(shù)方案,復(fù)合金屬箔包括層疊設(shè)置的基底層和功能層;基底層的導(dǎo)熱系數(shù)大于400w/m.k。通過限定基底層材料導(dǎo)熱系數(shù),從而影響薄膜材料的沉積速度,提高功能層濺射時的致密性,提高復(fù)合金屬箔的韌性,可以避免線路板壓合過程中功能層開裂情況發(fā)生,滿足使用需求,有利于提升線路加工精度。
1.一種復(fù)合金屬箔,其特征在于,包括:層疊設(shè)置的基底層和功能層;所述基底層的導(dǎo)熱系數(shù)大于400w/m.k。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的復(fù)合金屬箔,其特征在于,所述基底層的導(dǎo)熱系數(shù)在400w/m.k-450w/m.k之間。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的復(fù)合金屬箔,其特征在于,所述基底層靠近和/或遠(yuǎn)離所述功能層的一側(cè)設(shè)置隔熱層。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的復(fù)合金屬箔,其特征在于,單位面積內(nèi),所述基底層中晶粒與晶界的數(shù)量比例為0.1~2。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的復(fù)合金屬箔,其特征在于,單位面積內(nèi)所述基底層的所有所述晶粒中,單晶取向的晶粒占比為70~100%。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的復(fù)合金屬箔,其特征在于,所述復(fù)合金屬箔還包括緩沖層,所述緩沖層、所述基底層及所述功能層分別層疊設(shè)置。
7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的復(fù)合金屬箔,其特征在于,所述基底層的材質(zhì)包括銅、金、銀、鐵、鋁、石墨、導(dǎo)電聚合物和碳纖維復(fù)合材料中的一種或兩種以上材料;和/或,所述功能層包括鎳、鉻、鋅、鋁、鐵、鈦、磷、錫、氧、氮和銅中的至少一種元素。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的復(fù)合金屬箔,其特征在于,所述功能層中鉻的含量范圍為10%~40%,鎳的含量范圍為60%~90%。
9.根據(jù)權(quán)利要求1-8任一所述的復(fù)合金屬箔,其特征在于,所述基底層的厚度為5~50μm;和/或,所述基底層靠近所述功能層的一側(cè)表面的粗糙度rz范圍為0.5~10μm。
10.根據(jù)權(quán)利要求1-8任一所述的復(fù)合金屬箔,其特征在于,還包括調(diào)節(jié)層,所述調(diào)節(jié)層設(shè)置在所述功能層遠(yuǎn)離所述基底層的一側(cè),所述調(diào)節(jié)層用于作用提升壓合時所述基底層與基板的結(jié)合力。
11.一種覆金屬層疊板,其特征在于,所述覆金屬層疊板包括權(quán)利要求1-10中任一項所述的復(fù)合金屬箔。
12.一種芯片,其特征在于,所述芯片包括權(quán)利要求1-10中任一項所述的復(fù)合金屬箔。
13.一種電路板,其特征在于,所述電路板包括權(quán)利要求1-10中任一項所述的復(fù)合金屬箔。