本申請涉及芯片測試領(lǐng)域，特別是涉及一種低相位噪聲的信號發(fā)生裝置及測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

1、芯片測試，指的是利用測試機(jī)控制信號發(fā)生裝置輸出目標(biāo)信號對被測器件的各項(xiàng)參數(shù)指標(biāo)進(jìn)行檢測，剔除殘次品以控制半導(dǎo)體器件的出廠品質(zhì)。

2、現(xiàn)有技術(shù)中，使用直接數(shù)字頻率合成器驅(qū)動鎖相環(huán)輸出時(shí)鐘信號，其雖然削減了參考時(shí)鐘信號的相位噪聲對目標(biāo)信號的影響，但是鎖相環(huán)因制成工藝其本身也是存在固有噪聲的，因此其輸出的目標(biāo)信號的相位噪聲指標(biāo)因受到鎖相環(huán)自身噪聲水平的制約，而影響測試精度。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、基于此，有必要針對上述技術(shù)問題，提供一種低相位噪聲的信號發(fā)生裝置及測試系統(tǒng)。

2、第一方面，本實(shí)用新型實(shí)施例提出一種低相位噪聲的信號發(fā)生裝置，所述裝置包括：

3、鎖相環(huán)，用于接收來自測試機(jī)的參考時(shí)鐘信號和外部的第一反饋時(shí)鐘信號，將所述參考時(shí)鐘信號和所述第一反饋時(shí)鐘信號進(jìn)行頻率和相位比較后，輸出第一信號；

4、第一濾波器，與所述鎖相環(huán)連接，用于將所述第一信號濾波后，輸出第二信號；

5、壓控振蕩器，與所述第一濾波器以及所述鎖相環(huán)連接，用于輸出第一反饋時(shí)鐘信號及根據(jù)所述第二信號輸出采樣時(shí)鐘信號；

6、直接數(shù)字頻率合成器，與所述壓控振蕩器連接，用于根據(jù)所述采樣時(shí)鐘信號輸出目標(biāo)信號。

7、在一實(shí)施例中，所述鎖相環(huán)包括：

8、鑒頻鑒相器，用于檢測所述參考時(shí)鐘信號和第二反饋時(shí)鐘信號的頻率差和相位差，輸出檢測信號；

9、電荷泵，與所述鑒頻鑒相器連接，用于根據(jù)所述檢測信號，輸出第一信號；

10、分頻器，與所述壓控振蕩器和所述鑒頻鑒相器連接，用于將所述第一反饋時(shí)鐘信號分頻后，輸出所述第二反饋時(shí)鐘信號。

11、在一實(shí)施例中，所述第一濾波器為環(huán)路濾波器。

12、在一實(shí)施例中，所述第一濾波器為三階環(huán)路濾波器，包括依次連接的第一濾波電路、第二濾波電路以及第三濾波電路。

13、在一實(shí)施例中，所述第一濾波電路包括電容c1，所述第二濾波電路包括電容c2和電阻r1，所述第三濾波電路包括電容c3和電阻r2；所述電容c1連接在所述鎖相環(huán)的輸出端和公共地之間，所述電容c2和所述電阻r1串聯(lián)連接在所述鎖相環(huán)的輸出端和公共地之間，所述電阻r2串聯(lián)連接在所述鎖相環(huán)的輸出端，所述電容c3連接在所述電阻r2的輸出端和公共地之間。

14、在一實(shí)施例中，所述壓控振蕩器外置于所述鎖相環(huán)。

15、在一實(shí)施例中，所述裝置還包括：

16、倍頻器，連接在所述壓控振蕩器和所述直接數(shù)字頻率合成器之間，用于將所述采樣時(shí)鐘信號的頻率倍頻至目標(biāo)頻率，輸出第三信號；

17、所述直接數(shù)字頻率合成器根據(jù)所述第三信號輸出目標(biāo)信號。

18、在一實(shí)施例中，所述裝置還包括：

19、第二濾波器，連接在所述倍頻器和所述直接數(shù)字頻率合成器之間，用于將所述第三信號濾波后，輸出第四信號；

20、所述直接數(shù)字頻率合成器根據(jù)所述第四信號輸出目標(biāo)信號。

21、在一實(shí)施例中，所述壓控振蕩器為窄帶點(diǎn)頻的恒溫晶振。

22、第二方面，本實(shí)用新型實(shí)施例提出一種測試系統(tǒng)，包括測試機(jī)以及如第一方面所述的低相位噪聲的信號發(fā)生裝置，所述測試機(jī)用于輸出參考時(shí)鐘信號。

23、與現(xiàn)有技術(shù)相比，本技術(shù)方案具有以下技術(shù)效果：使用鎖相環(huán)驅(qū)動直接數(shù)字頻率合成器的方式輸出目標(biāo)信號能夠消除鎖相環(huán)自身噪聲水平的制約，降低目標(biāo)信號的相位噪聲，既能滿足相位噪聲指標(biāo)的需求又能滿足任意頻率輸出的需求，從而提高芯片測試的準(zhǔn)確性。

技術(shù)特征：

1.一種低相位噪聲的信號發(fā)生裝置，其特征在于，所述裝置包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低相位噪聲的信號發(fā)生裝置，其特征在于，所述鎖相環(huán)包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低相位噪聲的信號發(fā)生裝置，其特征在于，所述第一濾波器為環(huán)路濾波器。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的低相位噪聲的信號發(fā)生裝置，其特征在于，所述第一濾波器為三階環(huán)路濾波器，包括依次連接的第一濾波電路、第二濾波電路以及第三濾波電路。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的低相位噪聲的信號發(fā)生裝置，其特征在于，所述第一濾波電路包括電容c1，所述第二濾波電路包括電容c2和電阻r1，所述第三濾波電路包括電容c3和電阻r2；所述電容c1連接在所述鎖相環(huán)的輸出端和公共地之間，所述電容c2和所述電阻r1串聯(lián)連接在所述鎖相環(huán)的輸出端和公共地之間，所述電阻r2串聯(lián)連接在所述鎖相環(huán)的輸出端，所述電容c3連接在所述電阻r2的輸出端和公共地之間。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低相位噪聲的信號發(fā)生裝置，其特征在于，所述壓控振蕩器外置于所述鎖相環(huán)。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低相位噪聲的信號發(fā)生裝置，其特征在于，所述裝置還包括：

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的低相位噪聲的信號發(fā)生裝置，其特征在于，所述裝置還包括：

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低相位噪聲的信號發(fā)生裝置，其特征在于，所述壓控振蕩器為窄帶點(diǎn)頻的恒溫晶振。

10.一種測試系統(tǒng)，其特征在于，包括測試機(jī)以及如權(quán)利要求1至9任一項(xiàng)所述的低相位噪聲的信號發(fā)生裝置，所述測試機(jī)用于輸出參考時(shí)鐘信號。

技術(shù)總結(jié)
本申請?zhí)岢鲆环N低相位噪聲的信號發(fā)生裝置及測試系統(tǒng)，該裝置包括：鎖相環(huán)，用于接收來自測試機(jī)的參考時(shí)鐘信號和外部的第一反饋時(shí)鐘信號，將所述參考時(shí)鐘信號和所述第一反饋時(shí)鐘信號進(jìn)行頻率和相位比較后，輸出第一信號；第一濾波器，與所述鎖相環(huán)連接，用于將所述第一信號濾波后，輸出第二信號；壓控振蕩器，與所述第一濾波器以及所述鎖相環(huán)連接，用于輸出第一反饋時(shí)鐘信號及根據(jù)所述第二信號輸出采樣時(shí)鐘信號；直接數(shù)字頻率合成器，與所述壓控振蕩器連接，用于根據(jù)所述采樣時(shí)鐘信號輸出目標(biāo)信號。本申請使用鎖相環(huán)驅(qū)動直接數(shù)字頻率合成器的方式既能滿足相位噪聲指標(biāo)的需求又能滿足任意頻率輸出的需求。

技術(shù)研發(fā)人員：趙旭,姜炎材,熊三淮
受保護(hù)的技術(shù)使用者：杭州長川科技股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20240311
技術(shù)公布日：2024/12/26