振蕩器頻率校驗(yàn)裝置和方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及電子電路領(lǐng)域，具體地，涉及一種振蕩器頻率校驗(yàn)裝置和方法。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，幾乎都是使用振蕩器給MCU提供運(yùn)行頻率。UL認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)中要求，MCU要在正常運(yùn)行頻率的半頻?倍頻范圍內(nèi)正常工作，所以要對(duì)MCU使用的振蕩器頻率做校驗(yàn)，以保證MCU正常安全的運(yùn)行。
[0003]目前，很少會(huì)對(duì)MCU所使用的振蕩器進(jìn)行頻率校驗(yàn)，而缺少運(yùn)行頻率的校驗(yàn)，會(huì)在MCU使用錯(cuò)誤的振蕩器或者振蕩器損壞的情況下，造成MCU運(yùn)行錯(cuò)誤、使用MCU的機(jī)器的負(fù)載不正常開(kāi)關(guān)等問(wèn)題，而且也會(huì)存在一定的安全隱患。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的是提供一種振蕩器頻率校驗(yàn)裝置和方法，該校驗(yàn)裝置和方法能夠?qū)φ袷幤鞯念l率進(jìn)行校驗(yàn)，從而能夠防止微控制單元(MCU)及使用MCU的機(jī)器出現(xiàn)不可控制的現(xiàn)象，并能夠提高M(jìn)CU及使用MCU的機(jī)器的運(yùn)行安全性。
[0005]為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種振蕩器頻率校驗(yàn)裝置，該校驗(yàn)裝置包括:過(guò)零點(diǎn)檢測(cè)模塊，用于檢測(cè)參考振蕩器輸出的交流信號(hào)的過(guò)零點(diǎn)；計(jì)時(shí)器，該計(jì)時(shí)器由被校驗(yàn)振蕩器驅(qū)動(dòng)并用于對(duì)所述參考振蕩器輸出的交流信號(hào)的兩個(gè)相鄰過(guò)零點(diǎn)之間的時(shí)間間隔進(jìn)行計(jì)時(shí)；以及判斷模塊，用于判斷所述計(jì)時(shí)器所計(jì)時(shí)的時(shí)間間隔是否位于所述參考振蕩器的理論相鄰過(guò)零點(diǎn)時(shí)間間隔的誤差范圍內(nèi)，若是，則判定被校驗(yàn)振蕩器的頻率正常，若否，則判定被校驗(yàn)振蕩器的頻率異常。
[0006]本發(fā)明還提供一種振蕩器頻率校驗(yàn)方法，該校驗(yàn)方法包括:檢測(cè)參考振蕩器輸出的交流信號(hào)的過(guò)零點(diǎn)；通過(guò)由被校驗(yàn)振蕩器驅(qū)動(dòng)的計(jì)時(shí)器，對(duì)所述參考振蕩器輸出的交流信號(hào)的兩個(gè)相鄰過(guò)零點(diǎn)之間的時(shí)間間隔進(jìn)行計(jì)時(shí)；以及判斷所述計(jì)時(shí)器所計(jì)時(shí)的時(shí)間間隔是否位于所述參考振蕩器的理論相鄰過(guò)零點(diǎn)時(shí)間間隔的誤差范圍內(nèi)，若是，則判定被校驗(yàn)振蕩器的頻率正常，若否，則判定被校驗(yàn)振蕩器的頻率異常。
[0007]通過(guò)上述技術(shù)方案，由于能夠檢測(cè)參考振蕩器輸出的交流信號(hào)的過(guò)零點(diǎn)、通過(guò)由被校驗(yàn)振蕩器驅(qū)動(dòng)的計(jì)時(shí)器對(duì)參考振蕩器輸出的交流信號(hào)的兩個(gè)相鄰過(guò)零點(diǎn)之間的時(shí)間間隔進(jìn)行計(jì)時(shí)并判斷所述計(jì)時(shí)器所計(jì)時(shí)的時(shí)間間隔是否位于參考振蕩器的理論相鄰過(guò)零點(diǎn)時(shí)間間隔的誤差范圍內(nèi)，從而能夠簡(jiǎn)便快捷地判定被校驗(yàn)振蕩器的頻率是否異常，這樣使用者就能夠及時(shí)采取措施，使得能夠防止使用被校驗(yàn)振蕩器的MCU及使用MCU的機(jī)器出現(xiàn)不可控制的現(xiàn)象，防止出現(xiàn)機(jī)器負(fù)載的不正常開(kāi)關(guān)問(wèn)題，并能夠提高M(jìn)CU及使用MCU的機(jī)器的運(yùn)行安全性。
[0008]本發(fā)明的其它特征和優(yōu)點(diǎn)將在隨后的【具體實(shí)施方式】部分予以詳細(xì)說(shuō)明。
【附圖說(shuō)明】
[0009]附圖是用來(lái)提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解，并且構(gòu)成說(shuō)明書(shū)的一部分，與下面的【具體實(shí)施方式】一起用于解釋本發(fā)明，但并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的限制。在附圖中:
[0010]圖1是根據(jù)本發(fā)明一種實(shí)施方式的振蕩器頻率校驗(yàn)裝置的示意框圖；
[0011]圖2是根據(jù)本發(fā)明一種實(shí)施方式的振蕩器頻率校驗(yàn)方法的流程圖；以及
[0012]圖3是根據(jù)本發(fā)明一種實(shí)施方式的振蕩器頻率校驗(yàn)方法的又一流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0013]以下結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解的是，此處所描述的【具體實(shí)施方式】?jī)H用于說(shuō)明和解釋本發(fā)明，并不用于限制本發(fā)明。
[0014]如圖1所示，根據(jù)本發(fā)明一種實(shí)施方式的振蕩器頻率校驗(yàn)裝置包括過(guò)零點(diǎn)檢測(cè)模塊10、計(jì)時(shí)器20、判斷模塊30以及參考振蕩器40。過(guò)零點(diǎn)檢測(cè)模塊10用于檢測(cè)參考振蕩器40輸出的交流信號(hào)的過(guò)零點(diǎn)；計(jì)時(shí)器20由被校驗(yàn)振蕩器50驅(qū)動(dòng)并用于對(duì)所述參考振蕩器40輸出的交流信號(hào)的兩個(gè)相鄰過(guò)零點(diǎn)之間的時(shí)間間隔進(jìn)行計(jì)時(shí)；以及判斷模塊30，用于判斷計(jì)時(shí)器20所計(jì)時(shí)的時(shí)間間隔是否位于參考振蕩器40的理論相鄰過(guò)零點(diǎn)時(shí)間間隔的誤差范圍內(nèi)，若是，則判定被校驗(yàn)振蕩器50的頻率正常，若否，則判定被校驗(yàn)振蕩器50的頻率異常。
[0015]優(yōu)選地，所述過(guò)零點(diǎn)檢測(cè)模塊10可以為過(guò)零點(diǎn)檢測(cè)電路。本申請(qǐng)并不限定過(guò)零點(diǎn)檢測(cè)電路的具體電路形式，也即能夠?qū)崿F(xiàn)過(guò)零點(diǎn)檢測(cè)的任何過(guò)零點(diǎn)檢測(cè)電路都是可行的。
[0016]優(yōu)選地，所述參考振蕩器40可以為被校驗(yàn)振蕩器50之外的頻率固定的振蕩器或者使用被校驗(yàn)振蕩器50的微控制單元(MCU)的內(nèi)部振蕩器(在該MCU具有內(nèi)部振蕩器的情況下)。
[0017]另外，參考振蕩器40的理論相鄰過(guò)零點(diǎn)時(shí)間間隔可以通過(guò)參考振蕩器40的頻率獲得，也即，假設(shè)參考振蕩器40的頻率為f，則理論相鄰過(guò)零點(diǎn)時(shí)間間隔AT = 1/fo
[0018]優(yōu)選地，參考振蕩器40的理論相鄰過(guò)零點(diǎn)時(shí)間間隔的誤差范圍例如可以為由所述理論相鄰過(guò)零點(diǎn)時(shí)間間隔的±50%所構(gòu)成的范圍。以參考振蕩器40的輸出頻率為50Hz為例，則參考振蕩器40輸出的交流信號(hào)的兩個(gè)相鄰過(guò)零點(diǎn)之間的理論相鄰過(guò)零點(diǎn)時(shí)間間隔是ΔΤ = 20ms，則該理論相鄰過(guò)零點(diǎn)時(shí)間間隔的±50%所構(gòu)成的范圍應(yīng)該是1ms?30ms ο
[0019]本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解的是，理論相鄰過(guò)零點(diǎn)時(shí)間間隔的誤差范圍不局限于上述舉例，其可以根據(jù)實(shí)際情況以及實(shí)際精度要求來(lái)設(shè)置。仍然以上述理論相鄰過(guò)零點(diǎn)時(shí)間間隔為20ms的情況為例進(jìn)行說(shuō)明，理論相鄰過(guò)零點(diǎn)時(shí)間間隔的誤差范圍可以設(shè)置成例如15ms ?25ms ο
[0020]優(yōu)選地，所述判斷模塊30還可以用于統(tǒng)計(jì)被校驗(yàn)振蕩器50的連續(xù)頻率異常的次數(shù)，判斷連續(xù)頻率異常的次數(shù)是否超過(guò)頻率出錯(cuò)閾值，若超過(guò)，則促使使用被校驗(yàn)振蕩器50的電路復(fù)位。例如，促使使用被校驗(yàn)振蕩器50的MCU復(fù)位，切斷使用該MCU的機(jī)器的所有負(fù)載，從而確保MCU及使用該MCU的機(jī)器的安全運(yùn)行。
[0021]圖2是根據(jù)本發(fā)明一種實(shí)施方式的振蕩器頻率校驗(yàn)方法的流程圖。如圖2所示，該振蕩器頻率校驗(yàn)方法包括:
[0022]S1、檢測(cè)參考振蕩器輸出的交流信號(hào)的過(guò)零點(diǎn)；
[0023]S2、通過(guò)由被校驗(yàn)振蕩器驅(qū)動(dòng)的計(jì)時(shí)器，對(duì)所述參考振蕩器輸出的交流信號(hào)的兩個(gè)相鄰過(guò)零點(diǎn)之間的時(shí)間間隔進(jìn)行計(jì)時(shí)；以及
[0024]S3、判斷所述計(jì)時(shí)器所計(jì)時(shí)的時(shí)間間隔是否位于參考振蕩器的理論相鄰過(guò)零點(diǎn)時(shí)間間隔的誤差范圍內(nèi)，若是，則判定被校驗(yàn)振蕩器的頻率正常，若否，則判定被校驗(yàn)振蕩器的頻率異常。
[0025]優(yōu)選地，根據(jù)本發(fā)明的振蕩器頻率校驗(yàn)方法可以采用過(guò)零點(diǎn)檢測(cè)電路來(lái)檢測(cè)參考振蕩器輸出的交流信號(hào)的過(guò)零點(diǎn)。過(guò)零點(diǎn)檢測(cè)電路的具體電路形式不受限制，只要其能夠?qū)崿F(xiàn)過(guò)零點(diǎn)檢測(cè)即可。
[0026]優(yōu)選地，所述參考振蕩器可以為被校驗(yàn)振蕩器之外的頻率固定的振蕩器或者使用被校驗(yàn)振蕩器的微控制單元(MCU)的內(nèi)部振蕩器(在該MCU具有內(nèi)部振蕩器的情況下)。
[0027]另外，參考振蕩器的理論相鄰過(guò)零點(diǎn)時(shí)間間隔可以通過(guò)參考振蕩器的頻率獲得，也即，假設(shè)參考振蕩器的頻率為f，則理論相鄰過(guò)零點(diǎn)時(shí)間間隔ΔΤ = 1/fo
[0028]優(yōu)選地，參考振蕩器的理論相鄰過(guò)零點(diǎn)時(shí)間間隔的誤差范圍例如可以為由所述理論相鄰過(guò)零點(diǎn)時(shí)間間隔的± 50 %所構(gòu)成的范圍。以參考振蕩器的輸出頻率為50Hz為例，則參考振蕩器輸出的交流信號(hào)的兩個(gè)相鄰過(guò)零點(diǎn)之間的理論相鄰過(guò)零點(diǎn)時(shí)間間隔是ΔΤ =20ms，則該理論相鄰過(guò)零點(diǎn)時(shí)間間隔的±50%所構(gòu)成的范圍應(yīng)該是1ms?30mso
[0029]本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解的是，理論相鄰過(guò)零點(diǎn)時(shí)間間隔的誤差范圍不局限于上述舉例，其可以根據(jù)實(shí)際情況以及實(shí)際精度要求來(lái)設(shè)置。仍然以上述理論相鄰過(guò)零點(diǎn)時(shí)間間隔為20ms的情況為例進(jìn)行說(shuō)明，理論相鄰過(guò)零點(diǎn)時(shí)間間隔的誤差范圍可以設(shè)置成例如15ms ?25ms ο
[0030]優(yōu)選地，根據(jù)本發(fā)明的振蕩器頻率校驗(yàn)方法還可以包括:統(tǒng)計(jì)被校驗(yàn)振蕩器的連續(xù)頻率異