電磁加熱控制系統(tǒng)的過(guò)壓過(guò)零檢測(cè)電路的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及檢測(cè)控制技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種電磁加熱控制系統(tǒng)的過(guò)壓過(guò)零檢測(cè)電路。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有技術(shù)中，電磁加熱控制系統(tǒng)中用于對(duì)市電電源的過(guò)零點(diǎn)進(jìn)行檢測(cè)的過(guò)零檢測(cè)電路與該系統(tǒng)中用于對(duì)諧振電路單元的過(guò)壓情況進(jìn)行檢測(cè)的過(guò)壓檢測(cè)電路是兩個(gè)完全獨(dú)立分開的電路單元，因此，現(xiàn)有電磁加熱控制系統(tǒng)存在電路結(jié)構(gòu)復(fù)雜和電路成本較高的缺陷。
[0003]并且，現(xiàn)有電磁加熱控制系統(tǒng)中的過(guò)零檢測(cè)電路對(duì)市電電源的過(guò)零點(diǎn)的檢測(cè)方案通常是以下兩種:(一)首先將輸入的市電電源進(jìn)行分壓，然后將分壓后的市電電源去驅(qū)動(dòng)開關(guān)晶體管，在開關(guān)晶體管的輸出端產(chǎn)生一個(gè)方波信號(hào)，電磁加熱控制系統(tǒng)中的主控芯片通過(guò)檢測(cè)開關(guān)晶體管輸出的該方波信號(hào)來(lái)識(shí)別市電電源的過(guò)零點(diǎn)，當(dāng)識(shí)別到過(guò)零點(diǎn)時(shí)，主控芯片則進(jìn)入相應(yīng)的市電過(guò)零處理；(二)首先將輸入的市電電源進(jìn)行分壓，然后將分壓后的市電電源輸入電壓比較器，電壓比較器將分壓后的市電電源和一特定預(yù)設(shè)電壓進(jìn)行比較，當(dāng)分壓后的市電電源低于該特定預(yù)設(shè)電壓時(shí)，電壓比較器的輸出端會(huì)產(chǎn)生一個(gè)信號(hào)跳變，當(dāng)電磁加熱控制系統(tǒng)中的主控芯片捕獲到該電壓比較器輸出端的信號(hào)跳變時(shí)，則判斷市電電源過(guò)零，并進(jìn)入相應(yīng)的市電過(guò)零處理。
[0004]現(xiàn)有的上述電磁加熱控制系統(tǒng)的兩種過(guò)零檢測(cè)方案均存在以下缺陷:只要電磁加熱控制系統(tǒng)上電，其過(guò)零檢測(cè)電路就一直處于工作狀態(tài)，因此，存在一定的功率損耗；另外，要實(shí)現(xiàn)對(duì)市電電源的過(guò)零檢測(cè)功能，需要使用到開關(guān)晶體管或電壓比較器等電子元器件，從而增加了一定的電路成本。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0005]本實(shí)用新型的主要目的是提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、成本低且同時(shí)能實(shí)現(xiàn)過(guò)壓檢測(cè)和過(guò)零檢測(cè)的電磁加熱控制系統(tǒng)的過(guò)壓過(guò)零檢測(cè)電路。
[0006]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供一種電磁加熱控制系統(tǒng)的過(guò)壓過(guò)零檢測(cè)電路，所述電磁加熱控制系統(tǒng)的過(guò)壓過(guò)零檢測(cè)電路包括市電電源輸入端、整流濾波電路單元、諧振電路單元、過(guò)壓過(guò)零檢測(cè)電路單元及MCU ;所述諧振電路單元包括IGBT管；所述MCU的內(nèi)部設(shè)有PffM信號(hào)產(chǎn)生模塊；其中，
[0007]所述整流濾波電路單元，用于對(duì)所述市電電源輸入端輸入的市電電源進(jìn)行整流濾波并為所述諧振電路單元供電；
[0008]所述諧振電路單元，用于執(zhí)行諧振加熱工作；所述IGBT管，用于控制所述諧振電路單元的加熱狀態(tài)；
[0009]所述過(guò)壓過(guò)零檢測(cè)電路單元，用于對(duì)所述市電電源的過(guò)零點(diǎn)進(jìn)行檢測(cè)和對(duì)所述諧振電路單元的過(guò)壓情況進(jìn)行檢測(cè)；
[0010]所述MCU，用于根據(jù)所述過(guò)壓過(guò)零檢測(cè)電路單元的檢測(cè)結(jié)果執(zhí)行對(duì)所述諧振電路單元的過(guò)壓保護(hù)動(dòng)作及執(zhí)行市電電源過(guò)零處理功能；所述PWM信號(hào)產(chǎn)生模塊，用于根據(jù)所述過(guò)壓過(guò)零檢測(cè)電路單元的檢測(cè)結(jié)果輸出相應(yīng)PWM信號(hào)以控制所述IGBT管的開關(guān)狀態(tài)。
[0011]優(yōu)選地，所述整流濾波電路單元的輸入端與所述市電電源輸入端連接，所述整流濾波電路單元的輸出端與所述諧振電路單元的電源輸入端連接；所述過(guò)壓過(guò)零檢測(cè)電路單元的檢測(cè)輸入端與所述諧振電路單元中的所述IGBT管的集電極連接，所述過(guò)壓過(guò)零檢測(cè)電路單元的檢測(cè)輸出端與所述MCU內(nèi)的所述PffM產(chǎn)生模塊的控制輸入端連接。
[0012]優(yōu)選地，所述過(guò)壓過(guò)零檢測(cè)電路單元包括分壓電路、所述MCU內(nèi)部的AD轉(zhuǎn)換模塊、運(yùn)算處理單元、第一電壓比較器及預(yù)設(shè)電壓輸入端；其中
[0013]所述分壓電路，用于對(duì)所述IGBT管的集電極電壓進(jìn)行分壓；
[0014]所述AD轉(zhuǎn)換模塊，用于對(duì)經(jīng)所述分壓電路分壓后的所述IGBT管的集電極電壓進(jìn)行AD米樣；
[0015]所述第一電壓比較器，用于將經(jīng)所述分壓電路分壓后的所述IGBT管的集電極電壓與所述預(yù)設(shè)電壓輸入端輸入的預(yù)設(shè)電壓進(jìn)行比較；
[0016]所述運(yùn)算處理單元，用于對(duì)所述AD轉(zhuǎn)換模塊所采集的電壓數(shù)據(jù)及所述第一電壓比較器的輸出數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理；
[0017]所述分壓電路的輸入端與所述IGBT管的集電極連接，所述分壓電路的輸出端與所述AD轉(zhuǎn)換模塊的輸入端連接；所述AD轉(zhuǎn)換模塊的輸出端與所述運(yùn)算處理單元的第一輸入端連接；所述第一電壓比較器的同相輸入端與所述分壓電路的輸出端連接，所述第一電壓比較器的反相輸入端與所述預(yù)設(shè)電壓輸入端連接，所述第一電壓比較器的輸出端與所述運(yùn)算處理單元的第二輸入端連接；所述運(yùn)算處理單元的輸出端與所述PWM產(chǎn)生模塊的控制輸入端連接。
[0018]優(yōu)選地，所述分壓電路包括串聯(lián)的第一電阻單元和第二電阻單元；其中，所述第一電阻單元和所述第二電阻單元的公共連接端與所述AD轉(zhuǎn)換模塊的輸入端及所述第一電壓比較器的同相輸入端連接，所述第一電阻單元的另一端與所述IGBT管的集電極連接，所述第二電阻單元的另一端接地。
[0019]優(yōu)選地，所述分壓電路還包括用于濾波的第一電容；所述第一電容的第一端與所述第一電阻單元和所述第二電阻單元的公共連接端連接，所述第一電容的第二端接地。
[0020]優(yōu)選地，所述AD轉(zhuǎn)換模塊具體用于:在所述IGBT管在關(guān)斷期間對(duì)所述IGBT管的集電極電壓進(jìn)行AD實(shí)時(shí)采樣。
[0021]優(yōu)選地，所述運(yùn)算處理單元具體用于:讀取所述AD轉(zhuǎn)換模塊采集到的所述IGBT管在關(guān)斷期間的集電極電壓并保存各諧振周期內(nèi)所讀取到的所述集電極電壓的最大值，以及判斷當(dāng)前諧振周期的所述集電極電壓的最大值是否小于上一個(gè)諧振周期的所述集電極電壓的最大值；若是，則判斷當(dāng)前諧振周期的所述集電極電壓的最大值是否小于預(yù)設(shè)的電壓閾值；若是，則判斷所述市電電源過(guò)零，并執(zhí)行相應(yīng)的市電過(guò)零處理工作。
[0022]優(yōu)選地，所述運(yùn)算處理單元還用于:當(dāng)所述IGBT管的集電極電壓大于所述預(yù)設(shè)電壓輸入端輸入的預(yù)設(shè)電壓時(shí)，輸出相應(yīng)的控制信號(hào)至所述PWM產(chǎn)生模塊的控制輸入端，控制所述PffM產(chǎn)生模塊停止輸出PffM信號(hào)，以斷開所述IGBT管，停止所述諧振電路單元的加熱工作。
[0023]本實(shí)用新型提供的電磁加熱控制系統(tǒng)的過(guò)壓過(guò)零檢測(cè)電路，包括市電電源輸入端、整流濾波電路單元、諧振電路單元、過(guò)壓過(guò)零檢測(cè)電路單元及MCU ;所述諧振電路單元包括IGBT管；所述MCU的內(nèi)部設(shè)有PffM信號(hào)產(chǎn)生模塊；所述整流濾波電路單元，用于對(duì)所述市電電源輸入端輸入的市電電源進(jìn)行整流濾波并為所述諧振電路單元供電；所述諧振電路單元，用于執(zhí)行諧振加熱工作；所述IGBT管，用于控制所述諧振電路單元的加熱狀態(tài)；所述過(guò)壓過(guò)零檢測(cè)電路單元，用于對(duì)所述市電電源的過(guò)零點(diǎn)進(jìn)行檢測(cè)和對(duì)所述諧振電路單元的過(guò)壓情況進(jìn)行檢測(cè)；所述MCU，用于根據(jù)所述過(guò)壓過(guò)零檢測(cè)電路單元的檢測(cè)結(jié)果執(zhí)行對(duì)所述諧振電路單元的過(guò)壓保護(hù)動(dòng)作及執(zhí)行市電電源過(guò)零處理功能；所述PWM信號(hào)產(chǎn)生模塊，用于根據(jù)所述過(guò)壓過(guò)零檢測(cè)電路單元的檢測(cè)結(jié)果輸出相應(yīng)PWM信號(hào)以控制所述IGBT管的開關(guān)狀態(tài)。本實(shí)用新型提供的該電磁加熱控制系統(tǒng)的過(guò)壓過(guò)零檢測(cè)電路具有電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單及成本低的優(yōu)點(diǎn)；同時(shí)，本實(shí)用新型還具有功耗低及可靠性高的優(yōu)點(diǎn)。
【附圖說(shuō)明】
[0024]圖1是本實(shí)用新型電磁加熱控制系統(tǒng)的過(guò)壓過(guò)零檢測(cè)電路一實(shí)施例的模塊結(jié)構(gòu)示意圖；
[0025]圖2是本實(shí)用新型電磁加熱控制系統(tǒng)的過(guò)壓